有机el元件、有机el显示装置和有机el元件的制造方法

文档序号:7222302阅读:141来源:国知局
专利名称:有机el元件、有机el显示装置和有机el元件的制造方法
技术领域
本发明涉及有机EL (electroluminescent:场致发光)元件。此夕卜, 本发明还涉及使用有机EL元件的有机EL显示装置和有机EL元件的 制造方法。
背景技术
图14表示下述专利文献1中公开的现有的有机EL元件。有机EL 元件X形成在透明基板91上,包括反射膜92、阳极93、有机层94和 阴极95。反射膜92由金属制成。阳极93为多层透明电极。更详细而 言,有机层94由空穴注入层94a、空穴输送层94b、发光层94c、电子 输送层94d和电子注入层94e构成。阴极95为透明电极。
若在阳极93和阴极93之间赋与电场,则介于它们之间的发光层 94c放射光。在图中上方放射的光透过阴极95,向有机EL元件X的 上方放射。另一方面,在下方放射的光透过阳极93,在被反射膜92 反射后,透过阳极93、有机层94和阴极93,最终向有机EL元件X 的上方放射。结果是,有机EL元件X向着与位于下方的透明基板91 相反的方向放射光。这种结构称为顶部发射型。
通常,阴极93通过在作为材料的ITO (Indiun Tin Oxide:铟锡氧 化物)或IZO (Indiun Zinc Oxide:铟锌氧化物)上实施溅射法、分子 线外延法(以下称为MBE法)、或离子电镀法而形成。但是,使用这 种方法,要使有机层94上升至超过IO(TC的高温。因此存在有机层94 受到化学损伤的情况。而且,上述方法使构成ITO或IZO的原子、分 子或离子等粒子与有机层94冲突。因此有机层94不可避免地受到物 理损伤。这些损伤可成为引起有机EL元件的特性异常,例如消耗电力 的不当增大或亮度降低等的原因。日本专利特开2004-247106号公报

发明内容
本发明考虑上述问题而提出,其课题是通过抑制制造工序中的有
机层的损伤,提供表现出低消耗电力和高亮度的有机EL元件。此外, 本发明的另一课题是提供使用该有机EL元件的有机EL显示装置,以 及提供该有机EL元件的制造方法。
本发明的第一方面提供的有机EL发光元件,具备相互相对配置 的阳极和阴极;和介于上述阳极和阴极之间,并且包括发光层的有机 层。上述阴极由MgAg合金构成,且具有200A以下的厚度。
根据这种结构,能够使上述阴极的功函数小于由例如ITO构成的 阴极。因此,能够提高电子从上述阴极向上述有机层注入的效率,减 少上述有机EL元件的消耗电力。此外,上述发光层放射的光能够透过 上述阴极,能够实现上述有机EL元件的高亮度化。而且,上述阴极能 够通过以Mg和Ag为蒸镀源的共蒸镀形成,由此能够避免上述有机层 受损伤。
在本发明的优选实施方式中,上述阴极具有40 100A的厚度。根 据这种结构,能够提高上述阴极的透过率,并且减小上述阴极的片电 阻。因此,上述有机EL元件能够表现出低消耗电力和高亮度。
在本发明的优选实施方式中,上述阴极具有25 70atomic。/。的Ag 浓度。根据这种结构,上述阴极的功率功函数为3.7eV以下的程度。 这适合于降低消耗电力。
在本发明的优选实施方式中,上述阴极由均匀浓度层和不均匀浓 度层构成,上述均匀浓度层在厚度方向上具有均匀的Ag浓度;上述不 均匀浓度层夹着上述均匀浓度层,位于与上述有机层相反一侧,'并且 在厚度方向上具有不均匀的Ag浓度。根据这种结构,可将上述均匀浓 度层的Ag浓度设定为适合于减小功函数的浓度;同时,将上述不均匀 浓度层中与上述均匀浓度层相反一侧的部分的Ag浓度设定为适合于 抑制气氛引起的侵蚀等的大浓度。因此,上述有机EL元件能够兼顾低 的消耗电力和对环境的耐性。
