，其中，根据本发明的范围在该相位图中被描 绘，
[0035] 图2示出根据本发明的电流检测电阻的示例性的构型，所述电流检测电阻具有由 根据本发明的电阻合金构成的电阻元件，
[0036] 图3示出用于表示在根据本发明的电阻合金的不同实施例中的电阻率的温度相 关性的图表，以及
[0037] 图4示出用于表示根据本发明的电阻合金的持久稳定性的图表。
【具体实施方式】
[0038] 图1示出铜锰镍合金的相位图，其中，在左上部的轴上给出铜的质量分数，而在右 上部的轴上描述镍的质量分数。与此相对地，锰的质量分数处于下部的轴上。
[0039] -方面，该相位图以画上阴影线的形式示出区域1，在所述区域中，电阻合金趋向 于硬化。
[0040] 另一方面，该相位图示出曲线2,所述曲线以α =0示出，其中，电阻合金的温度系 数在所述曲线上等于零，也就是说，电阻合金在所述曲线上具有与温度无关的电阻率。
[0041] 最后，该相位图还示出一个下述的区域3,所述区域表示根据本发明的电阻合金， 其中，锰的质量分数在区域3中处于23%和28%之间，而镍的质量分数在区域3中处于9% 和13%之间。
[0042] 图2示出根据本发明的电流检测电阻4的简化的透视图，例如所述电流检测电阻 自身由ΕΡ0 605 800Α1公知，从而为了避免重复而参考该专利申请文件，其相关说明的内 容被完全采纳。
[0043] 电流检测电阻4基本上包括两个板状的由铜构成的连接部件5,6和在所述连接 部件之间布置的由根据本发明的电阻合金构成的电阻元件7,其中，所述电阻合金可以是 Cu65Ni10Mn25〇
[0044] 图3示出根据温度的相对电阻改变量DR/R20的与温度相关的变化曲线。由此也 显而易见的是，不同的示例性的电阻合金分别具有一个第二过零8,9或10,其中，过零8大 约在温度TNuai= 43°C下实现，而过零9大约在温度TNua2= 75°C下实现。与此相对地，过 零10大约在温度TNUlX3= 82C下实现。
[0045] 最后，图4示出根据本发明的电阻合金的持久稳定性。由此显而易见的是，相对电 阻改变量dR在3000小时的时间间隔内基本上小于0. 25%。
[0046] 本发明不局限于前述的优选的实施例。确切地说，多个变体或变型是可能的，所述 变体或变型同样使用本发明的构思并且因此落入所述保护范围内。此外，本发明要求不根 据所引用的权利要求、即例如也在没有独立权利要求的所述特征的情况下也保护从属权利 要求的内容和特征。
[0047] 附图标记列表
[0048] 1硬化区域
[0049] 2具有α =0(温度常数）的曲线 [0050] 3根据本发明的合金区域
[0051] 4电流检测电阻
[0052] 5连接部件
[0053] 6连接部件
[0054] 7电阻元件
[0055] 8第二过零
[0056] 9第二过零
[0057] 10第二过零
【主权项】
1. 一种用于电阻（4)、特别是用于低欧姆的电流检测电阻（4)的电阻合金（3)，其具有 a) 铜成分、 b) 质量分数为23%至28%的锰成分和 c) 质量分数为9%至13%的镍成分， 其特征在于， d) 所述锰成分和所述镍成分的质量分数选择为使得所述电阻合金（3)具有比铜低的 在20°C下小于±1μV/K的温差电动势。2. 根据权利要求1所述的电阻合金（3)，其特征在于， a) 质量分数为最高3%、特别是基本上1%的锡成分，特别是用于改善所述电阻合金 (3)的电阻率的温度常数，和/或 b) 质量分数为最高1%的硅成分，特别是用于改善所述电阻合金（3)的电阻率的温度 常数，和/或 c) 质量分数为最高0. 3%的镁成分，特别是用于避免由硬化效应引起的脆化。3. 根据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)，其特征在于， a) 所述铜成分的质量分数是基本上65%，并且所述镍成分的质量分数是基本上10%， 并且所述锰成分的质量分数是基本上25 %，或者 b) 所述镍成分的质量分数是基本上10%，并且所述锰成分的质量分数是基本上25%， 并且所述锡成分的质量分数是最高1 %，并且所述铜成分的质量分数是基本上剩余部分，或 者 c) 所述铜成分的质量分数是基本上62%，并且所述镍成分的质量分数是基本上11%， 并且所述锰成分是基本上27 %，或者 d) 所述镍成分的质量分数是基本上11%，并且所述锰成分的质量分数是基本上27%， 并且所述锡成分的质量分数是最高1 %，并且所述铜成分的质量分数是基本上剩余部分。4. 