半导体封装限制件的制作方法

文档序号:12924634阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种半导体封装限制件,其特征在于用以将第一载板及晶片固定到第二载板上,所述半导体封装限制件包括:

第一底面,其接触第二载板的第一表面;

第二底面,其接触晶片的第一表面,

其特征在于其进一步包括:

第三底面,其接触所述第一载板的第一表面,以及

所述第一底面低于所述第二底面,所述第三底面低于所述第二底面,所述第一底面低于所述第三底面。

2.根据权利要求1所述的半导体封装限制件,其特征在于所述第一底面、所述第二底面及所述第三底面为阶梯状排列。

3.根据权利要求1所述的半导体封装限制件,其特征在于所述半导体封装限制件为围绕所述晶片的环状结构。

4.根据权利要求1所述的半导体封装限制件,其特征在于其进一步包含第三载板,其中所述第一载板在所述第三载板上方。

5.一种可分离的半导体封装限制件,其特征在于用以将第一载板及晶片固定到第二载板上,所述半导体封装限制件包括:

第一底面,其可分离地在第二载板上;

第二底面,其可分离地在晶片上,

其特征在于其进一步包含:

第三底面,其接触第一载板的第一表面,以及

所述第一底面低于所述第二底面,所述第三底面低于所述第二底面,所述第一底面低于所述第三底面。

6.根据权利要求5所述的半导体封装限制件,其特征在于所述第一底面、所述第二底面及所述第三底面为阶梯状排列。

7.根据权利要求5所述的半导体封装限制件,其特征在于所述半导体封装限制件为围绕所述晶片的环状结构。

8.根据权利要求5所述的半导体封装限制件,其特征在于其进一步包含第三载板,其中所述第一载板在所述第三载板上方。

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