专利名称：晶片测试机的进料装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是与集成电路(IC)晶片测试装置有关，更详而言之，乃是指一种晶片测试机的进料装置。
按、由于IC晶片在连接时有其方向性，因此连接时须按晶片上所标示的辨识记号来辨识其方向，藉以正确的将晶片安装在IC插槽内，使其发挥正常功能；而一般在包装IC晶片时，通常是将多数个IC晶片依同方向装入一晶片料管，并在该晶片料管的两端设置不同颜色的挡栓，来挡住晶片使其不致掉出，又同时具有指示晶片方向的效果；欲取出该晶片料管内的晶片时，仅须将一挡栓拿掉，再将该晶片料管倾斜，即可将晶片依序倒出；然而，欲取下晶片料管上的挡栓时，是以人工的方式徒手或以工具取下，操作上较为耗时、不便。
当欲透过晶片测试机来检测晶片时，是先将装有待测晶片的晶片料管一端的挡栓取下，再将该晶片料管装于晶片测试机的进料装置，晶片即会经该进料装置进入该晶片测试机，并于检测完成后送出，故操作者在该晶片料管内的晶片完全排出后，即会将该空的晶片料管置于该晶片测试机的出料装置，藉以接收测试完成的晶片；其中，由于晶片料管内的第一个晶片进入该进料装置，经过测试后，即会经由该出料装置进入空的晶片料管，亦即，其是第一个进入该空的晶片料管，晶片方向与原方向恰好相反，因此操作者必须将该空的晶片料管上取下的挡栓装回，并取下该晶片料管另一端的挡栓，以反方向装于该出料装置，才能让晶片进入时方向正确；该种操作方式极为不便，且耗费人工。
本实用新型的主要目的即在提供一种晶片测试机的进料装置，其可让操作者仅须取下晶片料管一端的挡栓，即可在进料后，直接装设于测试机的出料位置，其晶片方向亦不会相反。
本实用新型的次一目的乃在提供一种晶片测试机的进料装置，其可在少量的空间内动作，较不会影响到操作者。
缘是，依据本实用新型所提供的一种晶片测试机的进料装置，包含有一旋摆座，设于晶片测试机的预定位置，可受驱动而于第一、第二位置间旋摆，该旋摆座上具有一轨道，一夹具设置于该旋摆座上，用以夹掣晶片料管，其中该晶片料管在夹掣时是对正于该轨道；一旋摆料管，设于晶片测试机的预定位置，可受驱动而于第三、第四位置间旋摆，于该旋摆料管位于第三位置且该旋摆座位于第二位置时，该旋摆料管的一端恰对正于该旋摆座的轨道，该旋摆料管一端设有至少一活动挡件，可受驱动而产生挡止、释放的动作，于该旋摆料管旋摆至第四位置时，即对正于晶片测试机的入料口；藉此，藉由该夹具将晶片料管固定于该旋摆座后，该旋摆座即可旋摆使该晶片料管内的晶片经由该轨道滑入该旋摆料管内，再藉由控制该旋摆料管上的活动挡件即可将晶片挡止于该旋摆料管内，该旋摆料管旋摆至第二位置即对正于晶片测试机的入料口，而得进行送料动作。
其中还包含有一活动指，设于该旋摆座且位于该轨道上方。
其中该夹具是由一空压缸及设于其活塞杆上的夹块所组成。
其中该旋摆料管两端分别设置一第一、第二活动挡件。
其中该第二活动挡件与该旋摆料管的末端相隔预定距离。
有关本实用新型的详细结构，特征及功效，以下兹举一较佳实施例，并配合图式作进一步的说明，其中
图1是本实用新型一较佳实施例的侧视图；图2是本实用新型一较佳实施例的动作图；图3是本实用新型一较佳实施例的另一动作图；图4是本实用新型一较佳实施例的再一动作图；图5是本实用新型再一较佳实施例的侧视图；图6是本实用新型再一较佳实施例的动作图；图7是本实用新型再一较佳实施例的另一动作图。
