品质评价方法、信息记录介质、光盘装置和记录再现系统的制作方法

品质评价方法、信息记录介质、光盘装置和记录再现系统的制作方法【专利摘要】本发明提供品质评价方法、信息记录介质、光盘装置和记录再现系统。当在光盘上记录数据并长期保存时，需要定期地对所记录的数据的品质是否产生经时劣化进行评价。根据评价结果，在信号品质比规定的标准差的情况下，需要进行将数据转移至新光盘的操作。但是，在进行定期检查时，在光盘数量庞大的情况下，对光盘上的所有记录数据进行评价需要大量的时间。本发明中，在将用户数据记录到光盘上时，在光盘的规定的区域记录寿命比用户数据的基准寿命短的特定图案的信号，按规定的时间间隔对特定图案信号进行再现，根据其信号品质的评价结果，决定对用户数据的处理。【专利说明】品质评价方法、信息记录介质、光盘装置和记录再现系统【
技术领域：
】[0001]本发明涉及通过对光信息记录介质照射光而再现信息的光信息再现装置的品质评价方法、光盘装置、记录再现系统和适用于进行该品质评价的信息记录介质。【
背景技术：
】[0002]当前，作为光信息记录介质的光盘，CD(compactDisc:高密度光盘)、DVD(DigitalVersatileDisc:数字多功能光盘)、BD(Blu-rayDisc:蓝光光盘)、BDXL?等已实现商品化并得到广泛普及。在这些光盘介质中存在作为只读型的ROM(ReadOnlyMemory)型光盘、作为可记录型的R(Recordable)型光盘、作为可擦写型的RE(Rewritable)型光盘等各种各样的种类。[0003]光盘中信息的记录再现通过对光盘介质照射激光来进行。信息的记录通过利用激光的热而形成记录膜材料的状态发生了变化的区域来进行。该状态发生了变化的区域被称为标记(mark)，未使状态发生变化的区域被称为空白区(space，空区)。利用这些标记与空白区的组合在记录层记录信号。为了实现这样的记录，光盘介质的记录膜使用相变化材料、有机色素、无机材料等形成的合金和氧化物等。在信息的再现时，对记录有信号的记录层照射功率比记录时低的激光，根据标记与空白区的反射光量的不同而读取记录信号。[0004]因为光盘是介质可更换的存储器，所以光盘介质与光盘装置的组合会频繁地变化。因此，光盘装置会根据当前的组合相应地进行记录再现的调整。例如，在记录时根据介质相应地调整记录功率和记录中使用的发光波形。此外，为了使记录再现时的光斑为最佳的状态，还进行物镜、准直透镜、透镜倾斜等的调整。[0005]在光盘领域，为了实施这些调整，人们提出了对再现信号品质进行评价的各种指标。作为常用的指标，有SER(SymbolErrorRate:误符号率)、BER(ByteErrorRate:误字节率)、bER(bitErrorRate:误比特率)等，它们是在光通信领域也使用的译码结果中Symbol(符号,码元)、Byte(字节)、bit(比特)的错误率。此外,还存在抖动(Jitter)等作为对信号的相对于再现时钟的时间波动(摇摆)量进行评价的指标。除上述常用的指标之外，人们还提出了大量的基于光盘的再现信号处理系统的评价指标。对于BD，在非专利文献I中公开了LimitEqualizerJitter(限幅均衡器抖动),在非专利文献2中公开了SAM(Sequencedamplitudemargin:序列振巾畐余量)。LimitEqualizerJitter是利用在再现信号处理中使用的LimitEqualizer(限幅均衡器)对再现信号进行处理而得到的结果中的Jitter。SAM是对BD应用PRML(PartialResponseMaximumLikelihood:局部响应最大似然)的再现信号处理的情况下，根据目标信号波形和错误信号波形对再现信号波形的错误难度(误码难度)进行评价的指标。此外，对于BDXL?，在专利文献I中公开了1-MLSE(integrated-MaximumLikelihoodSequenceErrorEstimation:集成最大似然序列误差估计)，在专利文献2中公开了L-SEAT(run-1ength-LimitedSequenceErrorforAdaptiveTarget:自适应目标的游程长度受限序列误差)。1-MLSE、L_SEAT是PRML的再现信号处理中的、使用标准偏差将再现信号波形相对于目标信号波形的误差量的分布定量化而得到的指标。在光盘中使用这些指标对再现信号品质进行评价，实施记录再现时的调整。[0006]此处，当在光盘上记录数据并长期保存时，需要定期地对整个光盘(即光盘整个面)进行评价以确认所记录的数据的品质是否发生了经时劣化。根据评价结果，在信号品质比规定的标准差的情况下，需要进行将数据转移至新光盘等的操作。[0007]现有技术文献[0008]专利文献[0009]专利文献1:US2010/0002556号公报[0010]专利文献2:US2010/0260025号公报[0011]非专利文献[0012]非专利文献IJapaneseJournalofAppliedPhysicsVol.39,2000,pp.819-823[0013]非专利文献2!JapaneseJournalofAppliedPhysicsVol.45，N0.2B，2006，pp.1061-1065【
发明内容】[0014]发明所要解决的技术问题[0015]目前为止，人们并未研究过定期地对整个光盘进行评价的方法。品质评价还能够通过对光盘整个面上的已记录数据进行再现评价来确认品质下降的程度。但是，在对光盘介质进行定期检查时，在光盘的数量庞大的情况下，对光盘的所有记录数据进行评价需要大量的时间，并不现实。[0016]解决技术问题的技术手段[0017]针对上述问题，本发明提出，对在光盘的规定区域记录有寿命比用户数据的基准寿命短的特定图案的信号的介质，按规定的时间间隔再现特定图案信号，根据其信号品质的评价结果决定对用户数据的处理。具体而言，通过推定用户数据的品质劣化量和寿命，决定将用户数据转移至新光盘的时期。由此，不需要对整个光盘进行评价，所以能够大幅减少评价时间。[0018]上述特定图案的信号为与用户数据的基准寿命相比更早到达寿命的信号即可，例如为改变信号的不对称度、β值、记录功率而使信号电平阶梯性地变化而得到的信号，或刚结束记录时的信号品质同等但改变记录波形和记录功率而使信号调制度阶梯性地变化而得到的信号。