技术总结
公开了一种半导体集成电路设备，其被配置成感测单元阵列的纯漏电流并且改善读取错误。该半导体集成电路设备可以包括：漏电流感测单元，其被配置成感测单元阵列的纯漏电流；以及确定电路单元，其被配置成在处于读取模式时将输入节点的电压电平与参考电压进行比较并且确定读取数据的状态。由此，输出电流可以与输入节点处的单元阵列的读取电流进行比较，并且输出电流可以包括纯漏电流和参考电流之和。
技术研发人员：姜奭准
受保护的技术使用者：爱思开海力士有限公司
文档号码：201510219935
技术研发日：2015.04.30
技术公布日：2016.12.07