一种微带连接器高频性能的测试结构的制作方法

技术总结
本实用新型公开了一种微带连接器高频性能的测试结构，包括两个微带连接器主体，微带连接器主体的中部设置有楔形孔，楔形孔内插有插针，两个微带连接器主体通过连接法兰紧固连接起来。该结构能够测试两个微带连接器的高频性能，从而提供测试数据来验证产品的高频性能是否与设计理念相一致。

技术研发人员：王文娟;严乐;王晓艳;贺小宁
受保护的技术使用者：西安艾力特电子实业有限公司
文档号码：201621093375
技术研发日：2016.09.29
技术公布日：2017.05.10