触控基板的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明系有关一种面板与其对应的测试探针，特别是一种可以高速检测其功能完整性的触控面板。
【背景技术】
[0002]在制造触控面板的过程中，需要经过一道测试程序，以检测基板上各触控面板中各交错点的驱动电路及感应电路运作是否正确，为了进行该检测，各触控面板皆设置有检测电路布线，以供测试探针接触、发送测试讯号及接收回馈讯号。
[0003]由于测试探针为具有实质大小机电装置，无法以触控面板制程的尺度实现，因此触控面板上的探针接触区往往造成较大面积的浪费，习知技术提出了两种节约探针接触区面积的方法。
[0004](一)如图1，将触控面板103上原有的讯号输出/输入区块104a设计为兼具探针接触区功能，该方案的好处是不需要在基板上额外设计探针接触区，一块面板可因此而切割成更多的触控面板，产能可以提高，缺点是讯号输出/输入区块原先可依照整体电路制程的水平，面积越小越好，若采用此方案，则必须加大讯号输出/输入区块中每一个驱动线与感应线的线宽，以做为测试探针接触区，导致每一块触控面板都会因此而浪费一部分的面积。
[0005]详细说明之，该技术方案中，一块大基板102在制程时就被画分为8块触控面板103以及触控面板间的裁切区107，每一块触控面板都有讯号输出/输入区块104a以方便与其它电路协同工作，此区块虽可以兼做为探针接触区，但是就必须配合测试探针的尺寸，制作的比电路需要的尺寸来的大，微观地看讯号输出/输入区块104b，这个区块必须包含与触控面板各驱动线耦合的驱动电极组105a?105c，该驱动电极组依次包含多个驱动电极，本图仅代表性列出三个105a、105b、105c，还有与触控面板各驱动线耦合的感应电极组106a?106c，该感应电极组依次包含多个感应电极，本图仅代表性列出三个106a、106b、106c,即使是订制的多接点测试探针，依然必须依序接触基板上的每一个讯号输出/输入区块以完成整个检测流程。
[0006](二)如图2，将触控面板上每一条需要测试的驱动线与感应线都延伸设置到基板上不属于触控面板的裁切区，以形成独立的探针接触区，此方案的好处是每一块触控面板上都略去了探针接触区，因此面积利用率提高，但不同尺寸的触控面板有不同数量的驱动线与感应线，导致每次生产不同尺寸触控面板时都必须重新计算一次最佳切割数，设计工程师也要重新设计裁切区上的探针接触区，更严重的是，检测工程师必须重新规划探针接触探针接触区的路径与顺序。
[0007]详细说明之，该习知的触控面板中，每一条驱动线201都依序延伸到裁切区，同时必须放大尺寸以利探针接触，每一条感应线202也必须有类似的配置，配合该种触控面板的检测机台具有独立且单接点的驱动探针与感应探针，依序轮流对每一条驱动线201及每一条感应线202进行检测,相当耗时。
[0008]就检测程序的角度而言，为了适应各种不同的布线方式、面板尺寸，检测机台的探针必须设计成单接点形式，意即发送检测讯号的探针一次仅对一条驱动线的探针接触区发送检测讯号，而此时接收回馈讯号的探针保持与某一条感应线接触以接收讯号，检测完该条驱动线与该条感应线的功能后，发送检测讯号的探针移往另一条驱动线的探针接触区，再次发送检测讯号，而此时接收回馈讯号的探针保持与同一条感应线的接触而接收讯号，以检测完该另一条驱动线与同一条感应线的功能，依此顺序检测完所有与同一条感应线交错的驱动线后，接收回馈讯号的探针会移往下一条感应线，然后重复上述步骤逐一检测，这种方法最大的缺点就是发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一接触驱动线与感应线的探针接触区，探针的移动非常的耗时，在检测大尺寸触控面时，耗时尤为显著。
[0009]针对此一缺点，习知技术提出了结合多任务器(multiplexer,简写为MUX)及多个电路开关的检测电路，利用电子控制的方式使不同的驱动线对一探针接触区轮流导通、且使不同的感应线对另一探针接触区轮流导通，避免发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一轮动，这个技术方案虽然节省了检测时间，却造成了检测电路的极端复杂化，原先设计工程师只需要规划不同探针接触区，若采用该技术方案设计工程还必须在基板上设计多任务器及配套的多个电路开关，更严重的是，每一种不同尺寸的触控面板都会有不同数量的驱动线与感应线，因此为了符合不同尺寸的触控面板，多任务器及配套的多个电路开关都必须重新设计。
