导电性支持体,感光体,图像形成装置以及处理卡盒的制作方法_2

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当图像形成装置100使用5色以上的颜色时,图像形成装置100与 所使用的颜色的数量一致,变换作像装置20的数量。下面,以使用白色(W)、黄色(Y)、品 红色(M)、青色(C)以及黑色(K)的5色实行图像形成的作像装置20为例进行说明。
[0075] 〈图像形成处理〉
[0076] 图2是说明本发明的一个实施形态所涉及的图像形成装置的图像形成处理的一 个例子的概要图。
[0077] 图像形成装置100具有中间转印带10、与各色对应的作像装置20、与各色对应的 光束扫描装置21、中间转印体清洁单元17和二次转印单元22。
[0078] 光束从光束扫描装置21射入作像装置20。作像装置20根据射入的光束实行作像 处理。电子照相的图像形成处理实行充电、曝光、显影、转印以及定影5个处理。作像处理 是充电、曝光、显影以及转印。
[0079] 作像装置20在作像处理中使各色的调色剂图像形成在中间转印带10上。各色的 作像装置20形成的各色的调色剂图像按顺序重叠,形成5色的彩色调色剂图像。
[0080] 基于图像数据调制的光束射入作像装置20的感光体单元40。
[0081] 充电单元18实行充电处理。充电处理是充电单元18使感光体单元40的表面带 电的处理。
[0082] 带电的感光体单元40通过光束实行曝光处理。曝光处理是在感光体单元40的表 面形成静电潜像的处理。
[0083] 显影单元29实行显影处理。显影处理是对感光体单元40上形成的静电潜像附着 调色剂、形成调色剂图像的处理。从调色剂瓶(图中未示)向显影单元29供给调色剂。
[0084] 调色剂图像通过转印器62转印到中间转印带10上。
[0085] 作像后的各色调色剂图像在中间转印带10上重叠,作为1个调色剂图像转印到记 录介质上。
[0086] 转印后,除电单元19进行感光体单元40的除电,清洁单元13进行调色剂图像的 去除。
[0087] 当转印后的调色剂图像进入二次转印单元22时,介质被送向二次转印单元22。中 间转印带10上的调色剂图像转印到送达二次转印单元22的记录介质上。
[0088] 二次转印单元22将中间转印带10上形成的5色的彩色调色剂图像转印至记录介 质。之后,定影单元25实行定影处理。
[0089] 中间转印体清洁单元17在转印处理之后除去5色的彩色调色剂图像。
[0090] 感光体是例如图2的感光体单元40。感光体具有导电性支持体80。在作为感光 体表面的导电性支持体80上形成凹凸形状。
[0091] 凹凸形状的状态由粗糙度曲线(JIS B0601 2001)表示。粗糙度曲线是一元数据 排列。导电性支持体80的表面用例如小波(Wavelet)变换得出的多分辨率解析进行评价。
[0092] 图3是说明用于评价本发明的一个实施形态所涉及的感光体的表面粗糙度的评 价系统的一个例子的概要图。
[0093] 评价系统70具有夹具(jig) 71、移动机构72、表面粗糙度/轮廓形状测量仪73和 PC (个人计算机,Personal Computer) 74 〇
[0094] 图中的导电性支持体80用于感光体。
[0095] 夹具71是具有测量导电性支持体80的表面粗糙度的探测器(Probe)的夹具。
[0096] 移动机构72是用于使夹具71沿着作为测量对象的导电性支持体80移动的机构。
[0097] 表面粗糙度/轮廓形状测量仪73是例如东京精密公司制造的SurfC〇ml400D。下 面,以表面粗糙度/轮廓形状测量仪73为东京精密公司制造的SurfcomHOOD的场合为例 进行说明。
[0098] PC47与表面粗糙度/轮廓形状测量仪73用RS-232C (推荐标准232, Recommended Standard 232)等的电缆连接,从表面粗糙度/轮廓形状测量仪73取得表面粗糙度数据。 PC74根据表面粗糙度数据进行多分辨率解析。
[0099] 评价系统70不局限于图3的构成。例如,评价系统70也可以是表面粗糙度/轮 廓形状测量仪73进行多分辨率解析的构成。
[0100] 测定最好以JIS设定的长度、即8mm以上、25mm以下的长度进行。还有,测定的取 样间隔可以为I μ m以下,最好是0. 2 μ m以上、0. 5 μ m以下。例如,测定的长度是12mm、且 取样点数是30720点时,取样间隔设为0. 390625 μ m。
[0101] 多分辨率解析对从表面粗糙度/轮廓形状测量仪73取得的一元数据排列进行小 波变换,分离成多个频率分量(下面,称为第1次小波变换)。频率分量是例如第1频率 分量HHH、第2频率分量HHL、第3频率分量HMH、第4频率分量HML、第5频率分量HLH和第 6频率分量HLL。第1频率分量HHH到第6频率分量HLL是第1频率分量HHH频率最高、第 6频率分量HLL频率最低场合。
[0102] 多分辨率解析实行对频率最低的第6频率分量HLL的数据作间隔剔除的处理。间 隔剔除是将数据排列的数量从1/10设为1/100的处理。例如,用第1次小波变换算出的 排列数是30000时,通过间隔剔除,设为1/10,排列数成为3000。间隔剔除由于扩大了标 度幅度,可以提高数据的频率。
[0103] 在间隔剔除的后段,多分辨率解析对间隔剔除后的一元数据进行小波变换,分离 成多个频率分量(下面称为第2次小波变换)。
