半导体测试分选设备的震动盘的制作方法

本实用新型涉及半导体测试设备领域，特别是一种半导体测试分选设备的震动盘。

背景技术：

目前，市面上的半导体器件SOD123封装的测试分选设备价格比较昂贵，投入资金大，可以将目前的测试半导体器件SOT23-3封装的测试分选设备用来测试半导体器件SOD123，存在的问题是，半导体器件SOD123从震动盘进入导轨时，容易卡在导轨的入口处，导致经常停机，甚至会导致半导体器件的引脚变形，严重影响生产效率。

技术实现要素：

本实用新型针对现有技术的不足，提出一种半导体测试分选设备的震动盘，实现了半导体器件SOD123从震动盘进入导轨不会卡住，保证了产品质量和生产效率。采用下述技术方案：

一种半导体测试分选设备的震动盘，震动盘通过导轨与半导体测试分选设备的吸嘴连接，震动盘为圆盘形，圆盘内表面设有螺旋状通路，在震动盘的螺旋状通路的出口处设置让半导体器件通过的弧形通道，弧形通道的外侧与震动盘的内表面固定连接，弧形通道的内侧为缺口，弧形通道的出口与导轨连接，在弧形通道的入口处设置第一限位条，在弧形通道内设置磁性体。

进一步地，磁性体为长条形，沿弧形通道径向设置。

进一步地，磁性体为小块状，均布在所述弧形通道的径向位置。

具体地，磁性体为弧形小块状。

具体地，磁性体至少为5块。

具体地，磁性体之间的间距为2mm～5mm。

更好地，在弧形通道的中间处设置第二限位条。

本实用新型具有以下优点和积极效果：

本实用新型实现了半导体器件SOD123从震动盘进入导轨不会卡住，保证了产品质量和生产效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为弧形通道的结构示意图。

具体实施方式

图1为本实用新型的结构示意图；图2为弧形通道的结构示意图。结合图1和图2所示，一种半导体测试分选设备的震动盘，震动盘10通过导轨20与半导体测试分选设备的吸嘴30连接，震动盘10为圆盘形，圆盘内表面设有螺旋状通路10.1，在震动盘的螺旋状通路10.1的出口处设置让半导体器件通过的弧形通道1，弧形通道1的外侧与震动盘10的内表面固定连接，弧形通道1的内侧为缺口1.1，弧形通道1的出口与导轨连接，在弧形通道1的入口处设置第一限位条2，在弧形通道1内设置磁性体3。

磁性体3为长条形，沿弧形通道1径向设置。当然，磁性体3也可以为小块状，均布在弧形通道1的径向位置，本实施例的磁性体3为弧形小块状，更好地配合弧形通道1的形状，参见图2所示；磁性体3至少为5块，磁性体3之间的间距L为2mm～5mm，本实施例的磁性体3之间的间距L为3mm。在弧形通道3的中间处设置第二限位条4。

半导体测试分选设备工作时，震动盘10震动，使得震动盘10内的半导体器件SOD123从震动盘10的底部沿螺旋状通路10.1一直往上移动，到达弧形通道1时，第一限位条2限制管脚方向不对的半导体器件SOD123进入，并通过震动盘10的吹气孔将管脚方向不对的半导体器件SOD123吹走，只让方向正确的半导体器件SOD123进入弧形通道1；进入弧形通道1后，磁性体3将半导体器件SOD123的引脚吸住，使得半导体器件SOD123能够顺利通过弧形通道1，如果没有磁性体，产品会有很多不能顺利通过弧形通道，因为半导体器件SOD123的管脚方向和塑封体短面在同一个方向，产品很容易侧反导致卡在通道里面。在弧形通道3的中间处设置第二限位条4的作用是将所有管脚方向不对的产品全部剔除掉，保证通过的产品百分之百管脚一致，从而杜绝在导轨的入口处卡住。然后从弧形通道3顺利地过渡到导轨20进入后续工序。

总之，本实用新型实现了半导体器件SOD123从震动盘进入导轨不会卡住，保证了产品质量和生产效率。