光学记录介质和记录设备的制作方法

专利名称：光学记录介质和记录设备的制作方法
技术领域：
本公开涉及光学记录介质及其记录设备，并且具体地涉及适合用于通过相邻轨道伺服来执行对记录光的寻轨伺服的情况的光学记录介质及其记录设备。
背景技术：
作为通过光的照射来执行信号的记录和再现的光学记录介质，诸如CD (紧致盘)、 DVD (数字多功能盘)、BD(蓝光盘注册商标)等所谓的光盘已经普及。对于有望成为诸如⑶、DVD和BD等的当前普及的光学记录介质的下一代的光学记录介质，本申请人已经提出了在日本未审查专利申请公开No. 2008-135144和日本未审查专利申请公开No. 2008-176902中描述的所谓的区块记录(bulk recording)型光学记录介质。这里，区块记录是这样的技术，其通过在相对于光学记录介质(区块型记录介质 100)连续地改变焦点位置的同时执行激光照射而在区块层102内进行多层记录来增大记录容量，其中所述光学记录介质至少包括覆层101和区块层(记录层)102，例如，如图9所
7J\ ο关于这样的区块记录，在日本未审查专利申请No. 2008-135144中公开了称为微全息方法的记录技术。对于微全息方法，使用所谓的全息记录材料作为区块层102的记录材料。作为微全息记录材料，例如，广泛地使用光聚合型感光树脂等。微全息方法大致分为主动型微全息方法和被动型微全息方法。主动型微全息方法是通过将两束相对的光通量(光通量A和光通量B)的光集中在相同的位置处来形成微小的干涉条纹(全息图)的技术，其中这些干涉条纹成为记录标记。此外，被动型全息方法的思路与主动型全息方法相反，并且是将预先形成的干涉条纹擦除并且被擦除的部分成为记录标记的技术。对于被动型全息方法，在进行记录动作之前执行用于在区块层102上预先形成干涉条纹的初始化处理。具体而言，作为初始化处理，相对地照射作为平行光的光通量，并在整个区块层102上形成干涉图样。此外，已经以这样的方式通过初始化处理形成干涉条纹之后，执行通过擦除标记的形成而进行的信息记录。即，在对任意层位置聚焦的状态下，通过根据记录信息进行激光照射来执行通过擦除标记而进行的信息记录。此外，作为与微全息方法不同的区块记录技术，申请人还提出了形成例如在日本未审查专利申请公开No. 2008-176902中公开的空洞(空位)作为记录标记的技术。空洞记录方法是这样的技术，其通过对例如由诸如光聚合型感光树脂之类的记录材料构成的区块层102以相对较高功率进行激光照射而在区块层102内记录空位(空洞)。 如在日本未审查专利申请公开No. 2008-176902中所述，这样形成的空位部分成为与区块层102内的其他部分具有不同折射率的部分，并且在空位之间的接连部分中的光的折射率增大。因此空位部分用作记录标记，从而实现通过空位标记的形成而进行的信息记录。由于这样的空洞记录方法不形成全息图，因此仅从一侧照射光就足够了。S卩，与主动型微全息方法不同，不需要通过将两个光通量集中在相同位置上来形成记录标记。此外，与被动型微全息方法相比，具有不需要执行初始化处理的优势。这里，虽然日本未审查专利申请公开No. 2008-176902示出了如下示例，其中当进行空洞记录时在记录前执行预先固化光的照射。然而，即使当省略这种预先固化光的照射时也可以进行空洞的记录。这里，虽然光学记录介质是其中提出了上述各种记录技术的区块记录型(也简称为区块型)光学记录介质，这样的区块型光学记录介质的记录层(区块层)没有明确地包括例如形成有多个反射膜的多层结构。即，在区块层102中没有设置如在通常的多层光盘中所包含的各记录层的位置引导装置，或者其上形成有这样的引导装置的反射膜。因此，如前面的图9所示，以区块记录介质100的结构，当没有形成标记时，在记录期间不能执行聚焦伺服或寻轨伺服。为此，对于区块型记录介质100，设置了具有如图10所示的位置引导装置的反射面(基准面)。具体而言，形成为空洞和槽的位置引导装置(导沟)，例如，以螺旋形式或同心圆形式形成在覆层101的下表面侧上，并且在其上形成选择性反射膜103。然后在覆层101的下层侧上形成区块层102，其中选择反射膜103经由作为图中的中间层104的诸如UV固化树脂之类的粘合材料以这样的方式形成在覆层101上。这里，通过诸如空洞和槽之类的上述导沟的形成来进行诸如径向位置信息或转角信息之类的绝对位置信息(地址信息)的记录。在下面的说明中，在其上形成这种导沟并且进行绝对位置信息的记录的表面(这里，选择性反射膜103的形成表面)被称为“基准面 Ref "ο此外，在如上所述的介质结构的顶部，如下面的图11所示，作为用于位置控制的激光的伺服激光(也简称为伺服激光)与用于标记记录的激光(下文也称为记录激光或简称为记录光)分立地照射在区块型记录介质100上。如图所示，这样的记录激光和伺服激光经由共用物镜照射在区块型记录介质100 上。此时，存在如下的担心如果伺服激光到达区块层102，可能对区块层102内的标记记录产生负面影响。因此，在现有技术的区块记录方法中，使用与记录激光的波长带不同的激光作为伺服激光，并且设置具有反射伺服激光并且透射记录激光的波长选择性质的选择性反射膜103来作为形成在基准面Ref上的反射膜。下面将基于上述前提，参照图11来描述在区块型记录介质100上的记录标记的动作。首先，当对其上没有形成导沟或反射膜的区块层102执行多层记录时，预先确定在区块层102内在深度方向上的要记录标记的层位置。图中，例示了在区块层102内，将第一信息记录层位置Ll至第五信息记录层位置L5共五个信息记录层位置L设置为要形成标记的层位置(标记形成层位置也称为信息形成层位置)的情况。如图所示，在聚焦方向(深度方向)上以第一偏移量of-Ll离开其上形成有导沟的选择性反射膜103(基准面Ref)的位置处设置第一信息记录层位置Li。此外，分别在以第二偏移量of_L2、第三偏移量of_L3、第四偏移量of-L4和第五偏移量of_L5离开基准面Ref的位置处设置了第二信息记录层位置L2、第三信息记录层位置L3、第四信息记录层位置L4以及第五信息记录层位置 L5。在还没有形成标记的记录期间，不能基于记录激光的反射光以区块层102内的各个层位置L为目标来执行聚焦伺服或寻轨伺服。因此，通过基于伺服激光的反射光、使伺服激光的点位置遵循基准面Ref上的导沟、来执行在记录期间的对物镜的聚焦伺服控制或轨道伺服控制。然而，为了标记记录，记录激光到达与基准面Ref相比形成在更下层侧上的区块层102是非常重要的。因此，在这样的光学系统中，与物镜的聚焦机构分立地设置了用于独立地调节记录激光的聚焦位置的记录光聚焦机构。具体而言，设置了改变入射在物镜上的记录激光的准直状态(发散、平行、会聚) 的扩展器，来作为这样的记录光聚焦机构。即，通过以这样的方式改变入射在物镜上的记录激光的准直状态，能够与伺服激光相独立地调整记录激光束的聚焦位置。通过设置这样的用于记录激光的聚焦机构，通过如上所述基于伺服激光的来自基准面Ref的反射光而执行的对物镜的聚焦和伺服控制，记录激光的聚焦位置与区块层102 内期望的信息记录层位置L相符，同时被控制到在寻轨方向上与形成在基准面Ref上的导沟相对应的位置。这里，当对已经执行了标记记录的区块型记录介质100进行再现时，不需要像在记录期间一样，基于伺服激光的反射光来控制物镜的位置。