无引脚半导体封装及其制造方法

文档序号:7225036阅读:304来源:国知局
专利名称:无引脚半导体封装及其制造方法
技术领域
图4是示出用于切单的锯线的本发明的框架的局部透视图。图9A- 9G绘出连续制造步骤期间本发明的半导体器件封装。

图11示出本发明的可选半导体封装,其中通过倒装芯 片接合将半导体单元片连接到引脚框架。
具体实施例方式图8是框架10的示意图。该框架包括布置成矩阵的多个 引脚框架14。示出的矩阵是引脚框架的8x8矩阵,但框架10可以包 括任何所需阵列型式的任何适当数目的引脚框架。
参照图9C,在引线接合的制备中,将每个引脚16的底 面28和单元片焊盘23的底面固定到表面38。在示出的实施方案中, 表面38在粘合带上形成。其次,用例如焊料、环氧树脂、双面胶带 等传统粘接材料将半导体单元片40固定到单元片焊盘。 系棒24和凸缘34的减小的厚度允许在系才奉24和凸缘 34下面容纳模塑料46,这允许系棒和凸缘34将单元片焊盘23机械 地锁定在模塑料46中并帮助将单元片焊盘保持在封装中。同样,凸 缘32将触点16锚定在封装中。 —般而言,本发明的框架包含通过连棒互连的多个引脚 框架,所述连棒提供有布置在每个引脚框架的相邻引脚之间的凹槽以 便减少切单封装时锯片必须通过的金属的量。此外,凹槽形成暴露引 脚之间的空间,降低或消除毛边或污迹导致引脚之间短路的可能性。 该凹槽不影响引脚与集成电路器件电互连期间的引脚稳定性,保证可 靠的接合完整性。而且,所形成的封装具有在侧面暴露的全引脚材料, 允许板安装期间有焊料填角。
13[0044虽然是在密封集成电路器件方面进行描述,但是本发明 的封装还可以用来密封混合式器件,其中将一个或多个无源或光学器 件耦合到单个单元片焊盘上的一个或多个集成电路器件。
[0045已经描述了本发明的多个实施方案。虽然如此,但是可 以理解能够在不脱离本发明的精神和范畴的情况下进行各种修改。因 此,其它实施方案在所附权利要求的范围内。
权利要求
1.一种制造封闭半导体单元片(40)的封装(50)的方法,其特征在于以下步骤(a).提供导电框架(10),其具有多个布置成矩阵形式的引脚框架(14、14′),每个引脚框架具有从中心孔向外延伸的多个间隔引脚(16、16′),所述导电框架(10)进一步具有多个连棒(24),其连接所述引脚框架(14、14′)中相邻各引脚框架的外端部分;(b).在所述连棒(24)中形成凹槽(20)以便在所述引脚框架(14、14′)的相邻各引脚框架的外端部分之间形成厚度减小的部分;(c).将半导体单元片(40)电学耦合(42)到所述引脚(16、16′)的内部部分(30);(d).用模塑料(46)密封所述框架(10)和半导体单元片(40);和(e).沿着所述凹槽(20)切割(12)所述模塑料(46)和框架(10)以便形成被切单的半导体封装(50),其具有高度大于所述厚度减小部分的高度的外引脚部分。
2. 如权利要求1所述的方法,其特征在于通过化学蚀刻从所述框 架(10)的一侧形成所述凹槽(20)。
3. 如权利要求2所述的方法,其特征在于所述凹槽(20)将所述 厚度减小的部分的厚度减小至所述框架(10)厚度的30%至70%。
4. 如权利要求2所述的方法,其特征在于通过锯割切单执行所述 切割(12 )步骤(e )。
5. 如权利要求4所述的方法,其特征在于所述锯割切单步骤导致 所迷外引脚部分的侧面部分构成所述半导体封装(50)的外周表面(56)的一部分。
6. 如权利要求5所述的方法,其特征在于所述外引脚部分的所述 侧面部分的高度等于所述框架(10)的高度。
7. 如权利要求5所述的方法,其特征在于构成所述外周表面(56) 的所述侧面部分涂覆有金属以便提高焊料润湿性。
8. 如权利要求2所述的方法,其特征在于所述框架(100)进一 步包括布置在所述中心孔中的单元片焊盘(23)并且半导体单元片(40)被接合(36)到所述单元片焊盘(23)。