在本发明的优选实施方式中,上述均匀浓度层具有25 70atomic% 的Ag浓度。这种结构适合于减小上述有机EL元件的消耗电力。
在本发明的优选实施方式中,上述均匀浓度层具有20A以上的厚
度。根据这种结构,能够适当地发挥提高电子从上述阴极向上述有机 层注入的效率的效果。
在本发明的优选实施方式中,上述不均匀浓度层的最远离上述均 匀浓度层的部分的Ag浓度,比上述不均匀浓度层的最接近上述均匀浓
度层的部分的Ag浓度大。根据这种结构,上述有机EL元件能够兼顾 低消耗电力和对环境的耐性。
在本发明的优选实施方式中,上述不均匀浓度层的最远离上述均 匀浓度层的部分的Ag浓度为100atomic%。这种结构适合于抑制上述 阴极被气氛等侵蚀。
在本发明的优选实施方式中,上述不均匀浓度层包括第一MgAg 合金层;和夹着上述第一 MgAg合金层,位于与上述均匀浓度层相反 一侧,并且具有比上述第一 MgAg合金层的Ag浓度大的Ag浓度的第 二MgAg合金层。根据这种结构,上述有机EL元件也能够兼顾低消耗 电力和对环境的耐性。
在本发明的优选实施方式中,还包括夹着上述阴极,位于与上述 有机层相反一侧的Au层,并且上述阴极的厚度和上述Au层的厚度合 计为200A以下。根据这种结构,有利于避免上述阴极被气氛等侵蚀。 此外,上述阴极和上述Au层能够防止不恰当地衰减上述发光层放射的 光。
在本发明的优选实施方式中,还包括介于上述阴极和上述有机层 之间,并且含有Li的层。根据这种结构,能够提高电子从上述阴极向 上述有机层的注入效率。
本发明的第二方面提供的有机EL显示装置,其特征在于,包括 基板;被支承在上述基板上的多个由本发明的第一方面提供的有机EL 元件;和用于对上述多个有机EL元件进行发光驱动的有源矩阵电路。 根据这种结构,上述有机EL显示装置能够表现出低消耗电力和高显示 画质。
在本发明的优选实施方式中,上述基板为硅基板,上述有源矩阵 电路具备在上述基板上形成的多个晶体管。根据这种结构,能'够以高 密度配置上述有机EL元件,由此,上述有机EL显示装置能够显示更 精细的图像。
本发明的第三方面提供的有机EL元件的制造方法,其包括形成 阳极的工序;形成包括发光层的有机层的工序;和形成阴极的工序。 其特征在于,形成上述阴极的工序通过共蒸镀Mg和Ag而进行。根据 这种结构,能够适当地制造本发明的第一方面提供的有机EL元件。
在本发明的优选实施方式中,上述共蒸镀以0.1 1.0A/sec的蒸镀 速度进行。根据这种结构,能够适当地制造上述阴极,不会不当地损 伤上述有机层。
在本发明的优选实施方式中,形成上述阴极的工序包括分别使 Mg和Ag的蒸镀速度一定以进行共蒸镀的工序;和以Ag的蒸镀速度 与Mg的蒸镀速度之比随着时间的经过而变大的方式进行共蒸镀的工 序。根据这种结构,能够制造上述阴极,使其具有由Ag浓度均匀的均 匀浓度层和离上述均匀浓度层越远则Ag浓度越大的不均匀浓度层构 成的叠层结构。
在本发明的优选实施方式中,其还包括在形成上述阴极的工序之 后,在上述阴极上蒸镀Au的工序。根据这种结构,能够避免上述阴极 被气氛等侵蚀。
在本发明的优选实施方式中,其还包括在形成上述有机层工序之 后、形成上述阴极的工序之前,形成含有Li的层的工序。这种结构有 利于提高电子从上述阴极向上述有机层的注入效率。
本发明的其他特征和优点,通过以下参照附图进行的详细说明, 可更加清楚。


图1为表示本发明的有机EL元件的第一实施方式的主要部分截面
