1.一种集成电路，包括：
用于存储数据的存储器；
耦接到存储器用于测试存储器的操作的存储器内置自测试(MBIST)单元；
用于传输测试数据的测试接口；以及
连接在一起成为至少一个串行扫描链的多个触发器；
其中所述测试接口单元被配置为接收包括MBIST配置数据的测试数据，并且
其中所述MBIST单元被配置为，在第一模式中，基于所述MBIST配置数据与采用所述至少一个扫描链的扫描测试至少部分并行地执行所述存储器的测试。
2.根据权利要求1的集成电路，其中所述MBIST单元包括多个触发器，其被配置为，在第二模式中，形成至少一个串行扫描链。
3.根据权利要求1的集成电路，其中所述测试接口单元包括多个触发器，其被配置为，在第二模式中，形成至少一个串行扫描链。
4.根据权利要求1的集成电路，其中所述测试接口单元从所述MBIST单元接收表示所述存储器的所述测试的结果的测试结果数据。
5.根据权利要求1的集成电路，进一步包括：
用于独立地重置所述MBIST单元的MBIST重置输入；以及
基于所述MBIST配置数据产生表示存储器保持测试的持续时间的信号的保持测试控制单元。
6.一种测试集成电路的操作的方法，该方法包括：
在集成电路的测试接口单元接收包括存储器内置自测试(MBIST)配置数据的测试数据；
根据所述MBIST配置数据配置所述集成电路的MBIST单元，其中所述MBIST单元被配置为测试所述集成电路的存储器；
用扫描数据加载触发器的串行扫描链以执行所述集成电路的一部分的扫描测试；以及
在所述集成电路的第一测试模式中与测试所述存储器的所述MBIST单元 至少部分并行地执行所述扫描测试。
7.根据权利要求6的方法，其中在所述第一测试模式中，从所述扫描测试中排除所述测试接口单元和所述MBIST单元以执行存储器测试。
8.根据权利要求6的方法，进一步包括：
通过所述MBIST单元给所述存储器加载测试数据以用于测试所述存储器；以及
根据由所述MBIST配置数据选择的算法来配置所述测试数据。
9.根据权利要求6的方法，其中在第二测试模式中，所述MBIST单元和所述测试接口单元中的至少一个的多个触发器被配置为形成至少一个串行扫描链。
10.根据权利要求6的方法，进一步包括：
通过所述测试接口单元输出表示所述存储器测试的结果的测试结果数据；以及
根据所述MBIST配置数据配置所述存储器的保持测试的持续时间，
其中根据MBIST配置数据配置所述MBIST单元包括：将所述MBIST配置数据存储在所述集成电路的一个或多个配置寄存器中。