专利名称：一种嵌入式存储器的测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及存储器的测试领域，尤其涉及嵌入式存储器的测试装置。
背景技术：
大型、复杂电路通常包含多处难以测试的逻辑部分，即使就可测试性最好的大型设计而言，也同样需要耗费大量测试生成时间、占用大量的ATE(Automated Test Equipment自动测试仪)存储器和ATE测试时间，所有这些都是非常昂贵，但对于采用ATPG方法进行测试而言又是必需的。另外，由于存储器缺陷类型不同于一般逻辑的缺陷类型，存储器在较大规模设计之中层次较深，ATPG(Automatic TestPattern Generation自动测试向量产生法)通常不能提供完备的存储器测试解决方案，而内嵌式存储器测试技术(MBIST)则可以解决这些问题。BIST(Build In Self Test内嵌自测试电路)能够在不牺牲检测质量的前提下提供一种存储器测试解决方案，在很多情况下，BIST结构可以彻底消除或最大限度减少对外部测试向量生成(以及ATE机存储器容量)和测试应用时间的需要。设计人员可以在某设计内部执行内嵌式存储器测试(MBIST)电路，并由于内嵌式存储器测试(MBIST)电路邻近被测试的存储器而轻易实现全速测试。内嵌式存储器测试(MBIST)通常采用一种或多种算法为测试存储器一种或多种缺陷类型而特别设计，内嵌式存储器测试控制器电路包括地址产生器电路，有限状态机电路、向量产生器电路、响应分析器四部分。参看图1，现有的嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端，嵌入式存储器测试控制模块包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器、N个向量产生器、N个地址产生器和N个有限状态机。有限状态机发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机控制N个地址产生器和N个向量产生器产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个响应分析器根据N个有限状态机的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。这样可以看出，现有技术中存储器模块数量的越多，相对应的地址产生器、向量产生器和有限状态机的数量就会越多，造成了芯片面积和功耗的大量浪费。
发明内容
为了克服现有技术中的问题和不足，本发明的目的在于提供了一种嵌入式存储器的测试装置。
本发明使得不同的嵌入式存储器可共用同一有限状态机、地址产生器，可节省芯片面积和功耗。
本发明使得不同的嵌入式存储器可共用同一有限状态机、地址产生器和测试向量产生器，可节省芯片面积和功耗。
本发明使得不同的嵌入式存储器可共用同一测试向量产生器，可节省芯片面积和功耗。
为了实现上述发明目的，本发明的技术方案以如下方式实现一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端。所述嵌入式存储器测试控制模块包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器和N个向量产生器。其结构特点在于，所述嵌入式存储器测试控制模块包括一个地址产生器和一个有限状态机，所述地址产生器为与所述N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器。所述有限状态机发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机控制地址产生器和N个向量产生器产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关。当地址产生器对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器的深度时，所述地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块对应的响应分析器，禁止该响应分析器工作。所述N个响应分析器根据有限状态机的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
上述N组存储器模块中的N≥2。
一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端。所述嵌入式存储器测试控制模块包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器。其结构特点在于，所述嵌入式存储器测试控制模块包括一个地址产生器、一个有限状态机和一个向量产生器，所述地址产生器为与所述N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，所述向量产生器为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器。所述有限状态机发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机控制地址产生器和向量产生器产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关。当地址产生器对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器的深度时，所述地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块对应的响应分析器，禁止该响应分析器工作。所述N个响应分析器根据有限状态机的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
上述N组存储器模块中的N≥2。
一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端。所述嵌入式存储器测试控制模块包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器、N个地址产生器和N个有限状态机。所述N个有限状态机发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个有限状态机发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个有限状态机控制所述N个地址产生器产生地址，并将产生的地址发送给所述N组存储器模块的多路选择开关。所述N个响应分析器根据所述N个有限状态机的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。其结构特点在于，所述嵌入式存储器测试控制模块包括一个向量产生器，所述向量产生器为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器，所述N个有限状态机控制向量产生器产生测试向量，并将产生的测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关。