即，在再现期间，可以基于以形成在作为再现目标的信息记录层位置L(也称为再现期间的信息记录层位置L)上的标记列为目标而被照射的激光的反射光，来执行对物镜的聚焦和寻轨伺服控制。如上所述，根据所述区块记录方法，经由共用物镜(通过在同一光轴上合成)、对区块型记录介质100照射用于执行标记记录的记录激光和作为位置控制光的伺服激光，在记录期间，通过执行物镜的聚焦伺服控制和寻轨伺服控制、使得伺服激光遵循基准面Ref 上的位置引导装置，并且分立地通过上述记录光聚焦机构调节记录激光的聚焦位置，即使在区块层102中没有形成位置引导装置，也可以在区块层102内的期望位置(深度方向和寻轨方向)中进行标记记录。此外，在再现期间，可以基于以已经记录的标记列作为目标而被照射的光的反射光、来执行物镜的聚焦伺服控制和寻轨伺服控制。即，在再现期间不需要通过伺服激光来进行伺服控制。这里，在采用目前已经描述的区块记录方法的情况下，伴随着由盘偏心而导致的物镜的歪斜(倾斜)或镜头移位的产生，会发生记录激光和伺服激光在记录表面方向上的点位置偏差。S卩，伴随着歪斜或镜头移位的产生，记录激光的点位置和伺服激光的点位置之间在记录表面方向(寻轨方向)上的相对位置关系发生变化。结果，变得不能在区块层102 内的期望位置上进行标记记录。这样的点位置偏差是由以下原因造成的在记录表面方向上的记录激光的点位置和伺服激光的点位置被设计为，在上述区块记录系统的光学系统中没有歪斜或镜头移位的理想状态下相匹配。如果伴随着所述歪斜和镜头移位发生了信息记录位置的偏差，特别是在执行伴随有盘移位的附加记录的情况下，需要注意相邻轨道之间信息记录位置重叠的问题。具体而言，由于根据盘在主轴电机等上的夹紧、当盘被加载时，盘的偏心或歪斜可能以不同的形式发生，当执行伴随有盘移位的附加记录时，例如在利用给定驱动在给定光盘上进行记录之后执行附加记录时，存在如下担心，即由于在先的记录时的歪斜和偏心的形式与在附加记录时的歪斜和偏心的形式不同，导致记录部分的标记列和附加部分的标记列发生重叠或在某些情况下发生交叉。如果以这种方式发生了标记列的重叠或交叉，将变得不能正确地再现记录信号。因此，例示了将基准面Ref的轨道间距设置得相对较大的、作为用于防止所述重叠或交叉发生的一种技术。然而，在增大了基准面Ref的轨道间距的情况下，自然地，导致了区块层102的记
录容量的缩小。此外，作为另一种技术，考虑了诸如硬盘之类的没有盘移位的系统。然而，根据这样的技术，理所当然地不能进行盘的更换，当例如，盘有问题时，不能更换盘。此外，也不能用其他的记录设备读取由给定记录设备所记录的数据。因此，结果是丧失了这些方面的便利性。因此，作为避免这些问题的有效技术，考虑采用了所谓的ATS (相邻轨道伺服)的技术。ATS最初被作为用于硬盘驱动器中的自伺服轨道写入器(SSTW)。图12是用于描述ATS的示图。如图所示，在ATS中，在记录介质上(在区块层102内)形成了记录点S_rec和相邻轨道伺服点S_ats。记录点S_rec和相邻轨道伺服点S_ats通过经由共用物镜照射分别来自其光源的光而形成。此时，各个点S之间的距离是固定的。在ATS中，记录点S_rec是引导点(即，当记录的行进方向是从内周到外周时处于外周侧)并且相邻轨道伺服点S_ats是跟随点，并且以由记录点S_rec所形成的标记列为目标、通过相邻轨道伺服点S_ats来进行寻轨控制。即，执行物镜的寻轨伺服控制，以使得相邻轨道伺服点S_ats遵循形成记录点Srec的轨道的前一轨道。根据这样的ATS，因为轨道间距由于各个点S之间的距离而保持固定，因此不会发生由偏心等的影响造成的轨道重叠(信息记录位置重叠)的问题。即，不需要如上所述考虑到由偏心等造成的信息记录位置的偏差而不必要地增大轨道间距或设置其中盘不可移除的系统。

发明内容
附带地，对于光学记录介质的记录设备，存在那些执行所谓的OPC(最佳功率控制)以提高记录质量的记录设备。对于区块型记录介质100的记录设备当然也可以考虑执行0PC。图13是用于描述当在通过ATS进行寻轨伺服控制的区块型记录介质100的记录设备中执行OPC时，被认为是合理的技术(现有技术的技术)的示图。首先，当在这样的情况下的记录设备中执行OPC时，对于区块层102内的各个信息记录层位置L，预先形成(记录)如图所示的引导用预记录标记列Mp(图中的虚线)。此时，在ATS中，如前面的图12所述，由于使相邻轨道伺服点S_ats遵循由记录点 S_rec所记录的前一圈的标记列，因此合理地考虑到，将在这种情况下的引导用预记录标记列Mp设置为具有与各个点在径向上的分隔距离(下文称为点间距离)相等的形成间距(在径向上的形成间距下面也称为轨道间距)。在已经预先形成了这样的引导用预记录标记列Mp之后，通过ATS，在使得相邻轨道伺服点S_ats遵循引导用预记录标记列Mp的状态下，当相邻轨道伺服点S_ats到达在试写开始地址的头端前方基本一圈的位置时，开始通过记录点S_rec进行的试写。在图中，图示了在已经完成了一个盘圈的试写的时间点处的状态。一旦试写完成，通过执行对所试写信号的读取来执行评估值的计算。在评估期间， 可以与在试写期间相同的方式来执行通过ATS进行的伺服，或者可以执行利用记录点S_ rec (再现功率)进行的寻轨伺服。通过如上所述形成引导用预记录标记列Mp，可以在盘上执行用于预定位置(试写区)的OPC的试写。然而，应该注意，用于OPC的试写通过连续地改变激光功率来执行。也就是说，如图所示，在执行试写的区域中，存在利用过大的激光功率执行记录的部分(图中的深色部分)和利用不足的激光功率执行记录的部分(图中的浅色部分)。为此，在如上所述相关技术的OPC技术的情况下，存在试写开始后的区域中不能稳定地执行寻轨伺服控制的问题。以这样的方式，存在从开始试写的第二圈以后不能适当地执行试写的问题。此外，变得很难适当地执行对所试写信号的评估，并且不能适当地执行OPC本身。期望在通过ATS执行相对于记录光的寻轨伺服控制的记录设备中，允许适当地执行 OPC。根据本公开的实施例的光学记录介质配置如下。S卩，一种光学记录介质，其中通过记录设备来进行记录，所述记录设备被配置成使得，通过照射记录光和用于相邻轨道伺服的ATS光、并且通过基于ATS光的反射光进行的相邻轨道伺服，来执行记录光的寻轨伺服控制，其中，光学记录介质包括记录层，根据记录光的照射在记录层中形成标记。此外，在记录层中，以记录光的照射点与ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距预先形成有标记列。此外，根据本公开的另一实施例的记录设备配置如下。S卩，一种根据本公开的实施例的记录设备，其被配置成使得，通过照射记录光和用于相邻轨道伺服的ATS光、并且基于ATS光相对于光学记录介质的反射光进行的相邻轨道伺服来执行记录光的寻轨伺服控制，所述记录设备包括光照射和光接收单元，其将记录光和ATS光照射在光学记录介质上，其中在光学记录介质中，在光学记录介质的记录层中以记录光的照射点与ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距预先形成标记列。此外，所述记录设备包括寻轨机构单元，其将物镜保持成在寻轨方向上可移动。