[0019]作为具体的装置结构，包括对上述光盘记录和再现数据的记录再现部，与对所再现的数据的品质进行评价的品质评价部，上述记录再现部在将用户数据记录到上述光盘时，在该光盘的规定的区域例如记录刚结束记录时的信号品质同等、主要是信号调制度不同的特定图案的信号，上述记录再现部在经过了规定的时间后的时刻，对记录在上述区域的上述特定图案的信号进行再现，上述品质评价部根据所再现的特定图案的信号的品质的评价结果推定上述用户数据的品质劣化。[0020]发明效果[0021]根据上述发明，不需要对整个光盘进行评价，因此能够大幅减少评价时间。【专利附图】【附图说明】[0022]图1是表示针对记录波形A、记录波形B和记录波形C的记录信号，通过恒温槽加速试验测定1-MLSE的经时变化而得到的结果之一例的图。[0023]图2是表示本发明实施例涉及的光归档装置的整体结构之一例的框图。[0024]图3是表示本发明实施例涉及的光归档装置的主要部分结构之一例的框图。[0025]图4是表示本发明实施例涉及的光归档装置的控制部的主要部分结构之一例的框图。[0026]图5是说明本发明实施例涉及的记录信号品质的评价方法的图。[0027]图6是表示通过本发明的记录信号评价方法中使用的特定图案来改变信号调制度的情况之示例的图。[0028]图7是表示用于决定在发生用户数据的消失之前将数据转移至新光盘的方法的、记录信号的品质评价方法的步骤之一例的流程图。[0029]图8是表示本发明实施例涉及的光盘的结构之一例的图。[0030]图9是表示本发明实施例涉及的光盘的DI(DiscInformation:盘信息)中所含的信息之一例的图。[0031]图10是表示记录波形A?G和记录波形A’?E’的记录信号的调制度、初始β和寿命的计算结果之一例的图。[0032]图11是表示根据特定图案信号的劣化量推定用户数据的劣化量，并且对经过时间与SER的对数值的关系进行线性近似，进行推荐记录波形的寿命推定之一例的图。[0033]图12是表示决定特定图案信号并在光盘上进行记录的方法的步骤之一例的流程图。[0034]图13是表示针对考虑了介质灵敏度差异和记录功率偏差的推荐记录波形C，通过恒温槽加速试验测定1-MLSE的经时变化而得到的结果之一例的图。[0035]图14是表示针对记录波形A、记录波形B、记录波形C和记录波形D的记录信号，利用恒温槽加速试验测定1-MLSE的经时变化而得到的结果之一例的图。[0036]图15是用于决定在发生用户数据的消失之前将数据转移至新光盘的方法的、由光盘装置决定特定图案的记录波形并对记录信号的品质进行评价的方法的步骤之一例的流程图。[0037]图16是表示通过本发明的记录信号评价方法中使用的特定图案来改变初始β的情况之示例的图。[0038]图17是表示针对记录波形Α’、记录波形B’和记录波形C’的记录信号，通过恒温槽加速试验测定1-MLSE的经时变化而得到的结果之一例的图。[0039]图18是表示针对记录波形A、记录波形B、记录波形C、记录波形D的记录信号,通过再现光加速试验测定1-MLSE的变化而得到的结果之一例的图。[0040]图19是表示针对存档用途的介质，用于决定介质的排序方法的、介质的排序方法的步骤之一例的流程图。[0041]图20是表示针对记录在介质A?介质D上的信号，通过再现光加速试验测定1-MLSE的变化而得到的结果之一例的图。[0042]图21是表示用于提供适合于各用户的光盘保管环境的记录波形的存储器管理方法的步骤之一例的流程图。[0043]附图标记说明[0044]O:光归档装置[0045]1:光盘装置[0046]2:基准光盘装置[0047]3:光盘容纳部[0048]4:基准光盘[0049]5:数据取得部[0050]6:温度计[0051]7:湿度计[0052]10:盘搬送容纳部[0053]11:盘容纳部[0054]12:光盘[0055]13:盘安装部[0056]14:盘搬送控制器[0057]20:驱动部[0058]21:主轴电动机[0059]22:激光[0060]23:光拾取部[0061]24:LD驱动部[0062]25:编码器[0063]26:信号处理部[0064]27:译码器[0065]28:驱动控制部[0066]30:个人计算机(PC)部[0067]31:显示部[0068]32:主计算机[0069]33:定期检查的时刻控制部【具体实施方式】[0070](实施例1)[0071]首先，为了确认因记录波形的不同而引起的信号劣化速度的不同，在BDXL?标准的光盘上，制作刚记录之后(刚结束记录时)的1-MLSE为相同程度的三种记录波形。记录波形A(WriteStrategy(记录策略)-A:WS_A)、记录波形B(WS-B)和记录波形C(WS-C)主要是调制度不同，分别为45%、50%、55%。此处WS-C为推荐记录波形，用户数据也使用该记录波形记录。对使用这些记录波形记录的信号实施恒温槽加速试验测定劣化速度，其结果表示于图1。恒温槽加速试验是在短时间内重现经时劣化的试验方法，是一种在温度和/或湿度比推荐保管条件高的环境下保管光盘，促进记录膜材料的化学变化和基板的机械变化的方法。从图1可知，刚结束记录时(即刚记录后)的三个信号品质同等，其中劣化速度对于WS-A的记录信号最快，WS-B次之。以推荐记录波形记录的信号(WS-C)是三个记录信号中劣化速度最慢的。此处，WS-A和WS-B的记录信号的品质劣化速度，分别为记录波形C的记录信号的约1.6、1.1倍。根据以上的结果，能够使用WS-A和WS-B令记录信号为特定图案信号，根据该特定图案的信号的劣化量在短时间内推定用户数据的劣化量，并且能够推定用户数据的寿命。因为寿命得到明确，所以能够缩短对所有用户数据的信号品质进行评价的期间、缩短信号品质的定期检查的时间等，因此能够减轻系统的负担，且能够在发生数据的消失之前将数据转移至新介质。[0072]接着，对本发明的记录信号的评价中使用的光盘装置进行说明。图2、图3分别表示本发明实施例中使用的光归档装置的整体和主要结构。[0073]本实施例的光盘归档装置O作为信号的记录再现装置需要多台光盘装置I和作为基准的光盘装置2。该基准光盘装置的作用在于对已记录光盘的记录性能是否满足规格等进行评价。作为记录介质，使用在盒内叠层收纳有多个光盘的结构的光盘3。