电子设备测试站的连续检测装置的制作方法

文档序号:6817420阅读:189来源:国知局
专利名称:电子设备测试站的连续检测装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种电子设备测试站的连续检测装置,尤其指一种于测试站输送带的台板上及各测试定点处分设可自动构成信号连线的连续检测装置,以便于台板上所输送的电子设备的连续测试,进而提高测试站的作业效率,并可达到无人化的自动测试。
如电脑及涉及电子技术的电气产品,在制造过程中须经过一连串的特性调整及性能测试步骤,如电路板测试、成品或零件测试等等,此种连串的测试步骤多将待测产品置于输送带上,且于输送带各测试定点处分设各测试项目的仪器,随着输送带的传送,将待测产品依次送至各测试定点处,待到达定位后,即利用人工将待测产品插上电源,并与该测试定点的仪器连接,再进行该测试项目。由于测试项目繁多,每一待测产品在进行不同的测试项目时,都必须经过接电源、接仪器等相同步骤,在测试完毕后,又须经电源及信号插头分别拔去后才能离开,而在进行下一测试项目时,又须重复前述相同的步骤,故其作业上相当耗时费工,且效率比较低。
尽管目前已有许多测试仪器可以进行无人操作的自动化测试,但仍由于前述待测产品在每一测试项目中必须利用人工方式与仪器连接、分离,使自动化测试无法作到一贯化作业。
因此,本实用新型的主要目的是在于提供一种电子设备测试站的连续检测装置,其无须在每一测试项目中分别插拔线,从而可便于待测产品连续执行不同的测试项目。
本实用新型的次一目的在于提供一种电子设备测试站的连续检测装置,其中介面座与介面板可以水平方向相对设置,或以上下方向设置。
本实用新型又一目的在于提供一种电子设备测试站的连续检测装置,其中介面板的传动机构的底部设有避震座,以免受动作时的震动影响,并在输送带震动台板时确保良好的接触性。
本实用新型的技术方案在于提供一种电子设备测试站的连续检测装置,其包括有一输送带、数个依次排列于输送带上并随其推送的台板及分设于输送带各测试定点处的不同测试仪器等,其中每一台板上的适当处分设一介面座及一电源插座,用以分别与台板上待测产品的信号线及电源线连接,并且于输送带各测试定点处分设一介面板,各介面板分别与其对应的测试仪器构成连线,且由一传动机构控制进退,该介面板上设有数个探针,可于前进时与介面座构成电连接。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该介面座主要是以一电路板固定于一座板上,其中电路板是由双面PC板构成,其上形成有数个贯孔,其内孔壁以穿孔电镀而形成有导电层,且电路板内侧表面于各贯孔处分别形成有点状的铜箔接点,每一铜箔接点与贯孔孔壁的导电层连接,又分别以铜箔线路连接至一连接器上,供与待测产品进行连接,该介面板主要是于一板体适当处分设有数个固定柱,每一固定柱呈中空状,其间分别穿设有探针,该探针是由导体构成,且分别对应于电路板上的各贯孔,另外探针上套设有一弹簧,其另端形成有螺纹,其穿入固定柱后以一螺帽螺合定位,另外各探针末端分别焊接有导线,各导线分别连接至一连接器上,该连接器是用来与仪器连接。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该介面座的电路板于适当处分设有两组或两组以上的中空导筒,两导筒分别贯穿固定于电路板上,其上分别形成有轴向贯穿的导孔,该介面板上分设有两组或两组以上的导柱,各导柱分别对应于前述电路板上的导筒。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该导柱前端是呈渐缩锥柱状,且导柱另端形成有较小外径的柱状固定部,该固定部上套设有弹簧,并穿过介面板上的固定孔,而以螺帽予以螺合固定。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该传动机构是由一气压缸构成,该气压缸是以其活塞杆与介面板连接。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该传动机构是固定于一避震座上,该避震座是于上、下两座板间设有弹性元件。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该弹性元件为弹簧、弹性胶垫或其他具有适当弹性的材料。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该介面座电路板的每一贯孔的外侧孔缘为扩张的喇叭口,且介面板上的探针前端设有尖锥状的接触部。
在所述电子设备测试站的连续检测装置的一个实施例中,该介面座的座板于内侧面形成有一装置槽,供容量固定该电路板,其外侧面形成有穿槽、穿孔,供电路板上的连接器及导筒向外穿出。
本实用新型的设计特色是在于其主要在输送带的台板上及各测试定点上分设介面座及介面板,又令介面板先行与仪器连接,且待测产品送上台板时即同时连上电源与介面座,借此,当待测产品到达各测试定点时,即可通过介面板的趋前接触,使仪器与台板上的待测产品自动构成连接,并进行测试,待测试完毕后,介面板退出,待测产品随台板向前推送,至下个测试定点以相同于前述的步骤进行下一测试项目,如此,每一待测产品均可利用介面座与介面板构成的自动连接、断开装置连续地进行各项测试项目,待待测产品完成所有测试项目后,当其自台板上取开时,方使其由台板上的电源插座、介面座拔开,如此即可有效解决利用人工在每一测试项目上插、拔线所造成的效率不佳的缺点。
