专利名称：列车轮对尺寸动态检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种列车轮对尺寸动态检测装置。
本实用新型的目的可通过以下的技术措施来实现包括两个相同的探测器，两个探测器固定于一根铁轨的两侧并低于铁轨，每个探测器由半导体激光器、光电位敏传感器和成像透镜组成；光电位敏传感器和成像透镜按其成像关系位于该透镜的光轴上，半导体激光器的发射激光经列车车轮的轮缘反射成象于所述的光电位敏传感器。当有列车通过时，两探测器中间的车轮将使两探测器都有检测信号，两个探测器分别检测车轮上被激光照射的点的位置距探测器各自的距离，一系列扫描点的连续测量，可以测得轮对的剖面图，由于两探测器的相对位置确定，因而此位置信号处理后就可将轮对的各部位尺寸检测出来，如轮缘厚度、轮缘高度、轮径等。
本实用新型所述的两个探测器以列车车轮的轮缘为轴线对称固定于一根铁轨的两侧。
本实用新型所述的半导体激光器、光电位敏传感器和成像透镜按所述的位置关系固定置于盒体内，该盒体经夹具固定于所述铁轨的底部。
本实用新型利用激光扫描进行探测，实现了对行进中的列车在线检测列车轮对尺寸参数，而且采用两个探测器测量使其相对测量变为绝对测量，从而保证并提高了整体测量精度；另外采用光束斜向上射出，从而满足了所有检测仪表安装必须低于轨面的铁路检测要求，同时减小了安装结构，降低了检测装置与轨连接之间的距离，减小了检测装置的挠度，提高了抗震性。
图1为本实用新型具体实施例使用状态的立体示意图；图2为本实用新型具体实施例使用状态的正向示意图。
权利要求1.一种列车轮对尺寸动态检测装置，其特征在于包括两个相同的探测器，两个探测器固定于一根铁轨的两侧并低于铁轨，每个探测器由半导体激光器、光电位敏传感器和成像透镜组成；光电位敏传感器和成像透镜按其成像关系位于该透镜的光轴上，半导体激光器的发射激光经列车车轮的轮缘反射成象于所述的光电位敏传感器。
2.根据权利要求1所述的列车轮对尺寸动态检测装置，其特征在于所述的两个探测器以列车车轮的轮缘为轴线对称固定于一根铁轨的两侧。
3.根据权利要求1所述的列车轮对尺寸动态检测装置，其特征在于所述的半导体激光器、光电位敏传感器和成像透镜按所述的位置关系固定置于盒体内，该盒体经夹具固定于所述铁轨的底部。
专利摘要本实用新型公开了一种列车轮对尺寸动态检测装置，包括两个相同的探测器，两个探测器固定于一根铁轨的两侧并低于铁轨，每个探测器由半导体激光器、光电位敏传感器和成像透镜组成；光电位敏传感器和成像透镜按其成像关系位于该透镜的光轴上，半导体激光器的发射激光经列车车轮的轮缘反射成象于所述的光电位敏传感器。当有列车通过时，两探测器中间的车轮将使两探测器都有检测信号，两个探测器分别检测车轮上被激光照射的点的位置距探测器各自的距离，由于两探测器的相对位置确定，因而就可将轮缘的各部位尺寸检测出来。
文档编号B61K9/00GK2557381SQ0227215
公开日2003年6月25日 申请日期2002年7月31日 优先权日2002年7月31日
发明者朱茂之, 赵旭东 申请人:广州市奥特控制工程有限公司