电子设备上盖的平整度检测工装的制作方法

本申请涉及通信技术领域，特别涉及一种电子设备上盖的平整度检测工装。

背景技术：

电子设备的零件在组装之前，电子设备的零件都需要进行测试，比如电子设备上盖的平整度需要检测，因为电子设备上盖与电池盖装配在一起后，由于整体精美度的要求，上盖配合面与电池盖之间不允许出现局部缝隙过大的情况，因此，对电子设备上盖的平整度提出了要求。

技术实现要素：

本申请实施例提供一种方便检测电子设备上盖的平整度检测工装。

本申请实施例提供一种电子设备上盖的平整度检测工装，包括：测试架信号发射装置以及显示装置，所述测试架具有第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部，所述第一连接部与所述第二连接部相对设置，所述第三连接部与所述第四连接部相对设置，所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部形成一安装区域，所述安装区域用于放置电子设备上盖，所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部靠近所述安装区域的一侧均设有信号发射装置，所述信号发射装置用于检测所述电子设备上盖与所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部之间的间距，所述信号发射装置与显示装置连接，所述显示装置用于显示所述间距

本申请实施例提供的一种电子设备上盖的平整度检测工装，该电子设备上盖的平整度检测工装包括：测试架信号发射装置以及显示装置，所述测试架具有第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部，所述第一连接部与所述第二连接部相对设置，所述第三连接部与所述第四连接部相对设置，所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部形成一安装区域，所述安装区域用于放置电子设备上盖，所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部靠近所述安装区域的一侧均设有信号发射装置，所述信号发射装置用于检测所述电子设备上盖与所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部之间的间距，所述信号发射装置与显示装置连接，所述显示装置用于显示所述间距。通过信号发射装置检测所述电子设备上盖与所述第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部之间的间距，通过显示装置显示的间距从而判断该电子设备上盖的平整度的是否合格。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装的第一种结构示意图。

图2为本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装的第二种结构示意图。

图3为本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装的第三种结构示意图。

图4为本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装的第四种结构示意图。

图5为本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装的第五种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

电子设备上盖一般由注塑成型，成型后还有其他整形工艺，导致上盖扣合面存在一定比例的局部变形不良，这类不良的电子设备上盖容易造成整机外观不美观。为了避免这类不良的电子设备上盖作为整机的组成部分，需要将不良的电子设备挑选出。

请参阅图1，本申请提供一种电子设备上盖的平整度检测工装100，该检测装置包括测试架10，该测试架10内部设置有一型腔101，所述型腔101的形状与所述电子设备上盖200的形状一致。用该电子设备上盖的平整度检测工装100检测时，首先将电子设备上盖200放入型腔101内，且使得电子设备上盖200一面与所述测试架10的一面平行，通过肉眼观测所述电子设备上盖200 周缘与型腔101之间的空隙，当认为出电子设备上盖200周缘与型腔101之间的空隙大于0.05mm的时候，则认为该电子设备上盖200的平整度不合格。

通过上述的电子设备上盖200的平整度检测工装提供了一种将不良电子设备上盖200挑选出的工具。

其中，所述电子设备可以是智能手机、平板电脑等设备。

请参阅图2所示，本申请还提供了一种电子设备上盖的平整度检测工装 100，该电子设备上盖的平整度检测工装100包括测试架10信号发射装置20 以及显示装置30，所述测试架10具有第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14，所述第一连接部11与所述第二连接部12相对设置，所述第三连接部13与所述第四连接部14相对设置，所述第一连接部 11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14形成一安装区域15，所述安装区域15用于放置电子设备上盖200，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14靠近所述安装区域15的一侧均设有信号发射装置20，所述信号发射装置20用于检测所述电子设备上盖200与所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14之间的间距H，所述信号发射装置20与显示装置30连接，所述显示装置30用于显示所述间距H。

通过信号发射装置20检测所述电子设备上盖200与所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14之间的间距H，通过显示装置30显示的间距从而判断该电子设备上盖200的平整度是否合格。

请参阅图3所示，其中，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14可拆卸连接。需要说明的是，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14可以通过磁性结构进行可拆卸连接，比如，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14都具有磁性，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部 13以及第四连接部14进行可拆卸连接。当然所述第一连接部11、第二连接部 12、第三连接部13以及第四连接部14还可以通过卡扣结构实现可拆卸连接，比如，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部 14相互扣合。本申请实施例中对所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14具体可拆卸连接可以包括多种，在此不一一赘述。

