半导体发光器件的制作方法

文档序号:14611453发布日期:2018-06-05 20:57阅读:来源:国知局
半导体发光器件的制作方法

技术特征:

1.一种半导体发光器件,其特征在于:包括

n型氮化物半导体层;

p型氮化物半导体层;

位于所述n型氮化物半导体层与所述p型氮化物半导体层之间,且当所述n型氮化物半导体层和所述p型氮化物半导体层通电时能够发光的活性层;

位于所述活性层与所述p型氮化物半导体层之间的电子阻挡层;

以及位于所述活性层与所述电子阻挡层之间的p型夹层。

2.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述电子阻挡层为掺杂有p型杂质的AlGaN或AlInGaN层。

3.根据权利要求2所述的半导体发光器件,其特征在于:所述p型杂质为Mg。

4.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述p型夹层为MgN层。

5.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述n型氮化物半导体层为掺杂有n型杂质的AlxInyGa(1-x-y)N层,其中,0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1。

6.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述p型氮化物半导体层为掺杂有p型杂质的AlxInyGa(1-x-y)N层,其中,0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1。

7.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述活性层为InaGa1-aN层,其中,0≤a≤1。

8.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述活性层为量子阱层InGaN和量子阻挡层GaN相互堆叠的多重量子阱结构。

9.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其特征在于:所述p型氮化物半导体层上还设置有透明导电层,且n型氮化物半导体层的裸露部分和透明导电层上各设置有n-电极和p-电极。

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