自动分析装置制造方法
【专利摘要】本发明提供安装有光散射光度计的自动分析装置，在降低外部光线的影响，提高分析精度的同时，安全且使用方便。在本体壳体的内部具有散射光测定部，具有覆盖本体壳体的上表面（410）的可开闭的保护盖（610～630）。在中央的保护盖（610）上形成有遮蔽外部光线的遮光部。此外，在保护盖上设置有可透视内部的透视部（621，631）。遮光部通过覆盖至少相当于散射光测定部的上方的反应盘的区域，从而减少漏入散射光测定部的外部光线，使散射光测定不受外部光线的影响。保护盖除了分成三部分的结构外，还可以为分成二部分的结构或一片的结构。
【专利说明】自动分析装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及分析血液、尿等生物体试样的自动分析装置。
【背景技术】
[0002]在医疗诊断用的临床检查中，进行血液、尿等生物体试样中的蛋白质、糖、脂质、酶、激素、无机离子、疾病标记等生化分析、免疫学分析。在临床检查中，因为需要对于多个检查项目进行可靠性高且高速地处理，所以其中大部分采用自动分析装置实施处理。
[0003]用自动分析装置测定的反应主要有底物和酶的显色反应、抗原和抗体的免疫反应这2种。使用前者的反应的分析称为生化分析，作为检查项目有LDH、ALP、AST等。生化分析例如将在血清等试样中混合所需试剂进行反应后的反应液作为分析对象，通过测定其吸光度来进行。使用后者的反应的分析称为免疫分析，作为检查项目有CRP、IgG、RF等。在用后者测定的被测物质中，存在在血药浓度低的低浓度区域需要定量的检查项目，在这样的项目中，使用在表面结合抗体的乳胶颗粒作为增强剂使用的乳胶免疫分析。
[0004]在专利文献I中记载了根据散射光变化来测定液体试样的浊度等的自动分析装置，设置附带分注孔的遮光用旋转盖用以覆盖反应容器夹持盘。通过遮光用旋转盖的分注孔将试剂分注于反应容器后，通过使遮光用旋转盖旋转从而使分注孔从光度计之上旋转至相反侧，使光度计在暗室状态下测定。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1:日本特开昭63 - 132169号公报
【发明内容】
[0008]发明要解决的课题
[0009]在乳胶免疫分析中，试剂中含有的乳胶颗粒表面的抗体将试样中含有的被测物质抗原识别并与之结合，其结果，乳胶颗粒通过抗原发生凝集，生成乳胶颗粒的凝集体。在以往的自动分析装置中，用光照射该凝集体进行分散的反应液，测定在乳胶颗粒的凝集体上未散射而透过的透光量。抗原的浓度越高，一定时间后凝集体的尺寸变得越大，因为有更多的光发生散射，所以透光量减少。因此，可以根据作为反应过程数据而测定的光量对抗原浓度定量。
[0010]近年来，期待乳胶免疫分析的更高的高灵敏度化。作为乳胶免疫分析的高灵敏度化的方法，考虑不用透射光而是采用散射光来测定乳胶凝集反应的方法。在采用散射光测定方式时，由于通过乳胶颗粒的凝集体发生散射的散射光强度微弱，所以容易受到外部光线的影响。因此，需要防止来自自动分析装置外部的光射入光散射光度计。此外，自动分析装置具备试样分注机构、试剂分注机构等机构部，在运行中需要采用目视确认机构部是否正常工作。
[0011]在引用文献I记载的技术中，为了旋转驱动遮光用旋转盖，需要准备新的驱动系统。此外，由于在分析中机器上表面也处于开放状态，所以存在尘埃等污染机器，或操作人员不注意触碰机器而意外受损等可能性。
[0012]本发明的目的是提供安装有光散射光度计的自动分析装置，该自动分析装置降低外部光线的影响而提高分析精度，同时安全且使用方便。
[0013]本发明的自动分析装置，在本体壳体的上表面配置有样品盘、试剂盘、反应盘以及多个分注机构，所述样品盘保持多个样品，所述试剂盘保持多种试剂，所述反应盘保持多个反应单元，所述多个分注机构具备固定于转动的臂上的喷嘴并将样品或试剂向保持在反应盘上的反应单元内分注。在本体壳体的内部设置有散射光测定部，该散射光测定部具备向反应单元进行光照射的光源和接收通过光照射由反应单元内的反应液所产生的散射光的光接收器。另外，具备可开闭地覆盖本体壳体的上表面的保护盖。在保护盖上设置有遮蔽外部光线的遮光部和可透视内部的透视部，保护盖的遮光部覆盖至少相当于散射光测定部的上方的反应盘的区域。
[0014]发明的效果
