磁瓦检测机构的制作方法

本实用新型涉及磁瓦检测技术领域，特别涉及一种磁瓦检测机构。

背景技术：

磁瓦是永磁体中的一种用在永磁电机上的瓦状磁体，目前国内磁瓦生产量巨大，而磁瓦检测则依靠人工检测的方式，传统的人工检测主要是基于人的眼睛，由于一些生理上的限制在一些细微的裂纹上很难检测出来，同时这种方法极易受到外部环境和身体状况的影响，通常会出现漏检和误检，很难保证磁瓦的品质；这种方法工作量大、重复性高，检测的效率低下，已不适应磁瓦自动化生产的需要，影响磁瓦生产效率。

技术实现要素：

基于此，有必要提供一种结构简单且可实现自动检测的磁瓦检测机构。

一种磁瓦检测机构，设置于机架上用于对传输组件传送的磁瓦进行缺陷检测，所述磁瓦检测机构包括第一检测组件、第二检测组件以及控制器，所述第一检测组件包括第一检测支架、第一检测相机以及第一检测光源，所述第一检测支架支撑于所述机架上，且设置于所述传输组件的上方；所述第一检测相机活动设置于所述第一检测支架上并与所述第一检测光源配合，用于对所述磁瓦的外弧面、内弧面或边面中至少一者进行拍照取像；所述第二检测组件包括第二检测支架、第二检测相机、第二检测光源以及转向组件，所述第二检测支架支撑于所述机架上，且设置于所述传输组件的上方；所述转向组件设置于所述第二检测支架上，用于抓取所述传输组件上待检测所述磁瓦并进行转向操作，所述第二检测相机活动设置于所述第二检测支架上并与所述第二检测光源配合，用于对转向后的所述磁瓦的端面进行拍照取像；所述控制器用于根据所述第一检测组件和所述第二检测组件的检测结果对当前所述磁瓦进行缺陷分析。

在其中一个实施例中，所述第一检测支架包括第一横梁、第二横梁、两根第一立梁、第一相机支架以及第一光源支架，两根所述第一立梁垂直支撑固定于所述机架上，所述第一横梁和所述第二横梁向靠近所述机架的方向间隔连接于两根所述第一立梁之间，且横跨于所述传输组件上方；所述第一相机支架活动设置于所述第一横梁上，且包括第一架板、第二架板以及相机固定板，所述第一架板沿垂直所述机架的方向连接于所述第一横梁，并可在外力作用下沿所述第一横梁的延长方向横向移动，所述第二架板连接于所述第一架板远离所述第一横梁的一端，并向靠近所述机架的方向延伸。

在其中一个实施例中，所述第二架板的延长方向设置有相机滑槽，所述第一检测相机通过所述相机固定板沿所述相机滑槽向靠近或远离所述传输组件的方向可滑动地连接于所述第二架板上，并还可通过所述第一架板横向可滑动地连接于所述第一横梁上。

在其中一个实施例中，所述第一光源支架活动设置于所述第二横梁上，且包括光源固定板及间隔设置于所述光源固定板上的两根支杆；所述光源固定板连接于所述第二横梁，并可在外力作用下沿所述第二横梁的延长方向横向移动，所述光源固定板沿平行所述第二横梁方向设置有光源滑槽，两根所述支杆垂直连接于所述光源固定板的相同一侧，且横向可滑动地连接于所述光源滑槽内。

在其中一个实施例中，两根所述支杆的延长方向均开设长孔。

在其中一个实施例中，所述第一检测组件还包括第一感应开关，所述第一感应开关设置于两根所述支杆之间，用于感应所述磁瓦到位后，触发所述第一检测相机。

在其中一个实施例中，所述第二检测支架包括第三横梁、两根第二立梁以及两个相机光源固定板，两根所述第二立梁垂直支撑固定于所述机架上，所述第三横梁连接于两根所述第二立梁之间，且横跨于所述传输组件上方；两个所述相机光源固定板分别活动设置于两根所述第二立梁上，并可在外力作用下沿两根所述第二立梁的延长方向纵向移动。

