专利名称：液晶显示器用玻璃基板及其基样玻璃制造方法和检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及根据规定的切制配置信息由基样玻璃切制玻璃基板来制造液晶显示器用玻璃基板的液晶显示器用玻璃基板的制造方法和基样玻璃的制造方法以及基样玻璃检测装置。
背景技术：
近年来个人电脑显示器等使用的液晶显示器(液晶屏)有大面积化的倾向。并且随着液晶电视等的普及，液晶屏低成本化的要求在高涨，要求液晶屏所使用的液晶显示器用玻璃基板也逐步低成本化。
液晶显示器使用的液晶显示器用玻璃基板一般根据规定的切制配置信息(布局信息)从能配置多个液晶显示器用玻璃基板的大尺寸玻璃基板的基样玻璃切制成作为构成各个液晶显示器的液晶显示器用玻璃基板的尺寸而制造。
这时液晶显示器的制造方法中除了先切制构成各个液晶显示器的液晶显示器用玻璃基板，在该基板上安装TFT等开关元件和电极、黑掩膜等显示用电路等这一般方法外，还有在切制液晶显示器用玻璃基板前的基样玻璃状态下预先在规定的位置安装多个显示用电路，然后再进行切制的方法。
在此，在基样玻璃上若存在有大的气泡和损伤等缺陷时则作为液晶显示器使用时成为缺陷。因此现在是在基样玻璃的阶段测定基样玻璃中的缺陷，检测有没有可能成为上述那样障碍的缺陷。现在，在由该基样玻璃的缺陷测定，即使在基样玻璃上一处发现大的缺陷时其基样玻璃也作为不合格品废弃。
一般来说制造的基样玻璃的面积越大，在一块基样玻璃上发生的缺陷发生率就越高。因此根据现有这种基样玻璃不合格品·合格品的判断方法判断时，就存在随着所述液晶用玻璃基板的大面积化而基样玻璃的不合格品非常高的问题。
随着液晶用玻璃基板的大面积化，基样玻璃也有使用大面积的倾向，所以伴随一块基样玻璃的不合格而废弃的玻璃量增加，存在不能有效利用玻璃资源的问题。这些问题使基样玻璃的成本增加，进而成为液晶屏高成本化的原因。
发明内容
本发明是根据上述背景而开发的，目的在于能提高基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板制造的合格品率，能更有效利用玻璃资源，可使基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板的低成本化。
作为解决所述课题的方式，第一方式是根据规定的切制配置信息通过制造并筛选能切制得到液晶显示器用玻璃基板的基样玻璃制造满足规定质量标准的基样玻璃的方法。其包括缺陷测定工序，其测定在所述制造的基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价工序，其根据规定的评价基准评价由所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量。
第二方式是根据规定的切制配置信息通过从满足规定质量标准的基样玻璃切制玻璃基板制造液晶显示器用玻璃基板的方法。其包括缺陷测定工序，其在切制所述基样玻璃前测定在所述基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价工序，其根据规定的评价基准评价由所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量；切制工序，其只切制在所述缺陷评价工序中被判定为合格的基样玻璃，得到液晶显示器用玻璃基板。
第三方法是在根据规定的切制配置信息通过制造并检查能切制得到液晶显示器用玻璃基板的基样玻璃得到满足规定质量标准的基样玻璃时使用的基样玻璃检测装置，其包括缺陷测定装置，其测定在所述制造的基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价装置，其由规定的评价基准评价根据所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量。
图1是表示本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和使用了基样玻璃制造方法的液晶显示器制造方法的流程图；图2是表示本发明实施例的基样玻璃的检测装置结构的方块图；图3是本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和基样玻璃制造方法的说明图；图4是本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和基样玻璃制造方法的说明图；图5是本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和基样玻璃制造方法的说明图。
