[0056]S410:设定待测试集成电路的输入输出和电源引脚相应测试结果的判别条件；
[0057]设定待测试集成电路输入输出和电源引脚相应测试结果的判别条件为:待测试集成电路的输入输出和电源引脚的电压值均在-1.2伏到-0.2伏之间。
[0058]S420:对待测试集成电路输入输出和电源引脚加电流源。
[0059]通过对测试程序的编辑，控制测试仪同时分别对待测试的集成电路的输入输出和电源引脚施加反相偏置电流，其中反相偏置电流为600微安，使其形成测试回路。
[0060]S430:测试待测试集成电路输入输出和电源引脚的电压值。
[0061]根据所加的反相偏置电流，测试集成电路输入输出和电源引脚的测试回路的电压值。
[0062]S440:根据判别条件判断待测试集成电路的性能。
[0063]若待测试集成电路的某一引脚的电压值在[-1.2?-0.2伏]之间，则判断该引脚为Pass;若某一引脚的电压值不在[-1.2?-0.2伏]之间，则判断该引脚为Fail。
[0064]若待测试集成电路的中输入输出和电源引脚的电压值均在[-1.2?-0.2伏]之间，则判断该集成电路正常，表示该集成电路达到或超越了器件的设计规格;若其中一个输入输出和电源引脚的电压值不在[-1.2?-0.2伏]范围内，则判断该集成电路不正常，器件没有达到设计要求，不能用于最终应用。
[0065]根据上述测试结果判别条件对待测试的集成电路进行测试，并把测试结果或根据该测试结果作出判断后的判断结果存储在PC机中。同时也把对不同类型的集成电路的测试程序一并保存在PC机中，在后续的测试过程中，若待测试集成电路的型号也存储在存储单元中时，则不需要重新对测试程序进行编辑，即可直接调用对应的测试程序，节约时间、效率高。
[0066]在本实施例中，测试仪为待测试集成电路提供工作电压、修调熔丝位。测试仪与PC机使用外设部件互连标准(Peripheral Component Interconnect，PCI)进行连接通讯，主要对待测试集成电路进行相关直流参数的测试，此外，还辅助PC机对待测集成电路进行逻辑功能的测试，如为待测试集成电路提供一定的工作电压，修调相关熔丝位等。熔丝位是指在特定的引脚上加电压，足够的电流，就可以烧断里边的这根熔丝，烧断以后，片里的程序就不可以被读出来也不能改写了，只能用来运行。熔丝位是在一个特定的地址上可以读到恪丝状态的一个位，O表示已恪断，I表示未恪断。
[0067]通过上述集成电路测试装置和方法，可以实现集成电路测试装置能与不同类型的测试仪配套使用，实用性强；同时在测试的过程中可以同时多个同类型或不同类型的集成电路进行测试，效率高、成本低;也可以根据实际需求实时更改控制程序，已实现对不同类型的集成电路的测试。利用上述集成电路测试装置和方法已测试过15000种不同的集成电路芯片，并将所有的测试结果或判断结果存储在PC机的存储单元中，实用性很高、功能强大。
[0068]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0069]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种集成电路测试装置，用于测试集成电路，包括转接板、测试底座、测试仪和PC机；其特征在于，所述转接板上设有包括多个测试点的测试区和连接所述测试仪的数据输出接口；多个所述测试点分别具有可被所述测试仪识别的唯一标识； 所述测试底座具有用于连接所述集成电路引脚的插入口，以连接所述集成电路，所述测试底座位于所述测试区，且插入口与所述测试点一一对应； 所述测试仪上设有与多个所述测试点对应连接的数据输入接口，用于测试通过所述测试底座连接的所述集成电路的电学参数； 所述PC机与所述测试仪连接，用于将测试程序传送给所述测试仪对所述集成电路进行测试。2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述测试区上设有呈阵列排布的441个测试点，相邻所述测试点之间的间距为2.45毫米;其中，425个测试点通过测试排线与所述测试仪的数据输入接口对应连接。3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述数据输入接口上还设有2.45毫米的牛角插座连接器。4.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述转接板为多层印刷电路板。5.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述测试底座上设有连接座，所述连接座用于电气连接所述集成电路与所述转接板。6.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述PC机还还设有存储单元，用于存储被测试的集成电路的型号、判断结果和所述被测试的集成电路的测试程序。7.一种集成电路测试方法，其特征在于，包括如下步骤: 依次连接待测试集成电路、测试底座、转接板、测试仪和PC机； 确定所述待测试集成电路各引脚对应到所述转接板的相应测试点的位置； 根据所述待测试集成电路各引脚的功能类型，对所述转接板上的测试点进行功能类型定义； 根据直流参数测试原理规范，对待测试集成电路进行测试，并判断所述待测试集成电路的结果。8.根据权利要求7所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述对待测试集成电路进行测试的步骤包括: 设定所述待测试集成电路的输入输出和电源引脚相应测试结果的判别条件； 对所述待测试集成电路输入输出和电源引脚加反向偏置电流源； 测试所述待测试集成电路输入输出和电源引脚的电压值； 根据所述判别条件判断待测试集成电路的性能。9.根据权利要求8所述的集成电路测试方法，其特征在于，设定所述待测试集成电路输入输出和电源引脚相应测试结果的判别条件为:所述待测试集成电路的输入输出和电源引脚的电压值均在-1.2伏到-0.2伏之间。10.根据权利要求7所述的集成电路测试方法，其特征在于，若所述待测试集成电路的型号与PC机中存储单元中存储的集成电路的型号相同，则直接调用所述被测试的集成电路的测试程序。
【专利摘要】本发明涉及一种集成电路测试装置，包括转接板、测试底座、测试仪和PC机；转接板上设有包括多个测试点的测试区和所述测试仪的数据输出接口；多个测试点分别具有可被测试仪识别的唯一标识；测试底座具有连接集成电路引脚的插入口；测试底座位于测试区，且插入口与测试点一一对应；测试仪上设有与多个测试点对应连接的数据输入接口，用于测试通过测试底座连接的集成电路的电学参数；PC机与测试仪连接。此外还提供一种集成电路测试方法。利用上述集成电路测试装置和方法，将待测试的多种集成电路放置在测试底座上，测试底座设置在可被测试仪识别的测试区上，PC机将测试程序传送给测试仪对集成电路进行测试，其测试效率高、成本低、实用性强。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105510803
【申请号】CN201511022400
【发明人】张立国
【申请人】深圳市科美集成电路有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年12月30日