一种防伪材料及其制备方法_4

文档序号:9776642阅读:来源:国知局
述提供清洗液,清洗液是丙酮。
[0064]所述S190步骤刻蚀单晶硅层,所用气体是CF6,当然也可以增加辅助气体。
[0065]所述S250步骤,提供牺牲层蚀刻液,对于S130步骤所镀的牺牲层是Al的话,提供蚀刻液是盐酸、氢氧化钠中的一种;对于S130步骤所镀的牺牲层是Cu的话,提供蚀刻液是盐酸和三氯化铁的水溶液。
[0066]再次参考图4,是本实施例的SllO至S150步骤的示意图,在玻璃基底101上面镀附着层102,在附着层102上面镀牺牲层103,在牺牲层103上面镀单晶硅层104,在单晶硅层104上面涂布光固胶105,成为第一半成品100供下一步骤加工;再次参考图5,是本实施例的S160至S180步骤的示意图,提供紫外线光源999,提供第一淹模板901,将第一半成品100的光固胶涂层曝光,提供显影液,显影,提供纯净水,清洗,第一半成品100的光固胶105只留下用保护单晶硅层104的部分已经固化的光固胶201,成为第二半成品200供下一步骤加工;再次参考图6,是本实施例的S190步骤的示意图,S190,提供等离子刻蚀装备,刻蚀没有光固胶保护的单晶硅层,即刻蚀掉镂空区域301及各个单位防伪材料之外的周边区域,露出部分牺牲层103,成为第三半成品300供下一步骤加工;再次参考图7,是本实施例的S200步骤的示意图,提供清洗液,清洗掉第三半成品300用保护单晶硅层104的部分已经固化的光固胶201,在牺牲层103上只留下无定形模块001,成为第四半成品400供下一步骤加工;再次参考图8,是本实施例的S210步骤的示意图,在单晶硅表面涂布紫外荧光粉和光固胶的混合物501,实际上牺牲层的表面也必须一起涂布工艺上才能实施,本实施例采用喷涂方式,在单晶硅层很薄的情况下,也可以采用悬涂,镂空区域也可以涂满,选择悬涂与喷涂只是等同替换没有实质,只要将镂空区域填满,没有什么区别,成为第五半成品500供下一步骤加工;再次参考图12,是本实施例的S220至S240步骤的示意图,是本实施例的S220至S240步骤的示意图,提供第二淹模板902,将第五半成品500的混合物涂层曝光,显影,用纯净水清洗,至此,牺牲层103上只留下多个单位防伪材料000,成为第六半成品600供下一步骤加工;再次参考图13,是本实施例的S250步骤的示意图,提供牺牲层蚀刻液,刻蚀牺牲层,至此,一组多个单位防伪材料000就制备出来,提供清洗过滤装备及纯净水,清洗,过滤,就可以应用于工业中了。
[0067]本实施例未设置流程图,可以参考图14,只是没有刮胶步骤。
【主权项】
1.一种防伪材料,其特征在于:该防伪材料包括片状的单晶硅模块,单晶硅模块具有镂空区域,该防伪材料还包括紫外荧光模块,紫外荧光模块镶嵌于所述镂空区域。2.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:所述的紫外荧光模块,是指在单位防伪材料中,由紫外荧光材料构成的各个子模块的总和,各个子模块之间离散分布,所述紫外荧光模块可以是一个图形或字符,也可以是由多数个子模块组成一组图形或字符串;所述的单晶硅模块,是指在单位防伪材料中,由单晶硅材料构成的各个子模块的总和,各个子模块之间离散分布,所述单晶硅模块可以是一个图形或字符,也可以是由多数个子模块组成一组图形或字符串。3.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:所述紫外荧光模块底面与单晶硅模块底面位于同一平面上,所述紫外荧光模块与单晶硅模块厚度一致。4.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:所述紫外荧光模块底面与单晶硅模块底面位于同一平面上,所述紫外荧光模块比单晶硅模块厚度大。5.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:所述紫外荧光模块是紫外荧光粉均匀固化在光固胶之中的结构;所述紫外荧光材料是外荧光粉与光固胶的均匀混合物。6.