一种用于晶体快速翻转的装置的制作方法

本实用新型涉及一种石英晶体快速翻转装置，具体是指一种用于晶体快速翻转的装置。

背景技术：

在小型化石英晶体生产领域，晶体最终检验在治具槽中都是引脚面朝下放置（便于测量后进行正面的镭射打标），测试时探针必须从下向上探测，这样在晶体上方必须存在一个下压的力使晶体固定，这样的结构影响了晶体特性测量的稳定性，测量极有可能出现误差，为了克服此结构在晶体最终检验时影响特性测量稳定性的不足，本实用新型一种用于晶体快速翻转的装置，能够实现晶体引脚朝上放置在治具槽中，测试探针从上向下测量，不需要外力固定晶体，测试后快速翻转晶体使LID面朝上，进行镭射打标作业。

技术实现要素：

本实用新型的目的是克服现有技术中石英晶体特性参数测量过程中存在的上述缺点和不足，提供一种结构简单、使用方便、参数测量准确的用于晶体快速翻转的装置。

为实现以上目的，本实用新型的技术解决方案是：一种用于晶体快速翻转的装置，包括定位板和驱动装置，所述定位板上设置有定位槽，其特征在于：所述驱动装置连接有翻转传动轴，翻转传动轴由上至下依次连接有一号连动轴、定位板和二号连动轴，二号连动轴上与定位槽对应的地方设置有磁铁，一号连动轴和二号连动轴分别通过滑杆与翻转传动轴相连，翻转传动轴上设置有与滑杆配合的水平孔，滑杆插入水平孔中。

所述驱动装置为两组电机，一组用于控制翻转转动轴，另一组通过控制一号联动轴和二号连动轴。

本实用新型的有益效果为：

本设计包含驱动装置、翻转传动轴、一号连动轴和二号连动轴，使用时，将晶体引脚朝上放置在定位板上的定位槽之中，检测完成之后，驱动装置带动翻转传动轴转动以实现上下翻转，使带磁铁的二号连动轴翻转到上位置，一号连动轴到定位板下方位置，同时两支连动轴做前后移动动作，翻转后一号连动轴前移托住晶体，二号连动轴后移，露出晶体LID面。本设计能够稳定测量晶体特性的同时，实现快速翻转晶体、使其LID面朝上放置的目的，方便下一工序镭射打标作业。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的翻转结构示意图。

图3是本实用新型中翻转传动轴的示意图。

图中：定位板1，驱动装置2，定位槽3，翻转传动轴4，一号连动轴5，二号连动轴6，磁铁7，滑杆8，水平孔9。

具体实施方式

以下结合附图说明和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

参见图1至图3，一种用于晶体快速翻转的装置，包括定位板1和驱动装置2，所述定位板1上设置有定位槽3，其特征在于：所述驱动装置2连接有翻转传动轴4，翻转传动轴4由上至下依次连接有一号连动轴5、定位板1和二号连动轴6，二号连动轴6上与定位槽3对应的地方设置有磁铁7，一号连动轴5和二号连动轴6分别通过滑杆8与翻转传动轴4相连，翻转传动轴4上设置有与滑杆8配合的水平孔9，滑杆8插入水平孔9中。

所述驱动装置2为两组电机，一组用于控制翻转转动轴4，另一组通过控制一号联动轴5和二号连动轴6。

本设计包含驱动装置2、翻转传动轴4、一号连动轴5和二号连动轴6，使用时，将晶体引脚朝上放置在定位板1上的定位槽3之中，此时一号连动轴5位于定位板1的上方，且一号连动轴5并未遮住定位槽，二号连动轴6位于定位板1的下方，其对应定位槽3的地方设置有磁铁7，此时进行晶体的特性检测，使用探针对引脚进行从上至下的探测，不需要使用外力固定晶体，保证了晶体特性测量的准确性；检测完成之后，驱动装置2带动翻转传动轴4转动以实现上下翻转，使带磁铁7的二号连动轴6翻转到上方位置，一号连动轴5到定位板1下方位置，同时两支连动轴做前后移动动作（滑杆8沿着水平孔9做位移，以带动两支连动轴前后位移），翻转后一号连动轴5前移托住晶体，二号连动轴6后移，露出晶体LID面。本设计能够稳定测量晶体特性的同时，实现快速翻转晶体、使其LID面朝上放置的目的，方便下一工序镭射打标作业。本设计中驱动装置2为两组电机，一组用于控制翻转转动轴4，另一组通过控制滑杆8的水平移动来带动一号联动轴5和二号连动轴6作前后位移。本实用新型结构简单、使用方便、参数测量准确、并能在镭射打标作业之前完成自动翻转。