此外，在多个光盘中同样也收纳有基准盘4。基准盘用于对光盘装置的再现性能进行评价等用途。光盘例如使用能够进行大容量记录的BDXL?。当然，也可以为其它种类的盘(BD和DVD、CD等)，还能够将盘一张张地作为单个盘处理。装置的结构包括盘搬送容纳部10、驱动部20、个人计算机(PC)部30。在盘搬送容纳部10中，多个光盘介质被容纳于盘容纳部11。盘安装部13安装从收纳在盘容纳部11的盘中被指示的光盘12。在盘被双面记录的情况下，还要进行盘翻转操作。在盘搬送控制器14中控制盘安装部13，选择要安装的盘。[0074]盘驱动部20对安装的光盘12进行数据的记录再现。并且，从盘12再现已记录的数据，对其品质进行评价。作为光归档装置的主要部分结构，驱动部20的主要结构包括主轴电动机21、光拾取部23、LD驱动部24、编码器25、信号处理部26、译码器27、驱动控制部28。主轴电动机21以CLV(ConstantLinearVelocity:恒定线速度)或CAV(ConstantAngularVelocity:恒定角速度)的方式控制光盘12。光拾取部23与光盘12相对地设置，通过从激光二极管(LD)出射记录功率的激光22而在光盘12上记录信号，并通过从LD出射再现功率的激光22而读取所记录的信号。进一步，在光盘12可擦写的情况下，从LD出射擦除功率(再现功率<擦除功率<记录功率)的激光22，将所记录的信号擦除。[0075]在记录信号的情况下，记录数据由编码器27编码，被供给至LD驱动部24。LD驱动部24根据已编码的记录波形决定驱动信号，供给到光拾取部23内的LD而记录信号。LD驱动部24中的记录功率值由来自驱动控制部28的控制信号决定。驱动控制部28在记录信号之前，在光盘12的试写区域上使用多种记录功率进行试写，根据该试写的信号决定最佳的记录功率。并且，使用多种记录波形进行试写，根据该试写的信号决定最佳的记录波形，在盘上记录要保存的用户数据的信号。此时，还生成用于记录信号评价的特定图案的信号。[0076]另一方面，在数据再现时，从光拾取部23输出的再现信号被供给至信号处理部26。信号处理部26具有RF放大器和均衡器、二进制化部、PLL部等，利用它们对再现信号进行处理，供给至译码器27。在译码器27，根据已二进制化的再现信号和由PLL部再现的同步时钟将信号译码，作为再现数据输出。在信号处理部26，还进行SER、BER、bER、Jitter、LimitEqualizerJitter、1-MLSE、L-SEAT等再现信号品质的计算。此外,信号处理部26不仅取得用户数据，而且还从特定图案的信号取得测试数据。在信号处理部26得到的处理结果的再现信号、再现信号品质指标值，还被供给至驱动控制部28用于评价再现信号。驱动控制部28控制驱动部20内的各部位的动作，进行记录动作与再现动作的切换和用户数据与特定图案的信号的切换。此外，来自光拾取部23的再现信号也被供给至驱动控制部28，进行再现信号的上部包络线、下部包络线的测量和信号振幅测量等，根据这些数值进行信号品质评价等。进一步，在驱动控制部28，还生成记录再现时的聚焦伺服用信号、跟踪控制用信号、主轴电动机控制用信号、LD驱动控制用信号等。光拾取器和主轴电动机根据这些信号而被控制，但关于这些由于与现有技术相同所以省略其说明。[0077]驱动控制部28具体由CPU和存储器(ROM、RAM)等构成，通过它们的组合实现各种功能。例如具有这样的功能，即，根据再现信号计算特定图案的信号品质，基于计算结果推定用户数据的寿命，决定向新介质转移数据的时期。图4表示图3中的驱动控制部28的功能块。驱动控制部28具有加速试验处理部、再现信号品质评价部、用户数据信号生成部、特定图案信号生成部、存储部。加速试验处理部的功能为，取得再现速度、再现功率、高频叠加、加速试验时间等加速试验条件，并从再现信号计算各种指标(反射率、调制度、抖动(jitter)、不对称度、β等)，其中所取得的信息被存储在存储部中。此外，根据从存储部读出的信息，进行加速试验的开始/结束、加速试验条件的变更等。加速试验的条件按光盘12的每个种类(SL和DL、TL、QL等)，按照各个再现速度而不同，因此它们与光盘12的种类相应地变更。在再现信号品质评价部，根据再现信号和从RF信号处理部取得的信息，实施记录信号的品质评价。进行品质评价而得到的值随时被存储在存储部。此外，作为信号品质评价值输出测定值或经时变化量。用户数据信号生成部根据从存储部取得的用户数据的信息进行记录波形的调整和最佳记录波形的决定，作为功率控制信号输出，供给至LD驱动部24。特定图案信号生成部根据从存储部取得的用户数据和特定图案的信号的寿命比以及寿命分布，进行特定图案的信号的记录波形的决定，作为功率控制信号输出，供给至LD驱动部24。[0078]个人计算机(PC)部30与盘搬送容纳部10和盘驱动部20连接，对它们进行控制。主计算机32在与驱动部20之间进行在光盘12记录和从光盘12再现的用户数据的传送。此外，对从驱动部20发送的特定图案的信号进行品质评价。而且，根据评价结果进行用户数据的寿命推定。在保存数据时间到达推定时间的情况下，通过显示部31发出表示用户数据发生劣化的警告。定期检查的时刻(timing:时机，定时)控制部33选择要进行品质评价的光盘且决定其品质检查间隔，对盘搬送容纳部10进行指示。[0079]接着，说明使用上述的光盘装置对特定图案的信号品质定期进行评价，并根据其评价结果推定用户数据的劣化量和用户数据的寿命的信号评价方法。[0080]图5是说明本发明的光盘的记录品质评价方法的图。在现有的数据记录动作中在光盘12仅记录用户数据，但是在本实施例的记录品质评价方法中，在记录用户数据时记录与用户数据相比劣化更快的特定图案信号。图5(a)表示会在用户数据的基准寿命以前发生故障的记录信号——特定图案信号I和特定图案信号2。并且，特定图案信号I为与特定图案信号2相比对应力(stress)的灵敏度更高的记录信号。此处，基准寿命例如也可以设定为记录有用户数据的100个光盘中至少50个以上不发生数据消失的用户数据寿命分布的中间值。为了进一步提高可靠性，例如可为记录有用户数据的100个光盘中至少95个不发生数据消失的用户数据寿命分布的2σ的时间。更优选为记录有用户数据的100个光盘中至少99个不发生数据消失的用户数据寿命分布的3σ的时间。