上述N组存储器模块中的N≥2。
本发明对于不同深度的存储器，用深度最深的地址产生器作为公用地址产生器，对于其它深度的存储器，当测试向量寻址超过其深度时，产生控制信号，禁止多路开关将测试向量送入存储器，同时禁止响应分析器工作，防止响应分析器产生错误结果。这样，对于不同深度的存储器可共用同一个地址产生器和有限状态机，大大节省了芯片的面积和功耗。
本发明对于不同位宽的存储器，可以用位宽最宽的向量产生器来节省作为公用的向量产生器。用位宽最宽的向量产生器来作为公用向量产生器，其它存储器只截取公用向量中符合自身位宽的部分向量。这样，对于不同位宽的存储器可共用同一个向量产生器，大大节省了芯片的面积和功耗。
本发明用深度最深的地址产生器作为公用地址产生器，用位宽最宽的向量产生器来作为公用向量产生器，这样，不同深度和位宽的存储器可共用同一个地址产生器、有限状态机和一个向量产生器，大大节省了芯片的面积和功耗。
图1为现有技术中内嵌式存储器测试电路框图；图2为本发明具体实施方式
1的电路框图；图3为本发明具体实施方式
2的电路框图；图4为本发明具体实施方式
3的电路框图。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明进行进一步说明。
具体实施例方式
参看图2，一种嵌入式存储器的测试装置，包括2组存储器模块1a、1b和接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块2，存储器模块1a包括多路选择开关3a和存储器4a，存储器模块1b包括多路选择开关3b和存储器4b。存储器1a的深度大于存储器1b的深度。多路选择开关3a的输出端连接所述存储器4a的输入端。多路选择开关3b的输出端连接所述存储器4b的输入端。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括与所述2组存储器模块1a、1b相对应的2个响应分析器8a、8b和2个向量产生器7a、7b。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括一个地址产生器5和一个有限状态机6，所述地址产生器5为与存储器模块1a对应的地址产生器，所述有限状态机6发送控制指令给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b，所述有限状态机6控制地址产生器5和2个向量产生器7a、7b产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量分别发送给所述2组存储器模块1a、1b的2个多路选择开关3a、3b，当地址产生器5对所述存储器模块1b寻址超过地址产生器5的深度时，所述地址产生器5发送禁止信号给存储器模块1b的多路选择开关3b禁止该多路选择开关3b将测试向量送入该存储器模块1b的存储器4b，同时地址产生器5发送禁止信号给存储器模块1b对应的响应分析器8b，禁止该响应分析器8b工作，所述2个响应分析器8a、8b根据有限状态机6的不同状态产生对应的正确响应向量分别与2个存储器4a、4b的输出数据相比较，所述2个响应分析器8a、8b将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
参看图3，一种嵌入式存储器的测试装置，包括2组存储器模块1a、1b和接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块2，存储器模块1a包括多路选择开关3a和存储器4a，存储器模块1b包括多路选择开关3b和存储器4b。所述多路选择开关3a的输出端连接所述存储器4a的输入端，所述多路选择开关3b的输出端连接所述存储器4b的输入端。存储器1a的深度大于存储器1b的深度，存储器1a的宽度大于存储器1b的宽度。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括与所述2组存储器模块1a、1b相对应的N个响应分析器8a、8b。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括一个地址产生器5、一个有限状态机6和一个向量产生器7，所述地址产生器5为存储器模块1a对应的地址产生器，所述向量产生器7为存储器模块1a对应的向量产生器，所述有限状态机6发送控制指令给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b，所述有限状态机6控制地址产生器5和向量产生器7产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b，当地址产生器5对所述2组存储器模块1b寻址超过地址产生器5的深度时，所述地址产生器5发送禁止信号给存储器模块1b的多路选择开关3b禁止该多路选择开关3b将测试向量送入该存储器模块1b的存储器4b，同时地址产生器5发送禁止信号给响应分析器8b，禁止该响应分析器8b工作，所述2个响应分析器8a、8b根据有限状态机6的不同状态产生对应的正确响应向量分别与2个存储器4a、4b的输出数据相比较，所述2个响应分析器8a、8b将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
参看图4，一种嵌入式存储器的测试装置，包括2组存储器模块1a、1b和接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块2，存储器模块1a包括多路选择开关3a和存储器4a，存储器模块1b包括多路选择开关3b和存储器4b。所述多路选择开关3a的输出端连接所述存储器4a的输入端，所述多路选择开关3b的输出端连接所述存储器4b的输入端。存储器1a的宽度大于存储器1b的宽度。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括与所述2组存储器模块1a、1b相对应的2个响应分析器8a、8b、2个地址产生器5a、5b和2个有限状态机6a、6b。所述2个有限状态机6a、6b发送控制指令给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b，所述2个有限状态机6a、6b发送控制指令给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b。所述2个有限状态机6a、6b控制所述2个地址产生器5a、5b产生地址，并将产生的地址发送给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b，所述2个响应分析器8a、8b根据所述2个有限状态机6a、6b的不同状态产生对应的正确响应向量分别与2个存储器4a、4b的输出数据相比较，所述2个响应分析器8a、8b将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。所述嵌入式存储器测试控制模块2包括一个向量产生器7，所述向量产生器7为与存储器模块1a对应的向量产生器，所述2个有限状态机6a、6b控制向量产生器7产生测试向量，并将产生的测试向量发送给所述2组存储器模块1a、1b的多路选择开关3a、3b。