在其中一个实施例中，所述第二检测相机为分别对所述磁瓦两个端面进行拍照取像的两个，所述第二检测光源为与两个所述第二检测相机相互配合的两个；两个所述第二检测相机和两个所述第二检测光源成对配合的设置于两个所述相机光源固定板上，并可在外力作用下随对应的所述相机光源固定板沿所述第二立梁上下移动。

在其中一个实施例中，所述转向组件包括吸附件、升降驱动件以及旋转驱动件，所述旋转驱动件安装于所述第三横梁上，所述升降驱动件与所述旋转驱动件连接，所述吸附件设置于所述升降驱动件上，并可在所述升降驱动件的驱动下向靠近或远离所述传输组件的方向移动，并在所述旋转驱动件的驱动下相对所述第三横梁旋转。

在其中一个实施例中，所述第二检测组件包括第二感应开关，所述第二感应开关设置于所述传输组件上且位于两个所述相机光源固定板之间，用于当感应所述磁瓦进入所述传输组件时触发所述转向组件进行转向并触发所述第二检测相机进行拍照取像。

本实用新型磁瓦检测机构设置于机架上，磁瓦放置于传输组件上并随之依次经过第一检测组件和第二检测组件，以对磁瓦的外弧面、内弧面、边面以及端面进行拍照取像，并通过控制器分析判断磁瓦否存在缺陷，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

附图说明

图1为本实用新型一较佳实施方式中磁瓦检测机构的结构示意图；

图2为本实用新型一较佳实施方式中磁瓦的结构示意图；

图3为图1所示磁瓦检测机构中第一检测组件的结构示意图；

图4为图1所示磁瓦检测机构中第二检测组件的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参看图1和图2，本实用新型一较佳实施例中磁瓦检测机构100，设置于机架200上，用于对由传输组件300传送的磁瓦400进行缺陷检测，实现磁瓦检测的自动化。其中，磁瓦400包括外弧面401、与外弧面401相对的内弧面402、分别连接于外弧面401和内弧面402弧长方向的两侧的两个边面403以及连接于两个边面403之间的两个端面404。由于磁瓦400的缺陷类型包括磨歪、崩脚、边裂等十几种缺陷，且每个面和每种缺陷需要的相机光源均有所不同，因此根据对磁瓦400的不同部位及每个部位的不同缺陷类型，机架200上设置有外弧面磨歪检测工位、两个1/2外弧面缺陷检测工位、内弧面磨歪检测工位、内弧面缺陷检测工位、边面检测工位以及端面检测工位共7个检测工位。

磁瓦检测机构100设置于机架200的上述7个检测工位上，用于分别磁瓦400不同部位及不同缺陷进行缺陷检测。下面将针对设置于上述7个检测工位上的磁瓦检测机构100进行详细说明。在本具体实施例中，外弧面磨歪缺陷检测工位(以下简称第一检测工位)、两个1/2外弧面缺陷检测工位(以下简称第二、三检测工位)、内弧面磨歪缺陷检测工位(以下简称第四检测工位)、内弧面缺陷检测工位(以下简称第五检测工位)、边面检测工位(以下简称第六检测工位)以及端面检测工位(以下简称第七检测工位)沿传输组件300的传输方向依次设置。且由于需要对磁瓦400的外弧面401和内弧面402均进行缺陷检测，因此在对磁瓦400进行全面检测的同时需要对磁瓦400进行翻转。其中，传输组件300包括第一输送件301与第二输送件302沿磁瓦400的移动方向依次设置并对接形成有高度差。在本具体实施例中，第一输送件301与第二输送件302设置于第三检测工位和第四检测工位之间。