请参阅图1，本实用新型一较佳实施例所提供的一种晶片测试机的进料装置10，是配合装设于晶片测试机70上，该进料装置10主要是由一旋摆座11及一旋摆料管21所组成，其中
该旋摆座11，配合设于晶片测试机70的预定位置，受一空压缸(图中未示)的驱动而沿其固定点于第一、第二位置间旋摆，该旋摆座11具有一轨道12，可导引晶片沿预定方向移动，一夹具14设置于该旋摆座11上，由一空压缸141连接一夹块142所组成，藉由该空压缸141驱动该夹块142向下压而可夹住装有IC晶片的晶片料管80，进而将晶片料管80固定于该旋摆座11上；如图2所示，晶片料管80被夹掣时是对正于该轨道12，于该旋摆座11位于第一位置时，该轨道12是呈水平；如图3所示，于该旋摆座11旋摆至第二位置时，该晶片料管80即随之旋摆至倾斜状态，位于该晶片料管80内的晶片81即会向外滑出而滑入该轨道12内；该旋摆料管21，设于晶片测试机70的预定位置，受一空压缸(图中未示)的驱动而沿其固定点于第三、第四位置间旋摆，于该旋摆料管21位于第三位置且该旋摆座11位于第二位置时，该旋摆料管21的一端恰对正于该旋摆座11的轨道12，得承接沿该轨道12滑下的晶片81，该旋摆料管21靠近该旋摆座11的一端设有一活动挡件22，可受一空压缸(图中未示)驱动而产生挡止、释放的动作；该旋摆料管21旋摆至第四位置时即对正于晶片测试机70的入料口71。
请再参阅图2，本实用新型于操作时，先将装有IC晶片81的晶片料管80一端的挡栓83(图未示)拔出，并以该夹具14夹住该晶片料管80，此时该旋摆座11是位于第一位置，如图3所示，当该旋摆料管21位于第三位置且该旋摆座11受驱动而旋摆至第二位置时，该晶片料管80即随之旋摆至倾斜状态，位于该晶片料管80内的IC晶片81即向外滑出，经由该轨道12而进入该旋摆料管21，然后该活动挡件22即受驱动而位于挡止位置，藉以将IC晶片81挡止在该旋摆料管21内；如图4所示，于该旋摆料管21旋摆至第四位置时，即对正于晶片测试机70的入料口71，此时再控制该活动挡件22至释放位置，位于该旋摆料管21内的晶片81即会向外滑出而进入该入料口71。
藉由上述结构，第一个由该晶片料管80进入本实用新型的进料装置10的IC晶片81即会转为最后一个进入晶片测试机70的晶片81，操作者可直接将该空的晶片料管80置于晶片测试机70的出料位置(图中未示)，检测完成的晶片81依序进入该空的晶片料管80后，其方向即与原来的方向相同，操作者仅须将原取下的挡栓83装回即可；换言之，藉由本实用新型，操作者仅须取下晶片料管80上的单一种挡栓83(即代表同一方向的挡栓)，再等到空的晶片料管80被填满后将该挡栓83装回即可，无须取下晶片料管80两边的挡栓83来变换晶片料管80的方向，对操作者而言非常方便。
请再参阅图5至图6所示，本实用新型再一较佳实施例所提供的一种晶片测试机的进料装置30，主要是概同于前揭实施例，其不同的处在于该旋摆座31具有一活动指36，该活动指36位于旋摆座31且位于该轨道32的上方，受一设于该旋摆座31上的空压缸37所驱动而产生下压、上升的动作，于其下压时是将位于该轨道32上的IC晶片81夹住使其不再位移；该旋摆料管41两端分别设置一第一、第二活动挡件42、44，其中该第一活动挡件42位于靠近该旋摆座41的一端，该第二活动挡件44则位于该旋摆料管41的另一端且距末端尚有预定距离，该二活动挡件42、44分别受一空压缸(图中未示)的驱动而产生挡止、释放的动作；当位于晶片料管80内的IC晶片81总长度长于该旋摆