线20而与用于对收卷部15的姿态以及位置进行变更的收卷部移动部13连接。
[0047]而且，CPU19经由系统总线20而与输入输出部31连接，输入输出部31与传感器8、作为将记录数据等输入到记录装置I中的外部装置的PC29连接。
[0048]接下来，对本实施例的传感器8进行详细说明。
[0049]图3以及图4为表示本实施例的记录装置I中的传感器8的周边部的概要俯视图。其中，图3为表示被记录介质P在未被斜行输送的条件下被输送的状态的图。另一方面，图4为表示被记录介质P以在随着向输送方向A的下游侧前进而向图中的左侧(传感器Sb侧)偏移的方式而被输送的状态的图。
[0050]如图3以及图4所示，在本实施例的记录装置I中，作为对被输送的被记录介质P的输送速度进行检测的传感器8，而具备作为第一速度传感器的传感器8a和作为第二速度传感器的传感器8b，所述传感器8b被设置于，在从输送方向A观察时在与该输送方向A交叉的交叉方向B上与传感器8a不同的位置处。而且，本实施例的控制部18作为斜行检测部而能够基于传感器8a以及传感器Sb的检测速度来求出速度差，并根据该速度差而对被记录介质P的斜行状态进行检测。
[0051]如此，例如通过求出在从被记录介质P的输送方向A观察时，在左侧以及右侧等在交叉方向B上不同的位置处的速度差，并根据该速度差而对被输送体的斜行状态(斜行程度)进行检测，从而即使在将无法以高精度实施绝对速度的检测的速度传感器作为第一速度传感器以及第二速度传感器来使用的情况下，也能够对无法以高精度实施绝对速度的检测的情况进行补偿。即，能够提高被记录介质P的斜行状态的检测精度。
[0052]即使在将无法以高精度实施绝对速度的检测的速度传感器作为第一速度传感器以及第二速度传感器来使用的情况下，也能够对无法以高精度实施绝对速度的检测的情况进行补偿的理由如下。
[0053]本实施例的控制部18以如下方式对基于由传感器8a以及传感器Sb所检测出的检测速度的速度差进行运算。
[0054]在本实施例的记录装置I中，传感器8a及传感器Sb均被设置为，能够对交叉方向B上的位置进行变更。因此，用户能够以使图3及图4中的从被记录介质P的右侧端部起至传感器8a为止的距离与从被记录介质P的左侧端部起至传感器Sb为止的距离相等的方式进行配置。当使传感器8a以及传感器Sb以此方式被配置，并将传感器8a的检测速度设为VI，将传感器8b的检测速度设为V2时，作为被记录介质P整体的输送速度Vave成为Vave= (Vl+V2)/2。本实施例的控制部18对((￥1-￥2)八&%)\100(%)进行运算并将该值设为速度差。
[0055]另外，虽然本实施例的控制部18将((Vl-V2)/Vave)X100(%)设为速度差，但也可以将Vl-V2设为速度差。
[0056]由于如上述那样将速度差作为基准而对被记录介质P的斜行状态进行判断，因此在如本实施例的记录装置I这样的结构中，即使使用了无法以高精度实施绝对速度的检测的速度传感器，也能够使被记录介质P的斜行状态的检测成为高精度。
[0057]例如，当通过传感器8a的检测速度Vl以及传感器8b的检测速度V2的绝对速度来对斜行状态进行判断时，会存在如下情况，即，根据被记录介质P的种类等，该绝对速度的检测值发生变化，从而无法判断正确的斜行状态。
[0058]另一方面，根据本实施例，由于即使传感器8a的检测速度Vl以及传感器8b的检测速度V2发生了变化，相对于Vave的Vl以及V2的比率也不会发生变化，因此((Vl-V2)/Vave)X 100(%)的值不会发生变化。因此，能够判断出正确的斜行状态。
[0059]另外，即使为相同的速度差，输送状态也会根据传感器8a及传感器Sb的距离而自然地发生变化。因此，基于该传感器8a及传感器Sb的距离而对斜行状态进行判断。
[0060]此外，在对被记录介质P的顶端进行检测的这种现有的斜行检测中，如果不在因被记录介质P的输送路径上的斜行而使被记录介质P的偏移较大的位置处设置斜行检测传感器，则很难进行有效的检测。另一方面，本实施例的记录装置I为，通过所谓的卷对卷的方式将连续的被记录介质P从设置部14输送到收卷部15的结构。因此，存在如下的倾向，S卩，在被记录介质P的输送路径的任意位置处，被记录介质P被斜行输送的情况下的斜行程度均差别不大。因此，存在如下的倾向，即，无论在被记录介质P的输送路径上的哪个位置，速度差(斜行程度)均不会发生实质变化。因此，能够提高第一速度传感器8a以及第二速度传感器Sb的设置位置的自由度。