所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14 可拆卸连接，这样可以根据检测的电子设备上盖类型进行调整，从而使得该检测装置的通用性更好。

其中，所述第一连接部11与所述第三连接部13通过第一固定件16连接，所述第一连接部11与所述第四连接部14通过第二固定件17连接，所述第二连接部12与所述第三连接部13通过第三固定件18连接，所述第二连接部12 与所述第四连接部14通过第四固定件19连接。需要说明的是，所述第一固定件16、第二固定件17、第三固定件18以及第四固定件19为螺杆，所述第一连接部11与所述第三连接部13通过所述第一固定件16实现螺纹连接，所述第一连接部11与所述第四连接部14通过所述第二固定件实现螺纹连接，所述第二连接部12与所述第三连接部13通过所述第三固定件18实现螺纹连接，所述第二连接部12与所述第四连接部14通过所述第四固定件19实现螺纹连接。采用这种连接方式可以使得所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部 13以及第四连接部14在安装后连接牢固，测试架10的组成稳定性强，从而在检测电子设备上盖200的时候，检测的数据更加准确。

其中，所述第一连接部11与第三连接部13连接处形成第一边角151，所述第一连接部11与所述第四连接部14形成第二边角152，所述第二连接部12 与所述第三连接部13形成第三边角153，所述第二连接部12与所述第四连接部14形成第四边角154，所述第一边角151、第二边角152、第三边角153以及第四边角154靠近所述安装区域15的一侧为弧形。所述第一边角151、第二边角152、第三边角153以及第四边角154靠近所述安装区域15的一侧为弧形，这样能够与电子设备上盖200的边角适配，从而更加准确的检测出电子设备上盖200的平整度。

请参照图4所示，其中，所述测试架10设置有挡板50，所述挡板50用于将所述电子设备上盖200限定在所述安装区域15内。将电子设备的上盖限定在安装区域15内，这样可以使得方便电子设备上盖200的检测，同时使得检测效果更加准确。

其中，所述挡板50位于所述第一边角151、第二边角152、第三边角153 以及第四边角154位置。需要说明的是，所述挡板50也可以位于测试架10 上的其他位置，本申请实施例中对于挡板50的具体结构和设置可以根据需要进行改变，在此不一一赘述。

请参照图5所示，其中，所述显示装置30设置在所述测试架10上，且位于远离安装区域15的一侧。需要说明的是，所述显示装置30包括显示屏和处理器，所述处理器用于接收信号发射装置20检测到的检测结果，也就是所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14之间的间距，所述处理器将所述检测结构传输到显示屏上以显示。从而可以更加直观的将电子设备上盖200的的平整度显示出来，从而得到更加准确的检测结果。

其中，所述电子设备上盖的平整度检测工装100还包括警示装置40，所述警示装置40与所述显示装置30连接，所述警示装置40用于提示所述间距是否合格。比如说，显示装置30中的处理器设定一个阈值，当检测到的间距达到或者超过设定的阈值，则启动所述警示装置40。这种方式能够更加直观的体现出电子设备的上盖是否合格，加快检测效率。

其中，所述信号发射装置20为红外线发射器或超声波检测器等。当然所述信号发射装置20还可以是其他装置，比如还可以是激光测距传感器。本申请实施例中对信号发射装置20具体采用哪种并不做具体限定。

本申请实施例提供的一种电子设备上盖的平整度检测工装100，该电子设备上盖的平整度检测工装100包括：测试架10信号发射装置20以及显示装置30，所述测试架10具有第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14，所述第一连接部11与所述第二连接部12相对设置，所述第三连接部13与所述第四连接部14相对设置，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14形成一安装区域15，所述安装区域 15用于放置电子设备上盖200，所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14靠近所述安装区域15的一侧均设有信号发射装置 20，所述信号发射装置20用于检测所述电子设备上盖200与所述第一连接部 11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14之间的间距，所述信号发射装置20与显示装置30连接，所述显示装置30用于显示所述间距。通过信号发射装置20检测所述电子设备上盖200与所述第一连接部11、第二连接部12、第三连接部13以及第四连接部14之间的间距，通过显示装置30显示的间距从而判断该电子设备上盖200的平整度的是否合格。

以上对本申请实施例提供的电子设备上盖的平整度检测工装100进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。