式等情况相同，在导体图案E1?E4是合格品的情况下，电位以从开路电压V。下降的方式变化，在没有相对于开路电压V。发生变化的情况下，导体图案E1?E4是不合格品Ο
[0121][第5实施方式的变形方式]
[0122]对于图19以及图20所示的第5实施方式的情况，也可以将它们图示的印刷基板检查装置61作为基本结构，在此基础上，以图8以及图9所示的第2实施方式的方式，在第2探头Ρ5?Ρ8与第2连接装置15的各切换开关Β1?Β4之间分别配置电容器C1?C4。
[0123]另外，也可以以图10以及图11所示的第3实施方式的方式，在第2连接装置15的各切换开关Β1?Β4与恒流源12的基准电位之间分别配置电容器C5?C8。
[0124]另外，也可以配置它们两者的电容器C1?C4、C5?C8。
[0125]无论哪种情况，都能够通过设置电容器C1?C4或者C5?C8，使电位变化量变大，实施更加准确的检查。
[0126]并且，可以以图12以及图13所示的第4实施方式的方式，在第1连接装置14与恒流源12的基准电位之间设置具有切换开关S的第3连接装置23。
[0127]通过设置第3连接装置23，从而在导体图案E1?E4等电容部分中带电的情况下，也能够在由第3连接装置23使其放电之后，开始进行检查，因此，能够更加准确地测定电位，另外，能够使从恒流源12向导体图案E1?E4的电流的值在短时间内稳定，能够实施更加迅速的检查，并且，能够实施更加准确的检查。
[0128]另外，在第5实施方式以及其变形方式中，能够检测第1探头P1?P4是否可靠地与导体图案E1?E4接触。
[0129]图26表示在图19以及图20所示的第5实施方式中，在该第2探头P5?P8与第2连接装置15的各切换开关B1?B4之间分别配置有电容器C1?C4的情况、或者在第2连接装置15的各切换开关B1?B4与恒流源12的基准电位之间分别配置有电容器C5?C8的情况中的某一种情况的装置，在第1探头P1?P4与导体图案E1?E4接触不良的情况下，由于第1探头P1?P4与导体图案E1?E4之间的电容，表观上的整体电容变小，因此，在时刻T1，电位急剧上升，瞬间达到开路电压V。。能够通过检测该电位的上升状态，检测第1探头P1?P4的接触状态。
[0130]图27表示向第5实施方式安装了第3连接装置23而成的装置的情况，如果将第3连接装置23断开而向第1探头P1?P4流过电流(时刻T4)，则在第1探头P1?P4接触不良的情况下，与图26相同地，电位急剧上升，因此，能够通过检测该上升状态，检测第1探头P1?P4的接触状态。
[0131]在根据该电位的上升状态检测出第1探头P1?P4的接触不良之后，再次调整第1探头P1?P4的接触位置、姿态等即可。
[0132][第6实施方式]
[0133]下面，参照图28以及图29，对第6实施方式的印刷基板检查装置71进行说明。
[0134]第6实施方式的印刷基板检查装置71具有第1连接装置14’，该第1连接装置14’将第1实施方式的印刷基板检查装置11中的第1连接装置14的切换开关A1?A4集中为单一的切换开关Al。S卩，多个第1探头P1?P4并联地与切换开关A1连接。通过闭合该切换开关A1，从而多个第1探头P1?P4同时成为连接状态，从恒流源12同时向多个第1探头P1?P4供给电流。
[0135]由此，对包含有导体图案E1?E4的装置的配线部等所具有的电容蓄电，其结果，处于与第1探头P1?P4连接的状态的测量电路16所测量的电位(第1探头P1?P4相对于恒流源12的基准电位的电位)上升。
[0136]然后，按顺序使第2连接装置15的切换开关B1?B4动作。如果导体图案E1?E4正常，则通过该第2连接装置15的动作，测量电路16所测量的电位发生变化。在导体图案E1?E4处发生断线的情况下，即使使第2连接装置15动作，测量电路16所测量的电位也不发生变化。能够通过检测该电位的变化的有无，从而识别导体图案E1?E4是否良好。
[0137]在上述的第6实施方式中，具有第1连接装置14’，该第1连接装置14’将第1实施方式的印刷基板检查装置11中的第1连接装置14的切换开关A1?A4集中为单一的切换开关A1。该结构也能够应用于前述的第2实施方式(图8)、第3实施方式(图10)、第4实施方式(图12)以及第5实施方式(图19)中的印刷基板检查装置的第1连接装置14。
[0138][第7实施方式]
[0139]下面，参照图30以及图31，对第7实施方式的印刷基板检查装置81进行说明。
[0140]第7实施方式的印刷基板检查装置81具有第2连接装置15’，该第2连接装置15’将第1实施方式的印刷基板检查装置11中的第2连接装置15的切换开关B1?B4集中为单一的切换开关Bl。S卩，多个第2探头P5?P8并联地与切换开关B1连接。通过闭合该切换开关B1，多个第2探头P5?P8同时接地。