这样，基准寿命能够在图5(a)所示的基准寿命的范围内任意地确定。[0081]此处，由于特定图案是检测用户数据的劣化状况的信号，因此基本上与用户数据成组地进行记录。因此，特定图案的记录，优选在即将首次记录用户数据前至刚记录结束后之间的任意期间进行。这是因为，首次记录在盘上的用户数据被认为比之后追加记录的用户数据更早地发生劣化。因此，在首次记录用户数据时还记录特定图案，通过对所记录的特定图案进行评价，能够检测该介质内最易劣化的信号的劣化状况。[0082]另一方面，在追加记录用户数据时记录特定图案的情况下，因为追加记录时的特定图案比初始记录时的特定图案的寿命长，所以不适于对盘内的所有数据的保护，但是能够用于提高介质的劣化程度的评价精度。[0083]此外,在与上述情况的前提不同，介质的保藏性能(shelfcharacteristic,I&存性能)(未记录部分的记录特性发生经时劣化)较差的情况下，不知道初始时或追加记录时记录的用户数据的哪一方先到达寿命。在这种情况下，在每次记录各用户数据时记录特定图案，通过每次对全部的特定图案进行评价，从而能够保护所有的用户数据。[0084]此外，作为本实施例中的特定图案的信号，使用了刚结束记录时的信号品质与用户数据同等但记录信号电平不同的信号。在这种情况下，如图5(b)所示，与用户数据相t匕，特定图案的信号对应力的灵敏度更高，容易因经时劣化而发生再现错误，因此能够早期预测用户数据的品质劣化、明确寿命等。[0085]图6是表示记录品质评价方法中使用的特定图案的信号之示例的图。特定图案例如为随机信号图案，所记录的信号只要为能够测量随机信号的品质的长度即可，例如记录I个簇的量。此外，例如也可以记录邻接的5个轨道的量或其以上。在本实施例中记录I个簇的信号。本实施例中，记录波形C为推荐波形，使用该记录波形在光盘上记录用户数据。如图6所示，特定图案信号使用的是这样的信号，即，其是使信号调制度阶梯性地变化而得到的信号，通过对其记录波形进行调整，使得刚结束记录时的信号品质对于特定图案的信号和用户数据为相同程度。使用该记录波形在光盘的规定位置进行记录，并对该特定图案的信号进行再现评价。另外，记录信号A、B、C、D的识别例如也可以通过调制度的不同而进行。此外，例如也可以使用编码不同的信号。作为本实施例中使用的特定图案信号的记录方法，除了上述的使调制度阶梯性地变化并对记录波形进行调整以使刚结束记录时的信号品质同等的方法以外，还存在以使调制度保持为一定的方式对记录波形进行调整，使刚结束记录时的不对称度和β值变化的方法。利用该方法，对于具有记录标记尺寸随着经时劣化而变化之特征的光盘，能够高灵敏度地检测短标记与长标记的信号电平的均衡差的变化。详细情况在实施例4中说明。[0086]接着，对根据记录在光盘上的信息决定记录波形、在发生用户数据的消失之前将所有数据转移至新介质的方法进行说明。图7表示其步骤。首先，使用图8对所用的光盘的结构进行说明。光盘120具有用户数据区域121和管理区域122。在管理区域122，存在DI(DiscInformation:盘信息)124、缺陷管理信息125、试写区域126等区域，特别在DI124记录有该光盘固有的信息。该光盘120与实施例1中使用的光盘12相同，在DI124中，除了该光盘120的识别信息等之外，作为推荐记录波形和特定图案信号用的记录波形还记录有关于上述记录波形A、B、C、D的信息。图9表示DI124的详细的信息。光盘120的识别信息等主要存储在介质固有信息中，关于各特定图案的信号的记录波形的信息被作为记录波形设定用的参数值记录在记录功率信息和记录脉冲信息中。此外，还记录有关于该光盘的推荐波形和各特定图案的记录信号的寿命的信息(图10)。[0087]使用该光盘在光盘装置中实际进行记录波形、记录功率的决定。首先，在步骤S701中，光盘装置对光盘的管理区域进行再现，取得DI信息等。根据所取得的信息确认该光盘的类别和记录再现条件，将光盘装置调整至与该光盘适应的条件。此时，因为各记录信号的寿命和各特定图案相对于用户数据的劣化速度比是预先就明确的，所以不需要记录所有的特定图案，也可以从预先准备的记录波形中选择。例如在想要以短时间推定用户数据的劣化量和寿命的情况下，选择一个劣化最快的特定图案即可。此外，例如在想最大限度地减少(降低)评价时间的情况下，从多个特定图案记录波形中选择一个即可。进一步，例如在想要高精度地决定将用户数据转移至新介质的时期的情况下，选择至少两个以上的不同特定图案即可。接着，在步骤S702中，光盘装置基于所取得的信息决定并生成推荐记录波形和特定图案记录波形。此时，为了对光盘的灵敏度偏差和记录功率的偏离等进行修正，还存在光盘装置进行OPC等而调整记录波形的情况。在经过以上步骤，结束了记录波形的决定并进行记录的情况下，转移至步骤S703的记录动作。此处，记录的信号优选记录在品质最显著地劣化的区域，例如记录在外周侧。或者，在光盘的内周侧的区域劣化显著的情况下，也可以记录在盘的内周侧。当然，也可以记录在内周侧和外周侧双方。另外，例如在信号品质的劣化于整个盘面均匀地发生的情况下，也可以记录在用户数据区域。[0088]在步骤S704中，按规定的间隔对记录在规定的区域中的特定图案的信号进行再现，测定特定图案的信号品质。关于评价间隔，可以在对光盘进行再现时实施，但也存在若每次均实施则再现评价耗费时间的情况，以及在再现的间隔为数年等长时间的情况下，信号品质过分劣化导致数据消失的情况。因此，评价的时期也可以预先决定。例如在预先知道该用户数据的记录信号的寿命为100年的情况下，可以每隔10年进行检查。[0089]在步骤S705中，根据特定图案的劣化量和寿命到达时间(表示还有多长时间到寿命)推定用户数据的劣化量和寿命到达时间。根据其结果，在S706中，为了在发生用户数据的消失之前将数据转移至新光盘，决定对用户数据的处理方法。按照图7的步骤，实际实施了对用户数据的处理。作为在发生用户数据的消失之前将数据转移至新光盘的方法，根据特定图案的劣化量推定用户数据当时的劣化程度，推定寿命。根据其结果，决定对所有用户数据开始再现评价的时期和转移用户数据的时期。例如，在确认到保存了数据的介质发生了信号品质的经时劣化，为了防止数据消失，实施以下处理。