[0015]根据本发明，可以得到降低外部光线的影响可进行高精度的分析，并且安全、使用方便的自动分析装置。
[0016]除上述之外的课题、构成及效果，通过以下实施方式进行说明。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1为本发明的自动分析装置的一例的本体壳体上表面的构件的概略配置图。
[0018]图2为表示自动分析装置的整体构成例的概略图。
[0019]图3为散射光测定部的概略图。
[0020]图4为表示本发明的自动分析装置的实施例的概略立体图。
[0021]图5为表示保护盖重叠状态的截面示意图。
[0022]图6为表示锁定结构的一例的截面示意图。
[0023]图7为表示打开右侧的保护盖的状态的图。
[0024]图8为表示打开所有保护盖的状态的图。
[0025]图9为表示保护盖的遮光范围的图。
[0026]图10为表示保护盖和遮光壁的关系的详细图。
[0027]图11为表示遮光壁和分注机构的关系的说明图。
[0028]图12为表示本发明的自动分析装置的实施例的概略立体图。
[0029]图13为表示本发明的自动分析装置的实施例的概略立体图。
【具体实施方式】
[0030]以下，参照附图来说明本发明的实施方式。
[0031]图1为本发明的自动分析装置的一例的本体壳体上表面410上的构件的概略配置图。本实施例的自动分析装置，在本体壳体的上表面配置有试样盘110、试剂盘120、反应盘150、试样分注机构210、试剂分注机构220。在本实施例中，在本体壳体的上表面410上，将反应盘150配置于图的左右方向的中间，在反应盘的右侧配置有试剂盘120和试剂分注机构220。此外，在反应盘150的左侧配置有试样盘110和试样分注机构210。为了保存试剂，试剂盘具备冷藏功能，其上部由试剂盘盖覆盖。在此，试剂盘是一个，但当然也可以配置多个，也可根据试剂盘的数量、配置来增加试剂分注机构。
[0032]此外，自动分析装置具备用于在反应单元内搅拌混合液的的搅拌部、用于洗净反应单元的反应单元洗净部、用于洗净分注机构的喷嘴的喷嘴洗净部等。此外，在本体壳体的内部设置有构成分析装置的未图示的各种设备、用于驱动这些设备的电源、控制机构、恒温槽、洗净泵等。因为这些作为本发明的构成并不重要，在以往的自动分析装置中也都具备，因此将图示及详细的说明省略。
[0033]本发明的自动分析装置可在执行吸光度测定的同时执行散射光测定。在本体壳体内，在反应盘150的圆周上固定的区域配置有用于测定来自反应液的散射光的散射光测定部310。在本实施例中，散射光测定部310配置于图1中所见的偏离反应盘150的中心靠近左侧的区域。此外，散射光测定部310配置于与试样分注机构210的移动路径重叠的区域。
[0034]图2为表示包括图1所示的自动分析装置的控制系统在内的整体构成例的概略图。
[0035]试样盘110上配置有多个收纳试样的试样杯111。试剂盘120上配置有多个收纳试剂的试剂瓶121。反应盘150的圆周上配置有多个在内部使试样和试剂混合形成反应液的反应单元151。试样分注机构210具备以支柱为轴而转动的臂和固定于臂上的喷嘴，从试样杯111向反应单兀151分注一定量试样。试剂分注机构220具备以支柱为轴而转动的臂和固定于臂上的喷嘴，从试剂瓶121向反应单元151分注一定量试剂。搅拌部155在反应单元151内将试样和试剂进行搅拌混合。反应单元洗净部156从在分析结束后的反应单元151将反应液排出洗净。洗净后的反应单元151中再次由试样分注机构210分注下一个试样，由试剂分注机构220分注新的试剂，用于其他的反应。反应单元151浸溃于温度流量被控制的恒温槽内的恒温流体157中，反应单元151及其中的反应液可在保持一定温度的状态下移动。恒温流体157例如使用水，恒温流体温度通过控制部调温至37±0.1°C。在反应盘150圆周上的一部分上设置有散射光测定部310。
[0036]图3为散射光测定部的概略图。散射光测定部设置于本体壳体的内部，具备向反应单元进行光照射的光源、接受通过光照射由反应单元内的反应液产生的散射光的光接受器。作为光源311，例如可使用LED光源，将来自光源311的照射光312射入移动中的反应单元151，通过散射光接受器314接受散射光313。来自光源311的照射光的波长，例如可以为700nm。散射光接受器314测定在相对于光轴偏离角度Θ的方向散射的散射光313。角度Θ例如可以使Θ =20 °。通过散射光接受器314接受的散射光量的数据，通过测定部输入PC内的数据存储部。
