1.一种微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，包括两个微带连接器主体(1)，微带连接器主体(1)的中部设置有楔形孔(2)，楔形孔(2)内插有插针(3)，两个微带连接器主体(1)通过连接法兰(4)紧固连接起来。
2.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述楔形孔(2)位于微带连接器主体(1)内侧的一端开口大于楔形孔(2)位于微带连接器主体(1)边缘的一端。
3.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述插针(3)的两端均为球面状。
4.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述两个微带连接器主体(1)相接触的一面设置有防水层。
5.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述连接法兰(4)设置在两个微带连接器主体(1)的上部和下部。