图2为图1所示有机EL元件的主要部分放大截面图3为表示图1所示有机EL元件的阴极厚度和Ag浓度的关系的
图4为表示使用图1所示有机EL元件的有机EL显示装置的主要 部分截面图5为用于说明在图4所示有机EL显示装置的制造方法的一个例
子中,形成有源矩阵电路的工序的主要部分截面图6为用于说明在图2所示有机EL显示装置的制造方法的一个例 子中,形成阳极的工序的主要部分截面图7为用于说明在图4所示有机EL显示装置的制造方法的一个例 子中,形成有机层的工序的主要部分截面图8为用于说明在图4所示有机EL显示装置的制造方法的一个例 子中,形成阴极的工序的主要部分截面图9为表示MgAg合金的透过率的图10为表示MgAg合金的片电阻的图11为表示MgAg合金的功函数的图12为表示本发明的有机EL元件的第二实施方式的主要部分截 面图13为表示图12所示有机EL元件的阴极厚度和Ag浓度的关系 的图14为表示现有的有机EL元件的一个例子的主要部分截面图。
具体实施例方式
图1表示本发明的有机EL元件的第一实施方式。基板1为绝缘基 板,支承有机EL元件Al。有机EL元件Al形成在基板1之上。有机 EL元件A1包括反射层5、阳极2、有机层3和阴极4。
在基板1上形成的反射层5用于使向图中下方传播的光L向图中 上方反射。反射层5由具有比较高的反射率的例如A1构成。
在反射层5上形成的阳极2用于通过将电场赋与有机层3而在有 机层3中注入空穴。阳极2与电源P的+极导通。阳极2为透明的, 具有1000A左右的厚度,由例如ITO或IZO等材料构成。
阳极2和阴极4所夹着的有机层3由空穴输送层3a和在其上叠层 的发光层3b构成。
空穴输送层3a用于将从阳极2注入的空穴向发光层3b进行输送。 空穴输送层3a具有500A左右的厚度,由例如N,N'-双(l-萘基)-N,N,-二苯基-l,l,-联苯-4,4,-二胺(a-NPD)、三苯胺衍生物(TPD)或苯胺的 4聚体(TPTE)构成。 发光层3b是用于使光产生的部分。光的产生通过从阳极2注入的 空穴与从阴极4注入的电子的再结合而引起。发光层3b具有500A左 右的厚度,由例如将8羟基喹啉进行三配位后的铝络合物(以下称为 Alq3)构成。Alq3为电子输送能力比较大的材料。
这样,为了提高空穴和电子的注入平衡,本实施方式的有机层3 具有由空穴输送层3a和发光层3b构成的二层结构。但是,本发明的 有机层的结构不限于此,例如也可以为具备空穴注入层、电子输送层 和电子注入层等的构造。
在发光层3b上形成的LiF层41具有5A左右的厚度。
在LiF层41上形成的阴极4用于通过将电场赋与有机层3而将电 子注入有机层3中。阴极4与电源P的一极导通。阴极4具有80A左 右的厚度,由MgAg合金构成。
在阴极4上形成的Au层42用于保护阴极4不受气氛等的侵蚀, 具有IOA左右的厚度。
图2表示阴极4的详细结构。阴极4由均匀浓度层4a和在其上叠 层的不均匀浓度层4b构成。均匀浓度层4a具有30A左右的厚度ta, 在厚度方向上具有均匀的Ag浓度。不均匀浓度层4b具有50A左右的 厚度tb,在厚度方向上具有均匀的Ag浓度。
图3为表示阴极4厚度方向的Ag浓度分布的图,横轴表示阴极4 的厚度方向尺寸,纵轴表示Ag浓度。在均匀浓度层4a中,Ag浓度表 示50atomic (原子)%左右的一定值。在不均匀浓度层4b中,Ag浓度 随着离开均匀浓度层4a而单调增加。与均匀浓度层4a相接的部分的 不均匀浓度层4b的Ag浓度为与均匀浓度层大致相同的50atoraic。/。的 程度。另一方面,最远离均匀浓度层4a的部分的不均匀浓度层4b的 Ag浓度为大致100atomic%。