[0037]试样中的被测物质的浓度定量按照以下顺序进行。首先，通过试样分注机构210将试样杯111内的试样向反应单元151分注一定量。接着，通过试剂分注机构220将试剂瓶121内的试剂向反应单元151内分注一定量。进行这些分注时，试样盘110、试剂盘120、反应盘150在控制部的控制下被各自的驱动部旋转驱动，配合分注机构210、220的分注时间而移动试样杯111、试剂瓶121、反应单元151。接着，通过搅拌部155将分注于反应单元151内的试样和试剂搅拌，形成反应液。来自反应液的散射光，在反应盘150旋转的过程中，每次通过散射光测定部310时被测定，作为反应过程数据从测定部依次被储存在数据存储部中。测定一定时间例如约10分钟后，通过反应单元洗净部156将反应单元151内洗净，进行下一个检查项目的分析。这样保持一定时间间隔后的反应液的反应过程数据被储存于数据存储部中。利用存储的散射光测定部的反应过程数据，在解析部中求出反应一定时间的光量的变化，根据事先保存在数据存储部中的检测限数据，算出定量结果，从输出部显示出来。各部的控制分析所需要的数据，从输入部输入到数据存储部。数据存储部中存储的各种数据、解析结果以及警示通过输出部显示等而被输出。
[0038]本发明的自动分析装置，为了提高分析精度，具备检测由反应液散射的散射光的散射光测定部。但是由于被散射光测定部检测的散射光微弱，不能忽视外部光线的影响，因此需要进行遮光，以免外部光线进入散射光测定部。在此，外部光线进入散射光测定部的散射光接受器的主要路径是反应单元的上方开口部。外部光线从用于分注试样、试剂而开口的反应单元的上部开口部进入反应单元内时，其中一部分在反应单元的壁部、周围的构成物上发生散射从而被散射光接受器检测出来，成为噪音的原因。此外认为，由于在反应盘上以狭窄的间隔相邻配置有多个反应单元，因此经过与进行散射光测定的反应单元邻接的反应单元，外部散射光射入散射光测定部的散射光接受器。因此，为了防止外部光线进入散射光接受器，对至少与散射光测定部的上方区域重叠的反应盘的区域在尽可能宽广的范围内进行遮光是有效的。
[0039]另一方面，由于在试样盘上安装新的试样杯组套，或者通过插入装填装入了需要分析的试样的试样杯，所以产生频繁的存取。因此，自动分析装置需要具备在保持对散射光测定部的外部光线进行遮光的状态下，可对试样盘存取的结构。进而，自动分析装置优选具有采用目视可以确认运行中分注机构等的动作的结构。
[0040]在本发明中，通过研究自动分析装置的覆盖本体壳体的上部的可开闭的保护盖的结构来满足上述要求。在保护盖上形成遮蔽外部光线的遮光部，并且设置可透视内部的透视部。遮光部，通过至少覆盖相当于散射光测定部的上方的反应盘的区域，降低漏入散射光测定部的外部光线，使散射光测定不受外部光线的影响。
[0041]可开闭的保护盖可以为分成二部分的结构，也可以为分成三部分的结构。分成二部分的结构的保护盖由形成遮光部的第I保护盖和设置有透视部的第2保护盖构成。此时，第2保护盖可单独地开闭，但形成遮光部的第I保护盖是在打开第2保护盖之后打开，或者是如果不与第2保护盖同时打开就无法打开。
[0042]分成三部分结构的保护盖由形成遮光部的第I保护盖和分别位于第I保护盖的两侦U、分别设置有透视部的第2保护盖和第3保护盖构成。此时，第2保护盖和第3保护盖可分别单独地开闭，但形成遮光部的第I保护盖，是在打开第2保护盖和第3保护盖之后打开，或者是如果不与第2及第3保护盖同时打开就无法打开的结构。
[0043]以下，对于具备可开闭的保护盖的自动分析装置的具体结构进行说明。
[0044]实施例1
[0045]图4是表示本发明的自动分析装置的第I实施例的概略立体图。本实施例的自动分析装置具备分析装置主体400和操作控制部500。在本实施例中，用3片保护盖610、620、630覆盖分析装置主体的壳体上表面。位于中间的第I保护盖610是用于遮光的遮光盖，以免外部光线进入设置于主体的壳体内部的散射光测定部，由不透光的不透明材料构成。在第I保护盖610的左侧配置的第2保护盖620是覆盖在试样盘110上的保护盖，具有由透光性材料构成的透视部621，可观察内部状况。此外，在第I保护盖610的右侧配置的第3保护盖630是覆盖试剂盘120之上的盖子，具有由透光性材料构成的透视部631，可观察内部状况。透视部621、631可透视内部即可，并非一定需要由无色透明的透光率高的材料构成，也可以着色。此外，也可以用透光性材料构成第2保护盖620、第3保护盖630的整体。操作者在关闭保护盖的情况下可通过保护盖的透视部621、631，采用目视确认各种盘的状况、分注机构的动作等，因为可容易地把握装置的运行状态，所以可安心地连续进行分析。
