专利名称：集成电路测试器的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试被测试对象，例如液晶驱动器的集成电路测试器，即使供给或抽取电流至被测试对象，亦可正确地进行测试的集成电路测试器。
背景技术：
液晶驱动器是由多个插孔输出多阶层电压，且驱动液晶显示器。这种测试液晶驱动器的集成电路测试器记载于例如日本专利特开2005-69970号公报、特开平9-196998号公报等。
上述装置，是将液晶驱动器的输出引线的阶层电压藉由A/D转换器进行测定，来进行液晶驱动器的判定。
可是，依照液晶驱动器的种类，液晶驱动器若内建于液晶显示器面板时，虽然连接于输出引线的负载容量小不会产生振荡，但会因集成电路测试器的负载容量而振荡。因此，使用主动负载，对液晶驱动器的输出引线，进行电流外加或抽取，防止振荡后进行测试。
然而，由于藉由主动负载进行电流外加或抽取，因液晶驱动器的输出电阻会在阶层电压的测定产生误差，致使无法正确地进行测试。
发明内容
本发明的目的是实现即使在对于被测试对象供给或抽取电流，亦可正确地进行测试的集成电路测试器。
为了实现本发明的目的，提供了一种集成电路测试器，用以对被测试对象进行测试，包含a)电流单元，对于该被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；以及b)测定单元，进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定，依照该被测试对象的输出电阻值与该电流单元的电流值加以修正。
本发明还提供一种集成电路测试器，用以对被测试对象进行测试，包含a)主动负载，设置于每一个该被测试对象的输出引线，对于被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；b)A/D转换器(模拟/数字转换器)，设置于每一个该被测试对象的输出引线，进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定；以及c)计算单元，将此A/D转换器的输出，依照该被测试对象的输出电阻值与该主动负载的电流值加以修正。
图1显示本发明的一实施例的构成图。
图2显示本发明的另一实施例的构成图。
附图符号说明1～DUT(被测试对象)2～放大器3～A/D转换器(模拟/数字转换器)4～计算单元5～主动负载6～电流测定模块7～减算单元11～D/A转换器(数字/模拟转换器)51～二极管桥式电路52、53～电流源54～驱动器71～D/A转换器(数字/模拟转换器)72～减算器D1、D2、D3、D4～二极管R～输出电阻SW1、SW2、SW3、SW4～开关具体实施方式
以下用图面详细说明本发明。图1显示本发明的一实施例的构成图。
在图1中，被测试对象(以下称DUT)1，例如在液晶驱动器，将多阶层电压由多个输出引线输出，且由多个D/A转换器(数字/模拟转换器)11、多个输出电阻R等所成。D/A转换器11是在输出层连接输出电阻R的一端。开关SW1是DUT1的输出引线，亦即，在输出电阻R的另一端连接固定端。开关SW2是在开关SW1的可动端连接固定端。放大器2是在开关SW2的可动端连接输入端，A/D转换器3将放大器2的输出端连接输入端。计算单元4由A/D转换器3的输出，依照(输出电阻值)×(电流值)修正，且求得阶层电压值。开关SW3是在开关SW1的可动端连接固定端。放大器2、A/D转换器3、及计算单元4构成测定单元。
在电流单元，主动负载5进行供给或抽取电流至开关SW3的可动端，由二极管桥式电路51、电流源52、53、及驱动器54所构成。二极管桥式电路51，串联地连接二极管D1、D2，串联地连接二极管D3、D4，二极管D1、D2与二极管D3、D4并联地连接。二极管D1、D2的连接点连接于开关SW3的可动端。电流源52连接于二极管D1、D3的阳极。电流源53连接于二极管D2、D4的阴极。驱动器54连接于二极管D3、D4的连接点。开关SW4在开关SW1的可动端连接固定端。电流测定模块6比主动负载5设置数少，连接开关SW4的可动端，进行电流测定，在计算单元4输出。
以下说明该装置的动作。首先，求得主动负载5的电流误差。图中未示出的控制单元，设定断开开关SW1、SW2，接通开关SW3、SW4。驱动器54，对二极管桥式电路51提供电压。藉此，可进行由电流源52的定电流供给，或由电流源53的定电流抽取，通过开关SW3、SW4，由电流测定模块6测定，电流测定模块6将此电流值输出至计算单元4，藉此，可求得实际的电流值。
其次，求输出电阻R的电阻值(输出电阻值)。图中未示出的控制单元，设定接通开关SW1～SW3，断开开关SW4。驱动器54，对二极管桥式电路51提供电压，通过开关SW3、SW1，在DUT1，由电流源52供给定电流，或由电流源53进行定电流抽取。然后，A/D转换器3通过开关SW1、SW2、及放大器2，求DUT1的输出电阻R的电压值。计算单元4将此电压值，使用电流测定模块6测定的电流值，来求输出电阻R的电阻值。
