专利名称：具测试电路之集成电路的制作方法
技术领域：
本发明关于一集成电路具有一测试电路，其可被经由一测试接头激活。
背景技术：
集成电路系经常在他们的制造期间或之后被测试，在他们被传递到客户之前。集成电路藉经由被提供之测试接头连接至一测试器装置而被测试且藉由测试器装置招集集成电路之中的功能根据一预先决定的测试次序。在输出接头之信号读出之后，功能系被检查关于他们的正确功能。
在测试期间，集成电路系被连接到测试器装置经由连接到测试线路之测试接头。在测试期间，测试线路代表一指针的中心因为，经由该测试线路，指令以及数据信号系被回馈到集成电路且输出信号系自集成电路被读取到测试器装置。为了加速测试顺序，测试电路经常被整合在集成电路中。测试电路可被藉由一测试信号而激活，因此内部测试电路执行一测试功能，其实质上在集成电路中被执行而没有外部控制。仅测试功能的结果或是无论如何该结果有一错误而被传播到测试器装置。此使得其可能大大地减少在集成电路以及测试器装置之间被转移的数据的量。
集成电路的功能经常需要更内部地被产生的电压。这些内部产生的电压系被产生例如藉由电压分配器，电荷帮浦或类似的其它装置。在藉由内部测试电路测试集成电路期间，在集成电路中一复数的功能系经常无关于彼此而经常同时被执行。这些彼此独立的功能可能需要内部产生的电压。由于测试的功能系实质上以尽可能远离且平行的方式被执行，自内部电压源之电流需要系较高于一般操作。藉由测试电路测试集成电路期间平行的范围系因此被个别的电路部分之功率消耗所限制，关于内部电压源因为仅一特定量的电流可经由使集成电路一般操作有用之内部电压源被供应。因此必然地，藉由测试电路所执行之测试功能必须被装置以使集成电路电路部分之测试不会造成从一内部电压源之电流超过一特定最大值。因此，测试操作系被拖延因为较少的电路部分可被同时测试。
在集成电路测试之后，内部电压源之电压值系被设定为所需的数值。在测试期间，内部电压仅以未经计划的方式出现，即电压尚未被设定为一确切的电压数值。内部电压源之电压系经常在测试方法之结尾之后藉由写或设定数值到一永久内存而被设定，例如电保险丝，或藉由内部连接的服务，所谓的雷射保险丝，藉由一随后的雷射修整步骤。只要内部产生的电压没有确切指定的数值，功能测试仍然是不精确的且，在某些状况之下，导致错误的测试结果。
发明内容
本发明的目的系提供一改善的集成电路，其可使一集成电路之测试被执行更加精确且更加迅速。
此目的系藉由根据权利要求第1项之集成电路，根据权利要求第5项之测试系统以及根据权利要求第6项之方法而达成。
本发明更有利的改进系于附属权利要求中说明。
本发明之一第一观点提供一种集成电路具有一测试电路以及一测试接头。测试电路可藉由一测试信号被激活，其可以被使用于测试接头用以开始一内部测试功能。再者，一开关装置系被提供用以，在经由测试接头激活测试电路之后，连接测试接头到一内部电压线路以供应因被执行之测试功能所需之一电流需要。
集成电路一般具有一连串的内部电压产生器，其产生内部电压用于集成电路之一般正常操作中。从集成电路之内部电压产生器之电流消耗系在测试期间增加，然而，特别是在同时测试集成电路中一复数的电路部分期间。同时测试一复数的电路部分可造成集成电路内部电压产生器之电流供应容量被超过，因此集成电路中电路部分之测试之平行系藉此被限制。因为一般上没有额外的外部接头可用于更多电压的应用，因此需要根据先前技艺以造成被执行的集成电路之测试功能连续地被进行以使自内部电压产生器之一最大电流不被超过。此相当地延迟测试顺序。
本发明现在提供一集成电路被提供其中一内部电压来源可被一外部使用电压支持或取代。为了此目的，一开关装置系被提供，其系被连接至一测试接头且使其可能连接测试接头到一测试电路用以激活测试功能或者连接到一内部供应线路。开关装置因此作用为激活测试电路藉由一测试信号的辅助且接着用以连接测试接头到一内部电压线路经由开关该开关装置。
在此方式中，在一具有连接到集成电路而经由一测试线路被测试之一测试装置之测试系统中，其可能激活在集成电路中之一测试电路藉由使用一测试信号。当测试功能已经藉由测试信号的使用而开始时，测试装置供应一电流或电压源经由测试线路到集成电路，其中测试接头系在测试功能已经开始之后被连接到一内部电压线路。藉由测试装置之电流/电压源，可能去掩盖集成电路中内部电压线路上的一额外的电流需要当执行测试操作同时。