[0046]操作控制部500具有具备PC510、键盘520、鼠标530的输入部、具备显示器540的输出部。PC510将用于实现图2所示的测定部、解析部、控制部、数据存储部的各功能的软件储存在存储器内。
[0047]图5是表示3片保护盖的重叠状态的截面示意图。覆盖反应盘及散射光测定部的上方的中间的第I保护盖610是遮光盖，但为了确保更高的遮光性，中间的第I保护盖610为进入位于左右的第2保护盖620及第3保护盖630的下面的结构。换言之，具有如下结构，在关闭全部盖的状态下，在第I保护盖610的一部分之上重叠了第2保护盖620的一部分，在第I保护盖610的一部分之上重叠了第3保护盖630的一部分。因为这样的结构，第2及第3保护盖620、630可分别单独自由地开闭，但中间的第I保护盖610形成为在打开左右的保护盖之后打开，或者如果不与左右的保护盖同时打开就无法打开的结构。
[0048]反应盘、试样盘、试剂盘中，在自动分析装置运行中操作员需要存取的是试样盘和试剂盘。此外，运行中打开中间的第I保护盖610时，外部光线进入散射光测定部的散射光接受器内产生错误检测，到此为止时序测定的测定数据会全部浪费。因此，在自动分析装置运行中，必须极力避免打开中间的第I保护盖610。实际上，仅限于装置维护时才需要打开中间的第I保护盖610。从这样的装置运行中对试样盘和试剂盘存取的必要性，以及对散射光测定部的外部光线维持遮光状态的必要性来看，将打开频率少的中间的第I保护盖610形成为在打开左右的保护盖620、630之后打开的结构，或者是如果不与左右的保护盖620、630同时打开就无法打开的结构，是有意义的。
[0049]具有对外部光线遮光的功能的中间第I保护盖610，也可设置避免发生自动分析装置运行中不注意被打开而进行锁定的锁定结构。图6为表示锁定结构的一例的截面示意图。本实施例的锁定结构为，在第I保护盖610的面对本体壳体面的位置上设置向下方延长的舌部611，通过在舌部611上形成的孔内插入固定于本体壳体的销612，从而将第I保护盖610固定于本体壳体上不动。销612可以为，关闭第I保护盖，通过将其舌部611向下方按压动作自动地插入舌部611的孔内的结构，也可以为通过由操作控制部500指示第I保护盖610的锁定，从而销612被驱动至突出方向的结构。在维护装置时等情况下解除锁定时，由操作控制部500指示锁定解除。这样，销612进行后退离开舌部611，可打开第I保护盖610。
[0050]此外，可以设置感知第I保护盖610的开闭状态的传感器，如果第I保护盖610没有关闭，可在显示部540上显示警示，或者自动分析装置不能开始运行。作为感知第I保护盖610的开闭状态的传感器，可以使用现有的接近传感器、接触传感器等任何传感器。此夕卜，通过将利用上述锁定结构的第I保护盖的锁定状态视为保护盖关闭、未锁定的状态视为保护盖开放，从而可以将上述锁定结构替代第I保护盖的开闭状态的感知传感器使用。
[0051]图7是表示打开覆盖试剂盘120之上的第3保护盖630的状态的图。在该状态下，可以将覆盖试剂盘120的上部的试剂盘盖取下，进行试剂的追加、补充。这样开闭频率高的左右第2保护盖620或者第3保护盖630，可以在关闭中间的第I保护盖610的状态下打开，可维持散射光测定部对外部光线遮光的状态，因此，在自动分析装置运行中，在不中断测定的情况下，任何时间均可插入试样，进行试剂的追加、补充。
[0052]图8是表示将第1、第2、第3保护盖610、620、630全部打开的状态的图。第1、第