图4表示使用有机EL元件Al的有机EL显示装置的一个例子。 有机EL显示装置B1具备基板1、有源矩阵电路C、绝缘层81、场氧 化膜77、矩阵状配置的多个有机EL元件Al和保护层82。有机EL显 示装置Bl对能够从图中上方目视确认的图像进行显示。
基板1为例如单晶硅基板。
在基板1上形成的有源矩阵电路C用于对多个有机EL元件Al进 行发光驱动。有源矩阵电路C包括多个晶体管7、栅极配线78、数据 配线79以及其他配线(图示略)。
多个晶体管7用于进行多个有机EL元件A1的切换(switching)。 各个晶体管7分别为具有栅极电极71、源极电极72、漏极电极73、 N+源极区域74、 N+漏极区域75、通(channel)区域76的MOS (Metal Oxide Semiconductor:金属氧化物半导体)型晶体管。
栅极电极71用于产生作用于通道区域76上的电场。栅极电极71 隔着绝缘层81设在通道区域76的图中上方,并且与栅极配线78导通。 源极电极72通过有机EL元件Al的反射层5与阳极2导通。漏极电 极73与数据配线79导通。
当栅极电极71设定为高电位或低电位时,晶体管7切换为ON状 态或OFF状态。当晶体管7为ON状态时,源极电极72和漏极电极 73导通。由此对有机EL元件A1施加电场,有机EL元件A1发光。
多个晶体管7由绝缘层81覆盖。相邻的晶体管7彼此通过场氧化 膜77绝缘。
多个有机EL元件Al在绝缘层81上形成矩阵状。这些有机EL元 件Al具有参照图1说明过的结构。阴极4作为有机EL显示装置Bl 具有的全部有机EL元件A1的共通电极起作用。
保护层82以覆盖多个有机EL元件Al的方式形成。保护层82具 有比较大的透过率,由例如混入有干燥剂的玻璃和对其进行密封的紫 外线硬化性树脂构成。
其次,以下参照图5 图8对有机EL显示装置Bl的制造方法的 一个例子进行说明。该制造方法包括有机EL元件Al的制造工序。
首先,如图5所示,准备由单晶硅构成的基板l。其次,在该基板 1上形成包括多个晶体管7的有源矩阵电路C、绝缘层81和场氧化膜 77。
其次,如图6所示,形成多个反射层5和多个阳极2。其具体的 顺序如下。首先,在绝缘层81上形成到达源极电极72的多个触点孔 81a。其后,通过对绝缘层81实施例如使用Al的溅射,形成Al薄膜。 在该Al薄膜上,利用溅射法、MBE法或离子电镀法等形成具有1000A 左右的厚度的ITO薄膜。并且,通过利用光刻法对这些薄膜实施成形,
形成多个反射层5和多个阳极2。各反射层5以具有进入触点孔81a中 的部分的方式形成。因此各阳极2与各源极电极72导通。
其次,如图7所示,形成有机层3。其具体的顺序如下。首先,通 过使用a-NPD的真空蒸镀法,形成具有500A左右的厚度的空穴输送 层3a,以覆盖多个阳极2和绝缘层81。作为空穴输送层3a的材料, 可以使用TPD或TPTE代替a-NPD。其次,通过使用Alq3的真空蒸镀 法,在空穴输送层3a上形成具有500A左右的厚度的发光层3b。
其次,如图8所示,形成LiF层41。 LiF层41具有5A的厚度, 通过例如真空蒸镀法形成。
再者,如该图所示,形成阴极4。阴极4通过例如使用Mg和Ag 作为蒸镀源的共蒸镀形成。具体而言,首先,在将Mg和Ag的蒸镀速 度比设定为1: 1的状态下进行共蒸镀,形成均匀浓度层4a。该均匀浓 度层4a具有50atomic。/。的Ag浓度和30A左右的厚度。接着,在使Mg 和Ag的蒸镀速度比从上述的1: 1缓慢变化至0: 1的同时进行共蒸镀。 即,在使Ag的蒸镀速度为一定的状态下,使Mg的蒸镀速度随着时间 的经过向0线性地减少。由此如图3所示,得到Ag浓度在其厚度方向 上从50atomic。/。至100atomic%,线性分布的不均匀浓度层4b。不均匀 浓度层4b的厚度为例如50A左右。上述共蒸镀的蒸镀速度优选为0.1 1.0A/sec的程度。
