一种栅极驱动电路及其测试方法、显示装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种栅极驱动电路及其测试方法、显示装置。
【背景技术】
[0002]薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-LCD)包括阵列基板和彩膜基板，阵列基板如图1所示的显示区域100中上设置有栅线(Gl、G2...)和数据线(D1、D2…)，栅线和数据线交叉定义多个像素单元10。当TFT-LCD进行显示时，通过对上述栅线进行逐行扫描，以对每一行像素单元10进行选通，其中，制作于阵列基板非显示区域(上述显示区域100以外的区域)的G0A(Gate Driver on Array，阵列基板行驱动)电路用于对栅线的扫描。再通过数据线将数据信号输出至每一个像素单元10，以实现画面显示。
[0003]通常在阵列基板与彩膜基板对盒之前，需要对阵列基板上的栅线或数据线进行测试，例如，可以在上述非显示区域设置用于对栅线进行测试的栅线测试端口(Pad)。为了节约非显示区域的布线空间，降低测试成本，通常在非显示区域如图1所示设置两个栅线测试端口(Pad)，以分别对第一行和最后一行栅线进行测试。然而上述测试方法中一个测试端口只能够对一行栅线进行测试，因此无法通过一个端口对多行栅线进行测试。
【发明内容】
[0004]本发明的实施例提供一种栅极驱动电路及其测试方法、显示装置，能够通过一个测试端口对多条栅线进行测试。
[0005]为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案:
[0006]本发明实施例的一方面，提供一种栅极驱动电路，包括N级级联的移位寄存器单元，N 2 2，为正整数;所述栅极驱动电路还包括S个缓冲单元，每依次相连的M级移位寄存器单元的输出端连接一个所述缓冲单元，其中，M < N、S<N，为正整数，MX S = N;所述缓冲单元还与测试端口相连接，用于将移位寄存器单元输出端的信号输出至所述测试端口。
[0007]优选的，所述缓冲单元包括一个开关晶体管，所述开关晶体管的第一极连接所述测试端口，第二极与依次相连的M级移位寄存器单元的输出端相连接，所述开关晶体管的栅极连接控制信号端。
[0008]优选的，所述缓冲单元包括M个开关晶体管，所述M个开关晶体管的第一极均连接所述测试端口，所述M个开关晶体管的第二极分别与依次相连的M级移位寄存器单元的输出端相连接，所有开关晶体管的栅极均连接同一个控制信号端。
[0009]优选的，所述测试端口通过第一信号线与S个缓冲单元相连接。
[0010]本发明实施例的另一方面，提供一种显示装置，包括如上所述的任意一种栅极驱动电路。
[0011]本发明实施例的又一方面，提供一种用于测试如上所述的任意一种栅极驱动电路的方法，包括开启缓冲单元，通过所述缓冲单元将移位寄存器输出端的信号输出至测试端□ O
[0012]优选的，在所述缓冲单元包括一个开关晶体管，所述测试端口通过第一信号线与S个缓冲单元相连接的情况下，所述方法包括:将与无需测试的移位寄存器单元相连接的缓冲单元与第一信号线断开;所述控制信号端输入信号将未断开的缓冲单元开启，将与该缓冲单元相连接的多级移位寄存器单元输出端的信号依次输出至所述测试端口。
[0013]优选的，在所述缓冲单元包括M个开关晶体管，所述测试端口通过第一信号线与S个缓冲单元相连接的情况下，在对第U级移位寄存器单元输出端的信号进行测试的方法包括:将除了待测缓冲单元以外的缓冲单元与第一信号线断开，其中，所述待测缓冲单元为与第U级移位寄存器单元相连接的缓冲单元;其中，U SN，为正整数;将待测缓冲单元中除了与所述第U级移位寄存器单元相连接的开关晶体管以外的其余开关晶体管的第一极与所述第一信号线断开;所述控制信号端输入信号将与所述第U级移位寄存器单元相连接的开关晶体管开启，通过该开关晶体管将第U级移位寄存器单元输出端的信号输出至测试端口。
[0014]优选的，采用激光切割将所述缓冲单元与所述第一信号线断开。
[0015]进一步优选的，当移位寄存器单元输出端的信号进行测试后，所述方法还包括:通过激光焊接将断开的所述缓冲单元与所述第一信号线相连接。
[0016]本发明实施例提供一种栅极驱动电路及其测试方法、显示装置。其中栅极驱动电路包括N级级联的移位寄存器单元，N2 2，为正整数。此外该栅极驱动电路还包括S个缓冲单元，每依次相连的M级移位寄存器单元的输出端连接一个缓冲单元，其中，N、S<N，为正整数，MXS = N。此外，缓冲单元还与测试端口相连接，用于将移位寄存器单元输出端的信号输出至测试端口。这样一来，由于本发明只设置了一个测试端口，因此可以节约非显示区域的布线空间。在此基础上，由于上述一个测试端口与S个缓冲单元相连接，而每依次相连的M个移位寄存器单元连接一个缓冲单元。因此每一个移位寄存器单元的输出信号均可以通过与其相连的缓冲单元输出至上述测试端口，从而可以实现通过一个测试端口对多个移位寄存器单元输出的信号，即多条栅线上的信号进行测试的目的。
【附图说明】
[0017]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为现有技术提供的一种显示面板的结构示意图；
[0019]图2a为本发明实施例提供的一种栅极驱动电路的结构示意图；
[0020]图2b为本发明实施例提供的另一种栅极驱动电路的结构示意图；
[0021]图3为图2b所示的栅极驱动电路中缓冲单元的一种详细结构示意图；
[0022]图4为图2b所示的栅极驱动电路中缓冲单元的另一种详细结构示意图；
[0023]图5为本发明实施例提供的一种用于测试如图3所示的栅极驱动电路的方法流程图；
[0024]图6为本发明实施例提供的一种用于测试如图3所示的栅极驱动电路的方法流程图。
[0025]附图标记:
[0026]I O-像素单兀；20-缓冲单兀；100-显不区域;L1-第一彳目号线;Gl、G2......Gm-棚■线；
STV-起始信号端;Test-测试信号端;RS-移位寄存器单元;A-将缓冲单元与第一信号线断开的位置;B-将开关晶体管的第一极与第一信号线断开的位置;Pad-栅线测试端口。
【具体实施方式】
[0027]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0028]本发明实施例提供一种栅极驱动电路，如图2a所示，包括N级级联的移位寄存器单元RS，N 2 2，为正整数，其中第一级移位寄存器单元还与起始信号端STV相连接，用于在起始信号端STV的控制下执行信号移位。在此基础上，该栅极驱动电路还包括S个缓冲单元20，每依次相连的M级移位寄存器单元的输出端连接一个缓冲单元20，其中，N、S<N，为正整数，M X S = N。此外，该缓冲单元20还与测试端口 Test相连接，用于将移位寄存器单元RS输出端的信号输出至测试端口Test。其中，移位寄存器单元RS的输出端是指与栅线相连接的一端。
[0029]需要说明的是，图2a中每个缓冲单元20通过单独的一条信号线与测试端口Test相连接。随着缓冲单元20数量的增加，与测试端口 Test相连接的信号线的数量也会增多，从而会占用过多的布线空间。且排布较密集的信号线之间也会产生信号干扰。为了解决上述问题，可以如图2b所示，通过