2、第3保护盖的旋转轴在各自的保护盖的后端部，如点划线图示那样设定为同轴。因此，可以将3片保护盖顺畅地同时开闭。这样通过将3片保护盖全部打开，可以对本体壳体上表面410进行完全存取(full access)，可以无限制地自由地进行本体壳体上表面410的清扫、试样分注机构210或试剂分注机构220的喷嘴状态确认及清扫、反应容器的洗净或交换等维护作业。此外，如图所示，在本体壳体的上表面410上，在反应盘150附近设置有与第I保护盖610共同发挥遮光功能的一部分的遮光壁613。关于该遮光壁613的详细情况将在以后叙述。第I保护盖610与遮光壁613共同在散射光测定部的上方区域，形成极力降低从上方及侧方进入外部光线的准封闭空间，防止通过配置于反应盘150的反应单元等外部光线射入散射光测定部的散射光接受器。
[0053]图9是表示第I保护盖610的遮光范围的图。在本实施例中，散射光测定部310配置于本体壳体内部的图示的区域。特别是散射光测定部310，由于由反应液产生的散射光的强度弱，外部光线漏入散射光接受器时测定精度降低，因此需要对散射光测定部310遮断外部光线。外部光线主要是通过配置于反应盘150的反应单元的上方开口部进入壳体内部，漏入配置于壳体内部的散射光测定部310的散射光接受器314内。通过进行散射光测定的反应单元漏入的外部光线对散射光测定产生最大的影响，其次是通过邻接的反应单元进入的外部光线的影响较大，认为反应单元距离散射光接受器越远，通过该反应单元的外部光线的影响就越小。
[0054]如果能够对反应盘150的上方区域整体遮光当然很完美，但也需要考虑对试剂分注机构220、试样分注机构210等结构系列的干涉，以及对试样盘110、试剂盘120的存取性。而且还有采用目视确认结构系列的动作的需要。因此，遮光范围需要为可至少覆盖相当于散射光测定部310的上方的反应盘150的区域的尽可能广泛的范围，但是，在本实施例中为用阴影图示的范围。即:在配置有试剂盘120的反应盘150的右侧，即相对于反应盘150的中心，在设置有散射光测定部310的一侧的相反侧的壳体上部，设定遮光范围的界限，以使其与试剂分注机构220的可动范围不重叠。此外，在配置有试样盘110的反应盘150的左侧，即在相对于反应盘150的中心设置有散射光测定部310的一侧的壳体上部，设定遮光范围的界限，以免阻碍对试样盘110的存取，使得试样盘110的上方开放。
[0055]图10是表示第I保护盖610和遮光壁613的关系的详细图。在图10 (a)中，试样分注机构210具备上下可活动的支柱211、固定于支柱上部的臂212、和固定于臂前端向下方延长的喷嘴213。因此，进行试样、试剂的吸引、吐出的喷嘴213的前端，在以支柱211为轴进行旋转的同时可上下活动。向反应单元内分注试样时，试样分注机构210以支柱211为轴进行旋转运动，使喷嘴213的前端在试样盘110上表面和反应盘150上表面之间移动。此外，如图10 (b)所示，也可为如下结构:相对于反应单元另外设置保持试剂的试剂保持区域140，从该区域140分注试剂时，试样分注机构210以支柱211为轴进行旋转运动，使喷嘴213的前端在试剂保持区域140上和反应盘150上之间移动。
[0056]第I保护盖610具有主体部615和从该主体部615开始向第2保护盖620的下方延长的突出部616。主体部615具有一定的宽度，具有与其左右的第2保护盖620及第3保护盖630以几乎相同的形状弯曲的表面，关闭3片保护盖时，如图4所示形成连续的一个曲面表面。在此，在本例中表示了保护盖弯曲的例子，但也可以为以阶梯状形状变化的结构，也可以为直线形状。
[0057]突出部616具有拱形顶部617和侧壁618，侧壁618上设置有开口 619。突出部616的拱形顶部617向外伸出，以覆盖试样分注机构210的喷嘴移动路径的一部分的上方，在本体壳体的上表面410上遮断从上方射入的光线，使其不能进入由第I保护盖610形成的内部空间。
[0058]另一方面,试样分注机构210的臂212和喷嘴213,在试样盘110和反应盘150之间，或者在图10 (b)的例子中，在试剂保持区域140和反应盘150之间运动。第I保护盖610，为了不阻碍该运动，在与试样分注机构210的喷嘴移动路径交叉的区域在侧壁618上设置有开口 619，因此这样地遮光不完全。因此在本实施例中，在偏离试样分注机构210的圆弧状的喷嘴移动路径稍微靠近支柱211的位置，设置具有不阻碍臂212及喷嘴213的移动的形状，沿着喷嘴移动路径弯曲成圆弧状的遮光臂613。通过该遮光壁613，将设置于突出部616的侧壁618上的开口 619的大部分堵住，在第I保护盖610的拱形顶部617的下侧防止来自侧方的外部光线射入反应盘150上,提高了遮光性。遮光壁613固定于本体壳体的上表面410上。通过设置于第I保护盖610的与试样分注机构210面对的侧壁618的开口 619和遮光壁613，形成试样分注机构210的臂212和喷嘴213可自由运动大小的狭缝状的缝隙。通过这样的结构，允许试样分注机构210的喷嘴213在反应盘150上进行存取，同时满足了降低漏入位于反应盘150的下方的散射光测定部310的外部光线的要求。