再者,如该图所示,形成Au层42。 Au层42具有10A左右的厚 度,利用例如真空蒸镀法形成。
最后,形成图4所示的保护层82。其具体的顺序如下。首先,利 用混入有干燥剂的玻璃覆盖Au层42。其次,利用紫外线硬化性树脂 密封该玻璃。通过以上顺序,能够得到使用多个有机EL元件A1的有 机EL显示装置B1。
接着,对有机EL元件和使用该有机EL元件的有机EL显示Bl 的作用进行说明。 -
根据本实施方式,阴极4利用蒸镀法形成。因此,能够避免有机 层3受到物理的或化学的损伤。特别是,如果使形成阴极4时的蒸镀 速度为0.1 1.0A/sec的程度,适于避免有机层3的损伤。
通过使有机层3不受损伤,可适当地进行向有机层3的电子注入,而且防止发光层3b的光放射的不当降低。其结果是,有机EL元件A1 能够具有低消耗电力和高亮度。此外,通过使用这种有机EL元件A1, 有机EL显示装置Bl能够表现出低的消耗电力和高的显示画质。
图9表示MgAg合金的厚度和透过率(Tr)的关系。MgAg合金 为构成阴极4的材料。三种类型的点分别表示对于450nm、 550nm、 600nm的波长的光的透过率。从本图可看出,在阴极4的厚度为80A 左右的情况下,阴极4的透过率为55%左右。如果具有这种程度的透 过率,则能够使来自发光层4b的光L适当地向图1中的图中上方透过。 因此,阴极4具有80A左右的厚度,有利于顶部发射型的有机EL元 件Al的高亮度化和有机EL显示装置B1的画质的提高。而且,根据 本发明的发明者们的研究可知,为了实现有机EL元件A1的高亮度和 有机EL显示装置B1的高画质,必需至少15%程度、优选40%程度以 上的阴极4的透过率。作为结论,如果阴极4的厚度在200A以下,则 能够发挥有机EL元件A1的发光功能。此外,更为优选阴极4的厚度 在IOOA以下。
图10表示MgAg合金的厚度和片电阻(SR)的关系。从本图中可 看出,在阴极4的厚度为80A左右的情况下,阴极4的片电阻表现为 18Q/sq。片电阻越小,电子从阴极4向有机层3的注入效率越高。本 实施方式的阴极4的片电阻为与由一般的ITO构成的阴极的片电阻相 同的程度或其以下。因此,能够降低有机EL元件Al和有机EL显示 装置B1的消耗电力。此外,根据本发明的发明者们的研究可得到以下 见解为了降低有机EL元件A1和有机EL显示装置B1的消耗电力, 必须将阴极4的片电阻至少抑制在40Q/sq以下。作为结论,优选阴极 4的厚度为40A以上。
从以上可知,如果使阴极4的厚度为40 100A的程度,在兼顾高 亮度化和省电力化方面是令人满意的。
图11表示MgAg合金的Ag浓度和功函数(WF)的关系。从本图 中可看出,随着MgAg合金中的Ag浓度从Oatomicn/。开始增大,功函 数从3.8eV的程度开始缓慢减小。当Ag浓度为70atomic。/。的程度时, 功函数表现作为最小值的3.6eV的程度,当Ag浓度进一步变大,超过 80atomic。/。的程度时,功函数变得极端地大。在本实施方式中,位于有
