阵列基板测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种阵列基板测试装置，属于测试【技术领域】。所述阵列基板测试装置包括：框架、探针板以及多个连接器，框架，具有至少一定位孔；探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，多路选择器探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在多路选择器框架上，以使多路选择器探针槽内的探针与多路选择器待测阵列基板的导电触点相对准并接触；多个连接器，固定于多路选择器框架上，并根据多路选择器待测阵列基板的导电触点位置选择性地与多路选择器探针槽内的探针电性连接。本实用新型的阵列基板测试装置可以共用，从而节省了资源浪费，降低了生产成本。
【专利说明】阵列基板测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试【技术领域】，特别涉及一种阵列基板测试装置。
【背景技术】
[0002]液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点，目前在平板显示领域占主导地位。液晶显示装置非常适合应用在台式计算机、掌上型计算机、个人数字助理(Personal DigitalAssistant，PDA)、便携式电话、电视盒等多种办公自动化和视听设备中。
[0003]液晶显示面板是液晶显示装置的主要组成部分。通常，液晶显示面板包括阵列基板、彩色滤光片基板以及液晶层，液晶层填充于阵列基板和彩色滤光片基板之间。其中，阵列基板和彩色滤光片基板的四周通过封框胶进行密封。阵列基板在制作完成后，需要利用阵列基板测试装置对阵列基板检测以确认其是否能够正常工作。测试时首先通过测试装置上的探针与待测阵列基板上的信号接入点(例如导电触点)接触，以对阵列基板输入电源信号，然后再利用测试装置对阵列基板进行测试。
[0004]目前，由于不同类型的阵列基板上的信号接入点的数目以及配置位置都不同，对于每一种类型的阵列基板需要配置相应的阵列基板测试装置，不同类型的阵列基板不能共用同一种阵列基板测试装置，如果要完成对不同类型的阵列基板的测试，必须配备有对应不同类型的阵列基板测试装置。
[0005]图1为现有的阵列基板测试装置的俯视示意图，如图1所示，此类型的阵列基板测试装置包括框架11、探针板12、多路选择器13、以及连接器15。
[0006]框架11为一矩形平板，该平板具有一背面，以及与该背面相对的表面为承载面。在承载面上设置至少一个定位孔14，以将探针板12的两端固定在框架11上。该探针板12大致呈一矩形板状，其上间隔设有多个探针槽16。每个探针槽16内安装有多个探针，该探针用于与待测阵列基板上设置的导电触点相对准并接触。
[0007]对待测阵列基板测试的整个过程可分为加电过程和测试过程，加电过程采用而是图1的阵列基板测试装置，首先将图1的多路选择器13与电源(图中未示出)电性相连，以接收电源输出的电源信号，并将电源信号传输给与其相连的连接器15，连接器15将电源信号传输给与其相连的探针板12的探针，以使探针向与之接触的待测阵列基板的导电触点提供电源信号，这样，电源提供的电源信号最终就会传输给待测阵列基板，以达到给待测阵列基板加电的目的。而测试过程为目前的通用做法，其均是对待测阵列基板加电后，再将待测阵列基板与测试装置(图中未示出)电性相连，以对待测阵列基板进行测试。
[0008]由于上述阵列基板测试装置的加电过程是根据特定的阵列基板而配置的阵列基板测试装置，此阵列基板测试装置上仅根据一种类型的待测阵列基板而配置有相应类型的探针板、框架、连接器等部件。因此，利用单一类型阵列基板测试装置不能用来测试多种类型的阵列基板。这样就会造成资源浪费，测试效率低，并且不同类型的阵列基板测试装置势必占用了大量仓储空间，增加了成本。实用新型内容
[0009]有鉴于此，本实用新型提供一种阵列基板测试装置，以解决现有的阵列基板测试装置无法共用等问题。
[0010]本实用新型实施例提供一种阵列基板测试装置，所述阵列基板测试装置，包括:框架、探针板以及多个连接器，框架，具有至少一定位孔；探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，多路选择器探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在多路选择器框架上，以使多路选择器探针槽内的探针与多路选择器待测阵列基板的导电触点相对准并接触；多个连接器，固定于多路选择器框架上，并根据多路选择器待测阵列基板的导电触点位置选择性地与多路选择器探针槽内的探针电性连接。
