。
[0036]在具体实施时，本实用新型实施例提供的触控基板中，用于触控侦测的触控检测电极02的具体结构可以有多种实现方式，例如，触控检测电极02可以由多个同层设置且相互独立的自电容电极组成；触控检测电极02也可以由交叉设置的触控驱动电极和触控感应电极组成。
[0037]其中，当采用自电容电极实现触控侦测功能时，可以采用阵列基板中的公共电极层复用自电容电极，即各自电容电极组成阵列基板上的公共电极层，在将公共电极层的结构进行变更分割成自电容电极时，在现有的阵列基板制备工艺的基础上，不需要增加额外的工艺，可以节省生产成本，提高生产效率。
[0038]具体地，在本实用新型实施例提供的上述触控基板应用于显示面板时，为了减少显示和触控信号之间的相互干扰，在具体实施时，需要采用触控和显示阶段分时驱动的方式，并且，在具体实施时还可以将显示驱动芯片和触控侦测芯片整合为一个芯片，进一步降低生产成本。
[0039]具体地，例如:如图3所示的驱动时序图中，一般将显示面板中每一帧(V-sync)的时间分成显示时间段(Display)、触控检测时间段(Touch)和压力检测时间段(Force)。
[0040]在显示时间段(Display)，如图3所示，对显示面板中的每条栅极信号线Gate依次施加栅扫描信号，对数据信号线Source施加灰阶信号；当采用公共电极层Vcom复用自电容电极Cm作为触控检测电极02时，与各自电容电极Cm连接的触控侦测芯片向各自电容电极Cm分别施加公共电极信号，以实现液晶显示功能。
[0041]在触控检测时间段(Touch)，如图3所示，触控侦测芯片同时对作为触控检测电极02的自电容电极Cm、触控压力驱动电极Tx和触控压力感应电极Rx加载触控检测信号。触控压力驱动电极Tx和触控压力感应电极fcc可以消除作为触控检测电极02的自电容电极Cm的寄生电容，此时由触控按压造成的触控基板和下方的金属层05之间距离的变化不会对自电容电极Cm的电容值造成影响，因此，可以通过检测各自电容电极Cm的电容值变化以判断触控位置，实现触控的二维侦测功能。
[0042]进一步地，如图3所示，为了避免在触控检测时间段(Touch)阵列基板中的栅线Gate和数据线Source与作为触控检测电极02的自电容电极Cm之间产生对地电容从而影响触控检测的准确性，在具体实施时，在触控检测时间段，可以对阵列基板中的栅线Gate和数据线Source加载与触控检测信号相同的电信号，这样可以消除栅线Gate和数据线Source与触控检测电极02之间的对地电容，便于提高触控位置检测的准确性。
[0043]在压力检测时间段(Force)，如图3所示，触控侦测芯片对对触控压力驱动电极Tx加载触控驱动信号，此时，触控基板被按压时造成的触控基板与下方的金属层05之间的距离变小随之带来触控压力驱动电极Tx和触控压力感应电极fcc之间互电容结构的电容值相应的减少，因此检测由触控位置的压力引起的触控压力感应电极fcc的信号量变化，可以确定出互电容结构的电容值变化量，从而对垂直于触摸屏表面的z方向的压力进行探测，实现压力感应功能。
[0044]需要说明的是，本实用新型实施例提供的上述触控基板具体可以应用于液晶显示面板(Liquid Crystal Display, LCD)，或者，也可以应用于有机电致发光显示面板(Organic Electroluminesecent Display, OLED)，或者，还可以应用于其他显示面板，在此不做限定。
[0045]基于同一实用新型构思，本实用新型实施例还提供了一种显示装置，包括本实用新型实施例提供的上述触控基板，以及设置在触控基板下方的金属层。该显示装置可以为:手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。该显示装置的实施可以参见上述触控基板的实施例，重复之处不再赘述。
[0046]具体地，当本实用新型实施例提供的上述显示装置为手机时，设置在触控基板下方的金属层可以为手机的中框，即手机固件中的中框充当金属层的作用；当本实用新型实施例提供的上述显示装置的触摸基板设置在液晶显示面板内部时，设置在触控基板下方的金属层可以是背光模组背面的背光金属，即采用背光模组背面的背光金属充当金属层的作用。并且，该背光金属可以具体为包覆在背光模组外侧的金属框，也可以具体为贴覆于背光模组背面的金属贴片，在此不做限定。
[0047]基于同一实用新型构思，本实用新型实施例还提供了一种上述显示装置的驱动方法，包括:
[0048]在触控检测时间段，同时对触控检测电极、触控压力驱动电极和触控压力感应电极加载触控检测信号，检测各触控检测电极的电容值变化以判断触控位置；
[0049]在压力检测时间段，对触控压力驱动电极加载触控驱动信号，检测由触控位置的压力引起的触控压力感应电极的信号量变化。