机层3 —侧的均匀浓度层4a的Ag浓度为50atomicn/。的程度,因此均 匀浓度层4a的功函数表现为比较小的3.65eV的程度。如果功函数小, 则向有机层3的电子注入效率高,进而能够减小有机EL元件Al和有 机EL显示装置B1的消耗电力。此外,为了提高电子从阴极4向有机 层3的注入效率,优选使阴极4中至少有机层3 —侧的部分的Ag浓度 为25 75at0mk%。由此,能够使阴极4的有机层3—侧的部分的功函 数大致为3.7eV以下。其中,作为均匀浓度层4a的厚度,优选20A以 上。
此外,如图3所示,与阴极4的Au层42相接的部分的Ag浓度 为100atomic%。由此在有机EL元件A1的制造工序中,难以被气氛侵 蚀。作为结果,可提高阴极4的耐环境性,抑制有机EL元件A1和有 机EL显示装置B1的制造工序中的劣化或因使用引起的经年变化。如 果使阴极4为由均匀浓度层4a和不均匀浓度层4b构成的叠层构造, 能够兼顾电子注入效率的提高和对环境的耐性的提高。此外,在与阴 极4中的Au层42相接的部分的Ag浓度比均匀浓度层4a的Ag浓度 大的情况下,能够提高对环境的耐性。更为优选该部分的Ag浓度为 100atomic%。
覆盖阴极4的Au层42对于防止阴极4被气氛等侵蚀具有效果。 如果Au层42的厚度和阴极4的厚度合计为200A以下,则能够使由 Au层42和阴极4构成的叠层体的透过率为15%左右,进而能够发挥 有机EL元件A1的发光功能。
介于有机层3和阴极4之间的含有Li的LiF层起到作为缓冲层的 功能,提高电子从阴极4向有机层3的注入效率。
图12和图13表示本发明的有机EL元件的第二实施方式。其中, 在这些图中,关于与上述第一实施方式类似的要素,采用同一符号标 示。
在有机EL元件A2中,阴极4的不均匀浓度层4b由多个MgAg 合金层构成的这点与上述第一实施方式不同,其他的构成要素与图1 所示的有机EL元件A1相同。如图12所示,不均匀浓度层4b具有由 具有大致相同的厚度的MgAg合金层4bl、 4b2、 4b3和4b4构成的叠 层构造。如图13所示,不均匀浓度层4b的Ag浓度,离开均匀浓度层 4a的距离(SD)越大而台阶式地增大。该不均匀浓度层4b能够通过 例如共蒸镀Mg和Ag而形成。在共蒸镀的过程中,在使Ag的蒸镀速 度为一定的状态下,通过使Mg的蒸镀浓度随着时间的经过而台阶式 地减小,能够得到具有图13所示的Ag浓度分布的不均匀浓度层4b。
根据该实施方式,也能够通过均匀浓度层4a提高电子注入效率, 并且提高阴极4的耐环境性。
本发明的有机EL元件、有机EL显示装置和有机EL元件的制造 方法不限定于上述实施方式。本发明的有机EL元件和有机EL显示装 置的各部分的具体结构可自由地作各种设计变更。此外,本发明的有 机EL元件的制造方法中所包括的各处理也可自由地作各种变更。
阴极优选具有由均匀浓度层和不均匀浓度层构成的叠层构造。但 是在阴极整体中Ag浓度均匀也可以。在这种结构中,对于电子注入效 率的提高,也优选使Ag浓度为25 70atomic%。此外,阴极的Ag浓 度在阴极整体中不均匀也可以。在这种结构中,优选阴极中有机层一 侧的部分的Ag浓度为25 70atomic。/。,另一方面,最远离有机层的部 分的Ag浓度为100atomic%。
权利要求
1.一种有机EL发光元件,其特征在于,具备相互相对配置的阳极和阴极;和介于所述阳极和阴极之间,并且包括发光层的有机层,其中,所述阴极由MgAg合金构成,且具有200以下的厚度。
2. 如权利要求1所述的有机EL元件,其特征在于 所述阴极具有40 100A的厚度。
3. 如权利要求1所述的有机EL元件,其特征在于 所述阴极具有25 70atomic。/。的Ag浓度。