料管41时，即无法一次全部进入该旋摆料管41，此时，如图6所示，当旋摆座31旋摆至第二位置而使该晶片料管41处于倾斜状态且该旋摆料管41是位于第三位置时，该第一活动挡件42位于释放位置，而该第二活动挡件44位于挡止位置，进入该旋摆料管41的晶片81即被该第二活动挡件44所挡止，然后，如图7所示，驱动该活动指36下压，使位于该轨道32上的晶片81被压掣住而无法移动，再驱动该第二活动挡件44至释放的位置，位于该被压掣住的晶片81下方的晶片81即向下滑入该旋摆料管41，其下滑距离恰可让最后一个滑入该旋摆料管41的晶片81通过该第一活动挡件42，然后再驱动该第一活动挡件42于挡止位置，此时，即可驱动该旋摆料管41旋摆至第四位置而对正于晶片测试机70的入料口；其余动作是概同于前揭实施例，容不再予赘述。
经由上述的结构，本实用新型可让操作者仅须拔取晶片料管80上一端的挡栓83，即可置于进料处进料，并于进料后直接置于出料处承接测试后的晶片，所承接的晶片其方向与原来的方向相同，于测试后的晶片装入该空的晶片料管后，即可直接将取下的挡栓装回，而完成测试作业，操作者对每支晶片料管仅需取下一个挡栓，极为方便、省时。
此外，本实用新型在操作时的活动空间仅为该旋摆座及该旋摆料管的旋摆空间，其仅需旋摆该旋摆料管即可完成变更方向，无须以回旋的方式来改变，其旋摆空间较小，较不易影响到操作者。
权利要求1．一种晶片测试机的进料装置，其特征在于，包含有一旋摆座，设于晶片测试机的预定位置，可受驱动而沿其固定点于第一、第二位置间旋摆，该旋摆座上具有一轨道，可导引晶片沿预定方向移动，一用以夹掣晶片料管的夹具设置于该旋摆座上，其中该晶片料管在夹掣时是对正于该轨道，于该旋摆座位于第一位置时，该轨道是呈水平，于该旋摆座旋摆至第二位置时，该晶片料管即随的旋摆而呈倾斜状，该晶片料管内的晶片即会向外滑出而滑入该轨道内；一旋摆料管，设于晶片测试机的预定位置，可受驱动而沿其固定点于第三、第四位置间旋摆，于该旋摆料管位于第三位置且该旋摆座位于第二位置时，该旋摆料管的一端恰对正于该旋摆座的轨道，而得承接沿该轨道滑下的晶片，该旋摆料管一设有至少一活动挡件，可受驱动而产生挡止、释放的动作，于该旋摆料管旋摆至第四位置时，即对正于晶片测试机的入料口。
2．根据权利要求1所述的晶片测试机的进料装置，其特征在于，其中还包含有一活动指，设于该旋摆座且位于该轨道上方。
3．根据权利要求1所述的晶片测试机的进料装置，其特征在于，其中该夹具是由一空压缸及设于其活塞杆上的夹块所组成。
4．根据权利要求1所述的晶片测试机的进料装置，其特征在于，其中该旋摆料管两端分别设置一第一、第二活动挡件。
5．根据权利要求4所述的晶片测试机的进料装置，其特征在于，其中该第二活动挡件与该旋摆料管的末端相隔预定距离。
专利摘要一种晶片测试机的进料装置,有一旋摆座,设于晶片测试机,可受驱动而于第一、二位置间旋摆,旋摆座上具有一轨道,一夹具设置于其上,晶片料管在夹掣时是对正于该轨道;一旋摆料管设于晶片测试机,可受驱动而于第三、四位置间旋摆,于旋摆料管位于第三位置且旋摆座位于第二位置时,旋摆料管的一端恰对正于旋摆座的轨道,旋摆料管一端设有至少一活动挡件,于旋摆料管旋摆至第四位置时,即对正于晶片测试机的入料口。
文档编号H01L21/66GK2457739SQ01201018
公开日2001年10月31日 申请日期2001年1月12日 优先权日2001年1月12日
发明者严灿焜 申请人:东捷半导体科技股份有限公司