阵列基板及其检测方法、显示面板和显示装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种阵列基板及其检测方法、显示面板和显示装置，所述阵列基板包括多条数据线、设置在每条所述数据线末端的短路环以及将各短路环串联的公共导线，其中，所述阵列基板还包括连接在所述数据线的末端与相应的短路环之间的开关单元，所述开关单元用于在测试阶段将所述数据线与相应的所述短路环断开。本发明能够提高基板检测时的检出率和准确率。
【专利说明】阵列基板及其检测方法、显示面板和显示装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】，具体涉及一种阵列基板及其制作方法、一种包括所述阵列基板的显示面板和一种包括该显示面板的显示装置。
【背景技术】
[0002]在液晶显示器制作领域，在阵列基板制作完成后，需要进行基板测试(Arraytest，AT)，检测出数据线断开(Data Open, DO)和栅线断开(Gate Open, GO)后进行相应的维修，因此，在基板测试时，数据线断开和栅线断开的检出率以及不良位置的准确性对于后期的维修至关重要。
[0003]现有阵列基板的设计中，如图1所示，一般在数据线10的末端设置与公共导线30相连的短路环20，短路环20可以将显示区域内存在的静电的瞬间高压导出至公共导线30，从而起到对显示区域内的静电进行释放的作用。但是，由于在多条数据线10的末端设置的短路环20与同一条公共导线30相连，在对多条数据线10进行测试时，会发生信号倒灌现象，从而影响基板测试的检出率和准确性。
[0004]所述信号倒灌现象的原理为:由于短路环20内的薄膜晶体管的沟道在O伏电压时，仍然会有载流子通过沟道，对数据线10进行测试时，第一条数据线10上加载的高电平信号通过短路环20导入到公共导线30后，会顺着公共导线30和另一短路环20流入到第二条已断开的数据线10上，从而在第二条数据线10上发生信号倒灌现象，这就使得原本已经断开的不应具有高电平信号的数据线10具有高电平信号，导致无法测试出数据线10的断开，从而影响基板测试的检出率和准确性。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种阵列基板及其检测方法、显示面板和显示装置，从而提高基板测试时的检出率和准确性。
[0006]为了实现上述目的，本发明提供一种阵列基板，包括多条数据线、设置在每条所述数据线末端的短路环以及将各短路环串联的公共导线，所述阵列基板还包括连接在所述数据线的末端与相应的短路环之间的开关单元，所述开关单元用于在测试阶段将所述数据线与相应的所述短路环断开。
[0007]优选地，所述阵列基板还包括开关控制线，所述开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述开关控制线相连，所述第一晶体管的第一极与所述数据线相连，所述第一晶体管的第二极与所述短路环相连。
[0008]优选地，所述阵列基板还包括与所述数据线交叉设置的多条栅线，所述栅线和所述数据线设置在不同层中，所述开关控制线与所述栅线同层设置。
[0009]优选地，所述公共导线与所述栅线同层设置。
[0010]优选地，所述阵列基板包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域，所述开关单元、所述短路环和所述公共导线均设置在所述非显示区域。
[0011]优选地，所述短路环包括:
[0012]第二晶体管，该第二晶体管的栅极和第一极均与所述数据线相连，所述第二晶体管的第二极与所述公共导线相连；
[0013]第三晶体管，该第三晶体管的栅极和第一极均与所述公共导线相连，所述第三晶体管的第二极与所述数据线相连。
[0014]相应地，本发明还提供一种阵列基板的检测方法，该阵列基板为本发明提供的上述阵列基板，所述检测方法包括:
[0015]关断开关单元，以将数据线与相应的短路环断开；
[0016]向每条数据线输入测试信号。
[0017]优选地，所述阵列基板还包括与各开关单元均相连的开关控制线，所述开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述开关控制线相连，所述第一晶体管的第一极与所述数据线相连，所述第一晶体管的第二极与所述短路环相连，
[0018]所述关断开关单元的步骤包括:向每条开关控制线输入关断信号。
[0019]相应地，本发明还提供一种显示面板，该显示面板包括本发明提供的上述阵列基板。
[0020]相应地，本发明还提供一种显示装置，该显示装置包括本发明提供的上述显示面板。
[0021]在进行基板测试(Array test)时，开关单元可以关断，使得数据线与相应的短路环断开，因而，相邻的数据线并没有通过公共导线和短路环间接相连。这种结构下，即使某一条数据线发生不良(例如，数据线上存在开口而断开)，与其相邻数据线上的高电压信号不会通过公共导线和短路环流入发生不良的数据线上，从而可以准确地检测出发生不良的数据线的位置，提高检出率和准确率。基板测试完成后，开关单元导通，使得数据线与相应的短路环相连，因而当某一条数据线上的由于静电而产生瞬时高电平时，该高电平信号可以通过相应的短路环流入公共导线，从而降低数据线上的高电平，避免高电平信号对像素单元内的损伤。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的【具体实施方式】一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中:
[0023]图1是现有技术中的阵列基板上数据线和短路环的结构示意图；
