1.一种微型检测设备，其特征在于，包括依次串联的接口电路、采样电路、接口调理电路、Arduino控制板和故障诊断系统；
所述接口电路和接口调理电路之间还连接有交直流激励信号产生电路；
还包括与所述Arduino控制板连接的液晶显示电路。
2.如权利要求1所述的微型检测设备，其特征在于，所述采样电路包括交流电压采样电路和直流电压采样电路，所述交流电压采样电路和直流电压采样电路的输入端和输出端分别与所述接口电路和接口调理电路连接。
3.如权利要求2所述的微型检测设备，其特征在于，所述交流电压采样电路包括运算放大器U2、运算放大器U3、电容C1、电容C2、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19和二极管D5，其中所述电容C1的一端与所述接口电路的输出端连接，电容C1的另一端通过电阻R12与所述运算放大器U2的正相输入端连接，所述运算放大器U2的负相输入端通过电阻R14与运算放大器U2的输出端连接，运算放大器U2的输出端通过电阻R16与运算放大器U3的正相输入端连接，运算放大器U2的负电源端连接-15V电源，运算放大器U2的正电源端连接+15V电源，所述运算放大器U2的负相输入端通过电阻R13接地，电阻R15的一端接地，电阻R15的另一端通过电阻R16与所述运算放大器U3的正相输入端连接，运算放大器U3的负相输入端通过电阻R17接地，并通过电阻R18与运算放大器U3的输出端连接，运算放大器U3的正电源端与+12V电源连接，运算放大器U2的负电源端连接-12V电源；运算放大器U3的输出端与二极管D5的阳极连接，二极管D5的阴极通过电阻R19与所述接口调理电路的输入端连接，电容C2的一端接地，电容C2的另一端连接于二极管D5的阴极和电阻R19之间。
4.如权利要求2所述的微型检测设备，其特征在于，所述直流电压采样电路包括电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R23、电阻R24、电容C3和运算放大器U1，其中电阻R20的一端与所述接口电路的输出端连接，电阻R20的另一端通过电阻R21与运算放大器U1的正相输入端连接，电阻R22的一端连接于运算放大器U1的正相输入端与电阻R21之间，电阻R22的另一端通过电阻R23接地，所述运算放大器U1的负相输入端与运算放大器U1的输出端连接，运算放大器U1的正电源端与+12V电源连接，运算放大器U1的负电源端连接-12V电源；运算放大器U3的输出端通过电阻R24与所述接口调理电路的输入端连接，电容C3的一端接地，电容C3的另一端与所述接口调理电路的输入端连接。
5.如权利要求1所述的微型检测设备，其特征在于，所述交直流激励信号产生电路包括第一光电耦合器、第二光电耦合器、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、NPN型三极管Q1、NPN型三极管Q2、NPN型三极管Q3、NPN型三极管Q4、NPN型三极管Q5、NPN型三极管Q6、二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4，其中电阻R1的一端连接3.3V电源，电阻R1的另一端与所述第一光电耦合器的输入端连接，第一光电耦合器的输出端通过电阻R2连接+24V电源，并通过电阻R3接地，并且第一光电耦合器的输出端与NPN型三极管Q1的基极连接，NPN型三极管Q1的集电极连接通过电阻R5与所述NPN型三极管Q2的基极连接，NPN型三极管Q1的发射极接地；二极管D1的阴极连接于所述NPN型三极管Q1的集电极和电阻R5之间，二极管D1的阳极通过电阻R4连接+24V电源，并与二极管D2的阳极连接，二极管D2的阴极与NPN型三极管Q3的基极连接，NPN型三极管Q3的集电极与NPN型三极管Q2的集电极连接，NPN型三极管Q4的集电极与NPN型三极管Q5的集电极连接，电阻R6的两端分别连接于所述NPN型三极管Q2的集电极与NPN型三极管Q4的集电极，NPN型三极管Q2的发射极和NPN型三极管Q4的发射极相连并接于110V电源，NPN型三极管Q3的发射极和NPN型三极管Q5的发射极相连并接地；NPN型三极管Q4的基极通过电阻R7与NPN型三极管Q6的集电极相连，NPN型三极管Q5的基极与二极管D3的阴极连接，二极管D3的阳极与二极管D4的阳极连接，电阻R8的一端连接于所述二极管D3的阳极与二极管D4的阳极之间，电阻R8的另一端连接+24V电源，二极管D4的阴极连接于所述电阻R7和NPN型三极管Q6的集电极之间，NPN型三极管Q6的发射极接地，电阻R9的一端连接+24电源，电阻R9的另一端连接第二光电耦合器的输出端，电阻R10的一端接地，电阻R10的另一端连接第二光电耦合器的输出端，电阻R11的一端连接3.3V，电阻R11的另一端连接第二光电耦合器的输入端。