至少在其表面上具有通过将固化性树脂组合物固化形成的固化层的构件的制作方法

文档序号:8268683阅读:245来源:国知局
至少在其表面上具有通过将固化性树脂组合物固化形成的固化层的构件的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种构件,更具体地,涉及至少在其表面上具有通过将固化性树脂组 合物固化获得的固化层的构件。
【背景技术】
[0002] 将作为建筑用材料的功能性面板配置为建筑物壁面、地面或天花板壁面,并且根 据配置的位置,将各种性能如隔音效果和湿度调节性赋予功能性面板。此类功能性面板,特 别是当用作房子当中的湿漉漉的地方如卫生间、盥洗室和厨房用的构件,要求具有包括拒 水性、拒油性和滑动性等的各种性能以便经受住更严苛的使用环境。
[0003] 如此,已试图将含有引入其中的具有低表面自由能的低表面自由能化合物因而具 有降低的表面自由能的组合物施用至构件的表面,以便赋予优异的拒水性和抗污性(Stain repellency)至构件。作为此类低表面自由能化合物,使用了疏水性材料如氟系化合物或娃 酮系化合物等。
[0004] 例如,专利文献1 (下述PTLl)公开了在其表面上具有含有低表面自由能化合物的 固化涂布材料的湿漉漉的地方用构件,并且进一步公开了作为低表面自由能化合物的硅酮 树脂化合物和氟树脂化合物。
[0005] 如上所述低表面自由能化合物如硅酮系化合物和氟系化合物的使用使得拒水性 和拒油性得以改进。
[0006] 然而,由于硅酮系化合物不具有充分低的表面自由能,因而存在能将拒油性赋予 至其的问题,因此硅酮系化合物具有低耐久性。另一方面,尽管氟系化合物具有优异的拒水 性和拒油性,但仍存在氟系化合物由于水和氟系化合物之间强烈的相互作用而具有其表面 上的水滴的低滑动性(水滑动性)的问题。
[0007] 如此,为了改进表面的性能,已研宄了含氟硅酮化合物的使用。
[0008] 例如,专利文献2 (下述PTL2)公开了已在基材的表面上形成含有氟系树脂和硅酮 系树脂的接枝聚合物和半导体光催化剂的层的产品。
[0009] 此外,专利文献3(下述PTL3)公开了在其表面上具有由含氟硅化合物的涂布剂组 合物获得的固化膜的产品。
[0010] 此外,专利文献4 (下述PTL4)公开了通过将其表面上用含有机硅化合物作为活性 成分的表面处理剂涂布而获得的基材。
[0011] 然而,尽管将氟化合物共混在已知为具有高拒水性和滑动性的材料的硅酮化合物 中能够获得具有更高拒水性的材料,但由于组合物中氟化合物链和硅酮化合物链的长度, 仍存在氟组分和硅酮组分之一在表面上被主要地偏析,而抑制拒水性和拒油性与滑动性的 相容性的问题。
[0012] 引文列表
[0013] 专利文献
[0014] PTL I :日本专利申请特开公布No. 2002-69378
[0015] PTL 2 :日本专利申请特开公布No. 10-237430
[0016] PTL 3 :日本专利申请特开公布No. 2009-30039
[0017] PTL 4 :日本专利申请特开公布No. 2000-144121
[0018] 本发明的目的是提供在维持拒水性和拒油性的同时可具有改进的滑动性(能够 使得表面上的水滴容易除去的水滑动性)的构件。