以下结合附图进一步说明本实用新型的具体结构特征及目的。
附图简要说明

图1是本实用新型的俯视实施例平面图。
图2是本实用新型的分解图。
图3是本实用新型的侧视图。
图4是本实用新型的俯视图。
图5是本实用新型的动作示意图。
图6是本实用新型另一较佳实施例的侧视图。
如图1所示,一电子设备测试站包括有一输送带10、数个依次排列于输送带10上并随其推送的台板11及分设于输送带10各测试定点处的不同测试仪器12等。
而本实用新型的主要特征是于每一台板11上的适当处分设一介面座20及一电源插座13,用以分别与台板11上待测产品14的信号线及电源线连接;另外于输送带10各测试定点处分设一介面板30,各介面板30分别与其对应的测试仪器构成连接,且固定于一传动机构40上,可由该传动机构40向前推送至某一定点,令该介面板30与各台板11上的介面座20构成信号连接。
由于各待测产品14在送上台板11时,即同时将其信号线、电源线分别与台板11上的介面座20及电源插座13连接,因此,各待测产品14在输送带10上所进行的各项测试项目,即不须再逐一项目的插、拔信号线,仅须通过测试定点处所设介面板30与台板11上介面座20的自动化连接动作,即可使待测产品14连续地进行线上的各项测试项目,以有效地提高作业效率。
至于介面座20、介面板30与传动机构40的详细构造,请参阅图2所示首先该介面座20主要是以一电路板21固定于一座板200上,其中电路板21是由双面PC板构成,其上形成有数个贯孔22,每一贯孔22外侧孔缘均为扩张的喇叭口,且其内孔壁分别实施有穿孔电镀,且电路板21内侧表面于各贯孔22处分别形成有点状的铜箔接点23,每一铜箔接点23与贯孔22孔壁电镀的导电层连接,又分别以铜箔导线230连接至一连接器24上,该连接器24是固定于电路板21内侧表面的适当处,是供与台板11上所设待测产品14进行信号连接。
再者,电路板21于适当处分设有两组或两组以上的中空导筒25,用以确保介面座20与介面板30间的确实接触;于本实施例中,电路板21是于两相对角落处分设有一导筒25,两导筒25分别贯穿固定于电路板21上,其上分别形成有轴向贯穿的导孔250,且基于导引定位的作用需求,该导筒25以高耐磨性的材料构成为佳,如不锈钢或特氟龙等材料。
另外座板200是以直立方向固定于台板11的边缘处,其相对于电路板21的内侧面形成有一装置槽(图中未示),供容置固定该电路板21,且其外侧面对应于电路板21上的连接器24及导筒25处分别形成有穿槽201及穿孔202,以分别供连接器24及导筒25向外穿出,其中连接器24经穿出穿槽201,可便于待测产品14的信号线接头进行连接。
另外关于介面板30部分,其主要是于一具较佳结构强度的板体适当处分设有数个固定柱31,且于两相对角落处分别形成有一固定孔32,其中每一固定柱31是呈中空状,其间分别穿设有一探针33,该探针33是由导体构成,且分别对应于电路板21上的各贯孔22,且探针33前端设有尖锥状的接触部330,利用接触部330与电路板21上贯孔22的外侧喇叭孔缘接触,可获得较大的接触面积。
再有探针33上套设有一弹簧331,且于另端形成有螺纹,以便于穿入固定柱31后以一螺帽332予以螺合定位,而利用弹簧331的顶持,可使探针33维持于向外撑张状态。
另外各探针33末端分别焊接有导线34,各导线34分别连接至一连接器35上,该连接器35是固定于介面板30外侧面适当处,用以与测试仪器12进行连接。
另外介面板30于两相对角落的固定孔32间分设有一导柱36,两导柱36分别对应于前述电路板21上的导筒25,以便于介面板30趋近于介面座20时,通过导柱36导入电路板21上的两导筒25,使介面板30上的各探针33得以精确的方向与角度接触电路板21上对应的贯孔22、以构成电气连接。
再者,导柱36前端是呈渐缩锥柱状,从而可便于滑入导筒25的导孔250内,且导柱36另端形成有较小外径的柱状固定部360,该固定部360上套设有弹簧361,并穿过介面板30上的固定孔32,而以螺帽362予以螺合固定。其中导柱3将利用弹簧361赋予的弹力产生一伸缩弹性,以便于导柱36伸入导筒25时产生一缓冲作用。
另外前述介面板30是由传动机构40控制其进退,于本实施例中,该传动机构40是由一气压缸构成,该气压缸是以其活塞杆41与介面板30连接,当活塞杆41向前推进时,即同时带动介面板30向前位移。
由于气压缸动作时可能产生较明显的震动现象,为避免该震动现象影响介面板30与介面座20的精确接触,前述传动机构40可固定于一避震座50上,以有效吸收气压缸动作时的震动。于本实施例中,该避震座50是于上、下两座板51间设有弹性元件52,该弹性元件52可为弹簧、弹性胶垫或其他具有适当弹性的材料。