9. 如权利要求8所述的方法,其特征在于所述化学蚀刻步骤进一 步在所述引脚(16、 16')和所述单元片焊盘(23)中的至少一个上形 成凸缘(32、 34)。
10. 如权利要求2所述的方法,其特征在于所述半导体单元片(40 ) 直接接合到所述引脚(16、 16,)的内端部分(30)。
11. 一种用于半导体封装(50)的导电框架(10),其特征在于 布置成矩阵形式的多个引脚框架(14、 14'),每个引脚框架(14,14')具有从中心孔向外延伸的多个间隔引脚(16、 16,);和多个连棒(24),其连接所述引脚框架(14、 14')的相邻各引 脚框架的外端部分,其中凹槽(20)延伸到每个所述连才奉(24)中并 布置在每个所述引脚框架(14、 14')的相邻引脚(16、 16,)之间。
12. 如权利要求11所述的导电框架(10),其特征在于位于所述 凹槽(20)下面的所述连棒(24)的一部分的厚度为所述导电框架(10) 的厚度的30%至70%。
13. 如权利要求12所述的导电框架(10),其特征进一步在于单 元片焊盘(23)布置在所述中心孔中。
14. 如权利要求13所述的导电框架(10),其特征在于所述单元 片焊盘(23)与所述引脚(16、 16')中的至少一个包括环绕其外周的 厚度减小的凸缘(32、 34)。
15. —种密封至少一个半导体单元片的无引脚封装(66),其特 征在于引脚框架(14、 14,),其具有从内引脚端向外延伸到外引脚端 的多个引脚(16、 16'),其中所述内引脚端限定中心孔并且所述外引 脚端的侧面部分限定所述无引脚封装(66)的外周表面(56),其中 所述外引脚端至少与所述内引脚端一样厚;所述至少一个半导体单元片(40),其布置在所述中心孔中并电 互连(42)到所述内引脚端;和模塑料(46),其密封所述至少一个半导体单元片(40)和所迷 内引脚端,其中所述模塑料(46)进一步限定所述无引脚封装(66) 的所述外周表面(56)。
16. 如权利要求15所述的无引脚封装(66),其特征在于由所述 外引脚端限定的所述外周表面(56)具有相当于已经部分通过化学蚀 刻形成、部分通过锯切形成的表面。
17. 如权利要求16所述的无引脚封装(66),其特征在于由所述 外引脚端限定的所述外周表面(56)涂覆有提高焊料润湿性的金属。
18. 如权利要求17所述的无引脚封装(66),其特征在于单元片 焊盘(23 )布置在所述中心孔中并且所述至少一个半导体单元片(40 )被接合到所述单元片焊盘(23)。
19.如权利要求17所述的无引脚封装(66),其特征在于所述至 少一个半导体单元片(40)被直接接合到所述内引脚端。
全文摘要
一种封闭半导体单元片(40)的封装(50),通过以下步骤制造。首先,提供导电框架。这个框架具有多个布置成矩阵形式的引脚框架(14),每个引脚框架(14)具有多个从中心孔向外延伸的间隔引脚(16)。该导电框架进一步包括多个连棒,其连接相邻的引脚框架(14)的外端部分。其次,在连棒中形成凹槽以便在相邻引脚框架(14)的外端部分之间形成厚度减小的部分。第三,将半导体单元片(40)电耦合(42)到所述引脚(16)的内部部分。第四,将框架和半导体单元片(40)密封到模塑料(46)中。最后,沿着凹槽切割模塑料(46)和框架以便形成被切单的半导体封装(50),其具有高度大于厚度减小部分的高度的外引脚部分。
文档编号H01L21/60GK101611484SQ200680052063
公开日2009年12月23日 申请日期2006年11月17日 优先权日2005年12月2日
发明者A·苏巴迪奥, R·S·圣安东尼奥 申请人:宇芯(毛里求斯)控股有限公司
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