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:在可见光下,紫外荧光模块设置成无色或白色,在紫外光照射下,紫外荧光模块是彩色的,面且不同的紫外荧光模块子模块可以设置成不同的颜色,单晶硅模块设置成无色。7.根据权利要求1所述的防伪材料,其特征在于:所述片状结构的厚度为2至10微米之间。8.一种防伪材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: SI 10,提供玻璃基底; S120,在玻璃基底上面镀附着层; S130,在附着层上面镀牺牲层; S140,在牺牲层上面镀单晶硅层; S150,在单晶硅层上面涂布光固胶; S160,提供紫外线光源,提供第一淹模板,将S150步骤涂布的光固胶涂层曝光; S170,提供显影液,显影; S180,提供纯净水,清洗; S190,提供等离子刻蚀装备,刻蚀没有光固胶保护的单晶硅层; S200,提供清洗液,清洗; S210,在单晶硅表面涂布紫外荧光粉和光固胶的混合物; S220,提供第二淹模板,将S200步骤涂布的混合物涂层曝光; S230,显影; S240,用纯净水清洗; S250,提供牺牲层蚀刻液,刻蚀牺牲层; S260,提供清洗过滤装备及纯净水,清洗,过滤; 其中,S170步骤,所述提供显影液,显影液是四甲基加水;所述显影,用显影液固化部分光固胶;S180步骤,清洗,用纯净水清洗掉S170显影步骤未固化部分光固胶;所述S200步骤所述提供清洗液,清洗液是丙酮。9.根据权利要求8所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:所述S150步骤,还包括提供悬涂装备步骤,用悬涂方法涂布。10.根据权利要求8所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:所述S210步骤,还包括提供喷涂装备步骤,用喷涂方法涂布。11.根据权利要求10所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:还包括S215步骤,刮胶,提供刮胶装备,将单晶硅表面的S210步骤喷涂的混合物刮去。12.根据权利要求8所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:所述光固胶可以选择正光固胶和负光固胶其中的一种,所述S170步骤提到的固化部分光固胶是指,曝光或未曝光的部分光固胶,具体地,对于正光固胶曝光的部分光固胶不固化,未曝光的部分光固胶固化;对应地,对于负光固胶曝光的部分光固胶固化,未曝光的部分光固胶不固化。13.根据权利要求8所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:所述SllO提供玻璃基底,还包括把玻璃片切成方形或长方形,以及倒角、抛光、清洗、干燥步骤,供玻璃基底的厚度介于0.3至0.5毫米之间。14.根据权利要求8所述一种防伪材料的制备方法,其特征在于:所述S190步骤刻蚀单晶硅层,所用气体是CF6。
【专利摘要】本发明涉及防伪技术,尤其涉及一种防伪材料及其制备方法,该防伪材料,其特征在于:该防伪材料包括片状的单晶硅模块,单晶硅模块具有镂空区域,该防伪材料还包括紫外荧光模块,紫外荧光模块镶嵌于所述镂空区域;制备方法包括:在玻璃基底上面镀附着层,在附着层上面镀牺牲层,在牺牲层上面镀单晶硅层,在单晶硅层上面涂布光固胶,提供紫外线光源,提供第一淹模板,曝光,显影,清洗,刻蚀单晶硅层,提供清洗液,清洗,在单晶硅表面涂布紫外荧光粉和光固胶的混合物,提供第二淹模板,曝光,显影清洗,提供牺牲层蚀刻液,刻蚀牺牲层清洗,过滤;本发明提供一种具有多材质、双重防伪的防伪材料及其制备方法。
【IPC分类】B42D25/42, B42D25/445, G09F3/02, B42D25/40, B42D25/36
【公开号】CN105538948
【申请号】CN201510889804
【发明人】翟兴
【申请人】深圳市天兴诚科技有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月5日
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