此外，所述记录设备包括寻轨误差信号产生单元，其基于由光照射和光接收单元所获得的ATS光的光接收信号来产生寻轨误差信号，该寻轨误差信号表示ATS光的照射点位置相对于形成在记录层中的标记列在寻轨方向上的误差。此外，所述记录设备包括相邻轨道伺服控制单元，其基于寻轨误差信号控制寻轨机构单元以使ATS光的照射点遵循形成在记录层上的标记列。此外，所述记录设备包括控制单元，其执行控制，以在ATS光的照射点通过由相邻轨道伺服控制单元进行的寻轨伺服控制而遵循预先形成的标记列的状态下，进行改变连续记录光的功率的试写。如上所述，根据本公开的实施例，没有像现有技术中一样、以与记录光的照射点位置和ATS光的照射点位置之间的距离相等的间距形成标记列，而是以所述点之间的距离的至少两倍的间距形成标记列，来作为用于执行OPC的试写的、预先形成在记录层中的预记录标记歹丨J。如果以这样的间距形成预记录标记列，则通过在利用ATS光执行相邻轨道伺服的状态下、利用记录光来执行试写，能够在预记录标记列之间执行试写。此外，通过在预记录标记列之间执行试写，能够通过执行与在试写期间相同的相邻轨道伺服(即，记录标记列遵循ATS光的照射点的寻轨伺服)，利用记录光(再现功率)的照射点来执行对所试写信号的读取。即，可以避免在现有技术中以所试写的标记列为目标来执行寻轨伺服的情形。结果，可以有效地避免如现有技术中那样，发生在开始试写后的第二圈以后不能适当地执行试写的情形，或者不能适当地执行对所试写信号的评估并且不能适当地执行 OPC的情形。如上所述，根据本公开的实施例，可以有效地避免如现有技术中那样、以所试写的标记列作为目标来执行寻轨伺服的情形。这样做，可以防止如相关技术中那样发生在开始试写后的第二圈以后不能适当地执行试写的情形，或者不能适当地执行对所试写信号的评估并且不能适当地执行OPC的情形。


图1是在实施例中作为记录和再现目标的光学记录介质的横截面结构示图；图2是用于描述在实施例的光学记录介质上形成的预记录标记列的具体实施例的示图；图3是用于描述预记录标记列的形成技术的示图；图4是用于描述利用实施例的预记录标记列的试写动作的具体技术的示图；图5是主要图示了包括实施例的记录设备的光学系统的配置的示图；图6是图示了实施例的记录设备的整体内部配置的示图；图7是作为修改示例的光学记录介质的横截面结构示图；图8是用于描述从OPC区通过连续地ATS来记录用户数据的技术的示图；图9是用于描述区块记录技术的示图；图10是举例示出了包括基准面的实际区块型记录介质的横截面结构的示图；图11是用于描述对区块型记录介质进行标记记录期间的动作的示图；图12是ATS的说明图；并且图13是用于描述当在通过ATS进行寻轨伺服控制的记录设备中执行OPC时，被认为是合理的技术(相关领域中的技术)的示图。
具体实施例方式下面将描述本公开的实施例。这里，将以如下顺序进行描述。<1.实施例的光学记录介质〉[1-1.横截面结构][1-2.预记录标记列的实施例][1-3.预记录标记列的形成技术]<2. OPC的具体技术><3.实施例的记录设备〉<4.修改示例><1.实施例的光学记录介质〉[1-1.横截面结构]图1图示了实施例的光学记录介质的横截面结构图。实施例的光学记录介质是所谓区块型光学记录介质，并且在下文中称为区块型记录介质1。区块型记录介质1是圆盘状光学记录介质，并且通过对被旋转驱动的区块型记录介质1进行激光照射来执行标记形成(信息记录)。此外，同样通过对被旋转驱动的区块型记录介质1照射激光来执行所记录信息的再现。这里，光学记录介质是通过光的照射来执行信息的记录和再现的记录介质的总称。这里，在图1中，虽然仅摘取和图示了区块型记录介质1的中心孔Ch的一侧的横截面结构，但由于另一侧的横截面结构是相同的，因此省略了其图示。如图1所示，在区块型记录介质1中从上层侧依次形成有覆层2、选择性反射膜3、 中间层4和区块层5。这里，在本说明书中，“上层侧”意指当来自根据下述实施例的记录设备(记录再现设备10)侧的激光束入射的表面是上层的情况下的上层侧。此外，本说明书中提到了 “深度方向”，“深度方向”指的是与遵循上述“上层侧”的定义的竖直方向相一致的方向(即，与来自记录设备侧的激光的入射方向平行的方向聚焦方向)。在区块型记录介质1中，覆层2由诸如聚碳酸酯或丙烯酸之类的树脂构成，并且如图所示，覆层2的下表面具有伴随着作为用于引导记录和再现位置的位置引导装置的、以坑洞列或槽(连续沟道)形式的导沟的形成而形成的凹凸截面形状。利用压模通过注模成型来形成其上形成有这样的坑洞列或槽的导沟列的覆层2。指示与区块型记录介质1的记录表面方向平行的方向上的绝对位置的信息(绝对位置信息径向位置信息和转角信息)通过像这样的坑洞列或槽的导沟来记录。在导沟由槽形成的情况下，通过对槽的摆频(wobble frequency)的调制来记录绝对位置信息，在导沟形成为坑洞列的情况下，通过对坑洞的长度或形成间隔的调制来实现记录。
在其上形成有导沟的覆层2的下表面侧上形成选择性反射膜3。这里，如上所述，根据区块记录方法，分别从用于对作为记录层的区块层5进行标记的记录和再现的光(记录激光)，照射用于基于上述导沟来获得寻轨或聚焦的误差信号的光(伺服激光)。此时，如果伺服激光到达区块层5，会担心对区块层5内的标记记录产生负面影响。为此，选择性地反射伺服激光和透射记录激光的反射膜是非常重要的。根据相关技术的区块记录方法，使用分别具有用于记录激光和伺服激光的不同波带的激光，并且为了与此相对应，使用具有反射与伺服激光具有相同波带的光并且透射其他波长的光的波长选择性的选择性反射膜作为选择性反射膜3。经由由诸如UV固化树脂之类的粘合材料构成的中间层4，在选择性反射膜3的下层侧上形成(粘接)作为记录层的区块层5。可以根据所采用的诸如前述的主动型微全息方法、被动型微全息方法或空位记录方法之类的区块记录方法，选取最适合的材料作为区块层5的形成材料(记录材料)。这里，不具体地限制对区块型记录介质1的标记记录方法，并且可以采用在区块记录方法类别之内的任意方法。在下面的说明中，以采用空位记录方法的情况作为示例。这里，在具有如上所述的截面结构的区块型记录介质1中，如下所述，其上形成有导沟(位置引导装置)的选择性反射膜3是作为记录时(当第一次记录时)基于伺服激光、 执行记录激光的位置控制(尤其是聚焦方向的位置控制)的基准的反射面。为此，形成选择性反射膜3的表面在下文中称为基准面Ref。与之前图11所述的一样，在区块型光学记录介质中，为了在区块层内进行多层记录，预先设置将要执行信息记录的层位置(信息记录层位置L)。在区块型记录介质1中， 对于信息记录层位置L，与前述图11的情况相似，在深度方向上分别以第一偏移量of-Ll、 第二偏移量of-L2、第三偏移量of-L3、第四偏移量of-L4和第五偏移量of_L5离开基准面 Ref，设置了第一信息记录层位置Li、第二信息记录层位置L2、第三信息记录层位置L3、第四信息记录层位置L4和第五信息记录层位置L5。这里，所设置的信息记录层位置L的数目不限于5。这里，从基准面Ref到各个信息记录层位置L的偏移量of_L的信息在下述记录再现设备10中的控制器39上设置。这里，在区块层5中的各个信息记录层位置L中的信息的记录方向可以是相同或不同的。即，记录方向可以在每越过一层时交替变化(在已知的所谓相反轨道路径(track pass)中)，或者如在平行轨道路径中那样在各层中的记录方向相同。