可以理解地，在其它一些实施例中，7个检测工位的位置及排列顺序可以根据需要而定，对应的第一输送件301与第二输送件302的对接位置亦可作匹配性调整，在此均不作限定

具体地，磁瓦检测机构100包括第一检测组件10、第二检测组件30以及控制器(图未示)。其中，第一检测组件10为依次设置于第一检测工位至第六检测工位的六个，第二检测组件30设置于第七检测工位，控制器用于对第一检测组件10和第二检测组件30的检测结果对当前磁瓦400进行缺陷分析

请参看图3，每个第一检测组件10包括第一检测支架11、第一检测相机13以及第一检测光源(图未示)，第一检测支架11支撑于机架200上，且设置于传输组件300的上方。第一检测相机13活动设置于第一检测支架11上并与第一检测光源配合，用于对磁瓦400的外弧面401、内弧面402或边面403中至少一者进行拍照取像。

第一检测支架11包括第一横梁110、第二横梁111、两根第一立梁112、第一相机支架113以及第一光源支架114。两根第一立梁112垂直支撑固定于机架200上，第一横梁110和第二横梁111向靠近机架200的方向间隔连接于两根第一立梁112之间，且横跨于传输组件300上方。第一相机支架113活动设置于第一横梁110上，且包括第一架板1131、第二架板1132以及相机固定板1133。第一架板1131沿垂直机架200的方向连接于第一横梁110，并可在外力作用下沿第一横梁110的延长方向横向移动。第二架板1132连接于第一架板1131远离第一横梁110的一端，并向靠近机架200的方向延伸。第二架板1132的延长方向设置有相机滑槽1134，第一检测相机13通过相机固定板1133沿相机滑槽1134向靠近或远离传输组件300的方向可滑动地连接于第二架板1132上，并还可通过第一架板1131横向可滑动地连接于第一横梁110上。如此，使得每个工位上第一检测相机13可对应实现对磁瓦400的外弧面401、内弧面402以及边面403进行拍照取像。

第一光源支架114活动设置于第二横梁111上，且包括光源固定板1141及间隔设置于光源固定板1141上的两根支杆1143。光源固定板1141连接于第二横梁111，并可在外力作用下沿第二横梁111的延长方向横向移动。光源固定板1141沿平行第二横梁111方向设置有光源滑槽1145，两根支杆1143垂直连接于光源固定板1141的相同一侧，且横向可滑动地连接于光源滑槽1145内。同时，两根支杆1143的延长方向均开设长孔1147，以安装不同工位不同规格的光源，例如，条形光、环形光、同轴光以及碗状光源。此外，两根支杆1143之间的距离可根据不同工位不同规格光源沿光源滑槽1145进行匹配性调节。第一检测光源设置于两根支杆1143上，且位于第一检测相机13的下方。

进一步地，第一检测组件10还包括第一感应开关15，第一感应开关15设置于两根支杆1143之间，用于感应磁瓦400到位后，触发第一检测相机13。控制器根据第一检测相机13获取的图像进行判断当前磁瓦400存在缺陷时，记录当前磁瓦400的编码，以便于下料机构50在磁瓦400输出时进行良品与不良品的分类。

在本具体实施例中，设置于外弧面磨歪缺陷检测工位(即第一检测工位)的第一检测相机13，用于对磁瓦400的外弧面401进行拍照取像，以进行外弧面401上的磨歪缺陷进行检测。由于磁瓦400的外弧面401弧度较大，采用一部第一检测相机13可能无法清晰拍到整个外弧面401的缺陷，因此将外弧面401分为两部分进行简写，即设置于第二检测工位和第三检测工位的两个1/2外弧面缺陷检测工位中第一检测相机13分别对磁瓦400上对应半个外弧面401进行拍照取像，以对外弧面401上其他缺陷进行检测。当磁瓦400经过第三检测工位后，外弧面401的检测基本完成后即将进行内弧面402的检测，此时，磁瓦400由第一输送件301传输至第二输送件302上时，磁瓦400沿着第一输送件301移动至尽头，磁瓦400前端落下，第一输送件301会给磁瓦400后端一个推力，促使磁瓦400完成翻转并落到第二输送件302上，以沿第二输送件301依次进入内弧面磨歪检测工位、内弧面缺陷检测工位和边面检测工位，使得设置于上述三个工位上的第一检测相机13对应完成对磁瓦400中内弧面402和边面403的缺陷检测。