[0011]在本实用新型的一个实施例中，所述定位孔设置在框架的四周并围成一圈，以将探针板的两端固定在框架的不同位置。
[0012]在本实用新型的一个实施例中，相邻定位孔之间的距离为5mm-15mm之间，优选地，为1mm0
[0013]在本实用新型的一个实施例中，所述阵列基板测试装置还包括设置于定位孔一侧的与电源相连的多路选择器，多路选择器设有多个接口，每一接口通过信号线选择性地与其中一连接器电性连接。
[0014]在本实用新型的一个实施例中，所述探针板的两端开设通孔，定位孔为螺孔，通过螺钉依次穿过探针板两端的通孔及定位孔，以将探针板的两端锁固在框架上。
[0015]在本实用新型的一个实施例中，所述探针板的两端开设的通孔与定位孔的孔径大小一致。
[0016]在本实用新型的一个实施例中，相邻通孔之间的间距与相邻定位孔的间距相等。
[0017]在本实用新型的一个实施例中，至少一探针板、多路选择器、以及多个连接器根据待测阵列基板类型的不同而包括多种类型。
[0018]本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是:通过定位孔可以根据不同类型的待测阵列基板而将不同类型的探针板固定在框架上，再将相应类型的连接器与相应类型的探针板上的探针电性相连，然后电源提供的电源信号即可依次通过相应类型的连接器和相应类型的探针板的探针提供给待测阵列基板。当对不同类型的待测阵列基板进行测试时只需要更换探针板，并选择相应类型的多路选择器与相应类型的连接器即可。从而节省了资源浪费，降低了生产成本。
[0019]为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1为现有的阵列基板测试装置的俯视示意图。
[0021]图2为本实用新型第一实施例中提供的阵列基板测试装置的俯视示意图。
[0022]图3为图1中的探针板的立体示意图。
【具体实施方式】
[0023]为更进一步阐述本实用新型为实现预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型的【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0024]图2阵列基板是本实用新型第一实施例中提供的阵列基板测试装置的俯视示意图。图3为图2中的探针板的立体示意图。请参考图2至图3，本实施例的阵列基板测试装置包括框架110、至少一探针板120(图2示出探针板1201和1202)、多路选择器130 (图2示出多路选择器1301和1302)、以及多个连接器150。其中，至少一探针板120、多路选择器130、以及多个连接器150根据待测阵列基板类型的不同而包括多种类型。
[0025]框架110为一矩形平板，该平板具有一背面，以及与该背面相对的表面为承载面。在该承载面上设置至少一个定位孔140，定位孔140间隔排列，并在框架110的四周围成一圈，以将探针板120的两端固定在框架110的不同位置。定位孔140之间的排列间距可以根据需要设置，例如可以将相邻定位孔之间的距离设置为5mm-15mm之间，优选地，可以设定为10mm。相邻定位孔之间设置的距离只要能够保证可以将探针板120的两端固定在框架110上即可。
[0026]该探针板120大致呈一矩形板状，其上间隔设有多个探针槽160。每个探针槽160内安装有多个探针，其中，探针板120以可拆卸的方式，根据待测阵列基板上设置的导电触点利用该至少一定位孔140固定在框架110上，以使探针槽160内的探针与待测阵列基板的导电触点相对准并接触。
[0027]本实施例中，探针板1201、1202的两端通过定位孔140固定在框架110上时，可以将探针板1201、1202的两端开设通孔162，所述通孔162与定位孔140对应，即通孔162的孔径与定位孔140的孔径大小一致，相邻通孔162间距与相邻定位孔140的间距相等。定位孔140设置为螺孔，所述通孔162也可设置为螺孔，通过螺钉等固定件依次穿过探针板1201两端的通孔162及框架110上的定位孔140，以将探针板1201的两端稳固地锁固在框架110上。在其它实施例中，通孔162的数量也可以为一个。
[0028]多个连接器150间隔一定距离并平行排列在定位孔140的两侧，多路选择器130设置在定位孔140不同于连接器150的一侧。连接器150与多路选择器130的类型为多种，其包括所有待测阵列基板所需的类型。多路选择器130设有多个接口，每一接口可通过信号线根据待测阵列基板类型的不同选择性地与其中一种类型的连接器150电性相连。连接器150与一种类型的探针板120的探针电性相连。多路选择器130还与电源电性相连，以接收电源输出的电源信号，并将电源信号传输给与其相连的连接器150，连接器150将电源信号传输给与其相连的探针板120的探针，以使探针向与之接触的待测阵列基板的导电触点提供电源信号。在其他实施方式中，若电源提供的电源信号可直接通过连接器150传输给探针板120，则多路选择器130可以省略。
