一种自动测试芯片的装置的制作方法

本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种自动测试芯片的装置。

背景技术：

传统的芯片测试方法为手动测试，当待测芯片为由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片时，手动测试需按压所有与待测芯片的功能对应的按键，易漏测，效率低下且难以进行批量测试。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是：本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片；

所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述第一显示模块与所述待测芯片连接。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型所指的待测芯片可根据获取到的外部输入设备的信号执行对应的功能，并将执行结果通过显示设备显示。通过所述微控制器控制所述模拟开关芯片的控制端的电压，模拟所述待测芯片获取到按键信号，从而实现自动测试与各按键对应的功能。此外，还可通过同时控制多个模拟开关芯片的输入端和输出端的通断，实现自动测试组合键对应的功能。当所述待测芯片执行与模拟开关芯片模拟的按键信号对应的功能时，电流检测模块检测待测芯片输出端的电流是否大于预设的工作电流阈值，从而检测该待测芯片工作时电气特性的稳定性。

附图说明

图1为本实用新型提供的自动测试芯片的装置的具体实施方式的结构图；

图2为本实用新型提供的自动测试芯片的装置的具体实施方式的进一步结构图；

标号说明：

1、微控制器；2、待测芯片；3、电流检测模块；4、第一显示模块；5、模拟开关芯片；6、电阻调节电路；7、电容调节电路；8、第二显示模块；9、温湿度传感器；10、红外传感器；11、蜂鸣器；12、时钟模块；13、上位机；

14、键盘扫描电路。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本实用新型最关键的构思在于：通过模拟开关芯片模拟按键输入信号，从而实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。

请参照图1及图2，

本实用新型提供一种自动测试芯片的装置，包括微控制器1、待测芯片2、电流检测模块3、第一显示模块4和模拟开关芯片5；

所述电流检测模块3的一端与所述待测芯片2连接，另一端与所述微控制器1连接；

所述模拟开关芯片5的一端与所述待测芯片2连接，另一端与所述微控制器连接1；

所述第一显示模块4与所述待测芯片2连接。

进一步地，还包括电阻调节电路6和电容调节电路7；

所述电阻调节电路6和所述电容调节电路7分别与所述待测芯片连接。

由上述描述可知，支持调整输入输出引脚和通信引脚的电阻及电容。

进一步地，还包括第二显示模块8和温湿度传感器9；

所述第二显示模块8和所述温湿度传感器9分别与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，所述第二显示模块显示所述温湿度传感器获取到的测试环境参数，便于调整测试环境至待测芯片所需的状态。

进一步地，还包括红外传感器10；

所述红外传感器10与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，所述微控制器通过所述红外传感器接收红外发射装置发送的信号，实现通过红外发射装置向微控制器发送命令。

进一步地，还包括蜂鸣器11；

所述蜂鸣器11与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，在自动测试待测芯片的过程中，所述微控制器检测到异常情况时，触发所述蜂鸣器发出警报，以提醒测试人员。

进一步地，还包括时钟模块12；

所述时钟模块12与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，能实时记录测试时间，便于数据整理及保存。

进一步地，还包括上位机13；

所述上位机13与所述微控制器1连接。

由上述描述可知，实现在上位机上操作芯片测试，提供预览窗口实时显示测试数据，并根据测试数据自动生成测试报告，包括测试人员、时间、型号、电气参数等。

进一步地，还包括键盘扫描电路14；

所述微控制器1通过所述键盘扫描电路14与所述键盘连接。

由上述描述可知，手动对按键功能进行抽样验证。

实施例：

一种自动测试芯片的装置，包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块、模拟开关芯片、电阻调节电路、电容调节电路、第二显示模块、温湿度传感器、红外传感器、蜂鸣器、时钟模块、上位机、键盘扫描电路；

所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接，另一端与所述微控制器连接；

所述第一显示模块、所述电阻调节电路和所述电容调节电路分别与所述待测芯片连接；

所述第二显示模块、所述温湿度传感器、所述红外传感器、所述蜂鸣器、所述时钟模块和所述上位机分别与所述微控制器连接；

所述微控制器通过所述键盘扫描电路与所述键盘连接。

其中，所述电流检测模块为基于ZXCT1050芯片搭建的电路，电路采集精确到毫安级别；所述模拟开关芯片为CH446Q；所述第一显示模块为LED显示电路，包含8位共阴数码管显示，满足待测芯片的显示功能测试以及电流测试；所述第二显示模块的型号为LCD1602，用于显示当前测试项目、测试时间、测试编号、测试速率、环境温湿度等；所述温湿度传感器为SHT1X芯片，精确监控环境温度±0.5℃，湿度±4.5％RH。所述待测芯片通过待测板电路与所述微控制器通信连接，所述待测板电路能正确识别待测芯片型号，且能独立完成简单的功能测试，可作为直接老化测试用具。

自动测试待测芯片的过程如下：初始化各个子模块，包括时钟模块，温湿度传感器等；初始化成功后读取底板的显示及按键驱动芯片的键值，根据读取到的键值进行不同功能测试，如读取到自动测试键时开始自动测试，微控制器读取待测芯片的型号，并根据该型号调用相应的测试程序。

首先，进行待测芯片的显示测试，通过第一显示模块判断芯片的显示功能是否正常，若显示有问题则判定为坏片，之后通过电流检测模块采集最低辉度的IC电流以及DIG电流，由于人工查看步骤的不确定性，加入电流采集是为了保证IC的电气性能稳定性，保证IC是在正常的工作电流下工作的，采集后再与系统设定的阈值对比，阈值是在IC设计之时设计的工作电流，以及硬件测试过程测试到的工作性能良好时的电流稳定值。

将检测结果传输到上位机，上位机显示测试结果，提供预览功能和将测试结果保存到excel表格的功能，便于分析采集到的数据，之后则判断采集是否完成，如上位机采集失败则重新发送命令采集电流，如采集正确则进行IC按键测试，通过模拟开关的开断读取采集到的键值，再与系统中设定的键值表比对，在第二显示模块上显示测试结果，由于待测芯片可能会有上百个可能性按键，而通过人工按压测试耗时长，通过本实用新型提供的自动测试芯片装置可在5s内测试50～100个按键对应的功能。之后再进行一次最高辉度的电流采集，过程与上述最低辉度的电流采集相似，此步骤也是为了IC电气特性稳定性，在大电流下保证电气完整，最后检测手动测试按键是否有按键按下，键值设定特定功能测试IC特性，如辉度改变，循环显示等功能，如无采集到则进入下一个等待测试状态。

综上所述，本实用新型提供的一种自动测试芯片的装置，通过所述微控制器控制所述模拟开关芯片的控制端的电压，模拟所述待测芯片获取到按键信号，从而实现自动测试与各按键对应的功能。此外，还可通过同时控制多个模拟开关芯片的输入端和输出端的通断，实现自动测试组合键对应的功能。当所述待测芯片执行与模拟开关芯片模拟的按键信号对应的功能时，电流检测模块检测待测芯片输出端的电流是否大于预设的工作电流阈值，从而检测该待测芯片工作时电气特性的稳定性。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。