这里，为了便于描述，对于记录方向采用平行轨道路径。具体而言，在各个层位置 L中的记录方向从内周侧到外周侧是一致的。这里，可以肯定的是，这里“记录方向”指的是记录在光盘半径方向上推进的方向。此外，在实施例的区块型记录介质1中，如图所示，在区块层5内的各个信息记录层位置L上形成引导用预记录标记列Mp。如图所示，形成在信息记录层位置Ll上的引导用预记录标记列Mp具有附图标记“Mp_ll”，并且形成在信息记录层位置L2上的引导用预记录标记列Mp具有基准符号 “Mp_12”。类似地，信息记录层位置L3、L4和L5具有引导用预记录标记列Mp_13、Mp_14和Mp_15。在本示例的情况下，引导用预记录标记列Mp形成在OPC (最佳功率控制)区内，其中OPC区设置在各信息记录层位置L内的最内周区域内。具体而言，在本示例的区块型记录介质1中，在各个信息记录层位置L中，虽然导入区设置在最内周区域内，但是执行用户数据记录的用户数据区设置在导入区的外周侧， 并且导出区进一步设置在其外周侧，在这种情况下，引导用预记录标记列Mp形成在被设置在导入区中的OPC区内。此外，在本示例的情况下，用于使引导用预记录标记列Mp可识别的预记录标记列识别信息被嵌入在引导用预记录标记列Mp中。此外，在本示例的情况下，用于指示盘上的位置信息(径向位置信息，转角信息)的地址信息也被嵌入在引导用预记录标记列Mp中。以这样的方式，通过包括预记录标记列识别信息的预定信息的记录来形成本示例的引导用预记录标记列Mp。这里，在本示例的情况下，预记录标记列识别信息或地址信息以预定间隔嵌入在引导用预记录标记列Mp中。[1-2预记录标记列的实施例]图2是用于描述本示例的引导用预记录标记列Mp的具体实施例的示图。首先，在图2中，图示了被照射来执行相邻轨道伺服(ATS)的ATS光的照射点—— 相邻轨道伺服点S_ats，以及用于对区块层5执行信息记录的记录光(记录激光)的照射点-记录点S_reCo如前面的图12所述，对于ATS，执行轨道伺服，使得相邻轨道伺服点S_ats在以记录点S_rec为引导点(leading spot)并以相邻轨道伺服点S_ats为跟随点(following spot)的情况下跟踪标记列。这里，由于在此情况下记录方向是从内周侧到外周侧，因此作为引导点的记录点S_rec位于外周侧上，并且作为跟随点的相邻轨道伺服AS_ats位于内周侧上。这里，如图所示，如果记录点S_rec和相邻轨道伺服点S_ats之间在径向上的分离距离(中心点之间的距离)是点间距离Dpa，那么引导用预记录标记列Mp以点间距离Dpa 的至少两倍的间距Pt (在径向上的形成间距)形成。如果引导用预记录标记列Mp以点间距离Dr-a的至少两倍的间距形成，则如图所示，通过执行ATS使得相邻轨道伺服点S_ats跟踪引导用预记录标记列Mp，可以在引导用预记录标记列Mp之间执行通过记录点S_rec进行的记录。即，在引导用预记录标记列Mp之间进行试写。由于能够在引导用预记录标记列Mp之间执行试写，所以通过执行与试写期间相同的相邻轨道伺服(即，相邻轨道伺服点S_ats跟踪引导用预记录标记列Mp的轨道伺服)， 能够利用记录(再现功率)来执行对所试写的信号的读取(评估)。即，这样做，可以防止在现有技术中那样以所试写的标记列作为目标来执行寻轨伺服的情形。结果，可以有效地防止像在现有技术中那样的、在开始试写后的第二圈以后不能适当地执行试写的情形、或者不能适当地进行对所试写的信号的评估的情形的发生，并且能够适当地执行0PC。这里，可以肯定，间距Pt是点间距离Dpa的至少两倍，使得当如上所述在引导用预记录标记列Mp之间进行试写时，通过试写形成的标记列与引导用预记录标记列Mp之间的间隔不超过光学限制。此时，存在间距pt的值越大、记录密度越小的倾向。也就是说，期望间距Pt处于满足至少是点间距离Dpa两倍的条件的范围内的同时，尽可能小。换句话说，最理想的是将间距Pt设置为点间距离Dr-a的两倍，以抑制记录密度的减小。[1-3预记录标记列的形成技术]图3是用于描述引导用预记录标记列Mp的具体形成技术的示图。参考图3可知，利用用于形成引导用预记录标记列的写入器(高精度写入器6)在区块层5内形成引导用预记录标记列Mp。这里，高精度写入器6被配置成，基于利用伺服激光(如上参考图11所述)的基准面Ref的位置引导装置对区块型记录介质1执行物镜的位置控制(即，记录激光的点位置控制)。具体而言，高精度写入器6配置成，经由共用物镜照射记录激光和伺服激光，并且基于伺服激光的来自基准面Ref的反射光来控制物镜(寻轨方向和聚焦方向)的位置。在前述情况下，通过装备改变入射在物镜上的记录激光的准直状态的机构来作为上述记录光聚焦机构，高精度写入器6被配置成能够使记录激光(聚焦方向)的点位置与在区块层5 内的期望位置相符。此外，以经由共用物镜照射伺服激光和记录激光的配置，由于伴随着歪斜或镜头偏移在伺服激光和记录激光中产生点位置偏差(主要在寻轨方向上)并且变得不能在期望位置处进行记录，因此高精度写入器6还装备有位置偏差校正单元，其高精度地校正伴随着上述歪斜或镜头偏移导致的点位置偏差。以检测盘倾斜量和镜头偏移量并基于检测的结果来校正记录激光的光轴的倾斜的一种点位置偏差校正单元作为点位置偏差校正单元的一个示例。利用这样的高精度写入器6，在区块层5内的各个信息记录层位置L的预定区域上形成作为引导用预记录标记列Mp的标记列。同样如上所述，在本示例的情况下，引导用预记录标记列Mp分别形成在作为设置在各个信息记录层位置L内的最内周部分中的OPC区的预定区域上。此外，在本示例的情况下，高精度写入器6通过基于包括所述预记录标记列识别信息和地址信息的数据列来发出驱动记录激光，以形成引导用预记录标记列Mp，以使得预记录标记列识别信息和地址信息被嵌入在引导用预记录标记列Mp中。此外，同样从如上所述可知，所述预记录标记列识别信息和地址信息以预定间隔插入在数据列中。这里，虽然在图中图示了，在区块层5内从位于最底层的第五信息记录层位置L5 依次形成引导用预记录标记列Mp，但是引导用预记录标记列Mp针对各个信息记录层位置L 的形成顺序不限于此，并且可采用任何顺序。<2. OPC的具体技术〉将参考图4描述在这种情况下的OPC的具体技术。首先，从上述说明可知，在这种情况下，执行由ATS进行的寻轨伺服，以使得当执行OPC的试写时、相邻轨道伺服点S_ats跟踪引导用预记录标记列Mp。此外，在这种状态下参照在引导用预记录标记列Mp上所记录的地址信息，并且当到达预先设置的试写开始位置时、开始由记录点S_rec进行的试写(其中连续地改变记录激光的功率的试写)。这样，如图所示，在引导用预记录标记列Mp之间执行了试写。当试写完成时，执行对通过试写所记录的信号的评估。具体而言，通过在与试写时类似地执行由ATS进行的寻轨伺服使得相邻轨道伺服点S_ats跟踪引导用预记录标记列Mp 的状态下，利用记录点S_rec(作为再现功率)读取所试写的信号，并且计算诸如抖动值之类的用于评估信号质量的预定评估值，来执行信号质量评估。通过基于所述信号质量评估的结果来确定最佳记录功率，来执行记录激光的功率调节。从而完成OPC。这里，虽然在本实施例中，基于记录在引导用预记录标记列Mp中的预记录标记列识别信息、执行了验证基于ATS的伺服目标是引导用预记录标记列Mp的处理过程，但后面将详细描述该处理过程。