[0061 ]此外，即使在不为通过卷对卷的方式对连续的被记录介质P进行输送的结构的情况下，通过设为利用被记录介质P的速度差而对斜行输送进行判断的结构，也能够将传感器8配置在被记录介质P的斜行输送累积的位置以外的位置处，并以较高的精度对斜行输送进行判断。因此，与如果不被配置在被记录介质P的斜行输送累积的位置处便无法以较高的精度对斜行状态进行判断的、对被记录介质P的绝对速度进行检测而对斜行状态进行判断的结构或对被记录介质P的顶端进行检测而对斜行状态进行判断的结构相比，能够提高传感器8的设置位置的自由度。
[0062]另外，本实施例的传感器8a以及传感器Sb为相同的结构。但是，也可以采用不同的结构的速度传感器。
[0063]在图3的状态下，由传感器8a检测出的被记录介质P的输送速度与由传感器Sb检测出的被记录介质P的输送速度并无差别。因此，控制部18判断为，没有基于传感器8a以及传感器8b的检测速度的速度差。
[0064]另一方面，在图4的状态下，在由传感器8a检测出的被记录介质P的输送速度与由传感器8b检测出的被记录介质P的输送速度中，由传感器8a检测出的被记录介质P的输送速度较快。由于由传感器8a检测出的被记录介质P的输送速度较快，因此传感器8a侧与传感器Sb侧相比输送量变大，故此随着向输送方向A的下游侧前进，被记录介质P以向传感器Sb侧偏移的方式而被输送。
[0065]因此，控制部18判断为，存在基于传感器8a以及传感器8b的检测速度的速度差，且交叉方向B上的传感器8a侧较快。
[ΟΟ??]在此，本实施例的传感器8a以及传感器8b均为，向被记录介质P发射电磁波(光)，并接收从被记录介质P被反射的电磁波，且根据基于多普勒效应而产生的频率变化来求出被记录介质P的输送速度的传感器。
[0067]根据基于多普勒效应而产生的频率变化来求出被记录介质P的输送速度的速度传感器，有时会因被记录介质P的种类的不同而导致检测速度值(绝对速度的值)发生改变。这是因为，存在当被记录介质P的种类发生改变时，由该被记录介质P所反射的散射光的状态也会发生改变的情况。如果这种速度传感器直接使用检测速度值来求被记录介质P的斜行状态，则存在受到被记录介质P的种类的不同的影响而难以高精度地对斜行状态进行检测的情况。
[0068]另一方面，由于如上所述本实施例的记录装置I求出基于由传感器8a以及传感器Sb检测出的检测速度的速度差，并根据该速度差而对被记录介质P的斜行状态进行检测，因此能够使因被记录介质P的种类的不同而产生的、由传感器8a以及传感器Sb检测出的检测速度的变化量相互抵消，由此能够高精度地对斜行状态进行检测。
[0069]另外，虽然本实施例的传感器8a以及传感器Sb均为向被记录介质P发射电磁波并接收从被记录介质P反射的电磁波的结构，但也可以采用向被记录介质P发射声波并接收从被记录介质P反射的声波的结构。
[0070]在此，对能够根据基于多普勒效应而产生的频率变化来求出被记录介质P的输送速度的速度传感器的优选的具体示例进行说明。
[0071]作为第一个示例，其结构为，从被记录介质P的输送方向A上的上游侧以及下游侧发射出两束照射光，并通过同一个受光部来接收基于各束照射光的来自被记录介质P的反射光(散射光)。被记录介质P的输送方向A上的速度信息以光的波长变化这一形式而被包含在该散射光中，并且来源于上游侧的照射光的散射光的波长较长，来源于下游侧的照射光的散射光的波长较短。因此，能够通过对上述双方的波长的波长差进行外差检波而对波长进行检测，从而求出被记录介质P的输送速度。
[0072]作为第二个示例，其结构为，通过从激光器将照射光向在输送方向A上进行移动的被记录介质P进行照射，并由激光器接收因为由被记录介质P反射从而波长发生了变化的散射光(返回光)。在该返回光返回至激光器时，如果照射光与返回光的相位一致则激光的输出会微小地增加，能够通过运用该增加现象而求出被记录介质P的输送速度。
[0073]另外，本实施例的传感器8a以及传感器Sb为上述第一个示例的结构。
[0074]在此，使用图5来对被记录介质P的输送速度V与多普勒频率fd的一般性关系进行说明。
[0075]当以入射角Θ将波长为λ且频率为fO的照射光向作为以输送速度V进行移动的被输送体的物体进行照射时，由该物体反射的基于频率??的照射光的反射光的频率成为频率f0与多普勒频率fd之和、S卩频率f 0+f d。在此，当将输送速度V中的在照射光的照射方向上的速度成分设为Vz时，能够表示为Vz = Vcos0。
[0076]于是，多普勒频率fd能够表示为fd = 2Vz/A。