根据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)，其特征在于， a)大于0· 5(Ω·mm2) /m、0. 6(Ω·mm2) /m、0. 7(Ω·mm2)/m或0· 8 ( Ω·mm2) /m和 / 或 小于2. 0(Ω ·_2)/πι、1.5(Ω ·_2)/πι、1.2(Ω ·_2)/πι或1(Ω ·_2)/πι的电阻率，和/或 b) 具有高的时间常数的电阻率，所述时间常数特别是在3000小时的时间间隔内并且 在至少+140°C温度内具有小于±0. 5%或±0. 25%的相对改变，和/或 c) 比铜低的在20°C下小于±0. 5μν/Κ或±0. 3μν/Κ的温差电动势，和/或 d) 特别是在+20 °C至+60 °C的温度范围内具有小于±50 · 10l1、±35 · 10l1、 ±30 · 106K1或±20 · 106K1的低温度系数的电阻率，和/或 e) -电阻温度曲线，所述电阻温度曲线描述相对电阻改变（DR/R2。）与温度的关系， 其中，所述电阻温度曲线具有一第二过零（8,9，10)，所述第二过零在大于+20°(：、+30°(：或 +40°C的温度下和/或在小于+110°C、+100°C或+90°C下实现。5. 根据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)，其特征在于， a) 至少500Mpa、550Mpa或580Mpa的机械抗拉强度，和/或 b) 至少150Mpa、200Mpa或260Mpa的屈服强度，和/或 c) 至少30%、35%、40%或45%的断裂伸长率。6. 根据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)，其特征在于， a) 所述电阻合金（3)能够软焊和/或能够硬焊， b) 所述电阻合金（3)能够容易地变形，以使得所述电阻合金在拉丝时达到至少φ=-4.6 的对数变形度。7. 根据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)，其特征在于一种下述的供货形 式： a) 作为丝、特别是作为圆丝或者作为扁丝， b) 作为带， c) 作为薄片， d) 作为棒， e) 作为管，或者 f) 作为箱。8. -种结构元件（4)、特别是电阻（4)、特别是低欧姆的电流检测电阻（4)，其具有由根 据前述权利要求中任一项所述的电阻合金（3)构成的电阻元件。9. 一种用于制造用于电阻（4)、特别是用于低欧姆的电流检测电阻（4)的电阻合金（3) 的制造方法，特别是用于制造根据权利要求1至7中任一项所述的电阻合金（3)的制造方 法，其具有下述的步骤： 将a)铜成分、 b) 质量分数为23%至28%的锰成分、和 c) 质量分数为9%至13%的镍成分制成电阻合金（3)， 其特征在于， d) 所述锰成分和所述镍成分的质量分数选择为使得所述电阻合金（3)具有比铜低的 在20°C下小于±1μV/K的温差电动势。10. 根据权利要求9所述的制造方法，其特征在于， a) 所述电阻合金（3)经受人工热时效过程，其中，将所述电阻合金（3)从一初始温度加 热到一时效温度，和/或 b) 将所述电阻合金（3)在所述时效过程的范围内多次周期性地加热到所述时效温度 并且又被冷却到所述初始温度，和/或 c) 所述时效温度大于+80°C、+KKTC或+120°C和/或小于+300°C、+200°C或+150°C， 和/或 d) 所述初始温度小于+30°C或+20°C。
【专利摘要】本发明涉及一种用于电阻、特别是用于低欧姆的电流检测电阻的电阻合金(3)，其具有铜成分、锰成分和镍成分。本发明提出，锰成分的质量分数为23％至28％，而镍成分的质量分数为9％至13％。在此，合金成分的质量分数这样彼此协调，即电阻合金(3)具有比铜低的在20℃下小于±1μV/K的温差电动势。此外，本发明包括一种由所述电阻合金构成的元件和一种用于所述电阻合金的制造方法。
【IPC分类】C22F1/08, C22C9/05
【公开号】CN105308204
【申请号】CN201480034310
【发明人】D·楚克曼
【申请人】伊莎贝尔努特·霍伊斯勒两合公司
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2014年6月18日
【公告号】DE102013010301A1, EP3011069A1, US20160115570, WO2014202221A1