1缺陷检测部、2缺陷数据处理部、3缺陷数据存储部、4缺陷信息评价处理部、5存储部、10基样玻璃具体实施方式
图1是表示本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和使用了基样玻璃制造方法的液晶显示器制造方法的流程图，图2是表示本发明实施例的基样玻璃的检测装置结构的方块图，图3～图5是本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法和基样玻璃制造方法的说明图。下面参照这些图说明本发明实施例的液晶用玻璃基板的制造方法、基样玻璃的制造方法和基样玻璃的检测装置。
如图1所示，本实施例的液晶显示器的制造方法是在制造基样玻璃检测缺陷后，先在基样玻璃上安装多个电路后由切制而得液晶显示器，或切制基样玻璃制作液晶显示器用玻璃基板后再在各个基板上安装电路而得液晶显示器的方法，其具有基样玻璃制造工序S1、缺陷检测工序S2、缺陷评价工序S3、电路安装工序S4或切制工序S4′、切制工序S5或电路安装工序S5′。下面说明这些工序。
(1)基样玻璃制造工序S1在此，基样玻璃是根据规定的切制配置信息(布局)能切制得到液晶显示器用玻璃基板的玻璃板。并且，切制配置信息是用于从作为能配置多个液晶显示器用玻璃基板的大尺寸玻璃基板的基样玻璃切制作为构成各个液晶显示器的液晶显示器用玻璃基板的尺寸的多块基板的布局信息。
基样玻璃的制造是把通过由作为公知的板玻璃制造方法的浮法和下拉法等制造的大型板玻璃切断成规定的大小而得到基样玻璃。下拉法是通过从熔化槽把熔化玻璃连续地沿成型面供给，在成型模的下方使两侧的玻璃热粘住后把玻璃的周边部用辊子等向下方拉伸而形成板玻璃的方法(详细内容参照特开平10-291826号公报等)。
用这种制造方法能得到例如纵横尺寸1m×1m、厚度0.7mm的大型板玻璃。从该板玻璃切制出550×650mm或600×720mm等的小尺寸来制作液晶显示器用玻璃基板用的基样玻璃。作为该液晶显示器用玻璃基板有把TFT(薄膜晶体管)形成在基板表面上的TFT用玻璃基板和彩色过滤片用玻璃基板等。TFT用玻璃基板是在玻璃基板上形成薄膜晶体管等电路，而彩色过滤片用玻璃基板是在玻璃基板上分别各个地形成彩色过滤片。然后用这些带薄膜的基板夹持液晶来制作液晶显示器(液晶器件)。
(2)缺陷检测工序S2接着对通过所述基样玻璃制造工序制造的基样玻璃进行缺陷测定。在此所说的缺陷是指对液晶显示器用玻璃基板的用途所必须的特性有可能造成影响的缺陷。具体可举出基样玻璃中存在的气泡、损伤、点缺陷、污浊、附着夹杂物等。在缺陷测定工序S2中检测这种缺陷，处理其检测数据并作为缺陷信息得到这些缺陷的种类、位置(X坐标、Y坐标)、大小等的信息。
这些缺陷信息使用图2所示的基样玻璃检测装置来得到。该基样玻璃检测装置包括缺陷检测部1、缺陷数据处理部2、缺陷数据存储部3、缺陷信息评价处理部4、存储部5、显示器6和筛选装置7。
作为缺陷检测部1使用的是利用以下方法的缺陷检测装置，即把光射入玻璃基板，检测由基板中存在的缺陷反射或散射的光，测定玻璃基板上各点的透射率和反射率，由此检测玻璃基板中缺陷。作为这种装置例如可以使用特公昭57-37023号公报中公开的利用从基板表面射入光进行扫描的方式的装置或特开平8-261953号公报中公开的利用从基板侧面射入光的方式的装置。
缺陷数据处理部2处理在缺陷检测部1得到的缺陷数据，并制作缺陷信息。这时在缺陷检测部1得到的缺陷数据例如是用线传感器扫描基样玻璃得到的平面图象数据。该数据临时储存在缺陷数据存储部3中，顺次读出并由缺陷数据处理部根据规定的处理基准进行处理。这样，由该缺陷数据制作成表示缺陷的种类、位置(X坐标、Y坐标)、大小等的缺陷信息。
因为制作的缺陷信息是测定的各个基样玻璃所特有的信息，所以在缺陷信息中赋予用于识别其各个特定基样玻璃的识别信息。同时该识别信息作为识别标记被刻在基样玻璃自身上。作为向基样玻璃上赋予识别记号的方法例如有使用激光在基样玻璃的周边附近在平面上烧上标记的方法等。这时在位于距玻璃表面规定距离的玻璃内部的位置上聚焦激光的焦点进行描绘，由此不造成玻璃表面损伤而刻印作为识别标记的平面标记。