根据本发明之集成电路之再一优点为一内部产生的电压可在测试期间被外部指定。外部电压可精准地被设定为一特定的电压值。此系有利的特别是当内部电压源在一调整操作中测试方法的结尾之后尚未被设定为一最佳化的电压值时。在此例中，测试操作期间，内部电压源系在一尚未被调整之电压值，因此测试操作的结果为不准确或错误的。
较佳地提供的是开关装置系以此一方式在激活测试电路之后关于从测试电路隔离测试接头而被驱动。此确定在测试接头之电压变动对于测试电路中的测试功能执行没有影响。
一较佳的实施例提供集成电路以具有一内存组件，其中一激活数据项可依赖测试信号的应用而被储存。换句话说，当测试信号已经经由测试接头被接收时，激活资料立即被储存在内存组件中。内存组件系被连结到开关装置，以此方式基于激活资料的储存来开关该开关装置，因此内部供应线路在测试信号应用之后系被连接至测试接头。
本发明之另一观点提供一种方法，用以激活一集成电路中之一测试功能。为了此目的，一测试信号系被使用于一测试接头以开始集成电路中之一测试功能，藉由测试信号的方式。在测试信号提供至测试接头之后，一外部电流或一外部电压系被使用以提供一电流供应于测试信号所激活的测试功能次序。
本发明之一较佳的实施例系于下伴随附属图标参考而更详细地被解释，其中图1显示根据本发明一较佳实施例之一具有一测试接头之集成电路；以及图2显示一开关装置之一可能的实施例，其可被使用在根据本发明之集成电路中。
具体实施例方式
图1说明根据本发明之集成电路之一较佳的实施例。集成电路1包含一有用的电路2，在其中使用相关的集成电路之有用的功能系被了解。集成电路1更具有一测试电路3经由控制线路4被连接至有用的电路2以根据测试电路3中所执行之一预先决定的测试次序来测试有用的电路2。
经由一供应电压接头5，测试电路3以及有用的电路2均被连接至一供应电压。
有用的电路更具有一内部电压源17，用以提供有用的电路2之内部产生的电压。内部产生的电压可能为较大或较小于供应电压而使其为可用的。内部电压源17可能具有一电荷帮浦用来产生一较高的内部电压或者具有一电压分配器用以自供应电压产生一内部电压。
经由一数据接头6，其系被连接至测试电路3以及有用的电路2，数据可被转移到测试电路3且，分别地，被转移到有用的电路2。一方面数据可被使用以控制测试电路3中的测试次序以及，另一方面，在一般操作期间，使数据可用于有用的电路2或者给予有用的电路2输出数据的可能性。
测试电路3更可经由一测试接头7被驱动。测试接头7作为接收一测试信号，藉其测试电路3系被激活。基于测试电路的激活，执行于测试电路3中之一测试次序系被开始，测试次序根据一预先决定的测试方法来测试有用的电路2之功能。在根据先前技艺之电路中，测试接头7不被更进一步的使用于测试次序已经开始的时候。其经常发生测试接头不可用于集成电路之一较晚的使用者因为测试接头并不连接至随后的遮蔽盖括之情况中遮蔽物之一连接脚。
依赖测试电路3中所执行的测试功能，特别是在平行测试功能的例子中，其可能为有一增加的电流需要从内部电压源12而来。在某些状况下，此电流需要不能被现在的内部电压源17所掩盖。
在此例中，传统集成电路中，一额外的电流供应将必须经由一另外的外部接头被回馈到集成电路1或者测试功能将必须平行或连续地被执行之一较低范围为了降低电流加载。
因为一集成电路中可用的外部接头的数量系经常被限制，经常是不可能提供任何额外的电压接头，其系专有地被使用以执行测试方法。另一方面来说，连续地执行测试功能将大大地拉长测试时间。
再者，必须提供一额外的电位用以执行测试功能，该额外的电位不被提供于集成电路之一般操作中。因为可用的接头经常被分配，因此不可能引导该额外的电压电位到集成电路中。
根据本发明，因此，测试接头7系被连接至一开关装置8，以使测试接头7可以一可开关的方式被连接到一内部电压线路而供应在有用的电路2中具有一内部电压之电路。
测试电路3更具有一内存组件9，例如以一锁闩的形式，其可在测试电路3已经藉由测试信号经由测试接头7被激活时立即储存一激活数据项。内存组件9之输出系经由一控制线路10被连接到第一开关装置8，因此地一开关装置8系藉由激活资料来控制。此外控制线路10系被连接到一第二开关装置18，以使第二开关装置藉由激活资料来控制。如果具体指明测试电路3之测试功能已经被激活之一激活数据项被储存于内存组件9中，接着第一开关装置8开关，以使测试接头7被连接到内部电压网络11。
