移位寄存器、其修复方法、栅极集成驱动电路及相应装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种移位寄存器、其修复方法、栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置。
【背景技术】
[0002]目前，显示技术被广泛应用于电视、手机以及公共信息的显示，用于显示画面的显示面板也多种多样，而且可以显示丰富多彩的画面，但是无论是薄膜晶体管液晶显示面板(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)，还是有机发光显不面板(OLED，Organic Light Emitting D1de)都需要驱动集成电路(IC，Integrated Circuit)的控制，随着平板显示技术的发展，相关技术领域的技术人员采用移位寄存器技术实现栅极驱动的扫描的功能，即利用显示面板的边缘搭建栅极集成驱动电路，以实现栅极驱动IC的功能，这样的设计可以省去在显示面板的边框区域单独设置栅极驱动1C，有利于实现显示面板的窄边框设计，同时降低了相关产品的生产成本。
[0003]移位寄存器技术是通过在显示面板的周边区域采用开关晶体管和电容搭建电路，以实现栅极驱动信号的移位寄存及输出的功能，该结构在显示面板的正常生产工艺中就可以制作完成。移位寄存器单元需要时钟信号，输入信号，输出信号，复位信号等信号的时序搭配，来实现栅驱动扫描信号的移位寄存及输出功能。一般地，每个移位寄存器单元包括多个开关晶体管，一旦其中一个开关晶体管损坏将会造成时序错乱，信号异常，屏幕异常显示等问题，而开关晶体管的损坏可由生产过程中的杂质颗粒，划伤，源漏极桥连等制作工艺问题导致，因此上述工艺问题对显示产品良率影响很大，而且由于移位寄存器单元的结构精密，其对开关晶体管的特性要求很高，若将损坏的开关晶体管简单的切除，则易导致移位寄存器单元的功能异常，例如会导致移位寄存器单元充电不足，信号延迟等问题。
[0004]因此，如何修复移位寄存器中因工艺问题而损坏的开关晶体管，从而减少显示面板因工艺原因导致的移位寄存器功能异常而造成的显示不良的不良率，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]本发明实施例提供了一种移位寄存器、其修复方法、栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置，用以解决现有技术中存在的移位寄存器中因工艺问题而损坏的开关晶体管导致移位寄存器功能异常，从而造成显示面板因工艺原因而造成的显示不良的问题。
[0006]本发明实施例提供了一种移位寄存器，包括移位寄存器处理电路，所述移位寄存器处理电路包括多个开关晶体管，所述移位寄存器还包括:至少一组备用开关晶体管；
[0007]所述备用开关晶体管的栅极与所述移位寄存器处理电路的开关晶体管的栅极之间设置第一预留金属线；
[0008]所述备用开关晶体管的源极与所述移位寄存器处理电路的开关晶体管的源极相连;
[0009]所述备用开关晶体管的漏极与所述移位寄存器处理电路的开关晶体管的漏极之间设置第二预留金属线；
[0010]所述备用开关晶体管用于在所述移位寄存器处理电路的开关晶体管异常时，通过所述第一预留金属线和所述第二预留金属线替代所述移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管。
[0011]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器中，所述移位寄存器处理电路的开关晶体管与所述备用开关晶体管同步形成。
[0012]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器中，所述第一预留金属线与所述备用开关晶体管的源极和漏极同层设置。
[0013]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器中，所述第二预留金属线与所述备用开关晶体管的栅极同层设置。
[0014]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器中，还包括:跳接线；
[0015]所述跳接线与第三金属层同层设置；
[0016]所述第三金属层为除所述备用开关晶体管的栅极金属层和源漏极金属层之外的金属层。
[0017]本发明实施例提供了一种本发明实施例提供的上述移位寄存器的修复方法，包括:
[0018]切断所述移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管的源极与对应信号线的连接，或漏极与对应信号线的连接；
[0019]通过第一预留金属线连接所述移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管的栅极和所述备用开关晶体管的栅极；
[0020]通过第二预留金属线连接所述移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管的漏极和所述备用开关晶体管的漏极。
[0021]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器的修复方法中，一组备用开关晶体管中包括多个开关晶体管，所述移位寄存器的修复方法，还包括:
[0022]切断备用开关晶体管组中未用于修复的开关晶体管的源极与用于修复的开关晶体管的源极的连接。
[0023]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述移位寄存器的修复方法中，采用激光进行切断和/或连接的动作。
[0024]本发明实施例提供了一种栅极集成驱动电路，包括级联的多个本发明实施例提供的上述移位寄存器。
[0025]本发明实施例提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述栅极集成驱动电路。
[0026]在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示面板中，包括两组本发明实施例提供的上述栅极集成驱动电路，两组所述栅极集成驱动电路分别位于所述显示面板相对的两侧的周边区域。
[0027]本发明实施例提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。
[0028]本发明实施例的有益效果包括:
[0029]本发明实施例提供了一种移位寄存器、其修复方法、栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置，该移位寄存器包括移位寄存器处理电路，移位寄存器处理电路包括多个开关晶体管，移位寄存器还包括:至少一组备用开关晶体管；备用开关晶体管的栅极与移位寄存器处理电路的开关晶体管的栅极之间设置第一预留金属线；备用开关晶体管的源极与移位寄存器处理电路的开关晶体管的源极相连；备用开关晶体管的漏极与移位寄存器处理电路的开关晶体管的漏极之间设置第二预留金属线；备用开关晶体管用于在移位寄存器处理电路的开关晶体管异常时，通过第一预留金属线和第二预留金属线替代移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管。这样通过在移位寄存器中设置备用开关晶体管，在移位寄存器处理电路中的开关晶体管因工艺问题出现异常时，通过第一预留金属线将备用开关晶体管的栅极与移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管的栅极连接，通过第二预留金属线将备用开关晶体管的漏极与移位寄存器处理电路中发生异常的开关晶体管的漏极连接，从而可以实现备用开关晶体管替代发生异常的开关晶体管，进而可以修复功能异常的移位寄存器，降低显示面板因工艺原因导致的显示不良的不良率，从而提高了相应产品的生产良率。
【附图说明】
[0030]图1为本发明实施例提供的移位寄存器的结构示意图；
[0031]图2为本发明实施例提供的移位寄存器的修复方法流程图；
[0032]图3和图4分别为本发明实施例提供的移位寄存器修复后的结构示意图图。
【具体实施方式】
[0033]下面结合附图，对本发明实施例提供的移位寄存器、其修复方法、栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置的【具体实施方式】进行详细地说明。
[0034]本发明实施例提供了一种移位寄存器，可以包括移位寄存器处理电路，移位寄存器处理电路包括多个开关晶体管，移位寄存器还可以包括:至少一组备用开关晶体管；备用开关晶体管的栅极与移位寄存器处理电路的开关晶体管的栅极之间设置第一预留金属线；备用开关晶体管的源极与移位寄存器处理电路的开关