[0141]根据该结构，通过按顺序闭合第1连接装置14的切换开关A1?A4中的某1个，由此选择导电图案E1?E4中的某1个，每次使第2连接装置15’的切换开关B1动作，能够通过测量电路16检测此时的电位的变化，从而，检查导电图案El、E2、E3或者E4的导通状态。
[0142]在上述的第7实施方式中，具有第2连接装置15’，该第2连接装置15’将第1实施方式的印刷基板检查装置11中的第2连接装置15的切换开关B1?B4集中为单一的切换开关B1。该结构还能够应用于前述的第2实施方式(图8)、第3实施方式(图10)、第4实施方式(图12)、以及第5实施方式(图19)中的印刷基板检查装置的第2连接装置15。
[0143]并且，在第2实施方式的印刷基板检查装置中使用具有单一的切换开关B1的第2连接装置15’的情况下，能够将多个电容器C1?C4作为1个电容器而配置在第2探头P5?P8与第2连接装置15’之间。同样，在第3实施方式的印刷基板检查装置中使用具有单一的切换开关B1的第2连接装置15’的情况下，能够将多个电容器C5?C8作为1个电容器而配置在第2连接装置15’与地线之间。
[0144]上面，说明了本发明的各实施方式，但是，本发明并不限定于这些实施方式，而能够在不脱离本发明的宗旨的范围内施加各种变更。
[0145]对于规定的时间112、t31、114、tu，能够设定与印刷基板的电气特性相匹配的最佳时间，能够通过对它们进行调整，从而更加迅速、可靠地检测导体图案E1?E4的一端的电位变化量的变化，能够迅速地实施准确的基板检查。
[0146]另外，对于电容器C1?C4、C5?C8的电容，能够通过设定与印刷基板的电气特性相匹配的最佳值，从而更加迅速、可靠地检测导体图案E1?E4的一端的电位变化量的变化，能够迅速地实施准确的基板检查。
【主权项】
1.一种印刷基板检查装置，其是印刷基板的电气检查装置，对形成于印刷基板的导体图案施加电信号，检查导体图案是否良好， 该印刷基板检查装置的特征在于，具有: 第1探头，其与所述导体图案的一端接触； 第2探头，其经由绝缘体而配置在所述导体图案的另一端； 恒流源； 第1连接装置，其用于将所述第1探头与所述恒流源连接； 第2连接装置，其用于使所述第2探头相对于所述恒流源的基准电位的电连接状态变化；以及 测量电路，其用于测量所述第1探头相对于所述恒流源的基准电位的电位。2.根据权利要求1所述的印刷基板检查装置，其特征在于， 在所述第2探头与所述第2连接装置之间或所述第2探头与所述恒流源的基准电位之间中的某一者、或者它们两者连接有具有规定的电容的电容器。3.根据权利要求1或2所述的印刷基板检查装置，其特征在于， 具有第3连接装置，该第3连接装置用于将所述第1探头经由所述第1连接装置而与所述恒流源的基准电位连接。4.根据权利要求1至3中任一项所述的印刷基板检查装置，其特征在于， 经由绝缘体而与所述印刷基板的所述导体图案接触的导体板与所述恒流源的基准电位连接。5.—种印刷基板检查方法，其特征在于， 使第1探头直接与导体图案的一端接触，在所述导体图案的另一端经由绝缘体而配置第2探头，在时刻T1，开始从恒流源向所述第1探头流过电流，在从时刻T1经过了规定的时间tl2后的时刻T2，使所述第2探头相对于所述恒流源的基准电位的电连接状态变化，根据该变化时的所述第1探头相对于所述恒流源的基准电位的电位的测量结果，判定所述导体图案是否良好。6.根据权利要求5所述的印刷基板检查方法，其特征在于， 在所述第2探头相对于所述恒流源的基准电位的电连接状态发生了变化时，在每规定单位时间tu的所述导体图案的一端的电位变化量发生了变化的情况下，判定为导体图案是合格品。7.根据权利要求5或6所述的印刷基板检查方法，其特征在于， 在时刻T3将所述第1探头与所述恒流源的基准电位连接，在时刻T4使所述第1探头和所述基准电位成为断开状态，该时刻T3是比所述时刻T1提前规定的时间t31的时刻，该时刻T4是从所述时刻T1经过比所述时间tl2短的时间tl4并在所述时刻T2之前的时刻。
【专利摘要】本发明提供一种印刷基板检查装置，其是印刷基板的电气检查装置，对形成于印刷基板的导体图案施加电信号，检查导体图案是否良好，其中，该印刷基板检查装置具有：第1探头，其与导体图案的一端接触；第2探头，其经由绝缘体而配置在导体图案的另一端；恒流源；第1连接装置，其用于将第1探头与恒流源连接；第2连接装置，其用于使第2探头相对于恒流源的基准电位的电连接状态变化；以及测量电路，其用于测量第1探头相对于恒流源的基准电位的电位。
【IPC分类】G01R31/02
【公开号】CN105319476
【申请号】CN201510445458
【发明人】土田宪吾, 三宅康志
【申请人】雅马哈精密科技株式会社
【公开日】2016年2月10日
【申请日】2015年7月27日