在测试电路3之测试功能之一激活状态中，第二开关装置8可能同时也被开关以使内部电压源17从内部电压线路被隔离，因此外部供应电压在测试接头7并不导致一电流流经内部电压源17。
集成电路系被连接到一测试装置12以激活测试功能以及测试结果估计。测试器装置12可经由一测试线路13提供测试信号到测试接头7。测试装置12系以此方式被装配，为了开始测试功能，测试信号可经由测试线路13之测试信道被使用于集成电路1且，在测试功能激活之后，一电流或供应电压源14系被连接到相同的测试信道。测试装置12中的电流或供应电压源14系为可调整的。
电流/电压源14之连接系较佳地经由一开关15产生，其系被测试装置12或者测试装置12中的一控制模块16所控制。
根据本发明的方法，控制模块16首先产生测试信号，其系经由开关15经过测试线路13而被使用于测试接头7。此具有效果为测试功能在集成电路1之测试电路3中开始且激活资料系被储存于内存组件9。结果，第一开关装置8系被开关，以使测试接头7现在被连接到内部电压线路11以及内部电压源17系从内部电压线路11被隔离。
大致上在相同时间同时或者短暂的在测试信号传播之后，控制模块16驱动开关15，因此后者系被开关且电流/电压源14系不被连接到测试线路13，结果一电压或一电流系被使用于测试接头7。因此，一额外的电流或一另外的电压对于内部电压线路11可能为有用的，因此，在有用的电路2中，可能实施具有较高平行的测试功能，其需要一增加的电流供应。在此方式中，可能的是测试电路3可以同时平行测试有用的电路2中一复数的功能而没有内部电压源17之电流供应容量被超过。此外，应用一额外的电压的可能性代表着一提供另外的电压电位用于执行测试功能到内部电路而不提供其另外的测试接头的可能性。
本发明再一优点为外部提供的电压可非常准确地藉由测试装置被设定且，因此，测试功能已经可以一辈调整的电压数值被执行。内部电压源尚未被调整特别是如果在半导体芯片在一未切割的状态之测试。一内部电压源的调整系较佳地藉由永久内存或者所谓保险丝的方式被执行，其系被规划流程仅在测试操作已经进行之后，因此所需要的内部电压藉由内部电压源而使其为可用。
由于内部电压源在测试操作期间被一外部电压源取代的事实，系可能非常确切地设定内部电压在电压线路为所需要的数值且因此在一清楚的内部电压执行测试操作。此使得有用的电路之功能可以被可靠地检查且预防集成电路之测试导向错误测试结果。
不言而喻的是开关15以及/或开关装置8可能亦被提供作为转乱开关，其从测试线路同时或在开关供应测试功能之后隔离控制模块16以及/或测试电路3。此具有的优点是测试电路3不能被测试接头之电压波动所影响。
图2显示藉由一开关装置8之电路之范例，其可被使用来开关在接地电位之下的供应电压而使用于有用的电路2中。此系一问题特别是因为开关装置系通常被了解为场效晶体管的辅助。如果一供应电压电位在接地电位之下或者使用于电路中之最低电位系出现在一场效晶体管的接头，于是相关的场效晶体管不能被完全地藉由集成电路中可用的电压来关上，因为最低的可用电压系经常为接地电位且一正的闸极来源电压因此存在。
图2说明一可能的第一开关装置8，其可被使用于执行一已经被使用于一测试接头7之电压开关，甚至当电压电位落到内部接地电位之下。为了此目的，第一开关装置8具有一电压等级转换器电路21，其系被连接到控制线路10且提供一开关晶体管22之闸极接头之驱动信号。
电压等级转换器电路21更被连接到一第一高供应电压电位VDD，其系被提供作为集成电路中的标准，且连接到测试接头7。开关晶体管22系相似地藉由一第一接头被连接到测试接头7以及藉由一第二接头连接到内部电压线路11，使用于测试接头7之电压电位被使用于该电压线路。
如果高供应电压电位出现在开关晶体管22之闸极接头，那么开关晶体管22系被激活且电压电位经由测试接头7系出现在内部电压线路11上。为了完全关上开关晶体管22，一电位相等或较少于出现在测试接头7之电压电位而必须出现在闸极接头为了达成关上的目的。
