鳍式场效应晶体管及其制造方法与流程

文档序号:13253033阅读:来源:国知局
技术特征:
1.一种鳍式场效应晶体管的制造方法,其特征在于,包括步骤:提供具有鳍的半导体衬底,鳍间形成有隔离;在鳍上形成伪栅器件,并覆盖伪栅极两侧形成层间介质层;去除伪栅极,以形成开口;进行离子注入,在开口下的鳍内形成穿通停止层,同时,在源漏区内侧的鳍中形成反射掺杂层;在开口中形成替代栅。2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述离子注入为垂直角度的离子注入。3.根据权利要求2所述的制造方法,其特征在于,离子注入的剂量范围为1E12至1E14cm-2,能量范围为10至150KEV。4.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,在鳍上分别形成第一类型伪栅器件和第二类型伪栅器件。5.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于,在开口中分别形成第一替代栅和第二替代栅。6.一种鳍式场效应晶体管,其特征在于,包括:半导体衬底;衬底上的鳍,鳍间形成有隔离;鳍上的器件结构;栅极之下的鳍中的穿通停止层,以及源漏区内侧的鳍中的反射掺杂层,反射掺杂层与穿通停止层具有相同的掺杂类型。7.根据权利要求6所述的晶体管,其特征在于,所述器件结构包括第一类型器件结构和第二类型器件结构。
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