及行为和/或算法合成。初始或早期的合成设计阶段可以行进至人工翻译阶段，随后或多或少分别为器件级架构仿真、内部电路仿真、CAD阶段以及其他阶段。实现各个设计阶段中的每个设计阶段可以涉及一个或多个独立的设计应用。在本发明的示例实施例中，EDA工具401可以使用各自适合的应用程序接口(API)、在设计处理的各个阶段中的每个阶段中、利用设计应用进行操作。因而，EDA工具401可操作来生成适用于对各个设计阶段中的每个设计阶段进行验证的测试模式，并且传播可以由ATE装置运行的用于测试最适于每个设计阶段的可操作性的命令和指令。
[0055]另一ATE装置430(这可以表示任意其他数目的ATE装置)还可以在(在通信上与第一端相对的)另一端处被耦合至通信管线。其他ATE装置430可以包括与ATE装置420的特征、功能或可操作的属性相似的、等同的或至少类似的一个或多个特征、功能或可操作的属性。
[0056]ATE装置可以包括测试控制器部件424。可直接运行的测试模式422被描绘为呈现在测试控制器424的监控显示器上的示例。链路423提供与测试器机架部件425的通信、数据交换、供电、控制等，测试器机架部件425可以包括集成冷却和/或其他特征。测试器机架425支撑具有多个DUT499阵列的测试头和接口 427。
[0057]测试头和接口 427将与可直接运行的测试模式422相对应的数据信号输入到多个电子DUT 499 φο测试头和接口 427从多个电子DUT接收基于所输入的可直接运行的测试模式422的测试结果。ATE装置420通过通信管线410将所接收的测试结果返回至EDA工具401。EDA工具401然后可以处理所返回的测试结果。
[0058]系统400可以执行一个或多个计算机实现的处理方法(例如，(分别在图2、图3中的)处理20和/或处理30)。EDA工具401、ΑΤΕ装置420和/或通信管线410的一个或多个部件包括处理器和非易失性数据存储介质(例如，存储器、驱动器、寄存器、锁存器、缓冲器、可寻址晶体管存储器单元等)。非易失性数据存储介质包括被有形存储和/或通过其进行编码的指令，当这些指令被处理器运行时，使得通过这些指令来对一个或多个计算机实现的处理方法(例如，处理20和/或处理30)进行执行和/或控制。
[0059]可以实现这样的示例实施例，其中，通信管线410包括基于计算机的数据通道。该数据通道可以包括基于UNIX或脚本语言(例如，TCL-TK, Perl, Python)的通道，该通道包括套接字、叉形指令和/或管道中的一个或多个。通信管线还可以是基于网络的。
[0060]因而，可以实现这样的示例实施例，其中，通信管线410包括一个或多个分组交换网络。该分组交换网络可以包括服务器程序，该服务器程序可操作来将一个或多个相关联的客户端指向ATE装置。该分组交换网络还可以包括客户端程序(例如，EDA工具401)，该客户端程序可操作来与服务器交换数据信号。
[0061]服务器程序包括多个接口，这些接口可操作来与客户端程序交换数据信号。举例来说，ATE装置420可操作来将所发送的设计测试模式转换为测试模式的可运行的实例或格式，并且通过该可运行的实例或格式对多个电子DUT 499进行测试。在从多个电子DUT499接收到测试结果后，服务器程序可操作来将所接收到的测试结果返回至客户端程序(例如，EDA工具401)。
[0062]应当理解，服务器程序的操作或客户端程序的操作是相对的并且是可互换的。因此，可以实现这样的示例实施例，其中，服务器程序和客户端程序能够选择性地、可选地或自由地切换角色。
[0063]创建可直接运行的测试模式可以涉及:基于分组化的数据信号的交换，即时生成参数化或非参数化测试模式中的一个或多个，其中，这些测试模式包括利用客户端EDA工具401的设计测试模式402。
[0064]对于传输效率和带宽消耗，EDA工具401可以在将设计测试模式发送至ATE装置420之前对所生成的设计测试模式进行压缩。所发送的设计测试模式可以在被接收之后或在被即时转换为可由ATE装置直接运行的测试模式的格式或实例之前被压缩。
[0065]因此，本发明的示例实施例降低了用于验证电子器件设计实现方式的测试时间、花费和工作量。示例实施例还流线化、简化并且平稳设计实现人员在进行开发的同时测试其电子器件设计实现方式的能力。此外，示例实施例允许设计实现人员创建用于验证同时期的设计开发的测试模式，这些测试模式可以在多个电子DUT上基本上即时地被运行。