(3)缺陷评价工序S3接着，在上述缺陷测定工序中得到的缺陷信息存储到存储部5后，被顺次读出并在缺陷评价工序S3中受评价，决定基样玻璃的质量。该缺陷信息评价处理由图2缺陷检测装置中的缺陷信息评价处理部4进行。缺陷信息评价处理部4把从缺陷数据处理部2送来的缺陷信息和根据顾客的规格等制作的切制配置信息和评价基准信息输入，经过规定的处理后制作成质量信息。
图3是表示缺陷信息的说明图。图3表示在基样玻璃10内检测出4个缺陷K1、K2、K3、K4的情况。缺陷信息作为四个缺陷由表示缺陷位置的X坐标(X1、X2、X3、X4)和Y坐标(Y1、Y2、Y3、Y4)、表示缺陷种类的记号(P1、P2、P3、P4)、表示缺陷大小的记号(Q1、Q2、Q3、Q4)构成。作为该缺陷信息除了缺陷位置、缺陷种类和缺陷大小之外也可以包括与缺陷有关联的其他信息。
图4是表示切制配置信息(布局信息)的说明图。切制配置信息是从一块基样玻璃10如何切制多块液晶显示器用玻璃基板的布局信息。图4的情况是表示从一块基样玻璃10切出四块液晶显示器用玻璃基板11、12、13、14的情况。这种切制液晶显示器用玻璃基板时的布局信息是根据基样玻璃10的大小、液晶显示器用玻璃基板的大小和块数决定的。另外，把基样玻璃作为交货品向顾客交货时使用顾客指定的布局信息。
评价基准信息按每个切制配置信息的种类制作。即特定图4所示的切制配置信息时选择与其对应的评价基准信息。其基准例如缺陷在用其切制配置信息划分的区域中所处的位置、或其缺陷的种类、还有缺陷的大小、数目是多少等分别是确定合格或等级划分的基准值。
在缺陷信息评价处理部4中把送来的缺陷信息(缺陷的大小、位置和种类)与上述那样确定的基准进行对照，进行是否合格或进行等级划分处理。图5是缺陷信息评价处理的说明图。如图5所示，该处理例如是把图3所示的缺陷信息图象与图4所示的切制配置信息图象进行图象合成或重叠的处理，把在用切制配置信息划分的区域内或区域外的某个位置配置什么种类·大小的缺陷能通过模拟技术等进行。
在图5所示的例中，缺陷K1、K4是位于离开作为液晶显示器用玻璃基板而切制的区域的区域。因此，该缺陷不被认为是缺陷。而缺陷K2、K3是位于作为液晶显示器用玻璃基板11而切制的区域内。因此接下来把这些缺陷K2、K3的种类和大小与基准对照，其结果若超过基准的缺陷，则作为该液晶显示器用玻璃基板11切制的区域被评价为废品。反过来说，则该基样玻璃10被评价为具有能切制三块液晶显示器用玻璃基板的质量。
在图2的缺陷信息评价处理部4的存储部5内预先存储多块基样玻璃的缺陷信息和多个不同的切制配置信息及其评价基准信息，通过顺次改变这些信息的组合并反复上述模拟技术则能发现能切制最多的液晶显示器用玻璃基板的组合。这样更加提高了玻璃资源的有效利用率，进而能实现降低成本。通过以上所述工序，得到质量评价完毕的基样玻璃制品。
这样得到的质量信息被送到显示器6或筛选装置7等。在显示器6把图5所示的图象用显示器等显示或用打印机等作为图象或数值进行印刷显示。这时，除缺陷的位置信息外还能在基样玻璃图象上表示缺陷的种类和大小等的信息。例如缺陷的大小能用表示缺陷的点的大小来表示，缺陷的种类能用改变颜色表示其不同种类。这些只要依照缺陷信息根据需要表示便可，但一般来说，因为是否存在重大缺陷通过缺陷的种类和大小来判断，所以最好除了缺陷的位置信息再加上表示其种类、大小的信息。筛选装置7根据上述的质量信息将基样玻璃进行区分为是否合格或质量等级划分的操作等。
其次，使用这样得到的基样玻璃制品制作液晶显示器。该制作工序有两种。即进行在基样玻璃上安装直接电路的工序S4后进行切制工序S5而得到液晶显示器和经过切制基样玻璃而得到液晶显示器用玻璃基板的工序S4′后在该各个液晶显示器用玻璃基板上安装电路的工序S5′。以后通过进行周知的工序得到带TFT的玻璃基板和带彩色过滤片的玻璃基板等，得到液晶显示器(液晶器件)。
上述的实施例有以下的优点。即现有是特定的基样玻璃的缺陷信息与规定的布局间没有关联，所以即使缺陷位于布局之外时基样玻璃也作为不合格品被废弃，但根据本发明则能把它作为合格品使用。
即使在布局内有缺陷时也有优点如下。例如在预定的四块液晶玻璃基板中仅在一块的布局内有缺陷时，有缺陷的一块的区域不满足要求标准，但相当于其他三块的区域是满足要求标准的。在这种情况下通过仅有效使用能使用的三块的区域而不废弃整个基样玻璃，而利用基样玻璃。现有的与上述布局外的缺陷的情况一样的这种基样玻璃作为有缺陷的基样玻璃整个被废弃，但根据本发明能预先知道布局关系，所以可不废弃基样玻璃，有效活用能使用的区域，能有效利用玻璃资源。