[0024]图2是本发明的实施方式中阵列基板上数据线和短路环的结构示意图；
[0025]其中，附图标记为:10、数据线；20、短路环；30、公共导线；40、开关单元；50、开关控制线；M1、第一晶体管；M2、第二晶体管；M3、第三晶体管。
【具体实施方式】
[0026]以下结合附图对本发明的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
[0027]作为本发明的第一个方面，提供一种阵列基板，如图2所示，包括多条数据线10、设置在每条数据线10末端的短路环20以及将各短路环串联的公共导线30，所述阵列基板还包括连接在数据线10的末端与相应的短路环20之间的开关单元40，开关单元40用于在测试阶段将所述数据线与相应的所述短路环断开。阵列基板上设置有用于为数据线10提供驱动信号的源极驱动电路，“数据线的末端”是指与源极驱动电路相对的一端。
[0028]在进行基板测试(Array test)时，开关单元40可以关断，使得数据线与相应的短路环断开，因而，相邻的数据线并没有通过公共导线和短路环间接相连。这种结构下，即使某一条数据线10发生不良(例如，数据线上存在开口而断开)，与其相邻数据线10上的高电压信号不会通过公共导线和短路环流入发生不良的数据线上，从而可以准确地检测出发生不良的数据线的位置，提高检出率和准确率。基板测试完成后，开关单元40导通，使得数据线与相应的短路环相连，因而当某一条数据线10上的由于静电而产生瞬时高电平时，该高电平信号可以通过相应的短路环流入公共导线30，从而降低数据线10上的高电平，避免高电平信号对像素单元内的损伤。
[0029]进行基板测试时，向每条数据线10通入测试信号，通过检测器检测每个像素单元的信号，由于本发明中开关单元40的设置可以防止信号倒灌现象的发生，因此，当某一条数据线10发生不良时，该数据线10对应的一列像素单元上将检测不到信号，即可判断这一列数据线所对应的数据线发生不良。
[0030]本发明对开关单元40的形式不作具体限制，只要可以在测试时将数据线10与相应的短路环20断开即可，作为本发明的一种【具体实施方式】，如图2所示，所述阵列基板还包括与各开关单元40均相连的开关控制线50，所述开关单元40包括第一晶体管Ml，第一晶体管Ml的栅极与开关控制线50相连，第一晶体管Ml的第一极与数据线10相连，第一晶体管Ml的第二极与短路环20相连。
[0031]当开关控制线50上通入开启信号时，多个第一晶体管Ml导通，使得数据线与相应地短路环20相连，当数据线上存在瞬时高电平信号时，高电平信号能够通过短路环20流入公共导线30，以降低数据线10上的高电平，从而防止高电平信号对像素单元内的损伤；当开关控制线50上通入关断信号时，多个第一晶体管Ml关断，多个第一晶体管Ml关断，使得数据线10与相应地短路环20断开，防止数据线10上的信号倒灌现象的发生。开关控制线50的设置便于对多个第一晶体管Ml同时进行控制，以同时将多条数据线10与相应的短路环20导通或关断。
[0032]可以理解的是，所述阵列基板还包括信号产生模块，用于产生控制信号(即开启信号和关断信号)，开关控制线50将所述控制信号传输至第一晶体管Ml的栅极，以控制第一晶体管Ml的导通或关断。第一晶体管Ml可以为不同的类型，当第一晶体管Ml为N型晶体管时，所述开启信号为高电平信号、关断信号为低电平信号；当第一晶体管Ml为P型晶体管时，所述开启信号为低电平信号、关断信号为高电平信号。
[0033]为了便于开关控制线50对多个第一晶体管Ml进行控制，且不会接触到数据线10，可以将开关控制线50与数据线10设置在阵列基板的厚度方向上的不同层中，具体地，所述阵列基板还可以包括与数据线交叉设置的多条栅线，所述栅线与数据线10设置在不同层中，开关控制线50与所述栅线同层设置，因而在现有阵列基板制作工艺的基础上，将开关控制线50和栅线同步形成，而不需要增加额外的工艺，从而节省工艺成本，提高生产效率。
[0034]与开关控制线50相同的，公共导线30也可以和所述栅线同层设置，制作时可以使用相同的材料同步形成公共导线30和所述栅线。
[0035]进一步地，所述阵列基板包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域，开关单元40、短路环20和公共导线30均设置在所述非显示区域，以防止对显示区域产生遮挡。
[0036]进一步地，短路环20的结构可以为多种，作为本发明的一种【具体实施方式】，如图2所示，短路环20可以包括:
[0037]第二晶体管M2，该第二晶体管M2的栅极和第一极均与数据线10相连，第二晶体管M2的第二极与公共导线30相连；
[0038]第三晶体管，该第三晶体管M3的栅极和第一极均与公共导线30相连，第三晶体管M3的第二极与数据线10相连。
[0039]在阵列基板制作完成后，开关单元40保持导通，此时，当其中一条数据线10上由于静电而产生瞬时高电平信号时，该数据线10上所对应的短路环20中的第二晶体管M2导通，高电平信号通过第二晶体管M2流向公共导线30，因而使得其他短路环20中的第三晶体管M3导通，此时，数据线10上的高电平信号可以通过公共导线30分散开，从而防止某一条数据线10上的瞬时电压过高对像素单元产生的损坏。公共导线可以与阵列基板上的低电平信号端口相连，从而起到降低高电平的作用。
[0040]通常，在阵列基板的显示区域内还设置有像素单元晶体管，在阵列基板的制作过程中，可以将第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3可以和所述像素单元晶体管同步形成，即，首先采用相同的材料同步形成四种晶体管(第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3和所述像素单元晶体管)的栅极；然后依次采用相同的材料同步形成四种晶体管的绝缘层、有源层、源漏极等；并且，所述栅线、公共导线30、开关控制线50和四种晶体管的栅极同步形成。从而简化阵列基板的制作工艺，降低生产成本。
