一种集成电路芯片测试定位装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种集成电路芯片测试定位装置。
【背景技术】
[0002]半导体工业，尤其是集成电路中，经常使用到测试机。键合是在半导体芯片(第一焊点)和引线框架的精压区(第二焊点)之间，采用引线(铝线、铜线、金线或银线等)进行焊接连接。为了不产生虚焊、提高焊点焊接强度，工艺上常用压爪将载片台(助压区)和精压区分别压实键合轨道和引线框架的定位装置上。全自动铝线机采用多点压针，压实效果很好；但手动铝线机由于焊头不能旋转，为防止焊头运动时碰伤铝线劈刀，第二焊点的精压区不能采用多点压针，而只能使用线状接触的压爪。
[0003]传统引线框架的定位装置装置面是平的，由于引线框架是冲压法生产出来的，因此精压区和引线不能保证绝对共面。当压爪将引线框架压实后，有的框架精压区会上翘，导致精压区和引线框架的定位装置之间出现缝隙，影响焊接质量(如超声焊接的功率传输不畅)，使焊点出现虚焊。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是:克服传统的测试机中定位装置形状过于简单的问题，提供一种形状特殊、能提高焊接质量的集成电路芯片测试定位装置。
[0005]本发明目的通过以下技术方案实现:本发明提供的集成电路芯片测试定位装置，测试机上具有键合轨道，测试机两侧各具有一支线状接触的压爪，引线框架具有助压区(或称左压区，指被左压爪按压处)、载片区、精压区、引线区。定位装置的纵向剖面呈凹五边形，凹五边形由上边、斜边、右边、底边、左边依次相连构成，其中上边与底边平行，上边与斜边形成了凹陷的钝角。
[0006]即相当于定位装置的上平面是凹陷的，精压区和定位装置底平面水平，引线区向后上翅。
[0007]本发明中，凹五边形的上边长度为3-5mm (优选3.5mm)，底边长度为16_20mm (优选18.5mm),左边低于右边0.6-1 mm (优选0.75mm)。
[0008]使用时，该定位装置放置于测试机的操作台上、键合轨道旁边，引线框架的精压区和引线区位于定位装置上方，助压区和载片区位于键合轨道上方；载片区装载芯片，左侧的压爪压在助压区，右侧的压爪压在精压区与引线区的连接处。由于定位装置上有凹陷的钝角，引线框架与定位装置之间可形成深度为0.05-0.3_的间隙。而该间隙的存在，使得右侧的压爪压紧引线框架时，引线框架产生轻微变形，精压区将紧贴凹五边形的上边，也即不会在精压区与定位装置之间出现缝隙，从而保证芯片、精压区与待焊接的引线(铝线、铜线、金线或银线等)基本位于同一平面，便于引线与精压区之间焊接连接。
[0009]有益效果:
本发明的定位装置用于测试机中时，精压区与定位装置之间紧密靠拢，引线与芯片或引线与引线框架之间的焊接质量得以较大幅度地提高，明显降低因焊接区压不实而导致的焊点虚焊的现象。
[0010]该定位装置可配套应用于半导体封装生产线中的手动铝线测试机、半自动铝线测试机和全自动TO封装金/铜线机上，尤其适合铝线测试机采取的超声摩擦焊接方法使用。
【附图说明】
[0011]图1是本发明的一个俯视图。
[0012]图2是本发明一个放大的纵向(图1中A-A向)剖面结构示意图。
[0013]图3是本发明在测试机中配套使用时的结构示意图。
[0014]图中，1、上边；2、斜边；3、左边；4、右边；5、底边；6、凹陷的钝角；7、键合轨道；8、左压爪；9、右压爪；10、定位装置；11、引线框架；12、助压区；13、载片区；14、精压区；15、引线区；16、芯片。
【具体实施方式】
[0015]下面，结合附图和实施例对本发明作更具体的说明。
[0016]实施例:
如附图1、图2中所示引线框架定位装置，具有助压区12、载片区13、精压区14、引线区15，定位装置的纵向剖面呈凹五边形，凹五边形由上边1、斜边2、右边4、底边5、左边3依次相连构成，其中上边I与底边5平行，上边I与斜边2形成了凹陷的钝角6。
[0017]所述的凹五边形的上边I长度为3.5mm，底边5长度为18.5mm，左边3低于右边4 约 0.75mm。
[0018]如图3所示，当用于引线框架定位时，由于定位装置上有凹陷的钝角6，引线框架与定位装置之间可形成深度为0.2_的间隙。该间隙的存在，使得右压爪9压紧引线框架时，引线框架产生轻微变形，精压区14将紧贴凹五边形的上边1，从而保证芯片16、精压区14与待焊接的铝线引线基本位于同一平面，便于引线与精压区14之间焊接连接。
[0019]最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
【主权项】
1.一种集成电路芯片测试定位装置，测试机上具有键合轨道(7)，测试机两侧各具有一支线状接触的压爪(8 ;9)，引线框架具有助压区(12)、载片区(13)、精压区(14)、引线区(15),其特征在于:定位装置的纵向剖面呈凹五边形，凹五边形由上边(I)、斜边(2)、右边(4)、底边(5)、左边(3)依次相连构成，其中上边(I)与底边(5)平行，上边(I)与斜边(2)形成了凹陷的钝角(6)。2.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试定位装置，其特征在于:所述的凹五边形的上边(I)长度为3-5_，底边(5)长度为16-20_，左边(3)低于右边(4) 0.6_1_。3.根据权利要求1所述的集成电路芯片测试定位装置，其特征在于:所述的凹五边形的上边(I)长度为3.5_，底边(5)长度为18.5_，左边(3)低于右边(4) 0.75_。
【专利摘要】本发明提供了一种集成电路芯片测试定位装置。定位装置的纵向剖面呈凹五边形，由上边、斜边、左边、右边、底边依次相连构成，上边与斜边形成了凹陷的钝角，上边长度为3-5mm，底边长度为16-20mm，左边低于右边0.6-1mm。使用中，引线框架与定位装置之间形成的间隙，使得的压爪压紧引线框架时，精压区与定位装置之间紧密靠拢，使得引线与精压区之间焊接质量提高，适合采用超声摩擦焊接方法的铝线测试机配套使用。
【IPC分类】H01L21/66, H01L21/68
【公开号】CN105047596
【申请号】CN201510314436
【发明人】刘振华, 殷国海
【申请人】江苏杰进微电子科技有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年6月10日