片式电子部件检查选别装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及对在对置的端面的每一个具备电极的片式电子部件检查其电气特性随后基于该检查结果来分类选别片式电子部件的片式电子部件检查选别装置。
【背景技术】
[0002]伴随着便携式电话、智能电话、液晶电视、电子游戏机等小型电气产品的生产量的增加，编入到这样的电气产品的微小的片式电子部件的生产量显著地增加。片式电子部件一般由主体部和在主体部的对置的两个端面的每一个所具备的电极形成，例如片式电容器(也称为片式电容)、片式电阻器(包括片式变阻器)、以及片式电感器等微小的电子部件被广泛地利用。
[0003]近年，对应于片式电子部件被编入的电气产品的进一步小型化以及编入到电气产品的片式电子部件的数量的增加，片式电子部件的进一步小型化正在进展。例如，关于片式电容器，近年，使用极小的尺寸(例如，被称为0402芯片的0.2mm X 0.2mm X 0.4mm的尺寸)的电容器。这样的微小的片式电子部件通过大量生产而一批以数万~数十万个这样的单位被生产。
[0004]在片式电子部件被编入的电气产品中，一般为了降低起因于片式电子部件的缺陷的电气产品的不合格品率而对大量制造的片式电子部件进行全数检查。例如，关于片式电容器，一般对其全数进行静电容量、漏电流等电气特性的检查。
[0005]大量的片式电子部件的电气特性的检查需要高速地进行，作为用于进行该高速的检查的装置，近年，一般使用具备形成有许多透孔的搬送圆盘(片式电子部件临时保持板)的片式电子部件的电气特性的检查和选别用的装置(以后，有时称为片式电子部件检查选别装置)。在该搬送圆盘，临时收容检查对象的片式电子部件的许多透孔以沿着圆周按一列或者多列进行排列的状态被形成。然后，在该片式电子部件检查选别装置的使用时，实施了如下作业:在处于旋转状态的搬送圆盘的透孔中临时收容片式电子部件，对该收容状态的片式电子部件，使沿着该搬送圆盘的旋转路径而附设的一对电极端子(检查用接触子)接触于片式电子部件的各电极来测定该片式电子部件的规定的电气特性，随后，基于该测定结果使片式电子部件以从搬送圆盘的透孔收容到规定的容器的方式排出来进行选别(或者分类)。
[0006]S卩，片式电子部件的检查选别装置一般能够说成包括如下部分的片式电子部件检查选别装置:基台；片式电子部件搬送圆盘，以能旋转的方式被基台轴支承，但是在该片式电子部件搬送圆盘沿着圆周形成有两个以上能够临时收容在对置的端面的每一个具有电极的片式电子部件的透孔；以及沿着该搬送圆盘的旋转路径按顺序设置的片式电子部件供给收容部、电气特性检查部、以及分类部，所述片式电子部件供给收容部使片式电子部件供给并收容于该搬送圆盘的透孔，所述电气特性检查部进行片式电子部件的电气特性的检查，所述分类部基于检查结果来对检查完毕的片式电子部件进行分类。
[0007]例如，在进行片式电容器的静电容量的检查的情况下，通过电气特性检查部从片式电子部件检查选别装置所具备的检查器经由检查用端子电极向片式电容器施加具有规定的频率的检查用电压。然后，通过检查器来检测由于该检查用电压的施加而在片式电容器产生的电流的电流值，基于该检测电流值和检查用电压的电压值来进行检查对象的片式电容器的静电容量的检查。
[0008]作为前述的一般的片式电子部件检查选别装置的例子，能够列举专利文献I所记载的装置。即，在专利文献I中，公开了对许多电气电路部件(例如，片式电子部件)进行试验(检查)然后依据试验结果对电气电路部件进行分类的电气电路部件处理器。该电气电路部件处理器具备:设置有许多部件台(透孔)的盘状的试验板(片式电子部件搬送圆盘)、配置于接近试验板的各部件台的位置的上侧接点和下侧接点(一对电极端子)、以及电连接于各接点的测试器(检查器)。试验板例如以在其中心和外周缘之间沿直径方向彼此空出间隔的方式沿周方向具备72列4个部件台(透孔)的列。在使该试验板旋转并且在其部件台收容了电气电路部件的状态下，将收容于各列的部件台的多个电气电路部件作为一组来进行电气电路部件的检查。
[0009]作为前述的一般的片式电子部件检查选别装置的其他的例子，能够列举专利文献2所记载的装置。即，在专利文献2中，公开了能够编入到片式电子部件的检查选别装置的小型部件供给搬送装置。该小型部件搬送装置是包括如下部分的装置:可动部，在部件搬送面沿着小型部件即本说明书中所说的片式电子部件的搬送方向配置有分散许多贯通孔而构成的孔的列；部件吸附单元，通过使与所述可动部的部件搬送面相反侧的所述贯通孔附近的空气减压来将搬送中的小型部件吸附于部件搬送面以临时保持；搬送通路盖，为了搬送所述小型部件而使进行收容的空间的开放面滑动自如地相接于所述部件搬送面；以及部件搅拌单元，对所述小型部件喷吹通过设置于所述搬送通路盖内的喷嘴而加压后的空气来搅拌搬送通路盖内的小型部件。
[0010]现有技术文献专利文献
专利文献1:日本特表2000-501174号公报专利文献2:日本特开2001-26318号公报。
【发明内容】
[0011]发明要解决的课题
在使用具有前述的各种结构的片式电子部件检查选别装置来实施片式电子部件的检查/分类操作时，首先，一边使片式电子部件搬送圆盘(以下，有时仅称为搬送圆盘)间歇地或者连续地旋转，一边进行通过片式电子部件供给收容部(以下，有时仅称为供给收容部)对形成于搬送圆盘的透孔供给片式电子部件并收容的操作。该片式电子部件的供给收容操作例如通过如下的方法来进行:向处于旋转下的搬送圆盘的表面供给片式电子部件，随后使片式电子部件向透孔通过收容重力的作用在旋转片式电子部件的搬送圆盘的表面转动来依次收容于透孔的方法；或者使片式电子部件以搅拌状态悬浮在空气中，随后将悬浮着的片式电子部件依次吸引并收容于透孔内的方法等。
[0012]为了高速地进行片式电子部件的检查选别，需要高速地进行向处于旋转下的搬送圆盘的透孔收容(或者装配)微小的片式电子部件。但是，片式电子部件需要以规定的状态收容于处于旋转下的搬送圆盘。此处，规定的状态意指片式电子部件的侧面与透孔的内壁大致平行地被装配的状态。通过将片式电子部件以这样的规定的状态收容于透孔，从而即使在接着的搬送圆盘的旋转运动的行程中，也能使片式电子部件不从透孔脱落，并且顺利地进行与检查部中的检查用端子电极的接触。在市售的片式电子部件检查选别装置中，为了顺利地进行向处于旋转下的搬送圆盘的透孔的片式电子部件的供给和收容，而预先关于该供给收容条件进行了精密的调整。然而，近年的片式电子部件的显著的微小化和检查选别的高速化的结果是，判明了在实际的片式电子部件检查选别装置中的片式电子部件的供给收容过程中，片式电子部件未以规定的状态(即，正常的状态)收容于搬送圆盘的透孔的故障以不少的频度发生。作为这样的以不正常的收容状态(即，异常的收容状态)的片式电子部件向透孔的装配的代表性的状态，能够列举在本说明书中进行后述的那样的、片式电子部件以倾斜的状态收