可以理解地，在其它一些实施例中，可将上述两个1/2外弧面缺陷检测工位进行合并为一个工位，且此时合并后的工位上设置对应磁瓦400两侧两个半外弧面的两个第一检测相机13即可，在此不作限定。

请参看图4，第二检测组件30包括第二检测支架31、第二检测相机32、第二检测光源33以及转向组件35。第二检测支架31支撑于机架200上，且设置于传输组件300的上方。转向组件35设置于第二检测支架31上，用于抓取传输组件300上待检测磁瓦400并进行转向操作。第二检测相机32活动设置于第二检测支架31上并与第二检测光源33配合，用于对转向后的磁瓦400的端面404进行拍照取像。控制器用于根据第一检测组件10和第二检测组件30的检测结果对当前磁瓦400进行缺陷分析。

具体地，第二检测支架31包括第三横梁310、两根第二立梁312以及两个相机光源固定板314。两根第二立梁312垂直支撑固定于机架200上，第三横梁310连接于两根第二立梁312之间，且横跨于传输组件300上方。两个相机光源固定板314分别活动设置于两根第二立梁312上，并可在外力作用下沿两根第二立梁312的延长方向纵向移动。且本具体实施例中，第二检测相机32为分别对磁瓦400两个端面404进行拍照取像的两个，对应地第二检测光源33为与两个第二检测相机32相互配合的两个。两个第二检测相机32和两个第二检测光源33成对配合的设置于两个相机光源固定板314上，并可在外力作用下随对应的相机光源固定板314沿第二立梁312上下移动。

转向组件35包括吸附件350、升降驱动件352以及旋转驱动件354。旋转驱动件354安装于第三横梁310上，升降驱动件352与旋转驱动件354连接，吸附件350设置于升降驱动件352上，并可在升降驱动件352的驱动下向靠近或远离传输组件300的方向移动，以吸附传输组件300上的磁瓦400，吸附有磁瓦400的吸附件350还可在旋转驱动件354的驱动下相对第三横梁310旋转，以完成所吸附磁瓦300的转向。在本具体实施例中，磁瓦400进入传输组件300并经过第一检测工位至第六检测工位时，均为沿延长方向放置于传输组件300上；而传输至第七检测工位(即端面检测工位)时，需将磁瓦400旋转90度，使得两个端面304分别朝向两侧的两个第二检测相机32，以完成拍照取像。另外，转向组件35还在两个第二检测相机32拍照取像完成后，将当前磁瓦400转回至初始状态，并放回于传输组件300上进行输出。

进一步地，第二检测组件30包括第二感应开关36，第二感应开关36设置于传输组件300上且位于两个相机光源固定板314之间，用于当感应磁瓦400进入对应工位传输组件300时触发转向组件35进行转向并触发两侧的两个第二检测相机32进行拍照取像。控制器根据第二检测相机32获取的图像进行判断当前磁瓦400存在缺陷时，记录当前磁瓦400的编码。

在本具体实施例中，第一感应开关15和第二感应开关36均为红外感应装置，吸附件350为真空吸头。可以理解地，在其它一些实施例中，第一感应开关15和第二感应开关36可为其它感应器，且吸附件350为其它抓取部件，在此不作限定。

本实用新型磁瓦检测机构100设置于机架200上，磁瓦400放置于传输组件300上并随之依次经过第一检测组件10和第二检测组件30，以对磁瓦400的外弧面401、内弧面402、边面403以及端面404进行拍照取像，并通过控制器分析判断磁瓦400是否存在缺陷，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。