<3.实施例的记录设备〉图5是用于主要描述包括记录设备(称为记录再现设备10)的光学系统的配置的示图，其中所述记录设备是利用在区块型记录介质1上形成的引导用预记录标记列Mp执行 OPC的实施例。具体而言，主要描述本实施例的记录再现设备10所包括的光学读取器OP的内部配置。在图5中，装载在记录再现设备10中的区块型记录介质1设置为，其中心孔Ch被夹紧在记录再现设备10的预定位置处，并且被保持在可以由主轴电机(其在附图中省略) 进行旋转驱动的状态下。设置光学读取器OP的目的在于对通过主轴电机旋转驱动的区块型记录介质1照射记录激光、伺服激光和用于形成相邻轨道伺服点S_ats的ATS光。这里，如从后面的描述中可知的，在本示例的情况下，ATS光被用作在再现期间 (在用户数据再现期间)进行对记录信号的再现的再现光。在光学读取器OP内设置了记录激光器1 Ir和伺服激光器M，其中记录激光器1 Ir 是用于通过标记进行信息记录以及在OPC期间为评估值计算进行读取的激光的光源，伺服激光器M是伺服激光的光源，伺服激光是用于利用在基准面Ref上形成的位置引导装置进行位置控制的光的光源。此外，设置了 ATS和再现期间用激光器llap，其是用于在ATS和再现期间对记录信号进行读取的激光的光源。这里，从图11的上述描述可知，记录激光和伺服激光使用具有不同波长带的光。 在本示例的情况下，记录激光的波长是大约405nm (所谓的蓝紫色激光)并且伺服激光的波长是大约650nm(红色激光)。此外，因为被用作用于ATS光或信号读取光(此后简称为ATS光)的光源的ATS 和再现期间用激光器Ilap所用的激光透过选择性反射膜3而到达区块层5内并且记录再现波长相同，所以其波长与记录激光相同。在光学读取器OP内设置了物镜20，其是记录激光、伺服激光和ATS光对区块型记录介质1的共用输出端。还设置了用于接收记录光的来自区块型记录介质1的反射光以及ATS光的来自区块型记录介质1的反射光的第一光接收单元23，以及用于接收伺服激光的来自区块型记录介质1的反射光的第二光接收单元四。而且，形成了如下光学系统，其用于将从记录激光器Ilr入射的记录激光以及从 ATS和再生期间用激光器Ilap入射的ATS光引导至物镜20，同时将入射到物镜20上的、记录激光和ATS光的来自区块型记录介质1的反射光引导至第一光接收单元23。具体而言，从记录激光器Ilr入射到记录光以及从ATS和再生期间用激光器Ilap 入射的ATS光，在两者均经由准直透镜12变成平行光之后，入射在偏振分光器13上。偏振分光器13被配置成使得以这样的方式从光源侧入射的记录激光和ATS光透射。透射过偏振分光器13的记录激光和ATS光入射在扩展器上，其中该扩展器由固定透镜14、可动透镜15和透镜驱动单元16构成。在该扩展器中，通过将固定透镜14布置在靠近光源侧、可动透镜15布置在远离光源侧、并且使透镜驱动单元16在与入射光的光轴平行的方向上驱动可动透镜15，来对记录激光束和ATS光进行独立的聚焦控制。该扩展器对应于上述记录光聚焦机构。如下文将描述的，记录光聚焦机构的透镜驱动单元16受到图6所示的控制器39、 根据与信息记录层位置L相应地设置的偏移量of-L的值而进行的驱动。如图所示，经由构成记录光聚焦机构的固定透镜14和可动透镜15的各激光束均在被镜17反射之后，经由1/4波长板18入射在分色棱镜19上。分色棱镜19被配置成，其选择性反射面反射与记录激光和ATS光的波长范围相同的光，并且透射其他波长的光。因此，如上所述被入射的各激光被分色棱镜19反射。如图所示，被分色棱镜19反射的各激光经由物镜20照射在区块记录介质1上。这里，通过以这样的方式经由物镜20照射记录激光和ATS光，在区块层5内的期望信息记录层位置L上形成如前面的图2和图4所示的记录点S_rec和相邻轨道伺服点S_
3- S ο在这样的情况下，光学系统被设计为，使得记录点S_rec与相邻轨道伺服点S_ats 之间的位置关系是上述引导和跟随的关系，并且记录点S_rec和相邻轨道伺服点S_ats之间的分离距离是作为上述点间距离Dr-a的预定距离。对物镜20设置了双轴致动器21，其将物镜20保持成在聚焦方向(接近和远离区块型记录介质1的方向)和寻轨方向(与聚焦方向垂直的方向区块记录介质1的径向) 上可移动。在这样的情况下，双轴致动器21包括聚焦线圈和寻轨线圈，通过向各个线圈给予驱动信号(下述的驱动信号FD和TD)，使物镜20分别在聚焦方向和寻轨方向上移动。这里，当在记录期间或再现期间执行ATS时，如上所述根据对区块型记录介质1照射ATS光，来获得ATS光的来自预记录标记列的反射光。此外，在读取(评估)伴随着OPC 被记录的所试写信号时，根据照射再现功率的记录激光来获得来自通过试写所形成的标记列的反射光。以这种方式获得的记录激光和ATS光的反射光经由物镜20被引导至分色棱镜19， 并且被分色棱镜19反射。被分色棱镜19反射的、记录激光和ATS光的反射光经由1/4波长板18、反射镜17、 和记录光聚焦机构(可动透镜15到固定透镜14)入射在偏振分光器13上。这里，由于1/4波长板18的作用和在区块记录介质1处的反射的作用，以这种方式入射在偏振分光器13上的各激光的反射光(返回光)，与从光源侧入射在偏振分光器13 上的光(前往光)相比，其偏振方向变化了 90度。结果，如上所述入射的各激光的反射光被偏振分光器13反射。从偏振分光器13反射的、记录激光和ATS光两者的反射光经由聚光透镜22会聚在第一光接收单元23的光接收表面上。这里，虽然省略了附图的描述，但是在第一光接收单元23上设置了接收记录激光的反射光的记录光接收光电检测器，以及接收ATS光的反射光的ATS光接收光电检测器。在本示例的情况下，仅包括一个光接收元件作为记录光接收光电检测器(因为在这种情况下记录光的反射光仅用于信号质量评估)，并且在ATS光接收光电检测器中包括多个光接收元件(这种情况下是4个)。由在第一光接收单元23中的记录光接收光电检测器所获得的光接收信号称为光接收信号DT-ev。此外，由作为ATS光接收光电检测器的多个光接收元件所获得的光接收信号统称为光接收信号DT-ap。此外，除了上述记录激光和ATS光的光学系统以外，在光学读取器OP中还形成了如下光学系统，其用于将从伺服激光器M入射的伺服激光引导至物镜20，同时将入射在物镜20上的、伺服激光的来自区块记录介质1的反射光引导至第二光接收单元四。如图所示，从伺服激光器M入射的伺服激光在经由准直透镜25变为平行光之后入射在偏振分光器沈上。偏振分光器沈配置成使得以这种方式从伺服激光器M入射的伺服激光(前往光)透射。透射过偏振分光器沈的伺服激光经由1/4波长板27入射在分色棱镜19上。如上所述，由于分色棱镜19被配置成反射具有与记录激光和ATS光相同的波长带的光并且透射其他波长的光，因此伺服激光透射过分色棱镜19并且经由物镜20照射在区块记录介质1上。此外，根据伺服激光以这种方式照射在区块型记录介质1上所获得的伺服激光的反射光(来自基准面Ref的反射光)，在透过物镜20之后透过分色棱镜19，并经由1/4波长板27入射在偏振分光器沈上。与前面的记录激光和ATS光的情况类似，由于1/4波长板27的作用和在区块记录介质1处的反射的作用，以这种方式从区块记录介质1入射的、伺服激光的反射光(返回光)与前往光相比，其偏振方向变化了 90度。并且因此作为返回光的、伺服激光的反射光被偏振分光器沈反射。被偏振分光器沈反射的、伺服激光的反射光经由聚光透镜观会聚在第二光接收单元四的光接收表面上。这里，虽然没有根据附图进行描述，但实际上在记录再现设备10上设置了滑动驱动单元，该滑动驱动单元在寻轨方向上滑动地驱动上述整个光学读取器0P，并且通过由滑动驱动单元驱动光学读取器0P，激光的照射位置能够在较大范围上移动。图6图示了记录再现设备10的整体内部配置。这里，在图6中，仅以从前面图2所示的配置中摘取的记录激光器llr、透镜驱动单元16和双轴驱动器21来图示光学读取器OP的整体内部配置。