[0059]以上表示了在偏离试样分注机构210的圆弧状的喷嘴移动路径稍微靠近支柱211的位置，设置具有不阻碍臂212及喷嘴213的移动的形状，沿着喷嘴移动路径弯曲成圆弧状的遮光臂613的例子。但是，遮光壁并非需要弯曲，只要是不阻碍喷嘴移动的形状即可。此夕卜，虽然使喷嘴213的移动路径为圆弧状，但并不限于此。
[0060]图11为说明遮光壁613和试样分注机构210的关系的图。在遮光壁613的上部，在与使喷嘴213位于反应盘的反应单元时的臂位置相对应的位置上设置有切口 614。
[0061]图11 (a)是表示试样分注机构210的喷嘴213位于试样盘上，吸引试样的状态的图。为了确切地吸引保持在试样盘的试样杯中的试样，使臂212下降，将喷嘴213插入试样杯的底部的状态下吸引。图11 (b)是表示将吸引的试样向保持在反应盘的反应单元吐出的状态的图。使臂212旋转，使喷嘴前端位于保持在反应盘的反应单元上方。此时，试样分注机构的臂212位于设置于遮光壁613的切口 614的上方。在此位置，使试样分注机构的臂212及喷嘴下降。遮光壁613的切口 614，设计为在此位置不阻碍臂212下降规定量的尺寸。这样，试样分注机构210，将喷嘴前端确切地插入反应单元中，将吸引的试样向反应单元中吐出。
[0062]试样分注机构210的臂212，在设置于第I保护盖610的侧壁618的开口 619和遮光壁613的上端部之间形成的水平方向的缝隙通过，此外，喷嘴213在设置于侧壁618的开口 619和遮光壁613的侧端部之间形成的垂直方向的缝隙通过，因此试样分注机构210不会阻碍运动。由设置于第I保护盖610的侧壁的开口 619和遮光壁613形成的狭缝状的缝隙，是仅使试样分注机构210的臂212及喷嘴213通过的狭窄的缝隙。这样，不会阻碍试样分注机构210运动，使从第I保护盖610的试样盘110侧的侧面射入反应盘150上的外部光线为最小限度。
[0063]实施例2
[0064]图12为表示本发明的自动分析装置的第2实施例的概略图。第2实施例仅是设置于自动分析装置的本体壳体的上部的保护盖与第I实施例不同，其它结构与第I实施例相同。
[0065]在第I实施例中，保护盖为由具有遮光功能的中间部的第I保护盖、和设置于其左右的第2及第3保护盖形成的分成三部分的结构。在本实施例中，使保护盖为由左右2个保护盖形成的分成二部分的结构。配置于本实施例的右侧的第I保护盖710，相当于使实施例I中说明的第I保护盖610和第3保护盖630形成一体化的保护盖，担负对散射光测定部的外部光线进行遮光的功能。此外，本实施例的配置于左侧的第2保护盖720，具有与第I实施例中的第2保护盖620实质上相同的结构。
[0066]关闭第I保护盖710和第2保护盖720时，第I保护盖710的侧端部之上重叠第2保护盖720的侧端部。因此，第2保护盖720可与第I保护盖710无关系地单独地开闭。另一方面，第I保护盖710在打开第2保护盖之后打开，或者如果不与第2保护盖同时打开就无法打开。
[0067]因此，在自动分析装置运行途中，在产生需要对试样盘进行存取时，打开左侧的第2保护盖720之后可对试样盘进行自由地存取。此时由于右侧的第I保护盖710被关闭，因此散射光测定部维持对外部光线的遮光状态，对散射光测定无影响。此外，左右的保护盖710,720上分别设置有透视部711、721。因此，操作者在关闭保护盖的情况下，通过保护盖的透视部可采用目视确认各种盘的状况、分注机构的动作，因可容易地把握装置的运行状态，所以可安心地连续进行分析。透视部711、721只要可透视内部即可，并非一定需要由无色透明透光率高的材料构成，也可以着色。此外，左侧的第2保护盖720，整体也可用透光性材料构成。