[0090]以上述的光盘为对象，作为特定图案的记录波形使用上述的记录波形A、记录波形B、记录波形C和记录波形D记录特定图案信号A、B、C、D0在本实施例中，将数据的寿命设定为SER=4.2E-3(其中，E+n表示XIOn，下同)，在特定图案B这一与用户数据的基准寿命相比更早到达寿命的记录信号的信号品质到达SER=4.2E-3的情况下，开始所有的用户数据的再现评价，在用户数据中品质最差的信号到达SER=4.2E-3的情况下，将用户数据转移至新介质。由此，能够在发生用户数据的消失前将数据转移至新介质。此外，能够在经过时间比光盘的寿命短时不频繁地实施盘评价，而在实际时间接近寿命时高频度地开始用户数据的品质评价，因此能够大幅地减轻系统的负担。[0091]以上说明了从最接近用户数据的寿命的特定图案的信号到达寿命的时间(时刻)起对所有用户数据实施再现评价，根据其评价结果将用户数据转移至新介质的方法。但并不限定于此，还存在使用特定图案信号相对于用户数据的寿命比和劣化加速系数，根据特定图案的劣化量推定用户数据的寿命，在实际时间到达其推定寿命的时刻将用户数据转移至新介质的方法。使用该方法，对于因盘容纳部11的环境发生变化而引起的用户数据的寿命变化也能够随时应对。此处，在图11中表示实施恒温槽加速试验，根据特定图案信号的寿命和劣化量推定用户数据的寿命的结果之一例。本加速试验的温度与图1的情况相比设定得高，因此记录信号的劣化被加速。关于本实施例中的特定图案信号(WS-D)，以与信号品质的阈值(SER=4.2E-3)交叉的点为寿命。另一方面，关于未到达寿命的特定图案信号(WS-B)，对经过时间与SER的对数值的关系进行线性近似，将到达信号品质的阈值(SER=4.2E-3)的时间决定为寿命。例如，在以WS-D为基准的情况下，SER成为SER=4.2E-3是在IOOmin(分钟)时，因此乘以用于计算WS-C的寿命的规定的系数5,计算出500min。这成为以IOOmin为基准求得了500min，因此相当于+400%。此外，在以WS-B为基准的情况下，首先通过外插值，能够推定SER成为SER=4.2E-3是在425min。进而，乘以用于计算WS-C的寿命的规定的系数1.18，计算出502min。这相当于+18%。通过根据这些计算结果推定用户数据的寿命，能够确定光盘的可使用期间，能够在发生用户数据的消失之前将用户数据转移至新介质。实际上，在对所有用户数据实施再现评价后确认到，不存在到达寿命的用户数据。[0092]如上所述，根据本实施例，通过在将用户数据记录到数据区域时在试写区域或用户区域记录劣化快的特定图案的信号，能够以短时间推定用户数据的品质的经时劣化，并且能够明确用户数据的寿命，能够在发生数据的消失之前将数据转移至新介质。此外，因为不需要对所有用户数据进行评价，所以能够大幅减轻系统的负担。本实施例的方法适合于在将数据记录到光盘上之后将光盘长期保存的情况。[0093]以上步骤是本发明的信号品质的评价方法及其步骤，和具有光盘、光归档装置的系统的主要特征。[0094]在本实施例中，以BDXL?标准的光盘为例进行了说明，但很显然对BD、DVD、⑶的R型和RE型也能够执行。此外,本实施例中说明的内容-例如通过外插值来推定寿命的方法等，在以下的实施例中也同样能够应用。[0095](实施例2)[0096]本实施例说明用于决定在光盘上进行记录的记录波形的方法。对于未发生改变的部分，由于与实施例1相同，因此在本实施例中省略。[0097]在图12的步骤S1201中，首先准备多种记录波形，在光盘的规定的位置进行记录。不过，特定图案的记录区域并不仅限于上述的内周侧和外周侧的试写区域，也可以在用户数据区域进行记录。其结果是，能够应对光盘12的内周、中周(即内外周之间)、外周的信号品质的劣化速度和趋势的不同，能够合适地推定用户数据的经时劣化量和寿命。[0098]在S1202中，对记录信号进行再现，测定信号品质。接着在步骤S1203中，为了决定特定图案的信号，判定是否要使记录信号劣化，在使记录信号劣化的情况下，在步骤S1204中实施加速试验。在决定特定图案的信号时，为了计算上述记录在光盘12上的用户数据与特定图案的信号的寿命和/或劣化速度比，实施恒温槽加速试验。图13、14均为表示各记录信号的劣化特性的图。此处，本加速试验的温度与图1的情况相比设定得高，因此记录信号的劣化得到促进。图13表示考虑了该光盘的介质灵敏度差异和记录功率偏差的情况下的推荐记录波形C的记录波形的劣化特性。假定光盘的介质灵敏度差为10%左右，对推荐记录功率与该推荐记录功率±10%的记录信号的劣化特性进行比较。在使记录功率向变大方向变化的情况下，与记录功率100%相比，存在记录信号的寿命变短的趋势。由此可知，即使在以推荐波形进行记录的情况下，寿命也不是唯一确定的而是存在着分布。根据本加速试验的结果计算标准保管条件(25°C/60%RH)下的寿命(1-MLSE到达14%的时间)，可计算出各记录信号的实际寿命:Pw=100%时为120年，Pw=105%时为约110年，Pw=110%时为100年。其中，这里使记录功率增加并对劣化特性进行了比较，但在记录功率小的情况下认为也存在记录信号的寿命同样变短的趋势。对步骤S1204中实施了加速试验的记录信号测定信号品质，通过步骤S1203判定是否要继续进行加速试验。在反复进行了上述加速试验和记录信号的品质评价，判定为各记录信号充分劣化至能够计算出劣化速度和寿命的情况下，从步骤S1203转移至步骤S1205，根据各记录信号的寿命决定特定图案的信号。不过，记录信号评价并不仅限于寿命，还存在评价信号品质的劣化量随时间的变化的情况，和利用刚结束记录时的信号品质与信号品质的劣化速度的组合进行评价的情况。此处，步骤S1205中的对记录信号的劣化是否充分的判定，根据加速试验时间、记录信号的品质、调制度、标记尺寸、抖动、不对称度、β等是否到达规定的阈值或它们的增加量是否到达规定的阈值来进行。[0099]接着，在图14中表示对各记录波形的记录信号的劣化特性进行比较的结果。可知推荐记录波形C的记录信号在所有的记录信号中劣化速度最慢、寿命最长。其次为记录波形B。以下依次为记录波形Α、记录波形D。与之前的说明同样地，根据本加速试验的结果计算标准保管条件(25°C/60%RH)下的寿命(1-MLSE到达14%的时间)，可计算出各记录信号的实际寿命:记录波形C为约100年,记录波形B为约85年,记录波形A为60年,记录波形D为约20年。