为了此目的，电压等级转换器电路21具有一第一逆变器23，其输入系经由控制线路10被连接到内存组件9的输出。逆变器23之输出系被连接到一第二逆变器24的输入以及一第一p信道晶体管25之一闸极接头。第二逆变器24之输出系被连接到一第二p信道晶体管26之一闸极接头。第一p信道晶体管25以及第二p信道晶体管26之第一接头系被连接到高供应电压电位VDD。
一第一p信道晶体管25之一第二接头系被连接到开关晶体管22之闸极接头，一第一n信道晶体管27之一第一接头以及一第二n信道晶体管28之一闸极接头。第二p信道晶体管26之一第二接头系被连接到第一n信道晶体管27之闸极接头以及第二n信道晶体管28之一第一接头。第一n信道晶体管27以及第二n信道晶体管28之第二接头系被连接到测试接头7。第一p信道晶体管25以及第二p信道晶体管26之基板接头系被连接到高供应电压电位VDD且第一n信道晶体管27以及第二n信道晶体管28之基板接头系被连接到控制接头7。开关晶体管22之基板接头系相似地被连接到测试接头7。
在此方式中，一电压等级转换器21系被提供，其，依赖于激活资料，打开或完全关上开关晶体管23，甚至当一外部电压被连接到测试接头7时，其低于在集成电路1中可用之接地电位。
本发明的观点包含使用一测试线路，经由测试线路，在一集成电路1中开始一测试操作之一测试指令系为可用的，用以提供测试操作已经开始之后一电压或电流的供应。电压或电流供应可能作为，一方面来说，用以提供一增加的电流供应于集成电路1之一内部电压线路上，为了可能实施有用的电路2之一复数的电路部分之平行测试方法，且，另一方面来说，用以在测试期间提供电压更加确切地除了在测试次序期间可藉由内部电压源17产生的电压。
参考符号列表1 集成电路2 有用的电路3 测试电路4 测试线路5 供应电压接头6 数据接头7 测试接头8 第一开关装置9 内存组件10控制线路11内部电压线路12测试装置13测试线路14电流/电压供应15开关16控制模块17内部电压源18第二开关装置21电压等级转换器电路22开关晶体管23第一逆变器24第二逆变器25第一p信道晶体管26第二p信道晶体管27第一n信道晶体管28第二n信道晶体管
权利要求
1.一种集成电路(1)具有一测试电路(3)以及一测试接头，该测试电路(3)可能藉由一测试信号而被激活，该信号可被应用到该测试接头(7)以开始一测试功能，该开关装置(8)为了在经由测试接头(7)激活该测试电路之后，连接该测试接头到一内部电压线(11)而被提供。
2.根据权利要求第1项所述之集成电路(1)，该开关装置(8)系为了在激活该测试电路(3)之后，将该测试接头(7)自该测试电路(3)隔离而被提供。
3.根据权利要求第1项或第2项所述之集成电路(1)，该测试电路(3)具有一内存组件(9)用来储存基于该测试信号之应用之一激活信息项目，该开关装置(8)系被连结到该内存组件，以此方式在应用该测试信号之后，连接该内部电压线(11)到该测试接头(7)。
4.根据权利要求第1项至第3项所述之集成电路(1)，该测试电路在该集成电路(1)已经被连接至一电压供应之后被去活。
5.一种测试系统用以测试一集成电路如权利要求第1项至第4项其中一项所述，具有一测试装置(12)，其系被连接到该集成电路(1)经由一测试线路(13)，其系可能使用一测试信号到该集成电路(1)用以激活该测试电路经由该测试线路(13)，该测试装置(12)具有一电流或电压源(14)，其可被使用于该集成电路(1)在经由该测试线路(11)激活该测试电路(3)之后。
6.一种用以激活一集成电路(1)之测试功能的方法，一测试信号被应用于一测试接头(7)以藉由该测试信号开始该集成电路中之一测试功能，在该测试信号应用于该测试接头(7)之后，一电流或一电压被提供，以提供藉由该测试信号所激活之该测试功能之一电流供应。
全文摘要
本发明关于一集成电路具有一测试电路以及一测试接头，测试电路可能藉由一测试信号来激活，其可被应用于测试接头以开始一测试功能，一开关装置为了在激活测试电路之后连接测试接头到一内部电压线路而被提供，用以供应因执行测试功能所需要之一电流需要。
文档编号G01R31/319GK1532934SQ20041003013
公开日2004年9月29日 申请日期2004年3月19日 优先权日2003年3月21日
发明者G·弗兰科斯基, R·凯塞, G 弗兰科斯基 申请人:因芬尼昂技术股份公司