一种锗的微米/纳米锥阵列及其制备方法

文档序号:3415807阅读:315来源:国知局
专利名称:一种锗的微米/纳米锥阵列及其制备方法
技术领域
本发明涉及一种锗的微米/纳米锥阵列,以及涉及一种基于化学刻蚀法制备锗的微米/纳米锥阵列的方法。
背景技术
锗是一种重要的半导体材料,由于其特殊的能带结构和高的载流子迁移率,锗在红外光学,光伏和电子工业等领域用途非常广泛。例如,锗作为红外光学材料应用于红外探测;作为高效率太阳能电池材料,吸收长波长光谱范围的能量;锗隧道二极管作为高速开关器件被广泛用于航天航空的各种仪器等。特别是近年来,由于器件的小型化和集成化,锗的微米/纳米结构越来越引起人们的重视。目前,锗的微米/纳米结构的制备主要有水热法 (Pei, L. Z. ;Zhao, H. S. ;Tan, W. ;Yu, H. Y. ;Chen, Y. W. ;Fan, C. G. ;Zhang, Q. -F. Materials Characterization 2009,60,1400),化学气相沉积法(Wang, D. W. ;Dai, H. J. Angewandte Chemie-International Edition 2002,41,4783),(Zhang, Y. F. ;Tang, Y. H.; Wang, N. ;Lee, C. S. ;Bello, I. ;Lee, S. Τ. Physical Review B 2000,61,4518)等。由于制备机理的原因,这些方法通常需要较高的温度和复杂的设备,因而成本较高。所以,尽管锗有很多其它半导体材料不可比拟的优越性质,但是其应用还是受到了严重的限制,需要研究一种较为简单的制备锗的微米/纳米结构的方法。

发明内容
本发明的目的是提供一种锗的微米/纳米锥阵列。本发明的再一目的是提供一种基于化学刻蚀制备锗的微米/纳米锥阵列的方法。本发明的锗的微米/纳米锥阵列是由多个锗的微米/纳米锥构成,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为5 40 μ m,尖端的直径为50 lOOnm。本发明的锗的微米/纳米锥阵列的制备方法包括以下步骤(1)配制含有氢氟酸和双氧水的水溶液作为刻蚀溶液;(2)将清洗(优选用无水乙醇和蒸馏水超声清洗)过的单晶锗片浸入到盛有步骤 (1)得到的刻蚀溶液的密闭容器中;密闭容器中的刻蚀溶液的加入量一般为密闭容器的容积量的50 90% ;(3)将步骤( 盛有刻蚀溶液的密闭容器放入到恒温水浴槽中,在温度为0 60°C下处理12 对小时;取出锗片,冲洗(优选用蒸馏水)后自然晾干;(4)将步骤(3)晾干的锗片在氢气气氛中,于温度为540 600°C下退火还原2 5小时,即得到本发明的由多个锗的微米/纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列;锗的微米 /纳米锥的长度为5 40 μ m,尖端的直径为50 lOOnm。步骤(1)所述的刻蚀溶液中的氢氟酸的浓度为2 15M,双氧水的浓度为0. 01 0. 4M。步骤O)所述的单晶锗片的晶向为<100>、<110>或<111>。
步骤(2)所述的密闭容器是不与氢氟酸反应的容器,可以是20 IOOmL的塑料离心管、20 IOOmL的塑料瓶或水热反应釜。本发明的制备方法工艺简单,不需要高温和金属催化剂,常压下即可进行,为制备锗的微观结构提供了一种简单经济的方法。单晶锗片放入刻蚀溶液中后,在氢氟酸的作用下会溶解形成一些凹槽,这些凹槽的底部更容易得到锗片内部的空穴,在空穴的促进作用下凹槽底部的溶解速度加快,凹槽相互交叉连接把锗片表面划分成很多独立的小岛。与此同时,由于空穴的消耗,表面没有形成凹槽的地方溶解变慢,并在双氧水的作用下形成一层溶解更缓慢的低价锗的氧化物,使小岛表面的溶解进一步受到抑制,最终这些独立的小岛就形成锥状结构。通过改变刻蚀溶液中的氢氟酸和双氧水的浓度和温度,能够控制凹槽底部和小岛表面低价氧化锗的溶解速度,因而,可以在很大的范围内对锗的微米/纳米锥的长径比进行调节,这为锗的微米/纳米结构的制备提供了一种简单、可控的方法。