[0029]当进行待测阵列基板测试时，同样也包括待测阵列基板加电过程和测试过程，待测阵列基板加电过程为:根据此种类型的阵列阵列基板上的导电触点的数目以及配置位置不同，而对应将一种类型的探针板通过定位孔140固定在框架110上，根据此种类型的待测阵列基板的测试要求，选择出多路选择器和连接器的类型，然后通过信号线将所选类型的多路选择器130与相应类型的连接器150相连，相应类型的连接器150与相应类型的探针板120的探针相连。接通电源，再将相应类型的探针板120的探针与待测阵列基板上的导电触点相对准并接触，电源提供的电源信号就可以依次通过相应类型的多路选择器130、连接器150、探针板120的探针传输到待测阵列基板的导电触点，以达到给待测阵列基板加电的目的。而测试过程为目前的通用做法，其均是对待测阵列基板加电后，再将待测阵列基板与测试装置(图中未示出)电性相连，以对待测阵列基板进行测试。
[0030]若本实施例的阵列基板测试装置用于测试其它类型的阵列基板时，只需将探针板120更换，然后将更换的探针板120通过框架110上的定位孔140固定在框架110上，根据测试要求，选择相应类型的多路选择器130及连接器150，将所选类型的多路选择器130的接口与连接器150相连，再将所选类型的连接器150与相应类型的探针板120的探针相连，就可以对其它类型的阵列基板进行测试。
[0031]综上所述，本实施例提供的阵列基板测试装置，通过定位孔140可以根据不同类型的待测阵列基板而将不同类型的探针板120固定在框架110上，再将相应类型的多路选择器130与相应类型的连接器150电性相连，相应类型的连接器150与相应类型的探针板120上相应的探针电性相连，然后电源提供的电源信号即可依次通过相应类型的多路选择器130、相应类型连接器150和相应类型探针板120的探针提供给待测阵列基板。当对不同类型的待测阵列基板进行测试时只需要更换探针板120，并选择相应类型的多路选择器130与相应类型的连接器150即可。从而节省了资源浪费，降低了生产成本。
[0032]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简介修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【权利要求】
1.一种阵列基板测试装置，其特征在于，包括: 框架，具有至少一定位孔； 探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，所述探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在所述框架上，以使所述探针槽内的探针与所述待测阵列基板的导电触点相对准并接触； 多个连接器，固定于所述框架上，并根据所述待测阵列基板的导电触点位置选择性地与所述探针槽内的探针电性连接。
2.如权利要求1所述阵列基板测试装置，其特征在于，所述定位孔设置在所述框架的四周并围成一圈，以将所述探针板的两端固定在所述框架的不同位置。
3.如权利要求2所述阵列基板测试装置，其特征在于，相邻定位孔之间的距离为5mm-15mm 之间。
4.如权利要求2所述阵列基板测试装置，其特征在于，相邻定位孔之间的距离为10mm。
5.如权利要求1所述阵列基板测试装置，其特征在于，所述阵列基板测试装置还包括设置于所述定位孔一侧的与电源相连的多路选择器，所述多路选择器设有多个接口，每一接口通过信号线选择性地与其中一连接器电性连接。
6.如权利要求1所述阵列基板测试装置，其特征在于，所述多个连接器间隔一定距离并平行排列在所述定位孔的两侧。
7.如权利要求1所述阵列基板测试装置，其特征在于，所述探针板的两端开设通孔，所述定位孔为螺孔，通过螺钉依次穿过所述探针板两端的通孔及所述定位孔，以将所述探针板的两端锁固在所述框架上。
8.如权利要求7所述阵列基板测试装置，其特征在于，所述探针板的两端开设的所述通孔与所述定位孔的孔径大小一致。
9.如权利要求7所述阵列基板测试装置，其特征在于，相邻通孔之间的间距与相邻定位孔的间距相等。
10.如权利要求1所述阵列基板测试装置，其特征在于，至少一探针板、多路选择器、以及多个连接器根据待测阵列基板类型的不同而包括多种类型。
【文档编号】G01R1/073GK204214973SQ201420743562
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2014年12月1日 优先权日:2014年12月1日
【发明者】吴金力 申请人:昆山龙腾光电有限公司