[0066]因而，针对用于测试多个电子DUT的计算机实现方法描述了本发明的示例实施例。该方法包括利用相关电子设计自动化(EDA)工具(例如，采用其本机格式)生成设计测试模式。所生成的设计测试模式通过通信管线被直接发送至相关自动测试设备(ATE)装置。该ATE装置可操作来测试多个电子DUT。
[0067]在接收后，ATE将所发送的设计测试模式转换为可由ATE装置直接运行的测试模式的格式或实例。ATE装置基于可运行的测试模式将测试信号输入至多个电子DUT中的每个电子DUT。ATE装置然后从多个电子DUT中的每个电子DUT接收基于所输入的测试信号的测试结果，并且将所接收的测试结果返回至EDA工具，该EDA工具然后可以计算或处理对这些测试结果的评估。
[0068]可以实现这样的示例实施例，其中，通信管线包括基于UNIX或脚本语言(例如，TCL-TK,Perl,Python)的通道或者OS。基于UNIX或脚本语言的通道可以包括套接字、叉形指令和/或管道。附加地或可替代地，通信管线包括分组交换网络。该分组交换网络可以包括服务器程序和客户端程序，该服务器程序可操作来将一个或多个相关联的客户端指向ATE装置，该客户端程序包括EDA工具并且可操作来与服务器交换数据信号。
[0069]服务器程序可以包括多个接口，这些接口可操作来与客户端程序交换数据信号，其中，ATE装置可操作来将所发送的设计测试模式转换为测试模式的可运行实例。在从多个电子DUT接收到相应的测试结果后，服务器程序可操作来将所接收到的测试结果返回至客户端程序。
[0070]服务器程序和客户端程序可以选择性地、可选地和/或自由地切换角色。
[0071]创建可直接运行的测试模式可以包括:基于与客户端交换数据信号，即时生成参数化或非参数化测试模式中的一个或多个。
[0072]计算机实现的处理方法还可以包括定义规则集(例如，UNIX语法和/或联网协议(例如，TCP/IP))以用于发送所生成的设计测试模式并且返回所接收的测试结果。通信管线被开启，在该通信管线中，根据所定义的规则集来执行发送和接收。
[0073]为传输效率或速率并且为节约带宽，发送所生成的设计测试模式可以包括对所生成的设计测试模式进行压缩。因而，将所发送的设计测试模式转换为可由ATE装置直接运行的测试模式的格式或实例包括对经压缩的设计测试模式进行解压缩。
[0074]示例实施例还涉及基于计算机的通信或测试系统，该基于计算机的通信或测试系统包括处理器和非易失性数据存储介质(例如，存储器、驱动器、寄存器、缓冲器等)。其他示例实施例也涉及非易失性数据存储介质。非易失性数据存储介质包括被有形存储于其中的指令，当这些指令被一个或多个计算机系统处理器运行时，使得这一个或多个处理器执行或控制用于测试多个电子DUT的处理方法。
[0075]本发明的示例实施例明显地、无缝地且直接地流线化、简化并且平稳了设计实现人员在进行开发的同时测试其电子器件设计实现方式的能力。设计并实现了对DUT进行的设计验证，以及在无需在重复的连续内部通信和迭代期间暴露器件特点以做出让步的情况下对相应的测试结进行报告和处理，这可以保护有价值的、相关联的知识产权。
[0076]而且，测试用例可以被更快且更容易地提出和更改，因为用于测试的设计(DFT)工程可以直接在ATE装置平台上创建并驱动测试模式，并且可以使用批处理自动地对这些测试模式进行迭代式微调。因而，消除了基于计算机辅助设计(CAD)DFT的用于传送至ATE装置的测试模式创建的延时和复杂度。
[0077]本发明的实施例可应用于利用数字、混合信号、射频(RF)、高速、直流(DC)以及其他测试用例进行的设计验证。本文所描述的示例处理方法、系统以及数据存储介质允许对设计理念快速并且低成本地进行频繁验证。因此，可以在电子器件的设计流程早期进行与DFT工程有关的对设计缺陷的检测或对设计改进的提议。改善了对充足的测试覆盖的配设，并且可以针对测试工程高效且迅速地发布高性能测试模式，从而可以创建高质量、强大的测试程序。
[0078]这些特征提高了效率，利用这些特征，测试工程和设计工程可以在开发电子器件上进行合作，这提高了工程资源管理效率和整体生产力。本发明的示例实施例在增加故障覆盖并降低发布可能具有未被检测到的设计缺陷的器件的风险(这可能另外导致后续的器件可靠性问题)的同时还降低了测试时间和开销以及投入市场的时间。
[0079]因此，本发明的示例实施例降低了用于验证电子器件设计实现方式的测试时间、花费和工作量。因而，示例实施例还流线化、简化并且平稳了设计实现人员在进行开发的同时测试其电子器件设计实现方式的能力。此外，示例实施例允许设计实现人员创建用于验证同时期的设计开发的测试模式，这些测试模式可以在多个电子DUT上基本上即时地被运行。
[0080]因此