由此计算出各特定图案的信号的寿命比，按记录波形A:记录波形B:记录波形C:记录波形D计算出分别为12:17:20:4。根据以上的结果，将与用户数据的基准寿命相比寿命到达时间早的记录信号作为特定图案来选择。此时，与实施例1同样地，基准寿命例如也可以设定为寿命分布的中间值。为了进一步提高可靠性，例如可为记录有用户数据的100个光盘中至少95个不发生数据消失的用户数据寿命分布的2σ的时间。更优选为记录有用户数据的100个光盘中至少99个不发生数据消失的用户数据寿命分布的3σ的时间。在计算各特定图案的信号的寿命比时，作为加速试验的方法，除了上述的恒温槽加速试验以外还有再现光加速试验。再现光加速试验是通过比通常再现时高的再现功率持续再现记录信号，使记录膜暴露于高温来促进记录信号的经时劣化的加速试验方法。利用该方法，能够仅对光盘的记录膜有选择地进行加热，因此与恒温槽加速试验相比能够施加更高的应力，与恒温槽加速试验相比能够在短时间内重现记录信号的经时劣化。关于其详细情况，在实施例4中进行说明。[0100]关于按照图12的步骤，在步骤S1205中决定的各特定图案的信号的记录波形的信息，在光盘120的管理区域122中记录推荐记录波形和特定图案信号用的记录波形信息。关于各信号的记录波形的信息，作为记录波形设定用的参数值记录在记录功率信息和记录脉冲信息中。[0101]本实施例的方法对其它实施例也能够适用，在各实施例中能够得到同样的效果。[0102](实施例3)[0103]本实施例说明在光盘上未记录有记录波形的情况下光盘装置决定记录波形的方法。对于未发生改变的部分，由于与实施例1?实施例2相同,所以在本实施例中省略。[0104]实施例1中从光盘取得记录波形，但是在光盘上未记录有特定图案的记录波形的情况下，光盘装置可以按照图15决定记录波形。此时光盘装置可以与实施例2同样地决定记录波形。在这种情况下，如果光盘装置将所生成的记录波形记录在光盘上或存储在光盘装置中，则能够在下一次进行该光盘的记录时按照本实施例的步骤，在发生数据的消失之前将数据转移至新光盘。此外，在光盘装置存储了特定图案的记录波形的情况下，使用从光盘装置读出的记录波形即可。[0105]本实施例的方法对其它实施例也能够适用，在各实施例能够得到相同的效果。[0106](实施例4)[0107]本实施例说明对实施例1的特定图案的信号改变记录条件的情况。对于未发生改变的部分，由于与实施例1?实施例3相同，所以在本实施例中省略。[0108]图16是表示在记录品质评价方法中使用的特定图案的信号之示例的图。图5中的记录在光盘的规定位置上的与用户数据相比寿命到达时间早的特定图案的信号，不仅限于刚结束记录时的信号品质相同但调制度不同的记录信号，例如也可以为使刚结束记录时的不对称度和/或β值变化而得到的信号。在该方法中，将各记录波形的刚结束记录时的信号的调制度保持为一定，仅使不对称度和β值变化。例如，在本实施例中，使β值按3%的单位变化。在这种情况下，刚结束记录时的最长标记长度的标记尺寸对于所有的记录波形均同等，因此认为对于具有记录标记尺寸随着经时劣化而变化的特征的光盘，能够高灵敏度地检测短标记与长标记的信号电平的均衡差的变化。[0109]与实施例2同样地，在决定特定图案的信号时，为了计算上述的记录在光盘12上的用户数据与特定图案的信号的寿命和劣化速度比，实施恒温槽加速试验。[0110]图17表示对各记录波形的记录信号的劣化特性进行比较的结果。可知推荐记录波形C的记录信号在所有的记录信号中劣化速度最慢、寿命最长。其次为记录波形B。接着为记录波形Α。与实施例2同样地，根据本加速试验的结果计算标准保管条件(25°C/60%RH)下的寿命(1-MLSE到达14%的时间)，可计算出各记录信号的实际寿命:记录波形C为约100年，记录波形B为约75年，记录波形A为50年。接着，根据各特定图案的信号的寿命计算寿命比。在本实施例的情况下，计算出记录波形A:记录波形B:记录波形C为2:3:4。此处计算了寿命比，但也可以计算相对于用户数据的加速系数。根据以上的结果，特定图案的信号的决定方法例如选择与用户数据的基准寿命相比寿命到达时间早的特定图案。此处，与其它实施例同样地，基准寿命例如也可以设定为寿命分布的中间值。为了进一步提高可靠性，例如可为记录有用户数据的100个光盘中至少95个不发生数据消失的用户数据寿命分布的2σ的时间。更优选为记录有用户数据的100个光盘中至少99个不发生数据消失的用户数据寿命分布的3σ的时间。[0111]通过使用这样决定的特定图案的信号，与实施例1同样地按照图7的步骤实施，能够在短时间内推定用户数据的品质的经时劣化，并且能够明确用户数据的寿命，能够在发生数据的消失之前将数据转移至新介质。本实施例的方法适合于在将数据记录到光盘上之后将光盘长期保存的情况。[0112]本实施例的方法对其它实施例也能够适用，在各实施例能够得到相同的效果。[0113](实施例5)[0114]本实施例说明在实施例2中决定特定图案的信号时改变加速试验方法的情况。对于未发生改变的部分，由于与实施例1~实施例4相同,所以在本实施例中省略。[0115]加速试验的方法不仅限于恒温槽加速试验，例如也可以使用利用再现光的再现光加速试验。再现光加速试验是使用与通常再现时相比更高的再现功率持续地再现信号而使记录信号劣化的方法。该方法与恒温槽加速试验不同，由于仅直接对记录膜进行加热，所以能够以高于恒温槽加速的温度进行加速试验。因此，与恒温槽加速试验相比是能够在短时间内使记录信号劣化的方法。[0116]在再现光加速试验中，所使用的再现功率Pr按照规定的条件设定。例如，读取存储在光盘装置中的该光盘的再现功率Pr(I)或按标准确定的推荐再现功率Pr(2)，将再现功率设定得比Pr(I)和Pr(2)高。或者，读取记录在光盘上的再现功率Pr(3)，将再现功率设定得比Pr(3)更高。此处，在再现时存在使激光器DC发光的情况和施加高频叠加使激光器发光的情况。在施加高频叠加使激光器发光的情况下，存在与DC发光相比能够以短时间使记录信号劣化的情况。由于再现功率设定得越高记录信号的劣化越被促进，所以加速试验的时间越能缩短。但是，在设定得过高的情况下，存在记录膜的劣化模式不同、或者使记录膜以外的材料劣化等情况。