中所示测试头20包括两个表示为28A和28C的间隔元件，其大体上设置在具有大致呈矩形的上导向件23的对角线上。
[0082]此外，图4C中所示测试头20包括三个表示为28A，28B和28C的间隔元件，其以不对称的配置方式设置于具有大致呈矩形的上导向件23的四个角区域中的三个角处。
[0083]最后，图4D中所示测试头20包括四个表示为28A，28B，28C和28D的间隔元件，其设置在具有大致呈矩形的上导向件23的角区域处，并且还包括四个表示为28’ A，28’ B，28’ C和28’ D的间隔元件，其设置在上导向件23的侧边且在其它螺钉31’处中心放置。
[0084]根据本发明，测试头20能够实现调整接触探针22的端子部分25的长度L的方法。
[0085]参照5A-5C说明此类调整方法。
[0086]特别地，在这些附图中示出了测试头20的横截面，其中测试头20包括至少两个间隔元件28，其设置在上导向件23和容纳元件27之间，且通过固定装置29连接，该固定装置29由封装在各自螺纹孔32中的螺钉31实现。
[0087]在图5A中，测试头20具有接触探针22，该接触探针22具有相对下导向件24伸出长度LI的端子部分25，此长度LI小于对应于测试头20正确功能的L*值。大体上，在此条件下，测试头20不适用于在待测器件(未示出)相应的接触垫上施加接触探针22的正确压力触点。
[0088]有利地，根据本发明，如5B所示，所述方法包括通过松开或移除螺钉31释放固定装置29的阶段，以及随后移除间隔元件28的阶段。
[0089]此时，所述方法包括上导向件23按照箭头F所示方向靠近容纳元件27的阶段。最后，如图5C所示，此方法包括通过将新的螺钉31拧入各自螺纹孔32释放固定装置29的阶段，用于将上导向件23和容纳元件27重新连接。
[0090]由于间隔元件28的移除，图5C结构中的测试头20包括接触探针22，该接触探针22具有相对下导向件24伸出长度L2的端子部分25，此长度L2等于或大于对应于测试头20正确功能的L*值。有利地，根据本发明的调整方法，测试头20的正确功能由此以简单快捷的方式恢复。
[0091]如图6所示，间隔元件28可以适宜地为桨(paddle)状。这种间隔元件28可以以塑料材料来实现。
[0092]特别地，间隔元件28包括长形主体33及例如圆形的头部34 ;适宜地，间隔元件28具有尺寸便于螺钉31穿过的孔35。为了在移除这种间隔元件28时便于在长形主体33处抓握此种元件，间隔元件28的这种形状尤其有利。此外，头部相对于长形主体33的较大尺寸在拧紧固定装置29，尤其在将螺钉31拧入孔32中时，保证了压力负荷的良好分散。
[0093]还可以实现具有方形形状或垫圈形状的间隔元件28，其上具有适当的穿孔以便使螺钉31能够通过。
[0094]间隔元件28还可以通过多个重叠且可单独移除的层状物实现，所述多个层状物可以通过例如胶水之类的具有弱密封性(reduced sealing)的粘结材料连接在一起，从而使层状物彼此之间能够容易地分离。这种间隔元件28可以定义为可剥性间隔元件。
[0095]图7示意性显示了包括多层或可剥性间隔元件28的测试头20。
[0096]特别地，在这些图中所示的例子中，各间隔元件28包括至少一个第一层状物281，至少一个第二层状物282和至少一个第三层状物283，这些层状物尤其具有相同的形状和厚度。很明显，可以考虑间隔元件28具有不同数量的层状物，且层状物分别可以具有不同的厚度。可选择地，将弱密封性粘结材料的层状物置于间隔元件28的层状物之间。
[0097]在这种情况下，可以仅移除多层或可剥间隔元件28中的其中一层，或同时或者顺序地移除该间隔元件28中的多层，以分段调整接触探针22的端子部分25的长度L。
[0098]有利地，根据本发明，设置在上导向件23和容纳元件27之间的多层或可剥间隔元件28形成高度为Hl的空隙，特别地，其大于图2中所示的测试头20的间隔元件28形成的高度H的空隙。
[0099]包括图7所示的多层或可剥间隔元件28的测试头20能够实现调整接触探针22的端子部分25的长度L的方法的备选实施例。特别地，根据本发明，这种调整方法的备选实施例能够阶段性调整接触探针22的端子部分25的长度L。
[0100]根据本发明，参照图8A-8F示出了调整方法的这种备选实施例的一种可能实现。
[0101]在图8A中，测试头20具有接触探针22，该接触探针22具有相对下导向件24伸出一长度的端子部分25，该长度小于对应于测试头20正确功能的长度值。测试头20包括图7所示的多层或可剥间隔元件28。
[0102]有利地，根据本发明，所述方法包括通过松开或移除螺钉31释放固定装置29的步骤，该步骤之后是间隔元件28的至少一个第一层状物281的移除步骤，如图SB所示。
[0103]此时，所述方法包括上导向件23按照图SC所示箭头Fl所示方向靠近容纳元件27的步骤。
[0104]在这种情况下，在将上导向件23靠近容纳元件27后，接触探针22具有相对下导向件24伸出一长度的端子部分25，该长度在任何情况下都小于对应于测试头20正确功能的长度值，如图8D所示。所述方法还包括通过松开或移除螺钉31释放固定装置29的步骤，该步骤之后是间隔元件28的至少一个第二层状物282的移除步骤，如图SE所示。
[0105]此时，所述方法还包括上导向件23按照箭头F2所示方向靠近容纳元件27的步骤。
[0106]最后，所述方法包括通过将新的螺钉31拧入各自螺纹孔32的步骤，以便再次将上导向件23、间隔元件28和容纳元件27连接起来，如图8F所示。
[0107]应该注意的是，此情况下，调节接触探针22的端子部分伸出下导向件24的长度并没有使间隔元件28全部移除。
[0108]显然，还可以在测试头20使用的后期，尤其在其接触探针22的端子部分25由于使用而进一步缩短并且具有小于对应于测试头20正确功能的长度值的长度时，进行移除间隔元件28的一个层状物和将上导向件23靠近容纳元件27的步骤。
[0109]此外，有利地，根据本发明，也可以以非对称的方式移除间隔元件28的一个层状物，使上导向件23靠近容纳元件27，从而在各自的接触顶尖由于探针本身的制造过程的公差而未对准的情况下，调整接触探针22的端子部分25的长度。
[0110]综上，根据本发明，具有间隔元件的测试头更加耐用，因为可以对相关尖端进行大量的清洗操作，并且之后可以调节接触探针的端子部分相对下导向件伸出的长度，使得其等于或大于对应于测试头正确功能的长度。
[0111]根据本发明，具有间隔元件的测试头的调整方法，能够以简单快捷的方式，在使其接触探针的端子部分缩短的工作阶段之后，恢复该测试头本身的正确功能。
[0112]此外，当使用多层或可剥间隔元件时，可以在测试头工作寿命的不同时刻进一步调节接触探针的端子部分的长度，特别是在此端子部分每次都由于使用而被缩短并具有小于对应于测试头本身的正确功能的长度值的长度的情况下。
[0113]而且，具有间隔元件的测试头能够在各自的接触顶尖由于探针本身的制造过程的公差而未对准的情况下，调整接触探针的端子部分的长度。
[0114]很明显，为了应对偶然事件或具体需求，本领域技术人员可以对