由上述说明可看出本实用新型的具体结构型态,至于其工作方式详如以下所述首先请参阅图3、4所示,台板11上的待测产品14是与介面座20上的电路板21构成连接,又于测试定点处的介面板30则与对应的仪器12连接,当台板11推送至一测试定点时,该处的介面板30将由传动机构40推送向前(如图3假想线所示),此时介面板30上的两导柱36将首先与介面座20上的电路板21接触,并沿其导筒25间的导孔250滑入,至此利用导柱36与导孔250间的导引关系,可使介面板30以精确的角度向前与电路板21接触,如图5所示,当介面板30上的导柱36滑入电路板21的导筒25内时,介面板30上的各探针33分别以其接触部330与电路板21上的各对应贯孔22接触,至此,台板11上的待测产品14即可通过介面座20、介面板30与仪器12构成信号连线,从而可直接进行测试。
待测试完毕后,传动机构40的气压缸即缩回其活塞杆41,使介面板30退回至原位,至此,台板11上的待测产品14可随输送带10的推送,至下一个测试定点,进行下一个测试项目,借此即可使输送带10上的各待测产品14连续地进行各个测试项目。
除前述的一较佳实施例外,本实用新型还可为另一较佳实施例,该介面座20与介面板30的基本架构仍与前一实施例相同,不同处仅在于其设置方向,如图6所示,介面座20的电路板21是直接嵌置于台板11底面,且介面板30是设于电路板21的正下方(即输送带10的台板11下方),且介面板30亦由一传动机构40控制升降,且传动机构40是固定于一避震座50上。
当传动机构40推送介面板30向上时,介面板30仍可利用其上导柱36进行方向确认导引,并以探针33与电路板21上的贯孔22接触,进而使台板11上的待测产品14与仪器12构成信号连接,以进行测试调整。
权利要求1.一种电子设备测试站的连续检测装置,其包括有一输送带、数个依此排列于输送带上并随其推送的台板及分设于输送带各测试定点处的不同测试仪器,其特征在于每一台板上的适当处分设一介面座及一电源插座,用以分别与台板上的待测产品的信号线及电源线连接,且于输送带各测试定点处分设一介面板,各介面板是分别与其对应的测试仪器构成连接,且由一传动机构控制进退,该介面板上设有数个探针,可于前进时与介面座构成电连接。
2.根据权利要求1所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该介面座主要是以一电路板固定于一座板上,其中电路板是由双面PC板构成,其上形成有数个贯孔,其内孔壁以穿孔电镀形成有导电层,且电路板内侧表面于各贯孔处分别形成有点状的铜箔接点,每一铜箔接点与贯孔孔壁的导电层连接,且分别以铜箔线路连接至一连接器上,供与待测产品进行连接,该介面板主要是于一板体适当处分设有数个固定柱,每一固定柱是呈中空状,其间分别穿设有探针,该探针是由导体构成,且分别对应于电路板上的各贯孔,另外探针上套设有一弹簧,其另端形成有螺纹,其穿入固定柱后以一螺帽螺合定位,另外各探针末端分别焊接有导线,各导线分别连接至一连接器上,该连接器是用以与仪器连接。
3.根据权利要求2所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该介面座的电路板于适当处分设有两组或两组以上的中空导筒,两导筒分别贯穿固定于电路板上,其上分别形成有轴向贯穿的导孔,该介面板上分设有两组或两组以上的导柱,各导柱是分别对应于前述电路板上的导筒。
4.根据权利要求3所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该导柱前端是呈渐缩锥柱状,且导柱另端形成有较小外径的柱状固定部,该固定部上套设有弹簧,并穿过介面板上的固定孔。而以螺帽予以螺合固定。
5.根据权利要求1所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该传动机构是由一气压缸构成,该气压缸是以其活塞杆与介面板连接。
6.根据权利要求1或5所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该传动机构是固定于一避震座上,该避震座是于上、下两座板间设有弹性元件。
7.根据权利要求6所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该弹性元件为弹簧、弹性胶垫或其他具有适当弹性的材料。
8.根据权利要求2所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该介面座电路板的每一贯孔的外侧孔缘为扩张的喇叭口,且介面板上的探针前端设有尖锥状的接触部。
9.根据权利要求2所述电子设备测试站的连续检测装置,其特征在于该介面座的座板于内侧面形成有一装置槽,供容置固定该电路板,其外侧面形成有穿槽、穿孔,供电路板上的连接器及导筒向外穿出。
专利摘要一种电子设备测试站的连续检测装置,其主要是于输送带的各台板上分设以介面座及电源插座,并令台板上的电子设备分别与介面座及插座构成电连接,又于输送带各测试定点处分设介面板,该介面板上分设探针,并与仪器连接,当台板到达各测试定点时,可由传动机构推进介面板,使其与台板上的介面座连接,进而促成电子设备与仪器的连接,以此可便于多数电子设备的连续测试。
文档编号H01L21/66GK2302599SQ9721159
公开日1998年12月30日 申请日期1997年2月28日 优先权日1997年2月28日
发明者杨弘志 申请人:宜升科技股份有限公司
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