因此，再现光加速试验中使用的再现功率需要设定在与恒温槽加速试验中的劣化模式没有不同的范围内。对本实施例中使用的光盘,事先以再现速度2x、再现功率2.0mff实施再现光加速试验，其结果观测到在恒温槽加速试验中未发生的基板的劣化。另一方面，以再现速度2x、再现功率1.7mff实施再现光加速试验，其结果未产生与通常劣化不同的劣化，能够确认到与恒温槽加速试验同样的记录信号的劣化。因此，本实施例中将再现速度2x、再现功率1.7mff设定为再现光加速试验的加速条件。此处，如果在所设定的加速条件下劣化过早或过迟发生时，则对加速条件进行变更即可。[0117]图12的步骤S1204中的再现光加速试验的时间，例如通过规定的再现次数和/或再现时间进行管理。在本实施例中，以再现时间进行管理，各加速试验为约5分钟(换算为再现次数则为约830次)。此外，步骤S1203中的加速试验的继续与否，例如根据再现信号的边缘波动量、信号品质、L-SEATjitter、L_SEAT位移(shift)、β^Asymmetry(不对称度)等是否达到规定的值、或是否达到规定的变化量来判定。在本实施例中，以1-MLSE的变化量是否达到5%来进行判定。[0118]按照实施例2的光盘的图12的步骤，实际在步骤S1204中实施再现光加速试验。作为再现光加速试验导致的记录信号的劣化的一个例子，在图18中表示记录波形A、记录波形B和记录波形D的记录信号的1-MLSE的变化。在再现光加速试验的累计时间对于记录波形D的记录信号到达20分钟、记录波形A的记录信号到达75分钟、记录波形B的记录信号到达85分钟的时刻，由于1-MLSE到达14.0%，因此判断为加速试验结束。在对所有的记录波形的记录信号结束加速试验之后，在步骤S1205中，由于图18的记录波形A、记录波形B、记录波形D的记录信号与考虑了介质灵敏度不均的记录波形C的记录信号相比寿命短，所以将记录波形A、记录波形B、记录波形D的记录信号决定为特定图案的信号。[0119]该结果与实施例1相同，因此确认到通过使用再现光加速试验也能够决定适当地抑制记录信号的劣化的记录波形。将这样选择的特定图案记录在光盘的规定的位置，按规定的时间间隔进行再现评价，根据其评价结果决定对用户数据的处理方法。作为处理方法，能够根据特定图案的劣化量推定用户数据的当时的劣化程度、明确寿命等。其结果是，能够决定对所有用户数据的再现评价开始时期，决定用户数据移动时期等，因此能够在发生数据的消失之前将数据转移至新介质。[0120]本实施例的方法对其它实施例也能够适用，在各实施例能够得到相同的效果。[0121](实施例6)[0122]本实施例说明对实施例1的图3中的容纳在盘容纳部11的光盘介质实施排序方法的情况。对于未发生改变的部分，由于与实施例1?实施例5相同,所以在本实施例中省略。[0123]本实施例将要说明的是，使用与用户数据的记录信号相比对应力的灵敏度高的特定图案的记录信号，在经过时间远比寿命短的时刻对记录了用户数据的光盘的品质进行排序的结果。[0124]在本实施例中与其它实施例同样地，也在记录用户数据时记录与用户数据相比劣化快的特定图案的信号。例如，特定图案的信号是在图5的用户数据的寿命分布的基准寿命以前到达寿命的记录信号。此处，基准寿命也可以如上述那样设定为寿命分布的中间值，但是在本实施例中，因为要求对应力的高灵敏度，所以优选将用户数据寿命分布的3σ的时间作为基准寿命。对于特定图案信号，准备调整了记录波形和记录功率，记录信号电平不同的信号。[0125]图19表示上述排序的步骤。在图19的步骤S1901中，首先准备多种记录波形，使用各记录波形记录规定的信号。在S1902中将所记录的信号再现，根据再现信号测定信号品质。接着，在步骤S1903中，为了决定特定图案的信号，判定是否要使记录信号劣化，在使记录信号劣化的情况下实施加速试验(步骤S1904)。对步骤S1904中实施了加速试验的记录信号测定信号品质，通过步骤S1903判定是否要继续进行加速试验。在反复进行了上述加速试验和记录信号的品质评价，判定为各记录信号充分劣化至能够计算出寿命或与用户数据的劣化速度比的情况下，从步骤S1903转移至步骤S1905，根据各记录信号的寿命决定特定图案的信号。不过，记录信号评价并不仅限于寿命，还存在评价信号品质的劣化量的增大速度的情况，和利用刚结束记录时的信号品质与信号品质的劣化速度的组合进行评价的情况。此处，步骤S1905中的对记录信号的劣化是否充分的判定，根据加速试验时间、记录信号的品质、反射率、调制度、标记尺寸、抖动、不对称度、β等是否到达规定的阈值或它们的增加量是否到达规定的阈值来进行。按照图19的步骤，将在步骤S1905中决定的特定图案的信号记录在盘上的规定的位置。不过，进行记录的规定的区域并不限定于内周侧和/或外周侧、外周的试写区域，也可以为数据区域。在步骤S1906中，按规定的间隔对记录在规定的区域的特定图案的信号进行再现，测定特定图案的信号的品质。例如在预先已知用户数据的寿命为平均100年的情况下，每隔10年进行检查即可。[0126]在步骤S1907中，为了进行介质间的品质比较，判定是否要更换评价介质，在更换的情况下，从图3的个人计算机(PC)部的定期检查的时刻控制部33向盘搬送容纳部10的盘搬送控制器14发送控制信号，将安装在盘安装部13的光盘12搬送至盘容纳部11，将已有指示的光盘从盘容纳部11取出，安装到盘安装部13。安装之后，与之前的光盘同样地对信号品质进行评价。评价结果存储在驱动部20的驱动控制部28的存储部中。反复进行上述光盘的更换和信号评价，在完成了所有用户预先设定的个数的盘评价和归档装置内容纳的光盘的评价的情况下，从步骤S1906转移至步骤S1908，根据存储在驱动控制部28中的评价结果，按排序级别挑选容纳在容纳部11的光盘。[0127]按照图19的顺序实际实施了记录有用户数据的光盘的排序。为了使用记录波形D比较介质间的劣化速度，实施了恒温槽加速试验。作为介质间的记录信号的劣化之一例，在图20中表示了记录波形D的记录信号的1-MLSE的变化。根据评价结果，介质A、介质B、介质C、介质D中寿命最长的是介质D。其次为介质A。以下依次为介质C、介质B。由此可知，对于相同的应力，由于介质的不同而劣化速度不同。