在图6中，将图中的记录处理单元31、光策略(light strategy)电路32、ATS和再现期间用矩阵电路33、以及再现处理单元34设置为与在记录再现设备10上的记录激光和ATS光相关的信号处理系统。将要在区块记录介质1上记录的数据(记录数据)被输入到记录处理单元31。记录处理单元31通过对输入的记录数据进行纠错码附加、预定记录调制编码、地址信息附加等，获得在区块记录介质1上实际记录的、例如“0”和“1”的二进制数据列的记录调制数据列。光策略电路32根据所设定的参数，基于由记录处理单元31所产生的记录调制数据列产生记录脉冲信号RCP，并且通过记录脉冲信号RCP执行在光学读取器OP内的记录激光器Ilr的光发射驱动。此外，当在OPC期间读取所试写的信号时，光策略电路32根据来自控制器39的指示使记录激光器Ilr以再现功率发射。来自上述第一光接收单元23内的作为ATS光接收光电检测器的多个光接收元件的光接收信号DT-ap被输入到ATS和再现期间用矩阵电路33。ATS和再现期间用矩阵电路33基于光接收信号DT-ap生成用于矩阵运算处理的各种类型的信号。这里，在本示例的情况中，在区块层5上的通过标记列所记录的信号的再现期间 (用户数据的再现期间)，ATS光用作再现用激光。然而，在再现期间，基于ATS光的反射光来执行以预记录标记列为目标的聚焦伺服控制和寻轨伺服控制。作为响应，ATS和再现期间用矩阵电路33被配置成基于光接收信号DT_ap生成与上述记录调制数据列的再现对应的和信号sum，用于聚焦伺服控制的聚焦误差信号 FE-ap(表示相对于标记列的聚焦误差的信号)以及用于寻轨伺服控制的寻轨误差信号 TE_ap(表示相邻轨道伺服点S_ats相对于预记录标记列在径向上的位置误差的信号)。由ATS和再现期间用矩阵电路33所产生的和信号sum被供给到再现处理单元34。此外，聚焦误差信号FE-ap和寻轨误差信号ΤΕ-ap被供给到ATS和再现期间用伺服电路35。再现处理单元34对和信号sum进行诸如二进制化处理或记录调制编码的解码和纠错处理之类的用于恢复上述记录数据的再现处理，并且得到被再现的记录数据的再现数据。这里，在再现处理单元34上设置了附加信息检测单元34a。附加信息检测单元3 执行对诸如地址信息之类的以预定间隔嵌入在标记列中的附加信息的检测。尤其是在本示例的情况下，预记录标记列识别信息被作为附加信息嵌入在引导用预记录标记列Mp中，并且附加信息检测单元3 基于和信号sum检测诸如预记录标记列识别信息或地址信息之类的附加信息。附加信息检测单元34a的检测信号被供给到控制器39。此外，在再现处理单元；34上设置了评估器34b。如图所示，来自第一光接收单元23的记录光接收光电检测器的光接收信号DT-ev 被输入到再现处理单元；34，并且评估器34b基于光接收信号DT-ev计算评估值，该评估值是对于在OPC期间由试写所记录的信号的信号质量的评估指标。具体而言，在这种情况下，例如计算作为评估值的抖动值。由评估器34b所计算的评估值被供给到控制器39。ATS和再现期间用伺服电路35分别基于聚焦误差信号FE_ap和寻轨误差信号 TE-ap产生聚焦伺服信号FS-ap和寻轨伺服信号TS_ap。此外，通过根据来自控制器39的指示、基于根据聚焦伺服信号FS-ap和寻轨伺服信号TS-ap所产生的聚焦驱动信号FD_ap 和寻轨驱动信号TD-ap来驱动双轴致动器21的聚焦线圈和寻轨线圈，来实现物镜20的聚焦伺服控制和寻轨伺服控制。此外，ATS和再现期间用伺服电路35通过根据来自控制器39的指示、把寻轨伺服环设置为OFF来给予双轴致动器21的寻轨线圈以跳脉冲，来实现轨道跳跃动作或执行寻轨伺服的牵引控制(drawing control)等。此外，对在期望的信息记录层位置L上所形成的标记列执行聚焦伺服的牵引控制。这里，同样如图所示，聚焦驱动信号FD-ap在OPC期间(在试写和评估期间)、记录期间和再现期间使用。此外，寻轨误差信号TE-ap用于OPC期间和记录期间的ATS，并且用于在再现期间相对于记录标记列的寻轨伺服。此外，对于记录再现设备10，设置了伺服光矩阵电路36、位置信息检测单元37和伺服光伺服电路38来作为伺服激光的反射光的信号处理系统。伺服光矩阵电路36基于来自图2所示的第二光接收单元四中的多个光接收元件的光接收信号DT-sv生成所需要的信号。具体而言，在这种情况下的伺服光矩阵电路36产生寻轨误差信号TE-sv作为用于执行寻轨伺服控制的信号，寻轨误差信号TE-sv表示伺服激光的照射点相对于在基准面 Ref上形成的导沟(轨道)在径向上的位置误差。此外，产生聚焦误差信号FE-sv作为用于执行聚焦伺服控制的信号，聚焦误差信号FE表示伺服激光相对于基准面Ref (选择性反射膜3)的聚焦误差。此外，产生用于检测在基准面Ref上记录的位置信息的位置信息检测信号Dps。例如，在位置信息通过坑洞列进行记录的情况下，产生和信号，作为位置信息检测信号Dps。或者，在位置信息通过摆动槽记录的情况下，产生推挽信号。位置信息检测信号Dps被供给到位置信息检测单元37。位置信息检测单元37基于位置信息检测信号Dps检测在基准面Ref上记录的位置信息。所检测到的位置信息被供给到控制器39。此外，由伺服光矩阵电路36所产生的聚焦误差信号FE-sv和寻轨误差信号TE_sv 被供给到伺服光伺服电路38。伺服光伺服电路38分别基于聚焦误差信号FE-sv和寻轨误差信号TE_sv产生聚焦伺服信号FS-sv和寻轨伺服信号TS-sv。此外，通过根据来自控制器39的指示、基于根据聚焦伺服信号FS-sv和寻轨伺服信号TS-sv所产生的聚焦驱动信号FD-sv和寻轨驱动信号TD-sv来驱动双轴致动器21的聚焦线圈和寻轨线圈，来实现物镜20的聚焦伺服控制和寻轨伺服控制。此外，伺服光伺服电路38通过根据来自控制器39的指示、把寻轨伺服环设置为 OFF来给予双轴驱动器21的寻轨线圈以跳脉冲、来实现轨道跳跃动作或执行寻轨伺服等的牵引控制。此外，执行相对于基准面Ref的聚焦伺服的牵引控制。控制器39由包括例如CPU (中央处理器)和诸如ROM(只读存储器)或RAM(随机存储器)之类的存储器(存储设备)的微型计算机构成，并且通过执行例如遵循在上述ROM 等中存储的程序的控制和处理，来执行记录再现设备10的整体控制。例如，控制器39基于与各个层位置L对应地预先设定的偏移量of-L的值、执行对记录激光和ATS光的聚焦位置的控制(设置)。