【发明内容】
[0010]本发明为改善(一)测试探针接触区销耗部分的触控面板面积、(二)需重新规划探针接触探针接触区的路径与顺序、(三)发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一接触驱动线与感应线的探针接触区及(四)检测电路的复杂化等习知技术的缺陷，提出一种触控面板，在基板裁切区具有统一规格的多接点探针接触区，足可同时适用于不同尺寸的触控面板，同时藉由该多接点探针接触区简化探针接触探针接触区的路径与顺序，更进一步，透过探针接触区接点的设置，免除设置复杂的检测电路。
[0011]根据本发明的第一构想，提供一种触控面板的基板，包含:第一触控面板，具有多个第一驱动线及多个第一感应线；裁切区，环绕该第一触控面板；第二触控面板，与该裁切区相接而与该第一触控面板相邻，且具有多个第二驱动线及多个第二感应线；及供测试探针接触的测试座，设置于该裁切区中，具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，其中该驱动电极组与该多个第一驱动线电性耦合且与该多个第二驱动线电性耦合、该第一感应电极组与该多个第一感应线电性耦合、及该第二感应电极组与该多个第二感应线电性I禹合。
[0012]本发明的又一目的在于提供一种触控基板，包含:触控基板本体，具有至少二触控面板及裁切区；以及测试座，位于该裁切区，用以同时测试该二触控面板。
[0013]本发明的另一目的在于提供一种测试座，包含:多个驱动电极；第一多个感应电极；以及第二多个感应电极，其中该测试座使用时，该多个驱动电极及该第一多个感应电极系电连接于第一面板，且该多个驱动电极及该第二多个感应电极系电连接于第二面板。
[0014]本发明的再一目的在于提供一种测试探针，包含:驱动探针组，具有多个导体驱动接点以传输多个检测讯号；第一感应探针组，具有多个第一导体感应接点以接收多个第一回馈讯号；第二感应探针组，具有多个第二导体感应接点以接收多个第二回馈讯号；其中，该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组设置为直线形排列。
【附图说明】
[0015]图1为习知将讯号输出/输入区块设计为兼具探针接触区的技术方案；
[0016]图2为另一种习知的触控面板；
[0017]图3为本发明提出的触控面板之一实施方式的示意图；
[0018]图4为图3中触控面板303a、303b与测试座305a的布线示意图；以及
[0019]图5为本发明提出的检测探针之一实施方式的示意图
【具体实施方式】
[0020]图3所示为本发明提出的触控面板之一实施例，一块大基板302上设置有裁切区309及多个对旋转对称的触控面板303a、303b，该对面板各具有一组讯号输出/输入区块304a、304b，由于不兼作探针接触区，本发明的组讯号输出/输入区块可在应用范围内尽可能缩小面积，以提高触控面板的可利用面积，讯号输出/输入区块304a中较佳依次排列了触控面板303a的各驱动线及各感应线，各驱动线及各感应线依次拉线至测试座305a，讯号输出/输入区块304b中依次排列了触控面板303b的各驱动线及各感应线，各驱动线及各感应线依次拉线至测试座305a。
[0021]如图4所示，放大观测测试座305a、触控面板303a及触控面板303b，则可见触控面板303a的各驱动线408A、408B及408C，由远而近依序拉线至驱动电极，由左到右分别为驱动电极308A、驱动电极308B、驱动电极308C，各感应线则由左到右依序拉线，至感应电极，由左到右分别为感应电极308a、感应电极308b、感应电极308c，触控面板303a的各驱动线及感应线便以此线性次序与各驱动电极及感应电极耦合；同理，触控面板303b的各驱动线依序拉至驱动电极306A、306B、306C、各感应线则依序拉至感应电极306a、306b、306c，由于触控面板303a及触控面板303b成旋转对称，触控面板303b