图1为本发明实施例(2)的锗的微米/纳米锥阵列的顶视扫描电镜图片。图2为本发明实施例(2)的锗的微米/纳米锥阵列的侧视扫描电镜图片。
具体实施例方式实施例1配制含有2M氢氟酸和0. OlM双氧水的水溶液作为刻蚀溶液,在50mL塑料离心管中加入是塑料离心管容积量50%的上述刻蚀溶液;然后将用无水乙醇和蒸馏水超声清洗过的晶向为<100>的单晶锗片浸入到上述离心管中的刻蚀溶液中;将盛有刻蚀溶液的上述离心管放入到恒温水浴槽中,在温度为60°C的恒温水浴中处理M小时;取出锗片后用蒸馏水冲洗后自然晾干;最后在氢气气氛下,于温度为540°C下退火还原3小时,即得到由多个锗的微米/纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为15 μ m,尖端的直径为50 80nm。实施例2配制含有5M氢氟酸和0. IM双氧水的水溶液作为刻蚀溶液,在IOOmL塑料瓶中加入是塑料瓶容积量80%的上述刻蚀溶液;然后将用无水乙醇和蒸馏水超声清洗过的晶向为<110>的单晶锗片浸入到上述塑料瓶中的刻蚀溶液中;将盛有刻蚀溶液的上述塑料瓶放入到恒温水浴槽中,在温度为30°C的恒温水浴中处理18小时;取出锗片后用蒸馏水冲洗后自然晾干;最后在氢气气氛下,于温度为550°C下退火还原4小时,即得到由多个锗的微米 /纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为 ο μ m, 尖端的直径为80 lOOnm。锗的微米/纳米锥阵列的顶视扫描电镜图片如图1所示;侧视扫描电镜图片如图2所示。实施例3配制含有7M氢氟酸和0. 4M双氧水的水溶液作为刻蚀溶液,在50mL的反应釜中加入是反应釜容积量90%的上述刻蚀溶液;然后将用无水乙醇和蒸馏水超声清洗过的晶向为<100>的单晶锗片浸入到上述反应釜中的刻蚀溶液中;将盛有刻蚀溶液的上述反应釜放入到恒温水浴槽中,在温度为30°C的恒温水浴中处理18小时;取出锗片后用蒸馏水冲洗后自然晾干;最后在氢气气氛下,于温度为550°C下退火还原5小时,即得到由多个锗的微米 /纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为40 μ m, 尖端的直径为50 lOOnm。实施例4配制含有15M氢氟酸和0. IM双氧水的水溶液作为刻蚀溶液,在20mL塑料离心管中加入是塑料离心管容积量80%的上述刻蚀溶液;然后将用无水乙醇和蒸馏水超声清洗过的晶向为<111>的单晶锗片浸入到上述离心管中的刻蚀溶液中;将盛有刻蚀溶液的上述离心管放入到恒温水浴槽中,在温度为0°C的恒温水浴中处理M小时;取出锗片后用蒸馏水冲洗后自然晾干;最后在氢气气氛下,于温度为600°C下退火还原2小时,即得到由多个锗的微米/纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为5 μ m,尖端的直径为50 lOOnm。
权利要求
1.一种锗的微米/纳米锥阵列,其特征是阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为5 40 μ m,尖端的直径为50 lOOnm。
2.一种锗的微米/纳米锥阵列的制备方法,其特征是,所述的方法包括以下步骤(1)配制含有氢氟酸和双氧水的水溶液作为刻蚀溶液;(2)将清洗过的单晶锗片浸入到盛有步骤(1)得到的刻蚀溶液的密闭容器中;(3)将步骤( 盛有刻蚀溶液的密闭容器放入到恒温水浴槽中,在温度为0 60°C下处理12 M小时;取出锗片,冲洗后自然晾干;(4)将步骤(3)晾干的锗片在氢气气氛中,于温度为540 600°C下退火还原2 5小时,得到由多个锗的微米/纳米锥构成的锗的微米/纳米锥阵列;其中,锗的微米/纳米锥的长度为5 40 μ m,尖端的直径为50 lOOnm。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征是步骤(1)所述的刻蚀溶液中的氢氟酸的浓度为2 15M,双氧水的浓度为0. 01 0. 4M。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征是步骤( 所述的单晶锗片的晶向为<100>、 <110> 或 <111>。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征是步骤( 所述的密闭容器是不与氢氟酸反应的容器。
全文摘要
本发明涉及一种锗的微米/纳米锥阵列及其制备方法。本发明的锗的微米/纳米锥阵列是基于对单晶锗片的化学刻蚀得到的,是由多个锗的微米/纳米锥构成,其中,阵列中的锗的微米/纳米锥的长度为5~40μm,尖端的直径为50~100nm。本发明的制备方法工艺简单,不需要高温和金属催化剂,常压下即可进行,为制备锗的微观结构提供了一种简单经济的方法。通过改变刻蚀溶液中的各成分的浓度和温度,可得到大长径比的锗的微米/纳米锥状阵列结构,并可在很大的范围内对形貌进行调节,这为锗的微米/纳米结构的制备提供了一种简单、可控的方法。
文档编号C23F1/24GK102251286SQ201110191248
公开日2011年11月23日 申请日期2011年7月8日 优先权日2011年7月8日
发明者佘广为, 刘运宇, 师文生 申请人:中国科学院理化技术研究所
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