具体而言，通过基于与作为记录目标的信息记录层位置L对应地设置的偏移量of-L的值来驱动在光学读取器OP内的透镜驱动单元 16，来执行在深度方向上的记录位置和ATS光的聚焦位置的选择。此外，本示例的控制器39利用分别与对用户区进行初次记录时的情况以及其他情况(即，在OPC期间(试写期间，评估期间)，在记录期间和在再现期间)对应的技术，来执行用于进行寻轨伺服和聚焦伺服的控制。这里，在本示例的情况下，当对用户数据区执行初次记录时，为了使通过ATS进行的伺服可行，执行对应于至少一个轨道的初次记录。在这样的初次记录期间，与现有技术类似，执行利用伺服激光的来自基准面Ref 的反射光的位置控制和通过记录光聚焦机构进行的聚焦控制一起的位置控制。具体而言，当对用户数据区进行初次记录时，在执行控制以通过来自伺服光伺服电路38的聚焦驱动信号FD-sv和寻轨驱动信号TD-sv来驱动双轴致动器21的同时，驱动透镜驱动单元16以使得记录激光的聚焦位置与作为记录目标的信息记录层位置L相符。此外，在OPC期间(在试写期间，在评估期间)，在记录期间(初次记录以后)以及在再现期间，基于ATS光的来自标记列的反射光执行聚焦控制和伺服控制。为此，在OPC 期间、在记录期间以及在再现期间，控制器39执行控制，以使得双轴致动器21通过来自ATS 和再现期间用伺服电路35的聚焦驱动信号FD-ap和寻轨驱动信号TD_ap来驱动。此外，控制器39执行OPC处理。S卩，执行作为OPC处理的如下试写首先进行控制以使得以引导用预记录标记列 Mp为目标的、通过ATS光进行的ATS能够被执行，然后通过指示光策略电路32来连续地改变记录激光器Ilr的激光功率。此外，在试写之后，通过进行控制使得以引导用预记录标记列Mp为目标的、通过 ATS光进行的ATS能够被执行，来类似地执行ATS，在上述状态下，通过照射根据对光策略电路32的指示而具有再现功率的记录光来执行对所试写的信号的读取。此外，通过获取根据所述读取而由评估器34b所计算的评估值，基于该评估值确定最佳记录功率。所确定的记录功率的信息被给予到光策略电路32。此外，在OPC期间，在执行试写或获取评估值时，执行如下判断，即ATS光所跟踪的标记列是否是引导用预记录标记列Mp。上述判断基于附加信息检测单元34a的检测信号来执行，其中在附加信息检测单元3 中，可以基于关于ATS光的光接收信号DT-ap进行对来自再现信号(sum)的预记录标记列识别信息的检测。具体而言，当进入试写的开始位置时以及当进入对所试写信号的读取的开始位置时，控制器39输入由附加信息检测单元3 得到的检测信号，并且执行是否从来自标记列的再现信息检测到预记录标记列识别信息。作为上述判断过程的结果，在得到了没有检测到预记录标记列识别信息的否定结果时，由于作为伺服目标的标记列是由试写所形成的标记列，因此通过对ATS和再现期间用伺服电路35等执行轨道跳跃指令，使得作为伺服目标的标记列改变为引导用预记录标记列Mp。另一方面，当作为上述判断过程的结果，得到了检测到预记录标记列识别信息的肯定结果时，执行控制以进行试写，或者当在评估时，基于对由试写所记录的信号的信号质量评估或基于评估结果，将光策略电路32设置(调节)为最佳记录功率。根据如上所述的记录再现设备10，根据本实施例的区块型记录介质1，可以在引导用预记录标记列Mp之间执行试写，同时正确地读取所试写的信号并且执行信号质量评估。也就是说，对本实施例的区块型记录介质1适当地执行0PC。<4.修改示例>虽然上面已经描述了本公开的实施例，但是本公开的实施例不限于到目前为止所描述的具体示例。例如，虽然到目前为止在说明书中已经例示了其中分立地设置记录光的光源和 ATS光的光源的情况，但共用光源也是可以的。在这样的情况下，可以通过利用光栅等将从共用光源入射的激光分成多个光束来分别获得记录光和ATS光。此外，虽然到目前为止在说明书中已经例示了如下情况，即利用在记录期间用作 ATS光的光的反射光来执行记录信号的再现以及在再现期间的聚焦和寻轨伺服控制(即， 在再现期间不使用记录激光)，但是也可以相反地利用记录激光(再现功率)的反射光来执行记录信号的再现以及在再现期间的聚焦和寻轨伺服控制。此外，虽然到目前为止在说明书中，引导用预记录标记列Mp仅形成在最内周区域中，但是引导用预记录标记列Mp也可以形成在最外周区域中，或者可以通过将盘在径向上分为多个区而设置在各个区中。此外，对于多层记录，虽然到目前为止已经描述了通过平行轨道路径来进行记录的情况，但是也可以采用相反轨道路径。在相反轨道路径的情况下，相邻信息记录层位置L之间的记录方向是各自不同的。因此，为了在各个层位置L处正确地实现ATS，ATS光在一个层位置L中相对于记录激光布置在内周侧，而在相邻的层位置L中布置在记录激光的外周侧(因为ATS光是跟随光)。因此，在这样的情况下，光学系统配置成使得，从ATS和再现期间用激光器Ilap入射的激光被分成多个光束，并且同时多个光束中的一个光束的照射点位置是向内周侧以点间距离IVa离开记录点S_rec的位置，而另一个光束的照射点位置是向外周侧以点间距离 Dpa离开记录点S_rec的位置。此外，在这样的情况下，光学系统可以配置成，设置接收位于内周侧的光束的反射光的光电检测器以及接收位于外周侧的光束的反射光的光电检测器来作为第一光接收单元23，并且针对作为0PC、记录和再现目标的各个层位置L来选择和使用与各个光电检测器对应的光接收信号。此外，虽然到目前为止在说明书中已经描述了本公开的实施例适用于以包括未形成记录膜的区块型记录介质的区块型记录介质1为目标来进行多层记录的情况，但本公开的实施例也能够适用于对图7所示的多层记录介质40进行记录的情况。虽然在图7中多层记录介质40从上层侧依次形成有覆层2、选择性反射层3和中间层4这一点与图1中的区块型记录介质1相同，但在这样的情况下，代替区块层5，形成了具有其中半透明记录膜41和中间层4以预定次数重复地层压的层结构的记录层(如图所示)。如图所示形成在最底层上的半透明膜41被层压在衬底42上。这里，使用全反射记录膜作为形成在最底层上的记录膜。这里，应该注意，在半透明记录膜41上没有形成坑洞列或槽的位置引导装置。艮口， 同样在这样的多层记录介质40中，位置引导装置仅形成在作为基准面Ref的一个层位置上。这里，根据这样的多层记录介质40的记录层，由于形成了用作反射膜的半透明记录膜41，因此即使在上述初次记录时，对于聚焦伺服，也可以执行基于ATS光(或记录激光)的反射光的聚焦伺服。此外，虽然到目前为止在说明书中已经例示了基准面Ref与记录层相比形成在更上层侧的情况，但是本公开的实施例能够适用于基准面Ref与记录层相比形成在更下层侧的情况。此外，虽然到目前为止，在说明书中已经例示了在对用户区进行初次记录时、为了使ATS可行而执行对应于至少一圈的初次记录的情况，但通过在引导用预记录标记列Mp上如图8所示延续地形成间距返回标记列Rm，也可以从对弓I导用预记录标记列Mp执行ATS的状态，在保持ATS的同时记录用户数据。如图8所示，间距返回标记列Rm从OPC区的端点(引导用预记录标记列Mp的端点)延续地形成，并且形成为通过在OPC区的端点之后逐渐地缩小与紧邻内周侧的标记列之间的间隔，来使间距Pt返回到正常间距(=点间距离υ。具体而言，在附图的示例中，如图中的实心箭头所示，间距Pt从距离OPC区的端点旋转了约4/5圈的位置处、逐渐返回到正常间距(点间距离Dpa)。