一种阵列基板的检测线路及阵列基板的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示技术领域，具体地说，涉及一种阵列基板的检测线路及阵列基板。
【背景技术】
[0002]一般在制作液晶显示器的阵列基板的过程中，会使用外延的方式在液晶显示器的阵列基板上形成数百万个薄膜晶体管作为控制单元。然而，在阵列基板生产的过程中，如果存在部分薄膜晶体管的质量没有达到预设要求，那么将可能导致这些薄膜晶体管无法具备开关控制的功能，从而使得液晶显示器出现亮点或暗点的曲线，大幅降低液晶显示器的质量。因此，在阵列基板生产过程中，必须有效地对阵列基板进行检测，以确保阵列基板的质量。
[0003]而现有的阵列基板检测线路存在高度过高的缺陷，这使得检测线路占用的面积过大。由于阵列基板检测线路多设置在阵列基板的外围，所以检测线路面积过大也造成液晶显示器的边框过大。
[0004]基于上述情况，亟需一种高度较小的阵列基板检测线路。
【发明内容】
[0005]本发明所要解决的问题是为了减小阵列基板检测线路的高度。为解决上述问题，本发明的实施例首先提供了一种阵列基板的检测线路，包括:
[0006]信号管脚区，其包括多个信号管脚，所述信号管脚与阵列基板中的信号线对应连接;
[0007]测试管脚区，其包括多个测试管脚；
[0008]扇出走线区，其连接在信号管脚区与测试管脚区之间，包括多条扇出走线，所述信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻，以使得扇出走线区的高度减小。
[0009]根据本发明的一个实施例，所述信号管脚区中信号管脚的分布密度小于所述测试管脚区中测试管脚的分布密度。
[0010]根据本发明的一个实施例，所述测试管脚区包括第一测试管脚和第二测试管脚，各个第一测试管脚与扇出走线对应连接，第二测试管脚不与扇出走线连接，相邻的第一测试管脚之间存在有至少一个第二测试管脚。
[0011]根据本发明的一个实施例，相邻的第一测试管脚之间存在的第二测试管脚的数量相同。
[0012]根据本发明的一个实施例，所述信号线包括数据线。
[0013]根据本发明的一个实施例，所述信号线包括栅极线。
[0014]根据本发明的一个实施例，所述测试管脚在测试管脚区呈“一”字型均匀排列。
[0015]根据本发明的一个实施例，所述信号管脚在信号管脚区沿平行于测试管脚区的方向呈“一”字型均匀排列。
[0016]根据本发明的一个实施例，所述测试管脚由导电材质构成。
[0017]本发明还提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括如上任一项所述的检测线路。
[0018]本发明所提供的阵列基板检测线路中，信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，并且，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻。相较于现有的与信号管脚连接的测试管脚的分布方式，本发明所提供的检测线路在相同的扇出走线区域内，扇出走线的走线空间更大。这也就使得扇出走线不需要依靠增加走线高度，即依靠增大测试管脚区与管脚区之间的间隔距离，来满足走线长度、宽度和间隔等设计工艺的要求。因此，相较于现有的检测线路，本发明所提供的阵列基板检测线路的高度更低，占用面积更小，有利于窄边框液晶显示器的设计与产生。
[0019]此外，相邻的第一测试管脚(即与信号管脚连接的测试管脚)之间还可以存在多个第二测试管脚(即不与信号管脚连接的测试管脚)。这样，相邻的第一测试管脚之间的间隔距离进一步增大，这不仅有助于减小扇出走线区域的高度，还有助于减小扇出走线之间的相互干扰。
[0020]因为随着第一测试管脚的分布范围的增大，扇出走线的分布区域也随之增大，而对于特定尺寸和分辨率的阵列基板，扇出走线的数量是一定的，所以此时扇出走线的分布密度将会减小，相邻的两个扇出走线之间的间隔距离变大，这样也就降低了扇出走线之间的相互干扰，从而提高了检测结果的准确性。
[0021]同时，第一测试管脚的分布密度降低也会使得与该检测线路连接的外部测试设备的测试端口的分布密度降低，这有助于改善外部测试设备的测试端口处存在的电磁干扰现象，从而进一步提尚检测结果的准确性。