内嵌式存储器测试顶层模块最后将各响应分析器比较结果合成，通过芯片外部管脚处送出。本发明不仅可以适用于不同深度不同位宽的不同存储器，还可以适用于相同深度不同位宽的不同存储器，或者相同位宽不同深度的存储器，或深度和位宽都相同的存储器。
权利要求
1.一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块(2)和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器(8)和N个向量产生器(7)，其特征在于，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括一个地址产生器(5)和一个有限状态机(6)，所述地址产生器(5)为与所述N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，所述有限状态机(6)发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机(6)控制地址产生器(5)和N个向量产生器(7)产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关，当地址产生器(5)对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器(5)的深度时，所述地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块对应的响应分析器(8)，禁止该响应分析器(8)工作，所述N个响应分析器(8)根据有限状态机(6)的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器(8)将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
2.按照权利要求1所述的嵌入式存储器的测试装置，其特征在于，所述N组存储器模块中的N≥2。
3.一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块(2)和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器(8)，其特征在于，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括一个地址产生器(5)、一个有限状态机(6)和一个向量产生器(7)，所述地址产生器(5)为与所述N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，所述向量产生器(7)为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器，所述有限状态机(6)发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述有限状态机(6)控制地址产生器(5)和向量产生器(7)产生地址和测试向量，并将产生的地址和测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关，当地址产生器(5)对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器(5)的深度时，所述地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器(5)发送禁止信号给深度超过地址产生器(5)深度的存储器模块对应的响应分析器(8)，禁止该响应分析器(8)工作，所述N个响应分析器(8)根据有限状态机(6)的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器(8)将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块。
4.按照权利要求3所述的嵌入式存储器的测试装置，其特征在于，所述N组存储器模块中的N≥2。
5.一种嵌入式存储器的测试装置，包括接收芯片外部管脚开始信号的嵌入式存储器测试控制模块(2)和N组存储器模块，每组存储器模块包括多路选择开关和存储器，所述多路选择开关的输出端连接所述存储器的输入端，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括与所述N组存储器模块相对应的N个响应分析器(8)、N个地址产生器(5)和N个有限状态机(6)，所述N个有限状态机(6)发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个有限状态机(6)发送控制指令给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个有限状态机(6)控制所述N个地址产生器(5)产生地址，并将产生的地址发送给所述N组存储器模块的多路选择开关，所述N个响应分析器(8)根据所述N个有限状态机(6)的不同状态产生对应的正确响应向量分别与N个存储器的输出数据相比较，所述N个响应分析器(8)将比较结果送至内嵌式存储器测试顶层模块，其特征在于，所述嵌入式存储器测试控制模块(2)包括一个向量产生器(7)，所述向量产生器(7)为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器，所述N个有限状态机(6)控制向量产生器(7)产生测试向量，并将产生的测试向量发送给所述N组存储器模块的多路选择开关。
6.按照权利要求5所述的嵌入式存储器的测试装置，其特征在于，所述N组存储器模块中的N≥2。
全文摘要
本发明涉及一种嵌入式存储器的测试装置，属于存储器的测试领域。本发明可节省芯片面积和功耗。本发明嵌入式存储器测试控制模块包括一个地址产生器、一个有限状态机和一个向量产生器，地址产生器为与N组存储器模块中深度最深的存储器对应的地址产生器，向量产生器为与所述N组存储器模块中位宽最宽的存储器对应的向量产生器。当地址产生器对所述N组存储器模块寻址超过地址产生器的深度时，地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块的多路选择开关禁止该多路选择开关将测试向量送入该存储器模块的存储器，同时地址产生器发送禁止信号给深度超过地址产生器深度的存储器模块对应的响应分析器，禁止该响应分析器工作。
文档编号G11C29/00GK1649034SQ200410001140
公开日2005年8月3日 申请日期2004年1月30日 优先权日2004年1月30日
发明者周芬, 周天夷 申请人:北京中星微电子有限公司