通过以这样的方式将间距Pt返回到正常间距，记录点S_rec能够被放置在引导用预记录标记列Mp的延伸线上。也就是说，变得可以从对引导用预记录标记列Mp执行ATS 的状态，在保持ATS的同时，在引导用预记录标记列Mp的延伸线上(以及在间距返回标记列Rm的延伸线上)通过记录点S_rec执行用户数据记录。具体而言，在图8的示例中，间距返回标记列Rm从OPC区的端点开始形成三圈。如图所示，间距返回标记列Rm的端点是用户数据的记录开始位置(S卩，用户数据区的始端)。为了从这样的用户数据区的端点开始数据记录，在这样的情况下，在相邻轨道伺服点S_ats到达基本上比用户数据的开始端提前一圈的位置(如图中的“A”所示)时的定时处、开始通过记录点S_rec进行的用户数据的记录。这里，在图8所示的示例的情况下，如果在对引导用预记录标记列Mp的最后一圈执行ATS时进行试写，则在如实心箭头的区间所示的间距返回区间中，标记列的间隔超过光学限制。因此，在这样的情况下，将在引导用预记录标记列的最后一圈中、与间距返回区间对应的最后区间设置成不用作试写区。此外，虽然在图8的示例中，形成了三圈的间距返回标记列Rm，但是为了将记录点 S_rec放置在引导用预记录标记列Mp的延伸线上，间距返回标记列Rm可以至少仅形成在间距返回区间上。根据如上所述利用间距返回标记列Rm的技术，由于不需要在用户数据区内执行为了使ATS可行而进行的对应于至少一圈的初次记录，因此也不需要执行用于初次记录的基于伺服激光的伺服控制。因此，结果，在记录再现设备10中，除了能够省略基准面Ref，还可以省略涉及伺服激光的配置(涉及伺服激光的光学系统和信号处理系统)、记录光聚焦机构、和分色棱镜 19，并且可以降低记录介质的制造成本，并可以降低记录再现设备10的制造成本。此外，虽然到目前为止已经例示了其中本公开的实施例适用于对光学记录介质进行记录和再现两者的记录再现设备的情况，但本公开的实施例也适合用于其中仅可以对光学记录介质进行记录的记录专用设备(记录设备)。本公开包含涉及在与2010年10月观日在日本专利局提交的日本在先专利申请 JP 2010-242069中公开的主题相关的主题，该申请的全部内容通过引用结合于此。本领域的技术人员应该明白，只要在所附权利要求或其等同物的范围内，可以根据设计需求和其他因素做出各种修改、组合、子组合和变化。
权利要求
1.一种光学记录介质，其中通过记录设备来进行记录，所述记录设备被配置成使得，通过照射记录光和用于相邻轨道伺服的ATS光、并且通过基于所述ATS光的反射光进行的相邻轨道伺服来执行记录光的寻轨伺服控制，其中，所述光学记录介质包括记录层，根据所述记录光的照射在所述记录层中形成标记，在所述记录层中，以所述记录光的照射点与所述ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距预先形成有标记列。
2.根据权利要求1所述的光学记录介质，其中，所述光学记录介质是圆盘状光学记录介质，在所述记录层中，所述标记列形成在用户记录区域的内周侧或外周侧的至少一者上。
3.根据权利要求2所述的光学记录介质，其中，所述标记列通过记录预定信息来形成，所述预定信息包括用于识别预先形成的标记列的预先记录标记列识别信息。
4.根据权利要求3所述的光学记录介质，其中，所述标记列分别形成在所述记录层内的在深度方向上的多个位置处。
5.根据权利要求4所述的光学记录介质，其中，所述记录层是其中未形成记录膜的区块形式记录层。
6.根据权利要求4所述的光学记录介质，其中，所述记录层是其中形成了多个记录膜的多层记录层。
7.根据权利要求1所述的光学记录介质，其中，在以所述记录光的照射点与所述ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距形成的标记列后方，形成间距返回标记列，所述间距返回标记列用于将标记列的间距返回到与所述记录光的照射点和所述ATS光的照射点之间的距离相等的间距。
8.—种记录设备，所述记录设备被配置成使得，通过照射记录光和用于相邻轨道伺服的ATS光、并且基于所述ATS光相对于光学记录介质的反射光进行的相邻轨道伺服来执行所述记录光的寻轨伺服控制，所述记录设备包括光照射和光接收单元，其经由共同物镜将所述记录光和所述ATS光照射在所述光学记录介质上，并且接收来自所述光学记录介质的所述ATS光的反射光，其中在所述光学记录介质中，在所述光学记录介质的记录层中以所述记录光的照射点与所述ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距预先形成标记列；寻轨机构单元，其将所述物镜保持成在寻轨方向上可移动；寻轨误差信号产生单元，其基于由所述光照射和光接收单元所获得的所述ATS光的光接收信号来产生寻轨误差信号，所述寻轨误差信号表示所述ATS光的照射点位置相对于形成在所述记录层中的标记列在寻轨方向上的误差；相邻轨道伺服控制单元，其基于所述寻轨误差信号控制所述寻轨机构单元以使所述 ATS光的照射点遵循形成在所述记录层上的所述标记列；以及控制单元，其执行控制，以在所述ATS光的照射点通过由所述相邻轨道伺服控制单元进行的寻轨伺服控制而遵循预先形成的所述标记列的状态下，进行改变连续记录光的功率的试写。
9.根据权利要求8所述的记录设备，其中，所述标记列通过记录预定信息来形成，所述预定信息包括用于识别预先形成的标记列的预先记录标记列形成信息，所述记录设备还包括再现单元，其基于所述光接收信号从所述标记列获得所记录的信息的再现信号，其中，所述控制单元判断作为由所述相邻轨道伺服控制单元进行的轨道伺服的目标的标记列是否是预先形成的所述标记列，并且执行控制使得基于判断结果来进行所述试写。
10.根据权利要求9所述的记录设备，其中，所述控制单元执行控制，以在由所述试写所记录的信号的评估期间，将所述记录光的功率改变为再现功率，其中，所述光照射和光接收单元被配置成接收评估用反射光，其中所述评估用反射光是来自具有所述再现功率的所述记录光的照射点的反射光，并且所述记录设备还包括评估单元，其基于从所述光照射和光接收单元获得的所述评估用反射光的光接收信号、计算用于评估由所述试写所记录的信号的质量的评估值。
11.根据权利要求10所述的记录设备，其中所述控制单元在由所述试写所记录的信号的评估期间，基于所述再现单元的再现信号、判断作为由所述相邻轨道伺服控制单元进行的寻轨伺服的目标的标记列是否是预先形成的所述标记列，并且基于判断结果执行控制以基于所述评估值进行所述记录光的功率调节。
全文摘要
本发明提供了光学记录介质和记录设备。通过记录设备在光学记录介质中进行记录，该记录设备被配置成使得，通过照射记录光和用于相邻轨道伺服的ATS光、并且通过基于ATS光的反射光进行的相邻轨道伺服，来执行记录光的寻轨伺服控制，其中，光学记录介质包括记录层，根据记录光的照射在记录层中形成标记。在记录层中，以记录光的照射点与ATS光的照射点之间的距离的至少两倍的间距预先形成有标记列。
文档编号G11B7/24GK102456368SQ20111032886
公开日2012年5月16日 申请日期2011年10月21日 优先权日2010年10月28日
发明者堀米顺一 申请人:索尼公司