技术总结
本发明公开了一种扫描链测试装置及实现方法，所述扫描链测试装置，包括扫描链逻辑电路，还包括输入解密模块和输出加密模块，所述输入解密模块用于对输入的加密数据进行解密，将解密后的数据输入至所述扫描链逻辑电路；所述输出加密模块用于对所述扫描链逻辑电路的输出数据进行加密并输出。本发明实施例通过对扫描链测试电路输入和输出的数据进行解密/加密，实现扫描链测试功能正确的同时，也保证了芯片内部数据的安全。而且，本发明实施例能更全面的把集成电路所有内部数据都加入安全保护内，具有更广泛的测试覆盖能力和安全覆盖能力。
技术研发人员：刘小雷;赵红敏
受保护的技术使用者：大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司
文档号码：201710001838
技术研发日：2017.01.03
技术公布日：2017.05.24