[0068]在自动分析装置的运行中，因为需要将分析结束后的试样和新的试样替换，或者将希望尽早知道分析结果的试样插入到已经安装在试样盘上的试样的前面进行配置等，所以产生对试样盘进行频繁存取的需要。另一方面，如果在自动分析装置运行开始之前将试剂装填在试剂盘上，则不需要频繁地进行追加、补充。因此，要分析的试样数量在一定数量以下，例如已知在一天的运行时间中不需要补充试剂的使用情况下，本实施例的分成二部分结构的保护盖也不损坏使用方便性。而且，在本实施例中，由于可防止外部光线漏入散射光测定部，所以可进行高精度的散射光测定。
[0069]左右的保护盖710、720的旋转轴位于各自的保护盖的后端部，设定为同轴。因此，2片保护盖710、720可同时顺畅地进行开闭。通过同时打开2片保护盖，可对本体壳体上表面410进行完全存取，可以无限制地自由地进行本体壳体上表面的清扫、试样分注机构或试剂分注机构的喷嘴清扫、反应单元的洗净或交换等的维护作业。
[0070]在本实施例中，为了避免具有对散射光测定部的外部光线遮光功能的右侧的保护盖710在运行中不注意被打开的情况，在右侧的保护盖710上也可设置与实施例1同样的锁定结构。此外，也可设置感知具有外部光线遮光功能的右侧的保护盖710的开闭状态的传感器，在右侧的保护盖未关闭时，操作控制部显示警示，或者装置无法运行。[0071]实施例3
[0072]图13是表示本发明的自动分析装置的第3实施例的概略图。第3实施例，仅是设置于自动分析装置的本体壳体的上部的保护盖与第I实施例及第2实施例不同，保护盖以外的结构与第I实施例及第2实施例相同。
[0073]本实施例的保护盖，基本上是将第2实施例中说明的分成二部分结构类型的左右的保护盖进行一体化而形成的I片保护盖810。但是，实施例2的左侧盖是透明盖，而本实施例中用具有遮光性的不透明材料构成与其相当的部分，取代其，在与试样盘110的上方对应的区域，设置有作为透视部发挥功能的由透明材料形成的小开闭门820。因此，实施例1的以伴随中间第I保护盖610，被第2保护盖620覆盖的方式而设置的突出部616中的拱形顶部617，本实施例的保护盖810可以将其代用，因此不需要。但是，为了提高着遮光性能，优选设置图10中说明的突出部616的侧壁618和遮光壁613。根据本实施例，因为试样分注机构的上方被保护盖810的具有遮光性的不透明的部分所覆盖，因此可以减少射入散射光测定部的外部光线，有助于提高测定精度。
[0074]在本实施例中，保护盖810具有试样盘110存取用的小的透明开闭门820，在自动分析装置运行途中，在产生需要对试样盘110进行存取时，不会影响测定，能够打开开闭门820自由地对试样盘110进行存取。在关闭保护盖810及开闭门820的情况下，通过透明的开闭门820，也可以确认对安装于试样盘的试样的分析的进展状况。此外，在试剂盘及试剂分注机构的上方位置设置有透视部830。因此，操作者在关闭保护盖810的情况下，可通过透视部830采用目视确认试剂盘的状况或试剂分注机构的动作，因可容易地把握装置的运行状态，所以可安心地连续进行分析。透明的开闭门820及透视部830，只要可透视内部即可，并非一定需要由无色透明、透光率高的材料构成，也可以着色。
[0075]通过打开保护盖810可以对本体壳体上表面410完全存取，可以进行本体壳体上表面的清扫、试样分注机构或试剂分注机构的喷嘴清扫、反应容器的洗净或交换等的维护作业。
[0076]在本实施例中，为了避免发生具有对散射光测定部的外部光线遮光功能的保护盖810在运行中不注意被打开的情况，在保护盖810上也可设置如实施例1中说明的锁定结构。此外，也可设置感知具有外部光线遮光功能的保护盖810的开闭状态的传感器，在保护盖810未关闭时,在操作控制部上显示警示,或者装置无法运行。
[0077]此外，本发明并非限定于上述实施例，包括各种变形例。例如上述实施例是为了使本发明容易理解而详细说明的例子，但并非限定于一定具备说明的全部构成。此外，可以将某实施例的构成的一部分置换到其他实施例的构成中。此外，在某实施例的构成中也可加入其他实施例的构成。此外，对于各实施例的构成的一部分，也可进行其他构成的追加、删
除、置换。
[0078]符号的说明