【发明内容】

[0019] 发明要解决的问题
[0020] 即,根据本发明的构件为至少在其表面上具有通过将固化性树脂组合物固化获得 的固化层的构件,其中固化层的距离最外表面的深度为Inm以内的区域存在I. 0原子%至 10. 0原子%的氟元素和I. 0原子%至20. 0原子%的硅元素。
[0021] 根据本发明,由于在固化层的距离最外表面的深度为Inm以内的区域存在I. 0原 子%至10. 0原子%的氟元素和I. 0原子%至20. 0原子%的硅元素,所以可提供在维持拒 水性和拒油性的同时可具有改进的滑动性的构件。
【具体实施方式】
[0022] 下文中,将详细描述本发明。
[0023] 注意:在本说明书中,⑴"在固化层的距离最外表面的深度为Inm以内的区域"意 指"固化层的最外表面和固化层的距离最外表面的深度为Inm的部分之间的区域",(ii)"超 过Inm且5nm以内深度的区域"意指"固化层的距离最外表面的深度为Inm的部分和固化层 的距离最外表面的深度为5nm的部分之间的区域(不包括固化层的距离最外表面的深度为 Inm的部分),(iii) "原子% "意指"规定的元素的原子数与不包括氢⑶原子和氦(He) 原子的全部原子数之比",(iv) "(甲基)丙烯酰基"意指"甲基丙烯酰基或丙烯酰基",和 (V) "(甲基)丙烯酸酯"意指"甲基丙烯酸酯或丙烯酸酯"。
[0024] (构件)
[0025] 根据本发明的构件至少在其表面上具有固化层,并且必要时,还包括基材层和其 他层。这里,固化层可以在基材层的上表面和背面两个表面上形成,或者固化层和基材层可 以一体化地形成以致构件以其整体起到作为固化层的功能。即,"固化层"要求至少仅形成 在构件的表面上(即,在下述基材层上(在构件的表面上)),或者可以形成为基材(即,作 为整体构件形成而不是形成在其表面上)。
[0026] 此外,在(i)当"固化层"形成在"基材层"上时("当固化层形成在基材层上作 为涂布层时")和(ii)当"固化层"形成为基材时(当固化层形成为整体构件而不是形成 在其表面上时)(即,"当固化层通过包括内部添加至其的规定的化合物形成为整体基材 时)这两种情况下,可以使用在一个分子中含有氟元素和硅元素的化合物(例如,后述的 FMV-4031),或者可以分别添加含氟元素化合物和含硅元素化合物。然而,在这两种情况下, 优选分别添加含氟元素化合物和含硅元素化合物。
[0027] 上述构件可以为要求在其表面上具有排水性的湿漉漉的地方用构件、和功能性面 板等。
[0028] 尽管构件的厚度没有特别地限定,但可以根据目的而适当地选择,典型地优选为 2. 5_以上。构件的最大厚度没有特别地限定,但可以根据目的而适当地选择。
[0029] 〈固化层〉
[0030] 固化层是通过将固化性树脂组合物固化获得的层,其中(i)在距离最外表面(即, 构件的最外表面)的深度为Inm以内的区域中的各元素的浓度和(ii)在距离最外表面的 深度为超过Inm且5nm以内的区域中的各元素的浓度在如下所述的规定范围内。只要在规 定的范围内,则各元素的浓度可具有梯度。
[0031] 固化层的厚度没有特别地限定,但可以根据目的而适当地选择,并且优选为Iym 至 500 μ m〇
[0032] 固化层可以为(A)通过将(i)固化性树脂和(ii)含氟化合物和含硅化合物和/或 在一个分子内含氟元素和硅元素的化合物固化而获得的层;(B)通过将(i)固化性树脂,和 (ii)包括与固化性树脂反应的反应性基团(例如,环氧基、丙烯酰基和羟基)的含氟元素 化合物、具有与固化性树脂反应的反应性基团的含硅元素化合物,和/或包括与固化性树 脂反应的反应性基团且在一个分子中还包括氟元素或硅元素的化合物(例如,FMV-4031, 由Gelest Inc.制造)共聚而获得的层;或者(C)通过借助于例如,热聚合,将包括含氟化 合物和含硅化合物和/或在一个分子中包括氟元素和硅元素的化合物的固化性树脂(那些 化合物内部添加至固化性树脂)固化而获得的层。
[0033] 注意:"内部添加"意指将⑴氟化合物和硅化合物和/或(ii)在一个分子中包 括氟元素和硅元素的化合物内部添加至例如,材料如FRP等。
[0034] 当固化层通过将(i)固化性树脂,和(ii)具有与固化性树脂反应的反应性基团的 含氟元素化合物、具有与固化性树脂反应的反应性基团的含硅元素化合物,和/或具有与 固化性树脂反应的反应性基团且在一个分子中同时包括氟元素或硅元素的化合物共聚而 获得时,包括存在于化合物(ii)中的氟元素和硅元素的化合物在表面上偏析,由此表现性 能,以及(i)固化性树脂和化合物(ii)由于反应性基团而相互反应,由此进一步改进耐久 性。
[0035] 此外,当固化层通过将包括含氟化合物和含硅化合物和/或在一个分子内含氟元 素和硅元素的化合物的固化性树脂(那些化合物内部添加至固化性树脂)固化而获得时, 固化性树脂固化的同时低表面能,即,(i)含氟化合物和含硅化合物和/或(ii)在一个分子 中包括氟元素和硅元素的化合物在表面上偏析,由此固化层可以表现出其性能。在该情况 下,可以通过例如下述方法来制造构件:将(i)含氟化合物和含硅化合物和/或(ii)在一 个分子中具有氟元素和硅元素的化合物混炼进作为基材(功能性面板)的热固性树脂(基 础树脂)并且将由此获得的混合物固化(热聚合)的方法。在该情况下,整个构件(整个 面板)形成固化层。
[0036] 当固化层通过将包括(i)含氟化合物和含硅化合物和/或(ii)在一个分子中包 括氟元素和硅元素的化合物的固化性树脂(那些化合物内部添加至固化性树脂)热聚合而 固化时,固化层固化的同时(i)含氟化合物和含硅化合物和/或(ii)在一个分子中包括氟 元素和硅元素的化合物在表面上偏析,由此可以进一步改进固化层的性能。
[0037] 这里,在距离最外表面的深度为Inm以内的区域(S卩,在距离最外表面约0. 5至 LOnm深度的区域)中的各元素的浓度通过使用X-射线光电子能谱仪(XPS) (Quantum 2000,由ULVAC-PHI,Inc.制造),在(i)15度的检测角(出射角),(?)Α1Κα线的X-射线 型,和(iii)直径1〇〇μπι、2(Μ和15kV的光束条件的测量条件下来测量。对于各元素的定 量测定,采用F ls、Si 2p、C ls、O Is和N Is的峰。
[0038] 此外,在距离最外表面的深度为超过Inm且5nm以内的区域(S卩,在距离最外表面 约1.5至4. Onm深度内的区域)中的各元素的浓度通过使用X-射线光电子能谱仪(XPS) (Quantum 2000,由ULVAC-PHI,Inc.制造),在⑴45度的检测角(出射角),(ii)AlKa线 的X-射线类型,和(iii)直径l〇〇ym、20W和15kV的光束条件的测量条件下来测量。对于 各元素的定量测定,采用F Is、Si 2p、C Is、O Is和N Is的峰。
[0039] 〈〈在距离最外表面的深度为Inm以内的区域中的各元素的浓度》
[0040]-氟元素浓度-
[0041] 在固化层的距离最外表面的深度为Inm以内的区域中的氟元素浓度没有特别地 限定,但可以根据目的而适当地选择,只要
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