晶体管及其形成方法与流程

文档序号:11709247阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
一种晶体管及其形成方法,其中晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底中形成有阱区,所述阱区中掺杂有第一类型的杂质离子;在所述半导体衬底表面上形成漏区,所述漏区掺杂有第二类型的杂质离子,第一类型与第二类型相反;在漏区的侧壁表面形成侧墙;在漏区和侧墙两侧的半导体衬底内形成凹槽;在凹槽底部的半导体衬底内形成源区,所述源区掺杂有第二类型的杂质离子;在源区表面形成隔离层;在凹槽的侧壁表面形成栅介质层;形成栅介质层后,形成填充凹槽的栅电极。本发明方法形成的晶体管的电流驱动能力提升,并减少了漏电流的产生。

技术研发人员:赵猛
受保护的技术使用者:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
技术研发日:2016.01.11
技术公布日:2017.07.18
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