[0079]110试样盘；111试样杯；120试剂盘；121试剂瓶；150反应盘；151反应单元；155搅拌部；156洗净部；157恒温流体；210试样分注机构；211支柱；212臂；213喷嘴；220试剂分注机构；310散射光测定部；311光源；313散射光；314散射光接受器；400分析装置主体；410壳体上表面；500操作控制部；510PC ；610第I保护盖；611舌部；612销；613遮光壁；614切口 ；615主体部；616突出部；617拱形顶部；618侧壁；619开口 ；620第2保护盖；621透视部；630第3保护盖；631透视部；710第I保护盖；711透视部；720第2保护盖；721透视部；810保护盖；820透明的开闭门；830透视部。
【权利要求】
1.一种自动分析装置，其特征在于，具备: 配置于本体壳体的上表面的样品盘、试剂盘、反应盘以及多个分注机构，所述样品盘保持多个样品，所述试剂盘保持多种试剂，所述反应盘保持多个反应单元，所述多个分注机构具备转动的臂和固定于所述臂上的喷嘴并将所述样品或所述试剂向保持在所述反应盘上的所述反应单元内分注， 设置于所述本体壳体的内部，具备向所述反应单元进行光照射的光源和接收通过所述光照射由所述反应单元内的反应液所产生的散射光的光接收器的散射光测定部，以及以覆盖所述本体壳体的上表面的方式配置，设置有遮蔽外部光线的遮光部和可透视内部的透视部的保护盖， 所述遮光部，覆盖至少相当于所述散射光测定部的上方的所述反应盘的区域。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于， 所述透视部的一部分能够单独地开闭。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于， 所述保护盖由形成所述遮光部的第I保护盖和设置有所述透视部的第2保护盖组成， 所述第2保护盖能够单独地开闭，所述第I保护盖在打开所述第2保护盖之后能够打开。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于， 在关闭所述第I保护盖和所述第2保护盖的状态下，在所述第I保护盖的一部分之上重叠有所述第2保护盖的一部分。
5.根据权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于， 当打开所述第I保护盖时，所述第2保护盖也伴随打开。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于， 所述保护盖具备:形成所述遮光部的第I保护盖；以及分别位于该第I保护盖的两侧，分别设置有所述透视部的第2保护盖和第3保护盖， 所述第2保护盖和所述第3保护盖能够分别单独地开闭。
7.根据权利要求6所述的自动分析装置，其特征在于， 在关闭所述第I保护盖和所述第2保护盖的状态下，在所述第I保护盖的一部分之上重叠有所述第2保护盖的一部分， 在关闭所述第I保护盖和所述第3保护盖的状态下，在所述第I保护盖的一部分之上重叠有所述第3保护盖的一部分。
8.根据权利要求6所述的自动分析装置，其特征在于， 所述第I保护盖在打开所述第2保护盖和所述第3保护盖之后能够打开。
9.根据权利要求6所述的自动分析装置，其特征在于， 当打开所述第I保护盖时，所述第2保护盖及所述第3保护盖也伴随打开。
10.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于， 所述遮光部为不阻碍所述分注机构的运动的形状。
11.根据权利要求10所述的自动分析装置，其特征在于， 具备遮光壁，所述遮光壁具有沿着所述分注机构的喷嘴的移动路径的形状且配置于所述本体壳体的上表面。
12.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，具有检测所述遮光部处于开放的情况的检测部。
13.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，具有锁定机构，所述锁定机构进行锁定，以使所述遮光部不能开放。
【文档编号】G01N21/47GK103842826SQ201280047628
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2012年7月31日 优先权日:2011年9月28日
【发明者】大沼满, 佐藤庸子, 山崎创, 和久井章人 申请人:株式会社日立高新技术