通过根据该评价结果对介质进行排序，能够调整定期检查的频度，能够减轻整个系统的负担。例如，对于品质最好的介质D,定期检查期间能够比介质B长。[0128]此外，对于已排序的光盘，作为在发生数据的消失之前将数据转移至新光盘的方法，根据特定图案的劣化量推定用户数据当时的劣化程度，推定寿命。根据其结果，决定对所有用户数据开始再现评价的时期和转移用户数据的时期。例如，在确认到保存了数据的介质发生了信号品质的经时劣化，为了防止数据消失，实施以下处理。[0129]本实施例的方法对其它实施例也能够适用，在各实施例能够得到相同的效果。[0130](实施例7)[0131]本实施例说明用于提供适合于用户的光盘保管条件的记录波形的方法。对于未发生改变的部分，由于与实施例1?实施例6相同,所以在本实施例中省略。[0132]本实施例将要说明的是，使用图2的光归档装置中的基准盘和基准光盘装置，取得关于用户的保管环境下的光盘的劣化速度、寿命的信息，对将来的顾客提供适合于光盘的保管环境的记录波形的方法。[0133]图21表示用于提供适合于用户的光盘保管条件的记录波形的方法的步骤。首先，在步骤S2101中，使用设置在光归档装置内的基准光盘装置，在规定的时刻对基准光盘上的劣化速度快的特定图案的记录信号进行再现，评价记录信号品质。关于其评价时刻，用户可以适当地执行，也能够由装置自动地执行。在步骤S2102中，将与已经评价的基准盘的记录信号品质相关的信息与通过温度计6、湿度计7测量到的与保管环境相关的信息一起从数据取得部取得。根据该取得的数据，研究记录信号的劣化速度、寿命和保存环境的相关性。根据研究结果，能够决定适合于各保管环境的记录波形，在步骤S2103中能够提供与用户的光盘保管环境适应的记录波形。例如在记录时的湿度和/或温度比推荐条件高的情况下，作为一个例子列举将峰值功率降低数个％等应对策略。[0134]根据以上说明，除了与实施例1同样的效果之外，还能够选择与各个用户的保管状况相应的最佳记录波形，因此，作为结果具有能够使寿命变长的效果。【权利要求】1.一种品质评价方法，其特征在于，包括:通过照射光来对记录在记录介质上的寿命比用户数据的基准寿命短的特定图案进行再现的步骤；对所述再现的特定图案的信号进行品质评价的步骤；和根据所述品质评价的结果决定对所述用户数据的处理的步骤。2.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:所述特定图案，是与所述用户数据的记录波形相比，利用不对称度、β值、记录功率和调制度中的至少任一个不同的记录波形记录的图案。3.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于，还包括:在至少首次在所述记录介质上记录所述用户数据的即将记录前至刚记录后之间的任意期间，在所述记录介质的至少内周侧和外周侧中的任一方记录所述特定图案的步骤。4.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:决定对所述用户数据的处理的步骤，是在所述特定图案的信号到达寿命时对所述用户数据实施再现评价的步骤。5.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:所述进行品质评价的步骤包括:通过对进行所述品质评价而得到的时间与品质评价的指标的关系式进行外插值，推定关于所述特定图案的寿命的步骤。6.如权利要求5所述的品质评价方法，其特征在于:还包括根据关于所述特定图案的寿命推定所述用户数据的寿命的步骤。7.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:对所述用户数据的处理包括将所述用户数据记录到与所述记录介质不同的新介质上的步骤。8.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:所述特定图案是利用预先通过加速试验而决定的记录波形记录的。9.如权利要求8所述的品质评价方法，其特征在于:所述加速试验是恒温槽加速试验或再现光加速试验。10.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:在所述进行再现的步骤之前包括记录所述特定图案的步骤，对于光盘装置中预先准备的多个记录波形中的各个波形，根据进行测量而得到的劣化速度和寿命中的至少一方，决定用于记录所述特定图案的记录波形，使用所述决定的所述记录波形记录所述特定图案。11.如权利要求1所述的品质评价方法，其特征在于:根据所述品质评价的结果，对多个所述记录介质的品质进行排序。12.一种信息记录介质，用于根据照射光而得到的再现信号评价信号品质，其特征在于，包括:记录用户数据的用户数据记录部；和管理区域，记录有用于记录寿命比所述用户数据的基准寿命短的特定图案的记录波形的信息。13.一种光盘装置，其特征在于，包括:包括对记录介质照射来自光源的光的光学系统的光拾取部；生成用于在所述记录介质上记录用户数据的、所述光的照射的记录波形的单元；对来自所述光拾取部的再现信号进行信号处理的信号处理部；和决定寿命比所述用户数据的基准寿命短的特定图案的记录波形的特定图案信号生成部。14.如权利要求13所述的光盘装置，其特征在于:所述光盘装置还包括用于通过加速试验进行再现信号的评价的加速试验处理部，所述特定图案信号生成部根据所述加速试验处理部的处理结果决定所述特定图案的记录波形。15.一种记录再现系统，其特征在于，包括:记录有寿命比用户数据的基准寿命短的特定图案的记录介质；包括用于对所述记录介质照射来自光源的光的光学系统的光拾取部；生成用于记录所述用户数据的所述光的照射的记录波形的单元；对从所述光拾取部输出的再现信号进行品质评价的品质评价部；和指示进行所述品质评价的时刻的时刻控制部。16.如权利要求15所述的记录再现系统，其特征在于:所述记录再现系统还包括:测量所述记录再现系统的保管环境的单元；和根据所述测量的结果决定所述记录波形的单元。【文档编号】G11B20/10GK103971710SQ201410042437【公开日】2014年8月6日申请日期:2014年1月28日优先权日:2013年1月30日【发明者】森本义谦,江藤宗一郎,渡边康一申请人:日立民用电子株式会社,日立乐金资料储存股份有限公司