从与缺陷相当的区域制造的一块液晶显示器用玻璃基板最终可能由基板玻璃缺陷的原因而成为不合格品，但通过TFT和彩色过滤片、黑掩膜等的配置，即使这样包含缺陷的区域也有可能可以使用。这种在布局内包含缺陷的基样玻璃其是合格品还是不合格品的判断要考虑与制造液晶显示器用玻璃基板的关系来决定。例如向制造液晶显示器用玻璃基板的顾客供应基样玻璃时，若在预先把基样玻璃的缺陷信息传达给顾客的基础上，能得到理解的话，则能作为不合格品不废弃而供货。
这样在不废弃而供货的基样玻璃上根据需要在规定位置上形成TFT等的开关元件和电极、黑掩膜等。把这样形成开关元件和电极的基样玻璃通过根据上述规定布局而进行切制，由此得到液晶显示器用玻璃基板。TFT等的开关元件和电极、黑掩膜等时形成，也可以从基样玻璃预先切制最终制品尺寸的玻璃基板，在该切制的基板上进行。或也可以预先把基样玻璃分割成几个部分后，在分割后的基板上形成元件，然后从分割了的基板切制最终的液晶显示器用玻璃基板。
这样，本发明通过预先把特定的存在于基样玻璃上的缺陷与在该基样玻璃上预定的液晶显示器用玻璃基板的切制布局结合起来，当然在布局外有缺陷的情况就不用说了，即使是布局内包含有缺陷的基样玻璃也能有效利用。因为现在完全没着眼于个别的基样玻璃与液晶显示器用玻璃基板的切制布局的关系，所以只要有重大缺陷，即使其位置在布局外而可以没问题地利用的情况下也被废弃。另外，仅单单由在布局内有缺陷，即使是另外有能利用区域的基样玻璃，也全部废弃。与此相对，根据本发明就能有效利用这些现有废弃的基样玻璃。
如以上所详述，本发明通过具有把根据缺陷信息和切制配置信息决定的质量信息用规定的评价基准进行评价，由评价基样玻璃质量的缺陷评价工序能提高基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板的制造合格品率，更有效地利用玻璃资源，能使基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板低成本化。
权利要求
1.一种基样玻璃的制造方法，其根据规定的切制配置信息通过制造并筛选能切制得到液晶显示器用玻璃基板的基样玻璃，制造满足规定质量标准的基样玻璃，其特征在于，包括缺陷测定工序，其测定在所述制造的基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价工序，其根据规定的评价基准评价由所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量。
2.一种液晶显示器用玻璃基板的制造方法，其根据规定的切制配置信息通过从满足规定质量标准的基样玻璃切制玻璃基板制造液晶显示器用玻璃基板，其特征在于，包括缺陷测定工序，其在切制所述基样玻璃前测定在所述基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价工序，其根据规定的评价基准评价由所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量；切制工序，其只切制在所述缺陷评价工序中被判定为合格的基样玻璃，得到液晶显示器用玻璃基板。
3.一种基样玻璃检测装置，其在根据规定的切制配置信息通过制造并检查能切制得到液晶显示器用玻璃基板的基样玻璃得到满足规定质量标准的基样玻璃时使用，其特征在于，包括缺陷测定装置，其测定在所述制造的基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价装置，其根据规定的评价基准评价由所述缺陷信息和所述切制配置信息所确定的质量信息，并评价所述基样玻璃的质量。
全文摘要
一种液晶显示器用玻璃基板的制造方法。其能提高基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板制造的合格品率，能更有效利用玻璃资源，可使基样玻璃和液晶显示器用玻璃基板的低成本化。该制造方法制造并筛选根据规定的切制配置信息能切制得到液晶显示器用玻璃基板的基样玻璃，由此制造满足规定质量标准的基样玻璃。其包括如下工序缺陷测定工序(S2)，其测定在所述制造的基样玻璃中存在的缺陷并求出包括该缺陷位置信息的缺陷信息；缺陷评价工序(S3)，其根据规定的评价基准评价根据所述缺陷信息和所述切制配置信息决定的质量信息，评价所述基样玻璃的质量。
文档编号G02F1/1333GK1643438SQ03807090
公开日2005年7月20日 申请日期2003年4月2日 优先权日2002年4月3日
发明者大屋嘉孝 申请人:Nh科技玻璃株式会社