本发明涉及pcie卡测试领域，尤其涉及一种pcie卡测试防护治具，测试架构及测试方法。
背景技术：
在现有技术的实验室测试或者工厂端测试中，由于要对不同的项目和不同的主板进行全方面的功能测试验证，因此需要对pcie卡这些物料进行反复的插拔，插拔次数过多会导致其金手指磨损，时间久了就会产生接触不良甚至损坏的情况，而且插拔时候还存在导致板卡短路的风险。这样不但影响测试的正常进行，还会使pcie卡这种贵重物品报废，造成一定的经济损失。
技术实现要素：
为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种标准pcie卡测试防护治具，包括：用于供待测pcie卡插置连接的插槽连接器，用于与主板连接的主板连接段以及板卡；
插槽连接器和主板连接段分别与板卡连接；
板卡上设有连接组件；
插槽连接器设有pcie连接端，主板连接段设有主板连接端；
pcie连接端通过连接组件与主板连接端电连接。
优选地，连接组件包括：多个连接端子；
每个连接端子设有连接引脚和连接走线；
pcie连接端设有数量与连接引脚数量相适配的pcie引脚；
主板连接端设有数量与连接引脚数量相适配的主板连接引脚；
连接走线一端与主板连接引脚电连接，连接走线另一端与通过连接引脚与pcie引脚电连接。
优选地，连接组件还包括：焊盘；
焊盘固定在板卡上，连接引脚焊接在焊盘上。
优选地，主板连接段设有第一金手指插置端和第二金手指插置端；
第一金手指插置端和第二金手指插置端之间设有开口。
优选地，插槽连接器上设有定位条。
优选地，连接组件的多个连接端子中，至少一个连接端子为电源连接端子；
电源连接端子设有保险丝。
优选地，插槽连接器还设有供待测pcie卡插置连接的pcie插槽，
pcie引脚布设在pcie插槽壁上，pcie引脚在pcie插槽壁的布设方式与待测pcie卡的金手指布设方式相同。
一种pcie卡测试架构，包括：待测pcie卡，主板以及pcie卡测试防护治具；
待测pcie卡设有金手指连接端；
主板设有主板pcie插槽；
待测pcie卡通过金手指连接端插置到pcie卡测试防护治具的pcie插槽内，金手指连接端的金手指与pcie插槽壁上的pcie引脚电连接；
pcie卡测试防护治具的主板连接段插置到主板pcie插槽内；
主板通过pcie卡测试防护治具与待测pcie卡通信连接。
一种pcie卡测试方法，方法包括：
将待测pcie卡插入到pcie卡测试防护治具的插槽连接器中；
将pcie卡测试防护治具的主板连接段插置到主板pcie插槽内；
主板上电，对待测pcie卡进行测试；
测试完成后，主板停电；
将pcie卡测试防护治具的主板连接段从主板的pcie插槽内拔出。
从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点：
本发明中，pcie卡测试防护治具与主板拔插连接，实现了保护待测pcie卡金手指的目的，能有效防止pcie卡的电源短路。保护pcie卡金手指，防氧化。避免pcie卡金手指反复插拔磨损及短路风险。使用灵活方便，没有结构干涉时，治具和待测pcie卡可以作为一个整体进行插拔，有干涉时可以不用治具，并且治具损坏易于维修还可以反复更换。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为pcie卡测试防护治具示意图；
图2为pcie卡测试架构示意图；
图3为pcie卡测试方法流程图。
具体实施方式
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将运用具体的实施例及附图，对本发明保护的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利保护的范围。
本实施例提供一种pcie卡测试防护治具，如图1所示，包括：用于供待测pcie卡插置连接的插槽连接器1，用于与主板连接的主板连接段以及板卡2；插槽连接器1和主板连接段分别与板卡2连接；板卡2上设有连接组件；插槽连接器1设有pcie连接端，主板连接段设有主板连接端；pcie连接端通过连接组件与主板连接端电连接。
其中，连接组件包括：多个连接端子；每个连接端子设有连接引脚5和连接走线7；pcie连接端设有数量与连接引脚5数量相适配的pcie引脚10；主板连接端设有数量与连接引脚5数量相适配的主板连接引脚；连接走线7一端与主板连接引脚电连接，连接走线7另一端与通过连接引脚5与pcie引脚10电连接。
连接组件还包括：焊盘6；焊盘6固定在板卡2上，连接引脚5焊接在焊盘6上。使，连接引脚5牢固的设置在板卡2上。
本实施例中，主板连接段设有第一金手指插置端3和第二金手指插置端4；第一金手指插置端3和第二金手指插置端4之间设有开口11。主板连接段可以采用pciex8连接段，或pciex16连接段，便于与主板连接，保证了测试的灵活性。插槽连接器1上设有定位条8，方便定位，便于pcie卡测试防护治具在主板上的拔插以及待测pcie卡在插槽连接器1上的拔插。当然也可以采用pciex1，pciex2，pciex4。
本实施例中，连接组件的多个连接端子中，至少一个连接端子为电源连接端子12；电源连接端子12设有保险丝9。本实施例设置三个电源连接端子12，每个电源连接端子12均设置保险丝9。保险丝9可以防止pcie卡测试防护治具的电源短路，起到保护作用。三个电源连接端子12可以传送12v电源，3.3v电源和3.3v_aux，具体电源电压这里不做限定。
本实施例中，插槽连接器1还设有供待测pcie卡插置连接的pcie插槽，pcie引脚10布设在pcie插槽壁上，pcie引脚10在pcie插槽壁的布设方式与待测pcie卡的金手指布设方式相同。
这里待测pcie卡也可以包括：x8pcie卡，或x16pcie卡，或x1pcie卡，x2pcie卡，x4pcie卡。当然相应的插槽连接器1的pcie插槽与待测pcie卡相适配。
本发明还提供一种pcie卡测试架构，如图2所示，包括：待测pcie卡21，主板23以及如权利要求1至7所述的pcie卡测试防护治具22；
待测pcie卡21设有金手指连接端；主板23设有主板pcie插槽；待测pcie卡21通过金手指连接端插置到pcie卡测试防护治具22的pcie插槽内，金手指连接端的金手指与pcie插槽壁上的pcie引脚10电连接；pcie卡测试防护治具22的主板连接段插置到主板pcie插槽内；主板23通过pcie卡测试防护治具22与待测pcie卡21通信连接。
本发明还提供一种pcie卡测试方法，如图3所示，方法包括：
s1，将待测pcie卡插入到pcie卡测试防护治具的插槽连接器中；
s2，将pcie卡测试防护治具的主板连接段插置到主板pcie插槽内；
s3，主板上电，对待测pcie卡进行测试；
s4，测试完成后，主板停电；
s5，将pcie卡测试防护治具的主板连接段从主板的pcie插槽内拔出。
测试方法实现了保护待测pcie卡金手指的目的，而且能有效防止pcie卡的电源短路。保护pcie卡金手指，防氧化。避免pcie卡金手指反复插拔磨损及短路风险。使用灵活方便，没有结构干涉时，治具和pcie卡可以作为一个整体进行插拔，有干涉时可以不用治具，并且治具损坏易于维修还可以反复更换。节省pcie卡维修及报废费用，提高经济效益。
本发明还可以应用到lom卡等其他具有金手指的板卡中，不限于服务器。另外，还可以利用此转接板卡矫正因失误原理图接错pin的问题，以及进行一些其他的调试测试。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等如果存在是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。