[0050]进一步地，在上述驱动方法中，还包括:在触控检测时间段，对栅线和数据线加载与触控检测信号相同的电信号。
[0051]本实用新型实施例提供的一种触控基板及显示装置，在触控基板内增加了设置于触控检测电极所在膜层与衬底基板之间的触控压力驱动电极和触控压力感应电极，增加的触控压力感应电极和触控压力驱动电极组成互电容结构，当触控基板被按压时，触控基板与下方的金属层之间的距离变小随之带来互电容结构的电容值相应的减少。因此，在压力检测时间段，通过对触控压力驱动电极加载触控驱动信号，检测由触控位置的压力引起的触控压力感应电极的信号量变化，可以确定出互电容结构的电容值变化量，从而对垂直于触摸屏表面的z方向的压力进行探测，实现压力感应功能。在触控检测时间段，由于同时对触控检测电极、触控压力驱动电极和触控压力感应电极加载相同的触控检测信号，触控压力驱动电极和触控压力感应电极可以消除触控检测电极的寄生电容，此时由触控按压造成的触控基板和下方的金属层之间距离的变化不会对触控检测电极的电容值造成影响，因此，可以通过检测各触控检测电极的电容值变化以判断触控位置，实现触控的二维侦测功會κ。
[0052]显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种触控基板，包括衬底基板，以及设置于衬底基板上的触控检测电极，其特征在于，还包括: 设置于所述触控检测电极所在膜层与所述衬底基板之间且异层设置组成互电容结构的触控压力驱动电极和触控压力感应电极； 在触控检测时间段，同时对所述触控检测电极、触控压力驱动电极和触控压力感应电极加载触控检测信号，检测各所述触控检测电极的电容值变化以判断触控位置；在压力检测时间段，对所述触控压力驱动电极加载触控驱动信号，检测由触控位置的压力引起的所述触控压力感应电极的信号量变化的触控侦测芯片。2.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述触控基板为阵列基板；所述触控压力驱动电极由设置于所述阵列基板中的像素列间隙处，且与数据线同层设置的至少一条驱动信号线组成。3.如权利要求2所述的触控基板，其特征在于，属于同一所述触控压力驱动电极的各驱动信号线之间通过与栅线同层设置的第一导线相互电性连接。4.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述触控基板为阵列基板；所述触控压力感应电极由设置于阵列基板中的像素行间隙处，且与栅线同层设置的至少一条感应信号线组成。5.如权利要求4所述的触控基板，其特征在于，属于同一所述触控压力感应电极的各感应信号线之间通过与数据线同层设置的第二导线相互电性连接。6.如权利要求4所述的触控基板，其特征在于，还包括:设置于除了设置有所述感应信号线的像素行间隙以外的像素行间隙处，且与所述栅线同层设置的浮空电极。7.如权利要求2-6任一项所述的触控基板，其特征在于，所述触控检测电极为多个同层设置且相互独立的自电容电极；或， 所述触控检测电极为交叉设置的触控驱动电极和触控感应电极。8.如权利要求7所述的触控基板，其特征在于，各所述自电容电极组成所述阵列基板上的公共电极层。9.如权利要求2-6任一项所述的触控基板，其特征在于，在触控检测时间段，所述阵列基板中的栅线和数据线加载与所述触控检测信号相同的电信号。10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的触控基板，以及设置在触控基板下方的金属层。11.如权利要求10所述的显示装置，其特征在于，所述金属层为手机的中框或背光模组背面的背光金属。
【专利摘要】本实用新型公开了一种触控基板及显示装置，在触控基板内增加设置于触控检测电极所在膜层与衬底基板之间的组成互电容结构的触控压力驱动电极和触控压力感应电极，当触控基板被按压时，触控基板与下方的金属层之间的距离变小随之带来互电容结构的电容值相应的减少。因此，在压力检测时间段，通过对触控压力驱动电极加载触控驱动信号，检测由触控位置的压力引起的触控压力感应电极的信号量变化，可以确定出互电容结构的电容值变化量，从而实现压力感应功能。在触控检测时间段，同时对触控检测电极、触控压力驱动电极和触控压力感应电极加载相同的触控检测信号，通过检测各触控检测电极的电容值变化以判断触控位置，实现触控的二维侦测功能。
【IPC分类】G06F3/044
【公开号】CN205068355
【申请号】CN201520860628
【发明人】丁小梁, 董学, 王海生, 陈小川, 刘英明, 杨盛际, 赵卫杰, 刘伟, 李昌峰, 王鹏鹏, 任涛, 刘红娟
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司
【公开日】2016年3月2日
【申请日】2015年10月30日