1.一种用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是，包括以下步骤：
（1）将待测样品（1）放置在样品台（2）上，样品台（2）中间为放置待测样品（1）的放置区域，在放置区域的周围设置凸台（3）；
（2）在待测样品（1）的上方放置白色胶膜（4），白色胶膜（4）的边缘托放在凸台（3）上；
（3）在样品台（2）上方的压力滚轮（5）向下挤压，并且压力滚轮（5）从一侧向另一侧滚压，使白色胶膜（4）与待测样品（1）紧密贴；
（4）将待测样品（1）从样品台（2）上取下，并将待测样品（1）边缘多余的白色胶膜（4）切割去除。
2.如权利要求1所述的用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是：所述白色胶膜的成分为特氟龙。
3.如权利要求1所述的用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是：所述白色胶膜的厚度不超过5微米。
4.如权利要求1所述的用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是：所述凸台（3）围绕样品台（2）的放置区域设置呈封闭状的凸台，或者围绕样品台（2）的放置区域呈间断状布置的多个凸台。
5.如权利要求1所述的用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是：所述凸台（3）的高度高于待测样品（1）的厚度，使得步骤（2）白色胶膜（4）的边缘托放在凸台（3）上后，白色胶膜（4）与待测样品（1）之间存在一定间隙。
6.如权利要求1所述的用于翘曲变形测试的样品制备方法，其特征是：所述步骤（3）中压力滚轮（5）由放置区域的一侧向另一侧滚压一次或多次。