[0104] 当间隔剔除比1/10小时,例如1/5时,由于数据的频率得不到足够提高,即使进行 第2次小波变换的多分辨率解析也不能使数据充分分尚。
[0105] 当间隔剔除比1/100大时,例如1/200时,由于数据的频率上升过高,数据集中在 高频率分量,不能充分地分离。
[0106] 间隔剔除是计算例如100点的数据的平均值、在以后处理中使用计算得到的平均 值的方法等。
[0107] 通过第2次小波变换分离的频率分量是例如第7频率分量LHH、第8频率分量LHL、 第9频率分量LMH、第10频率分量LML、第11频率分量LLH以及第12频率分量LLL。
[0108] 各频率分量也可以是频带局部重复的分离的分区。
[0109] 多分辨率解析根据分离的各频率分量的一元数据计算算术平均粗糙度RaCJIS B0601 2001)〇
[0110] 小波变换通过例如MathWorks (注册商标)公司制的MATLAB (注册商标)等的软 件实现。
[0111] 第1次的小波变换和第2次的小波变换的主小波函数可以使用各种小波函数。 小波函数是例如达伯齐(Daubecies)函数、哈尔(Haar)函数、迈耶(Meyer)函数、西姆莱 (Symlet)函数、科伊夫莱(Coiflet)函数等。由小波变换分离的频率分量的数量可以是评 价精度尚、且计算成本少的4以上、8以下,最好是6。
[0112] 在多分辨率解析中,也可以进行多阶段的小波变换。还有,当进行小波变换、设为 测量对象的频带分离成多个频带时,也可以有通过逆小波变换进行复原的处理。
[0113] 图4是表示关于本发明的一个实施形态所涉及的多分辨率解析的各频率分量的 计算结果的一个例子的图。计算结果是对进行第1次小波变换的数据的最低频率进行1/40 的间隔剔除处理,根据进行第2次小波变换的数据计算。图4是从进行第1次小波变换的数 据计算算术平均粗糙度Ra、最大高度RzCJIS B0601 2001)以及十点平均粗糙度RzJIS (JIS B0601 2001)的结果。
[0114] 图4 (A)是表示用于多分辨率解析(multiresolution analysis,简记为"MRA") 的测量结果的一个例子的图。下面,以得出图4的测量结果的场合为例进行说明。
[0115] 图4 (A)是用表面粗糙度/轮廓形状测量仪73测量的测量结果。测量结果为粗糙 度曲线(JIS B0601 2001)。图4(A)的测量结果是测量长度为12mm场合。
[0116] 图4(B)是根据进行第1次小波变换的数据的计算结果的一个例子。图4(B)从上 往下按频率下降的顺序进行图示。
[0117] 第1频率分量的图线Gl是作为最高频率分量的第1频率分量HHH的图线。
[0118] 第2频率分量的图线G2是作为比第1频率分量HHH低1个的频率分量的第2频 率分量HHL的图线。
[0119] 第3频率分量的图线G3是作为比第1频率分量HHH低2个的频率分量的第3频 率分量HMH的图线。
[0120] 第4频率分量的图线G4是作为比第1频率分量HHH低3个的频率分量的第4频 率分量HML的图线。
[0121 ] 第5频率分量的图线G5是作为比第1频率分量HHH低4个的频率分量的第5频 率分量HLH的图线。
[0122] 第6频率分量的图线G6是作为最低频率分量的第6频率分量HLL的图线。
[0123] 图5是表不本发明的一实施形态所涉及的多分辨率解析的各频率分量的分尚状 态的一个例子的图。横轴是凹凸形状设为正弦波时的每Imm长度出现的凹凸数。纵轴是分 离在各频带的比例。
[0124] 第1频率分量的频带的图线GFl是表示第1频率分量HHH的频带的图线。
[0125] 第2频率分量的频带的图线GF2是表示第2频率分量HHL的频带的图线。
[0126] 第3频率分量的频带的图线GF3是表示第3频率分量HMH的频带的图线。
[0127] 第4频率分量的频带的图线GF4是表示第4频率分量HML的频带的图线。
[0128] 第5频率分量的频带的图线GF5是表示第5频率分量HLH的频带的图线。
[0129] 第6频率分量的频带的图线GF6是表示第6频率分量HLL的频带的图形。
[0130] 在图5中,当每Imm的凹凸数为20个以下时,出现在第6频率分量的频带的图线 GF6。当例如每Imm的凹凸数为110个时,最强出现在第4频率分量的频带的图线GF4,且出 现在第4频率分量的图线G4。当例如每Imm的凹凸数是220个时,最强出现在第3频率分 量的频带的图线GF3,且出现在第3频率分量的图线G3。当例如Imm的凹凸数是310个时, 出现在第2频率分量的频带的图线GF2以及第3频率分量的频带的图线GF3,且出现在第3 频率分量的图线G3。
[0131] 因此,由每Imm的凹凸数,即表面粗糙度决定表示在图4以及图5中的某条图线。 细小毛糙等由于是高频率,以高频率分量显示。波动等由于是低频率,以低频率分量表示。 从各频率频带的图线计算算术平均粗糙度Ra、最大高度Rz以及十点平均粗糙度Rz JIS。
[0132] 为了进行第2次小波变换,作为最低频率分量的第6频率分量HLL的第6频率分 量的图线G6实行间隔剔除。通过间隔剔除,在多分辨率解析时,目标频率可以成为频带的 中心。图6是以从图4(A)的40个数据中取一个的比例1/40的间隔剔除场合。
[0133] 图6是表示本发明的一实施形态所涉及的间隔剔除的处理结果的一个例子的图。 纵轴表示表面的凹凸,单位是μm。横轴表示
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