[0022]本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
【附图说明】
[0023]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要的附图做简单的介绍:
[0024]图1是现有的高分辨率阵列基板的检测线路的结构示意图；
[0025]图2是现有的低分辨率阵列基板的检测线路的结构示意图；
[0026]图3是根据本发明一个实施例的阵列基板的检测线路的结构图；
[0027]图4是根据本发明另一个实施例的阵列基板的检测线路的结构图；
[0028]图5是根据本发明又一个实施例的阵列基板的检测线路的结构图。
【具体实施方式】
[0029]以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
[0030]同时，在以下说明中，出于解释的目的而阐述了许多具体细节，以提供对本发明实施例的彻底理解。然而，对本领域的技术人员来说显而易见的是，本发明可以不用这里的具体细节或者所描述的特定方式来实施。
[0031]由于存在多种尺寸和分辨率的液晶面板，因此也就使得不同尺寸和分辨率的液晶面板中阵列基板所包含的像素个数不同。阵列排布的像素分别对应连接有栅极线和数据线，而在对阵列基板进行检测的过程中，需要对各个栅极线和数据线均进行检测。所以阵列基板中所包含的像素个数不同也就使得所需要的测试管脚的数量不同，即低分辨率的阵列基板所需要的测试管脚较少，而高分别率的阵列基板所需要的测试管脚较多。
[0032]图1示出了现有的高分辨率阵列基板检测线路的结构示意图。
[0033]如图1所示，现有的阵列基板检测线路包含有多个信号管脚101和多个测试管脚102。其中，测试管脚102与信号管脚101 —一对应连接，信号管脚101还分别与阵列基板中的数据线连接。这样，外部测试装置通过测试管脚102，便可以向阵列基板中的数据线发送测试信号，从而达到对阵列基板进行检测的目的。
[0034]在阵列基板的设计过程中，为了节约检测线路的生产成本，设置在不同尺寸和分辨率的阵列基板上的检测线路往往共用一套生产模具，即不同尺寸和分辨率的阵列基板所配置的检测线路中测试管脚的数量和排布方式均相同。由于低分辨率的阵列基板的数据线较少，因此在对低分辨率的阵列基板进行检测时，检测线路中部分测试管脚并不与信号管脚连接。
[0035]图2示出了现有的阵列基板检测线路的结构示意图。
[0036]结合图1和图2可以看出，高分辨率和低分辨率的阵列基板所配置的检测线路中所包含的测试管脚102的数量和排布方式均相同。低分辨率阵列基板的测试线路所包含的信号管脚较少，其数量小于测试管脚的数量，所以只有中间区域的测试管脚与信号管脚相连，而位于测试管脚区域两侧的测试管脚则不与信号管脚连接。由此可见，与信号管脚连接的测试管脚集中在一连续的测试管脚区域中。
[0037]测试管脚102与信号管脚101之间是通过扇出走线连接的，在检测线路的设计过程中，为了保证导电线路的电学性能，扇出走线需要满足一定的长度和宽度要求，同时，相邻的扇出走线之间还需要满足一定的间隔要求。
[0038]如图2所示，由于与信号管脚连接的测试管脚是相邻的，因此为了满足扇出走线的设计要求，扇出走线的高度H(即测试管脚区域与信号管脚区域之间的距离)就需要较大。这也就导致了现有阵列基板检测线路的高度较高，占用面积较大。
[0039]为了解决现有阵列基板检测线路高度过高、占用面积过大的问题，本实施例提供了一种新的阵列基板检测线路，图3示出了该检测线路的结构示意图。
[0040]如图3所示，本实施例所提供的阵列基板检测线路主要针对低分辨率阵列基板，其包括测试管脚区301、扇出走线区302和信号管脚区303。其中，信号管脚区303包括多个信号管脚304，测试管脚区301同样包括多个测试管脚。
[0041]信号管脚区303中的各个信号管脚304分别与阵列基板中的信号线对应连接。本实施例中，信号管脚304所连接的信号线为数据线。当然，在本发明的其他实施例中，信号管脚304所连接的信号线也可以为栅极线，本发明不限于此。扇出走线区302连接在测试管脚区301与信号管脚区3