[0041]当然，在具体实施时，短路环20的结构还可以为其他结构，在此不作赘述。
[0042]作为本发明的第二个方面，通过一种阵列基板的检测方法，该阵列基板为本发明提供的上述阵列基板，所述检测方法包括:
[0043]关断开关单元，以将数据线与相应的短路环断开；
[0044]向每条数据线输入测试信号。
[0045]检测时，利用检测器检测每个信号单元的信号，当检测器检测到某一列像素单元没有相应的信号时，表示该列像素单元对应的数据线具有开口而断开，从而根据像素单元信号的异常判断出断开的数据线的位置。
[0046]如上文中所述，所述阵列基板还包括与各开关单元均相连的开关控制线，所述开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述开关控制线相连，所述第一晶体管的第一极与所述数据线相连，所述第一晶体管的第二极与所述短路环相连，
[0047]所述关断开关单元的步骤包括:向每条开关控制线输入关断信号，从而使得数据线与相应的短路环断开；这时，再向每条数据线输入测试信号。由于数据线与相应的短路环断开，因而可以防止信号倒灌现象的发生，如果存在发生不良的数据线，就不会在发生不良的数据线上检测出高电平信号，即可以准确的判断出发生不良的数据线的位置，从而提高检测的检出率和准确率。
[0048]上述为对本发明提供的阵列基板及其检测方法的描述，可以看出，本发明的阵列基板的数据线和相应的短路环之间设置有开关单元，在对进行基板测试时，将开关单元断开后再向数据线通入测试信号。由于数据线与相应的短路环之间已经断开，因而可以防止信号倒灌现象，从而准确地判断出发生不良的数据线的位置，提高基板检测的检出率和准确率。基板检测完成后，开关单元导通，使得数据线与相应的短路环导通，以防止某条数据线上由于静电产生的高电平信号对像素单元的影响，进而提高产品质量。
[0049]作为本发明的第三个方面，提供一种显示面板，该显示面板包括上述阵列基板。
[0050]作为本发明的第四个方面，提供一种显示装置，该显示装置包括上述显示面板。
[0051]由于阵列基板在基板检测中的检出率和准确率提高，使得阵列基板的成品质量提尚，从而提尚显不面板和显不装置的质量。
[0052]可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种阵列基板，包括多条数据线、设置在每条所述数据线末端的短路环以及将各短路环串联的公共导线，其特征在于，所述阵列基板还包括连接在所述数据线的末端与相应的短路环之间的开关单元，所述开关单元用于在测试阶段将所述数据线与相应的所述短路环断开。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括开关控制线，所述开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述开关控制线相连，所述第一晶体管的第一极与所述数据线相连，所述第一晶体管的第二极与所述短路环相连。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括与所述数据线交叉设置的多条栅线，所述栅线和所述数据线设置在不同层中，所述开关控制线与所述栅线同层设置。
4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述公共导线与所述栅线同层设置。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域，所述开关单元、所述短路环和所述公共导线均设置在所述非显示区域。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，所述短路环包括: 第二晶体管，该第二晶体管的栅极和第一极均与所述数据线相连，所述第二晶体管的第二极与所述公共导线相连； 第三晶体管，该第三晶体管的栅极和第一极均与所述公共导线相连，所述第三晶体管的第二极与所述数据线相连。
7.—种阵列基板的检测方法，其特征在于，该阵列基板为权利要求1至6中任意一项所述的阵列基板，所述检测方法包括: 关断开关单元，以将数据线与相应的短路环断开； 向每条数据线输入测试信号。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板还包括与各开关单元均相连的开关控制线，所述开关单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述开关控制线相连，所述第一晶体管的第一极与所述数据线相连，所述第一晶体管的第二极与所述短路环相连， 所述关断开关单元的步骤包括:向每条开关控制线输入关断信号。
9.一种显示面板，其特征在于，该显示面板包括权利要求1至6中任意一项所述的阵列基板。
10.—种显示装置，其特征在于，该显示装置包括权利要求9所述的显示面板。
【文档编号】G02F1/1362GK104483795SQ201510001804
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2015年1月4日 优先权日:2015年1月4日
【发明者】刘冲, 张铁林, 赵海生, 彭志龙, 刘还平 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司