1.一种LED封装模块检测方法,其特征在于包括步骤:
提供一LED封装模块,其包括串联的若干LED芯片;
施加一检测电流至所述LED封装模块;
检测所述LED封装模块的总电压和/或总亮度;
判断所述总电压和/或所述总亮度是否位于预设范围内,若是,则所述若干LED芯片均不漏电,若否,则至少一LED芯片漏电。
2.根据权利要求1所述的LED封装模块检测方法,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的电压范围为[b,c],步骤“检测所述LED封装模块的总电压和/或总亮度;判断所述总电压和/或所述总亮度是否位于预设范围内,若是,则所述若干LED芯片均不漏电,若否,则至少一LED芯片漏电”具体包括:
检测所述LED封装模块的总电压;
若所述总电压位于预设电压范围[a*b,a*c]内,则所述若干LED芯片均不漏电,若所述总电压小于a*b,则至少一LED芯片漏电。
3.根据权利要求1所述的LED封装模块检测方法,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的亮度范围为[d,e],步骤“检测所述LED封装模块的总电压和/或总亮度;判断所述总电压和/或所述总亮度是否位于预设范围内,若是,则所述若干LED芯片均不漏电,若否,则至少一LED芯片漏电”具体包括:
检测所述LED封装模块的总亮度;
若所述总亮度位于预设亮度范围[a*d,a*e]内,则所述若干LED芯片均不漏电,若所述总亮度小于a*d,则至少一LED芯片漏电。
4.根据权利要求1所述的LED封装模块检测方法,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的电压范围为[b,c],该LED芯片的亮度范围为[d,e],步骤“检测所述LED封装模块的总电压和/或总亮度;判断所述总电压和/或所述总亮度是否位于预设范围内,若是,则所述若干LED芯片均不漏电,若否,则至少一LED芯片漏电”具体包括:
检测所述LED封装模块的总电压及总亮度;
若所述总电压位于预设电压范围[a*b,a*c]内且所述总亮度位于预设亮度范围[a*d,a*e]内,则所述若干LED芯片均不漏电,若所述总电压小于a*b和/或所述总亮度小于a*d,则至少一LED芯片漏电。
5.根据权利要求1所述的LED封装模块检测方法,其特征在于,所述检测电流不大于每一LED芯片的漏电电流。
6.一种LED封装模块检测装置,其特征在于包括:
LED封装模块,其包括串联的若干LED芯片;
电流模块,其用于施加一检测电流至所述LED封装模块;
检测模块,其用于检测所述LED封装模块的总电压和/或总亮度;
判断模块,其用于判断所述总电压和/或所述总亮度是否位于预设范围内,若是,则所述若干LED芯片均不漏电,若否,则至少一LED芯片漏电。
7.根据权利要求6所述的LED封装模块检测装置,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的电压范围为[b,c],所述检测模块用于检测所述LED封装模块的总电压,若所述总电压位于预设电压范围[a*b,a*c]内,则所述判断模块判断所述若干LED芯片均不漏电,若所述总电压小于a*b,则所述判断模块判断至少一LED芯片漏电。
8.根据权利要求6所述的LED封装模块检测装置,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的亮度范围为[d,e],所述检测模块用于检测所述LED封装模块的总亮度,若所述总亮度位于预设亮度范围[a*d,a*e]内,则所述判断模块判断所述若干LED芯片均不漏电,若所述总亮度小于a*d,则所述判断模块判断至少一LED芯片漏电。
9.根据权利要求6所述的LED封装模块检测装置,其特征在于所述LED封装模块包括a颗LED芯片,当某一LED芯片不漏电时,该LED芯片的电压范围为[b,c],该LED芯片的亮度范围为[d,e],所述检测模块用于检测所述LED封装模块的总电压及总亮度,若所述总电压位于预设电压范围[a*b,a*c]内且所述总亮度位于预设亮度范围[a*d,a*e]内,则所述判断模块判断所述若干LED芯片均不漏电,若所述总电压小于a*b和/或所述总亮度小于a*d,则所述判断模块判断至少一LED芯片漏电。
10.根据权利要求6所述的LED封装模块检测装置,其特征在于,所述检测电流不大于每一LED芯片的漏电电流。