专利名称：一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法
技术领域：
本发明涉及大规模集成电路芯片测试中的故障信息自动处理技术，特别是涉及一种在存储器的测试过程中，能够自动产生包含故障信息(位图格式)的处理方法。
背景技术：
现有的大规模集成电路芯片测试中的错误信息自动处理技术，存在下述问题1、测试完毕后获得的故障信息不全面。2、在故障位图(FBM，Fail Bit Map)中，无法知道故障比特位的故障种类。3、在FBM中，能够显示的故障比特位数目太少。4、无法产生与设备无关的位图(DIB，Device Independent Bitmap)格式的FBM文件。5、FBM中故障信息并非按照其物理地址来排列。
所有上述问题的存在，均影响了对测试结果的分析，从而为短时间内进行存储器的错误分析(F/A，Fail Analysis)定位带来了困难。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种在存储器测试过程中自动产生位图(BMP Bit Map)信息的方法，它能够将每个比特位的故障信息自动保存并转换成FBM，该FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。
为解决上述技术问题，本发明的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，包括如下步骤首先，由故障信息采集模块将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该故障信息传递给FBM转换模块；其次，FBM转换模块将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息，并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块；然后，由FBM显示模块按照BMP图形格式显示文件的信息；由模式控制模块控制FBM转换模块是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。
采用本发明的方法，在测试仪在线(Online即和生产管理系统连线，并实时进行数据交换)和非在线(Offline)均可以正常工作。存储器芯片进行测试的过程中，能够将所有逻辑地址的每个比特位的故障信息全部采集下来。利用所采集的比特位的故障信息能自动产生包含各种故障信息的DIB BMP文件。在该文件中DIB的颜色模式与设备无关，因此可以用来永久性地保存故障信息；BMP中所使用的像素的颜色独立于系统调色板，拥有自己的颜色表。
按照本发明的方法产生的FBM中包含的信息量大，可以更快捷地对存储器测试过程中产生的故障信息原因进行定位，预计可以比现有技术中使用的方法缩短一半的时间。
附图是本发明一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法总体结构图。
具体实施例方式
如图所示，本发明的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，包括一个FBM转换模块1，该FBM转换模块1一端连接故障信息采集模块2，另一端连接一个FBM显示模块3，并由一个模式控制模块4控制。
所述故障信息采集模块2能够将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该错误信息传递给FBM转换模块1。
所述FBM转换模块1可以将故障信息按照存储器的物理地址转换为DTB格式的BMP图形信息，并将该图形信息传递给FBM显示模块3。
由FBM显示模块3按照BMP图形格式显示文件的信息，且在所显示的图形信息中A、所有比特位的故障信息情况均可以得到显示，包括每个比特位0故障、1故障、0/1均故障及无故障的信息。
B、不同的颜色代表不同的故障信息；0/1均故障的颜色是0故障和1故障两种颜色的合成。
C、可以在FBM显示模块3中有选择地显示仅在某种故障(比如0故障)上的比特位。
D、将每个存储器芯片的FBM按照坐标排列起来，可以得到整枚晶圆的FBM，在该FBM图形中，在鼠标点击的位置上能够显示出物理位置的信息。
所述模式控制模块4用于控制FBM转换模块1是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中故障的种类。
在对2M SRAM(静态随机存储器)的工程样片进行评价的过程中可以采用本发明的方法。
对SRAM样片进行测试评价时，业界已经积累了一定的经验，能够通过各种各样的测试向量，如片擦除、片写入、对角线等测试向量，对SRAM芯片中不同的故障机制进行调查。虽然同一芯片在不同向量上故障机制不同(也可能存在多种故障机制)，但是多表现为最基本的0故障和1故障两种模式。采用本发明所述的方法，它可以从根本上对错误机制进行判断，从而找到制造中存在的缺陷。
权利要求
1.一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于它包括如下步骤首先，由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该故障信息传递给FBM转换模块(1)；其次，FBM转换模块(1)将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息，并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3)；然后，由FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息；由模式控制模块(4)控制FBM转换模块(1)是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。
2.如权利要求1所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于所述按照BMP图形格式显示文件的信息中，所有比特位的故障信息情况均可以得到显示；不同的颜色代表不同的故障信息。
3.如权利要求1所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于所述按照BMP图形格式显示文件的信息中，可以在FBM显示模块(3)中有选择地显示仅在某种故障上的比特位。
4.如权利要求1所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于所述按照BMP图形格式显示文件的信息中，将每个存储器芯片的FBM按照坐标排列起来，可以得到整枚晶圆的FBM；在该FBM图形中，在鼠标点击的位置上能够显示出物理位置的信息。
5.如权利要求2所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于所述比特位的故障信息包括每个比特位0故障、1故障、0/1均故障及无故障的信息。
6.如权利要求2或5所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于0/1均故障的颜色是0故障和1故障两种颜色的合成。
全文摘要
本发明公开了一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该错误信息传递给FBM转换模块(1)；所述FBM转换模块(1)将故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息，并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3)；所述FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息；所述模式控制模块(4)用于控制FBM转换模块是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。本发明能够将每个比特位的故障信息自动保存并转换成FBM，该FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。
文档编号G06F11/22GK1779863SQ20041008465
公开日2006年5月31日 申请日期2004年11月26日 优先权日2004年11月26日
发明者桑浚之, 辛吉升, 曾志敏 申请人:上海华虹Nec电子有限公司