然后，实施阶调测定。图中未示出的控制单元设定接通开关SW1～SW3，断开开关SW4。驱动器54对二极管桥式电路51提供电压，通过开关SW3、SW1，在DUT1，由电流源52供给定电流，或由电流源53进行定电流抽取。然后，DUT1由图中未示出的讯号产生器输入信息，且由D/A转换器11将阶层电压，通过输出电阻R输出。A/D转换器3将此阶层电压，通过开关SW1、SW2、及放大器2，求测定值。计算单元4输入此测定值，且计算单元4依照(测定值)-(DUT1的输出电阻值)×(主动负载5的电流值)，求实际的阶层电压值。由此阶层电压值，计算单元4进行DUT1的良否的判定。
如此，由于计算单元4藉由DUT1的输出电阻值及主动负载5的电流值加以修正，故即使在DUT1供给或抽取电流，亦可得正确的DUT1的阶层电压值，可进行正确的测试。
另外，由在每一个DUT1的输出引线设置的主动负载5提供电流，藉由A/D转换器3可高速地求得每一个DUT1的输出引线的输出电阻R，即使在每一个DUT1测定，亦可以极少测试时间完成，即使使用阶层电压值的修正，亦可抑制测试时间的增加。
其次，以图2所示说明其它实施例。在此，与图1相同部分以相同符号标示且省略对其的说明。
在图2中，减算单元7设置于DUT1的输出引线与放大器2之间，将输出以既定电压减算。而且，减算单元7由D/A转换器71、减算器72所构成。D/A转换器71输出既定电压。减算器72减算由通过开关SW1、SW2的DUT1的输出与D/A转换器71的输出，且输出至放大器2。
接着说明该装置的动作。DUT1由输出的阶层电压在减算器72减算D/A转换器71的输出，在放大器2放大，输出至A/D转换器3。其它动作由于与图1所示的装置相同，故省略说明。如此，在减算单元7，藉由减算DUT1的阶层电压，且在放大器2放大，在A/D转换器3可进行高精密度的阶层电压测定。
依照测定的输出电阻值、电流值，进行阶层电压的修正，但有时采用输出电阻值的理想值，或将主动负载5的设定电流作为电流值进行修正的构成亦可。另外，使用DUT1输出引线的代表输出电阻值、主动负载5的代表电流值，加以修正的构成亦可。
测定单元虽显示为包含放大器的构成，但亦可为在D/A转换器3内的构成。
计算单元4虽显示为修正阶层电压的构成，但亦可修正期待值侧，将其与测定值比较，来进行DUT1的良否判定的构成。
减算单元7虽显示为设置减算器72的构成，但亦可为加算器。在此情况下，令其向D/A转换器71输出负电压。
权利要求
1.一种集成电路测试器，用以对被测试对象进行测试，包含a)电流单元，对于该被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；以及b)测定单元，进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定，依照该被测试对象的输出电阻值与该电流单元的电流值加以修正。
2.一种集成电路测试器，用以对被测试对象进行测试，包含a)主动负载，设置于每一个该被测试对象的输出引线，对于被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；b)模拟/数字转换器，设置于每一个该被测试对象的输出引线，进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定；以及c)计算单元，将此模拟/数字转换器的输出，依照该被测试对象的输出电阻值与该主动负载的电流值加以修正。
3.如权利要求1所述的集成电路测试器，其中包含a)减算单元，设置于被测试对象的输出引线与模拟/数字转换器之间，将输出予以减算既定电压；以及b)放大器，将此减算器的输出放大后，输出至模拟/数字转换器。
4.如权利要求2或3所述的集成电路测试器，其中，计算单元依照(输出电阻值)×(电流值)进行修正，来求取被测试对象的输出电压值。
5.如权利要求2或3所述的集成电路测试器，其中，设有电流测定模块，连接于主动负载，用以求取电流值，输出至计算单元。
6.如权利要求1至3中任一权利要求所述的集成电路测试器，其中，被测试对象是输出多阶层电压的液晶驱动器。
全文摘要
本发明的目的在于实现即使对于被测试对象供给或抽取电流，亦可正确地进行测试的集成电路测试器。本发明是对于用以测试被测试对象的集成电路测试器加以改进。本装置具备电流单元，在被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；以及测定单元，进行被测试对象输出引线的电压测定，依照被测试对象的输出电阻值及电流单元的电流值加以修正。
文档编号G09G3/00GK1948982SQ20061013610
公开日2007年4月18日 申请日期2006年10月11日 优先权日2005年10月11日
发明者永沼英树 申请人:横河电机株式会社