4. 如权利要求1所述的有机EL元件,其特征在于 所述阴极由均匀浓度层和不均匀浓度层构成,所述均匀浓度层在厚度方向上具有均匀的Ag浓度;所述不均匀浓度层夹着所述均匀浓度 层,位于与所述有机层相反一侧,并且在厚度方向上具有不均匀的Ag 浓度。
5. 如权利要求4所述的有机EL元件,其特征在于 所述均匀浓度层具有25 70atomicG/。的Ag浓度。
6. 如权利要求4所述的有机EL元件,其特征在于 所述均匀浓度层具有20A以上的厚度。
7. 如权利要求4所述的有机EL元件,其特征在于 所述不均匀浓度层的最远离所述均匀浓度层的部分的Ag浓度,比所述不均匀浓度层的最接近所述均匀浓度层的部分的Ag浓度大。
8. 如权利要求7所述的有机EL元件,其特征在于 所述不均匀浓度层的最远离所述均匀浓度层的部分的Ag浓度为100atomic%。
9. 如权利要求7所述的有机EL元件,其特征在于所述不均匀浓度层包括第一 MgAg合金层;和夹着所述第一MgAg合金层,位于与所述均匀浓度层相反一侧,并且具有比所述第一 MgAg合金层的Ag浓度大的Ag浓度的第二 MgAg合金层。
10. 如权利要求1所述的有机EL元件,其特征在于 还包括夹着所述阴极,位于与所述有机层相反一侧的Au层,所述阴极的厚度和所述Au层的厚度合计为200A以下。
11. 如权利要求I所述的有机EL元件,其特征在于 还包括介于所述阴极和所述有机层之间,并且含有Li的层。
12. —种有机EL显示装置,其特征在于,包括 基板;被支承在所述基板上的多个有机EL元件;和 用于对所述多个有机EL元件进行发光驱动的有源矩阵电路,其中,所述各有机EL元件具备相互相对配置的阳极和阴极;和介于所述阳极和阴极之间,并且包括发光层的有机层,所述阴极由MgAg合金构成,且具有200A以下的厚度。
13. 如权利要求12所述的有机EL显示装置,其特征在于所述基板由硅制成,所述有源矩阵电路具备在所述基板上形成的 多个晶体管。
14. 一种有机EL元件的制造方法,其特征在于,包括: 形成阳极的工序;形成包括发光层的有机层的工序;和 形成阴极的工序,其中,所述阴极的形成通过共蒸镀Mg和Ag而进行。
15. 如权利要求14所述的有机EL元件的制造方法,其特征在于: 所述共蒸镀以0.1 1.0A/sec的蒸镀速度进行。
16. 如权利要求14所述的有机EL元件的制造方法,其特征在于: 形成所述阴极的工序包括分别使Mg和Ag的蒸镀速度一定以进行共蒸镀的工序;和以Ag的蒸镀速度与Mg的蒸镀速度之比随着时间 的经过而变大的方式进行共蒸镀的工序。
17. 如权利要求14所述的有机EL元件的制造方法,其特征在于 还包括在形成所述阴极的工序之后,在所述阴极上蒸镀Au的工序。
18. 如权利要求14所述的有机EL元件的制造方法,其特征在于 还包括在形成所述有机层的工序之后、形成所述阴极的工序之前,形成含有Li的层的工序。
全文摘要
本发明涉及有机EL元件、有机EL显示装置和有机EL元件的制造方法。有机EL发光元件(A1)具备相互相对配置的阳极(2)和阴极(4);和介于所述阳极(2)和阴极(4)之间,并且包括发光层(3b)的有机层(3)。阴极(4)由MgAg合金构成,且具有200以下的厚度。优选阴极(4)的厚度为40~100的范围。
文档编号H01L51/50GK101194378SQ200680020289
公开日2008年6月4日 申请日期2006年6月6日 优先权日2005年6月9日
发明者下地规之, 加藤弘树, 守分政人, 渊上贵昭 申请人:罗姆股份有限公司
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